一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路的制作方法

1.本发明涉及射频检测技术领域，特别涉及一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路。


背景技术：

2.目前，射频产品(待测射频设备)在生产及研发过程中都需要采用射频仪器进行射频性能的测试，但是，由于常用的射频仪器基本由几大仪器公司生产，由于生产射频仪器的类型及生产厂家都会有差异。
3.因此，在射频产品在生产完成后或者在使用一段时间后，一般会人为对射频设备进行测试，但是，人为测试往往会造成测试效率低下等的问题，导致不能有效的对射频设备的性能进行检测。
4.因此，本发明提出一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路。


技术实现要素：

5.本发明提供一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路，用以解决上述提出的技术问题。
6.本发明提出一种用于检测射频设备性能的测试平台，包括：
7.划分模块，用于获取目标射频设备的设备属性，并向所述设备属性匹配标准出厂状态下的设备构造，确定划分线对所述目标射频设备进行划分；
8.测试方式分配模块，用于根据划分类结果，确定射频块，并基于所述射频块的块属性，分配对应的性能测试方式；
9.性能测试模块，用于基于所述性能测试方式，完成对目标射频设备的性能检测。
10.优选的，所述划分模块，包括：
11.属性获取单元，用于获取所述目标射频设备的设备属性，且所述设备属性与设备型号有关；
12.构造获取单元，用于基于所述设备型号，从预设设备数据库中，获取所述目标射频设备处于标注出厂状态下的制备流程，并基于所述制备流程确定设备构造；
13.划分线确定单元，用于在所述设备构造中设置划分点，并根据所述划分点，得到划分线；
14.设备划分单元，用于按照所述划分线，对所述目标射频设备进行结构划分。
15.优选的，所述构造获取单元，包括：
16.子流程确定子单元，用于基于获取的制备流程，确定对所述目标射频设备的若干子流程；
17.摘取子单元，用于按照每个子流程的子制备属性，从所述若干子流程中摘取独立子流程以及依赖子流程；
18.初始构造子单元，用于获取所述独立子流程的搭建顺序，获取第一搭建结构，并基
于所有第一搭建结构得到初始构造；
19.待处理构造子单元，用于获取所述依赖子流程的搭建顺序，获取第二搭建结构，寻找所述第二搭建结构的依赖点，确定所述依赖点协同所述第二搭建结构基于初始构造的关联结构，得到待处理构造；
20.建立子单元，用于确定每个子流程在构造过程中的工艺信息，建立对应的工艺表；
21.可靠度确定子单元，用于基于所述工艺表中的行信息以及列信息，确定对应子流程的构造可靠度；
22.颜色筛选子单元，用于按照所述独立子流程的构造可靠度，从可靠度-颜色列表中，筛选第一颜色，同时，按照所述依赖子流程的构造可靠度，从可靠度-颜色列表中，筛选第二颜色；
23.显著性处理子单元，用于获取所述待处理构造基于不同子流程的外观区域，并基于所述第一颜色、第二颜色，对对应外观区域进行对应颜色显著性处理，获得处于标准出厂状态下的设备构造。
24.优选的，所述划分线确定单元，包括：
25.标准点确定子单元，用于确定所述目标射频设备处于标准出厂状态下的标准划分点；
26.维修记录处理子单元，用于获取当下目标射频设备的历史维修记录，并从所述历史维修记录中提取与射频部件位置调整相关的第一维修信息以及与射频线路调整的第二维修信息；
27.向量构建子单元，用于基于所述第一位置信息，构建同个射频部件的位置更改向量；
28.更改确定子单元，用于基于第二维修信息，确定射频线路更改过程中的涉及到的更改部件以及更改功能；
29.一致处理子单元，用于将所述更改部件与更改功能进行一致处理，得到辅助更改向量；
30.颜色确定子单元，用于基于当下设备构造的颜色显著性处理结果与标准出厂状态下的颜色显著性处理结果的显著性差异，得到颜色差异向量；
31.调取子单元，用于从预设模型数据库中调取与所述目标射频设备相关的点确定模型，并基于所述点确定模型对所述位置更改向量、辅助更改向量、颜色差异向量进行预分析；
32.获取子单元，用于基于预分析结果，获取所述附加划分点以及更改划分点；
33.点位置确定子单元，用于确定所述更改划分点对应的初始点，并在所有标准划分点中将所述初始点剔除，替换为更改划分点，并确定所述附加划分点的点位置；
34.定位子单元，用于将所述点位置在替换后的划分点中进行扩展定位，并将对应的附加划分点定位在对应的点位置上，得到新的划分点；
35.线确定子单元，用于基于所述新的划分点，确定当下目标射频设备的划分层次，获得划分线。
36.优选的，所述测试方式分配模块，包括：
37.结构获取单元，用于获取所述目标射频设备的最新设备结构；
38.块划分单元，用于将所述划分线设置在所述最新设备结构中，对所述最新设备结构进行划分，得到射频块；
39.子功能确定单元，用于确定所述最新设备结构中每个子部件的子功能；
40.块功能确定单元，用于确定所述射频块中包含的子部件，进而确定对应的所有子功能；
41.方式分配单元，用于基于同个射频块中的所有子功能，分配对应的性能测试方式。
42.优选的，所述方式分配单元，包括：
43.指标确定子单元，用于基于同个射频块中的所有子功能，分配对应的测试指标集合；
44.测试方式分配子单元，用于按照测试指标的指标属性，从测试方式数据库中，获取每个测试指标对应的第一测试方式以及组合测试指标对应的第二测试方式；
45.方式筛选子单元，用于从所有第一测试方式中以及第二测试方式中，筛选最佳测试方式，作为对对应射频块的性能测试方式。
46.优选的，所述性能测试模块，包括：
47.集合获取单元，用于获取性能测试方法，其中，所述性能测试方式包括：扫描测试脚本和通电测试脚本；
48.基于所述扫描测试脚本对处于通电且但并未运行的射频块进行扫描测试，获取对应的第一测试集合，同时，基于通电测试脚本对处于通电且运行的射频块中的每个子部件进行性能测试，获取每个子部件对应的第二测试集合；
49.拟合单元，用于对同个子部件的所述第二测试集合进行同类性能参数的拟合处理，得到不同类性能参数的拟合曲线；
50.异常确定单元，用于基于所述第二测试集合对应的所有拟合曲线，构建对应的所有类性能参数基于同个时间点的列数组，并对每个列数组进行异常分析，确定存在的异常时间点以及所述异常时间点下的异常行为；
51.第一分类单元，用于对同个子部件存在的异常行为进行第一行为分类；
52.时长比较单元，用于获取所述扫描测试脚本对射频块进行测试的过程中，对射频块本体构造的扫描时长，同时，获取所述通电测试脚本对射频块进行测试过程中，对每个子部件的测试时长；
53.第二分类单元，用于基于所述扫描时长与标准时长进行第一比较结果，对每个子部件的测试时长与对应的标准时长的第二比较结果进行修正，并按照对应的时长差，进行差值范围的第二行为分类；
54.结果获取单元，用于基于第一行为分类结果、第二行为分类结果，得到对目标射频设备的性能检测结果。
55.优选的，结果获取单元，包括：
56.结果重合标定子单元，用于基于时间线，对同个子部件进行所述第一行为分类结果以及第二行为分类结果的标定，基于标定结果，确定对应子部件的异常值；
57.综合确定子单元，用于基于所有异常值以及对应子部件的部件测试权重，得到综合异常值，并基于所述综合异常值，得到所述目标射频设备的性能故障等级。
58.优选的，还包括：报警模块，与所述性能测试模块连接；
59.所述报警模块，用于根据所述性能测试模块的性能测试结果，匹配得到对应的测试报警指令，并按照所述测试报警指令进行相应报警。
60.一种用于检测射频设备性能的测试平台的射频检测电路，包括：
61.分输入端，分别与所述目标射频设备的若干检测点进行连接；
62.与每个检测点一一对应设置的射频检测器，且每个检测点对应的分输入端与射频检测器的连接，用于对对应检测点进行射频检测；
63.与每个射频检测器连接的分输出端；
64.与所述分输出端连接的显示屏，用于显示射频检测结果。
65.本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
66.下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
67.附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
68.图1为本发明实施例中一种用于检测射频设备性能的测试平台的结构图；
69.图2为本发明实施例中用于检测射频设备性能的测试平台的射频检测电路的结构图；
70.图3为本发明实施例中划分线确定单元的结构图。
具体实施方式
71.以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
72.实施例1：
73.本发明提出一种用于检测射频设备性能的测试平台，如图1所示，包括：
74.划分模块，用于获取目标射频设备的设备属性，并向所述设备属性匹配标准出厂状态下的设备构造，确定划分线对所述目标射频设备进行划分；
75.测试方式分配模块，用于根据划分类结果，确定射频块，并基于所述射频块的块属性，分配对应的性能测试方式；
76.性能测试模块，用于基于所述性能测试方式，完成对目标射频设备的性能检测。
77.该实施例中，性能测试，可以是包括对目标射频设备中的每个子部件进行射频测试、正常运行与否的测试、射频功率的测试等。
78.该实施例中，设备属性比如是设备型号，由于不同的设备型号对应的产品的制造流程是一样的，且制造出来的设备构造是统一的。
79.该实施例中，划分线指的是基于设备构造确定的，比如，设备构造中存在部件1和部件2，且部件1和部件2的连接位置构成的连接线，即可视为划分线，按照该划分线，对目标射频设备进行划分，最后得到部件1和部件2。
80.该实施例中，部件1可视为射频块1，部件2可视为射频块2，比如是放大器、滤波器、
变频器、天线等，每个器件的属性不同，也就是对应的功能不同，因此，可以向对应功能匹配对应的检测方式，比如，对于放大器的性能测试方式，比如是，电压、电流的测试，来确定放大倍数等，且对应的块属性，比如是放大
81.该实施例中，进行性能检测的过程中，不仅是需要对射频设备中的不同部件的与射频有关的参数进行检测。
82.该实施例中，射频性能测试可以包括对以下射频性能的测试：发射功率、误差向量幅度(给定时刻理想无误差基准信号与实际发射信号的向量差)、频谱发射模板(偏移载波中心频率给定范围内的频谱杂散能量)、频偏、接收灵敏度等。以目标频设备为手机为例，获取与不同性能测试方式对应的性能设备，比如射频仪器，发送设定的射频信号给手机，对手机的接收信号强度进行确定，以测试手机的接收灵敏度；同时，获取射频仪器接收并检测的得到的测试值，例如手机发射功率。
83.上述技术方案的有益效果是：通过获取射频设备的设备构造，并进行划分，可以有效的按照不同的性能测试方式进行针对性智能测试，提高测试效率，保证测试的可靠性。
84.实施例2：
85.基于实施例1的基础上，所述划分模块，包括：
86.属性获取单元，用于获取所述目标射频设备的设备属性，且所述设备属性与设备型号有关；
87.构造获取单元，用于基于所述设备型号，从预设设备数据库中，获取所述目标射频设备处于标注出厂状态下的制备流程，并基于所述制备流程确定设备构造；
88.划分线确定单元，用于在所述设备构造中设置划分点，并根据所述划分点，得到划分线；
89.设备划分单元，用于按照所述划分线，对所述目标射频设备进行结构划分。
90.上述技术方案的有益效果是：通过设置的划分点，来确定划分线，进而进而结构划分，便于后续进行有效的性能测试。
91.实施例3：
92.基于实施例1的基础上，所述构造获取单元，包括：
93.子流程确定子单元，用于基于获取的制备流程，确定对所述目标射频设备的若干子流程；
94.摘取子单元，用于按照每个子流程的子制备属性，从所述若干子流程中摘取独立子流程以及依赖子流程；
95.初始构造子单元，用于获取所述独立子流程的搭建顺序，获取第一搭建结构，并基于所有第一搭建结构得到初始构造；
96.待处理构造子单元，用于获取所述依赖子流程的搭建顺序，获取第二搭建结构，寻找所述第二搭建结构的依赖点，确定所述依赖点协同所述第二搭建结构基于初始构造的关联结构，得到待处理构造；
97.建立子单元，用于确定每个子流程在构造过程中的工艺信息，建立对应的工艺表；
98.可靠度确定子单元，用于基于所述工艺表中的行信息以及列信息，确定对应子流程的构造可靠度；
99.颜色筛选子单元，用于按照所述独立子流程的构造可靠度，从可靠度-颜色列表
中，筛选第一颜色，同时，按照所述依赖子流程的构造可靠度，从可靠度-颜色列表中，筛选第二颜色；
100.显著性处理子单元，用于获取所述待处理构造基于不同子流程的外观区域，并基于所述第一颜色、第二颜色，对对应外观区域进行对应颜色显著性处理，获得处于标准出厂状态下的设备构造。
101.该实施例中，设备构造是标准出厂状态下制造出来的。
102.该实施例中，在构建设备构造的过程中，首先通过确定初始构造，进而通过待处理构造，以及每个子流程的可靠度，来获取设备构造。
103.该实施例中，制备流程是预先设定好的，比如制备流程是：1-2-3-4-结束，且4与2又有联系，因此，此时，可以视为1、3未单独子流程，2、4为依赖子流程；
104.该实施例中，基于子流程1、3的搭建顺序，得到第一搭建结构，比如只是将子流程1和3的结构放在一块，是一个基本搭建框架，进而再对该基本搭建框架进行再次位置调整，得到初始构造。
105.该实施例中，依赖点，比如是第二搭建结构上存在一个部位01，该部位可以视为依赖点，通过该部位01确定与初始构造的关联结构，得到包括关联结构与初始构造在内的待处理构造。
106.该实施例中，工艺表指的是在构造过程中的构造信息，比如，不同部件的构造参数，在构造过程中，对每个部件的射频测试等，且行信息，指的是同类参数的信息，列信息，指的是同个时间点下的不同类参数的信息，进而确定可靠度，也就是工艺信息对应的构造参数越是与标准设定的构造参数越一致，对应的可靠度越高。
107.该实施例中，通过可靠度，对不同的待处理构造的外观区域进行颜色标注，获得设备构造。
108.该实施例中，可靠度-颜色列表是包括：不同子流程的可靠度以及不同可靠度对应的颜色等在内的。
109.上述技术方案的有益效果是：通过对设备的子流程进行分类，来确定初始构造以及关联结构，进而得到待处理构造，通过确定不同子流程的可靠度，来对相关外观区域进行颜色标注，得到设备构造，为后续进行性能方式的确定，更加准确，保证检测效率。
110.实施例4：
111.基于实施例2的基础上，所述划分线确定单元，如图3所示，包括：
112.标准点确定子单元，用于确定所述目标射频设备处于标准出厂状态下的标准划分点；
113.维修记录处理子单元，用于获取当下目标射频设备的历史维修记录，并从所述历史维修记录中提取与射频部件位置调整相关的第一维修信息以及与射频线路调整的第二维修信息；
114.向量构建子单元，用于基于所述第一位置信息，构建同个射频部件的位置更改向量；
115.更改确定子单元，用于基于第二维修信息，确定射频线路更改过程中的涉及到的更改部件以及更改功能；
116.一致处理子单元，用于将所述更改部件与更改功能进行一致处理，得到辅助更改
向量；
117.颜色确定子单元，用于基于当下设备构造的颜色显著性处理结果与标准出厂状态下的颜色显著性处理结果的显著性差异，得到颜色差异向量；
118.调取子单元，用于从预设模型数据库中调取与所述目标射频设备相关的点确定模型，并基于所述点确定模型对所述位置更改向量、辅助更改向量、颜色差异向量进行预分析；
119.获取子单元，用于基于预分析结果，获取所述附加划分点以及更改划分点；
120.点位置确定子单元，用于确定所述更改划分点对应的初始点，并在所有标准划分点中将所述初始点剔除，替换为更改划分点，并确定所述附加划分点的点位置；
121.定位子单元，用于将所述点位置在替换后的划分点中进行扩展定位，并将对应的附加划分点定位在对应的点位置上，得到新的划分点；
122.线确定子单元，用于基于所述新的划分点，确定当下目标射频设备的划分层次，获得划分线。
123.该实施例中，该实施例中，标准划分点是预先确定好的，且历史维修记录是预先记录好的，比如：射频部件1对应的位置信息为，第一次维修时在a处、第二次维修时在a处、第三次维修时在b处、第四次维修时在b处，此时，对应的更改向量为[0 0 11]。
[0124]
该实施例中，更改部件为部件3，对应的更改功能为加强噪音去除精度，此时，此前对应的可代表数值为9，且进行四次维修后，对应的可构建的辅助更改向量为[8 8 8 8]。
[0125]
该实施例中，颜色差异向量与位置有关，比如，位置a处的颜色差异向量为[0 0 0 0.2]。
[0126]
该实施例中，点确定模块是预先训练好的，以历史位置更改向量、辅助更改向量以及颜色差异向量，还与不同向量中不同元素对应的向量组合对应的点的确定结果，为样本训练得到的。
[0127]
该实施例中，扩展定位，比如是附加划分点是标准划分点的不包括的，但是有需要确定附加划分点的位置，进而进行扩展定位，可以保证新的划分点，进而确定划分线的有效获取。
[0128]
上述技术方案的有益效果是：通过基于三种不同的位置更改向量、辅助更改向量以及颜色差异向量进行预分析，来有效确定附加划分点和更改划分点，进而通过扩展定位，获取新的划分点，得到有效的划分线，保证后续性能测试方式匹配的准确性，间接提高检测效率。
[0129]
实施例5：
[0130]
基于实施例1的基础上，所述测试方式分配模块，包括：
[0131]
结构获取单元，用于获取所述目标射频设备的最新设备结构；
[0132]
块划分单元，用于将所述划分线设置在所述最新设备结构中，对所述最新设备结构进行划分，得到射频块；
[0133]
子功能确定单元，用于确定所述最新设备结构中每个子部件的子功能；
[0134]
块功能确定单元，用于确定所述射频块中包含的子部件，进而确定对应的所有子功能；
[0135]
方式分配单元，用于基于同个射频块中的所有子功能，分配对应的性能测试方式。
[0136]
上述技术方案的有益效果是：通过向每个子功能分配对应的性能测试方式，间接提高检测效率。
[0137]
实施例6：
[0138]
基于实施例5所示的基础上，所述方式分配单元，包括：
[0139]
指标确定子单元，用于基于同个射频块中的所有子功能确定对应的子属性，分配对应的测试指标集合；
[0140]
测试方式分配子单元，用于按照测试指标的指标属性，从测试方式数据库中，获取每个测试指标对应的第一测试方式以及组合测试指标对应的第二测试方式；
[0141]
方式筛选子单元，用于从所有第一测试方式中以及第二测试方式中，筛选最佳测试方式，作为对对应射频块的性能测试方式。
[0142]
该实施例中，比如同个射频块中，包括放大器和天线，此时，根据放大器的子属性(放大倍数等)，来获取放大器的测试指标，同时，根据天线的子属性(天线射频等)，来获取天线的测试指标。
[0143]
该实施例中，按照测试指标的测试属性，比如是测试功率、电压、电流等，来获取每个测试指标的测试方式。
[0144]
该实施例中，第一测试方式包括1、2、3，第二测试方式包括1、3、4、5，此时，可以将1、2、3、4、5测试方式作为对应的最佳测试方式。
[0145]
上述技术方案的有益效果是：通过单独测试指标的测试方式的获取以及组合测试指标的测试方式的获取，可以有效的获取最佳测试方式，保证测试的可靠性，间接提高测试效率。
[0146]
实施例7：
[0147]
基于实施例1的基础上，所述性能测试模块，包括：
[0148]
集合获取单元，用于获取性能测试方法，其中，所述性能测试方式包括：扫描测试脚本和通电测试脚本；
[0149]
基于所述扫描测试脚本对处于通电且但并未运行的射频块进行扫描测试，获取对应的第一测试集合，同时，基于通电测试脚本对处于通电且运行的射频块中的每个子部件进行性能测试，获取每个子部件对应的第二测试集合；
[0150]
拟合单元，用于对同个子部件的所述第二测试集合进行同类性能参数的拟合处理，得到不同类性能参数的拟合曲线；
[0151]
异常确定单元，用于基于所述第二测试集合对应的所有拟合曲线，构建对应的所有类性能参数基于同个时间点的列数组，并对每个列数组进行异常分析，确定存在的异常时间点以及所述异常时间点下的异常行为；
[0152]
第一分类单元，用于对同个子部件存在的异常行为进行第一行为分类；
[0153]
时长比较单元，用于获取所述扫描测试脚本对射频块进行测试的过程中，对射频块本体构造的扫描时长，同时，获取所述通电测试脚本对射频块进行测试过程中，对每个子部件的测试时长；
[0154]
第二分类单元，用于基于所述扫描时长与标准时长进行第一比较结果，对每个子部件的测试时长与对应的标准时长的第二比较结果进行修正，并按照对应的时长差，进行差值范围的第二行为分类；
[0155]
结果获取单元，用于基于第一行为分类结果、第二行为分类结果，得到对目标射频设备的性能检测结果。
[0156]
该实施例中，通过两种测试脚本，对射频块进行对应的测试，来获取测试集合。
[0157]
该实施例中，第一测试集合是包括对不同部件的通电与不同点情况进行有效判断，第二测试集合，是包括功率、电压、电流等不同的参数在内的。
[0158]
该实施例中，对同类性能参数进行拟合处理，是为了将同类性能参数中的无效参数抛除，列数组比如是包括[功率、电压、电流]在内。
[0159]
该实施例中，比如异常分析之后，对应的异常时间点为时间点1、5下存在异常行为，比如，电流异常，此时，可以将电流异常行为视为同类行为。
[0160]
该实施例中，通过获取测试时长进行进行比较，可以有效确定对应子部件的测试时长，可以初步确定是否存在故障。
[0161]
该实施例中，比如，对子部件1的标准时长为1s,当下的测试时长为3s，此时，时长差为2s，且对应子部件2的时长差为3s，此时，可以将时长差为2s、时长差为3s在同个差值范围内，因此，可以视为同个行为分类。
[0162]
针对第一行为分类结果、第二行为分类结果，可以如下：
[0163]
子部件1的时长差为2s，对应的第二行为分类为001，子部件2的时长差为3s，对应的第二行为分类为002，子部件1在一定的时间段内，存在差异行类别1、2，且差异行为类别1包括差异行为01和02，差异行为类别2包括差异行为03、04，且每个差异行为对应的行为数量是不同的。
[0164]
子部件2在一定的时间段内，存在差异行类别3、2，且差异行为类别3包括差异行为06和05，差异行为类别2包括差异行为07、08，且每个差异行为对应的行为数量是不同的。；
[0165]
上述技术方案的有益效果是：通过进行两种测试，来获取每个子部件的异常行为以及每个子部件的测试时长，可以有效的确定存在的第一行为分类以及第二行为分类，保证后续可以有效的得到性能检测结果，进而保证检测效率。
[0166]
实施例8：
[0167]
基于实施例7的基础上，结果获取单元，包括：
[0168]
结果重合标定子单元，用于基于时间线，对同个子部件进行所述第一行为分类结果以及第二行为分类结果的标定，基于标定结果，确定对应子部件的异常值；
[0169][0170]
其中，δ1表示对应子部件基于第一行为分类结果的第一权重；δ2表示对应子部件基于第二行为分类结果的第二权重；n1表示对应子部件基于第一行为分类结果的第一行为类别数；n2表示对应子部件基于第二行为分类结果的第二行为类别数；n1表示每个第一行为类别中的第一异常行为总数；n2表示每个第二行为类别中的第二异常行为总数；表示第j1个第一行为类别中第i1个第一异常行为的异常值；β
j1,i1
表示第j1个第一行为类别中第i1个第一异常行为的权重；表示第j2个第二行为类别中第i2个第二异常行为的异常值；β
j2,i2
表示第j2个第二行为类别中第i2个第二异常行为的权重；max()表示最大函数；其中，不同子部件对应的行为分类结果的权重、类别数以及异常行为数是不一样的，y1表示对
应子部件的异常值。
[0171]
综合确定子单元，用于基于所有异常值以及对应子部件的部件测试权重，得到综合异常值，并基于所述综合异常值，得到所述目标射频设备的性能故障等级。
[0172][0173]
其中，y1表示综合异常值；s表示存在异常值不为0的子部件的总个数；u表示存在异常值为0的子部件的个数；r
s1
表示第s1个异常子部件的部件测试权重；y
s1
表示第s1个异常子部件的异常值；r
u1
表示第u1个正常子部件的部件测试权重；y
u1
表示第u1个正常子部件存在异常的可能性因子，且取值趋于0；表示正常子部件的异常可能微调值，取值趋于0。
[0174]
上述技术方案的有益效果是：通过通过异常值确定综合异常，进而便于确定性能故障等级，并进行相应的等级报警。
[0175]
实施例9：
[0176]
基于实施例1的基础上，还包括：报警模块，与所述性能测试模块连接；
[0177]
所述报警模块，用于根据所述性能测试模块的性能测试结果，匹配得到对应的测试报警指令，并按照所述测试报警指令进行相应报警。
[0178]
上述技术方案的有益效果是：通过确定报警指令，便于进行有效报警。
[0179]
实施例10：
[0180]
一种用于检测射频设备性能的测试平台的射频检测电路，如图2所示，包括：
[0181]
分输入端，分别与所述目标射频设备的若干检测点进行连接；
[0182]
与每个检测点一一对应设置的射频检测器，且每个检测点对应的分输入端与射频检测器的连接，用于对对应检测点进行射频检测；
[0183]
与每个射频检测器连接的分输出端；
[0184]
与所述分输出端连接的显示屏，用于显示射频检测结果。
[0185]
上述技术方案的有益效果是：通过对检测点的检测，可以有效的获取该目标射频设备的检测结果。
[0186]
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。