专利名称：射线检测缺陷高度的试块块链带的制作方法
技术领域：
一种用于工业射线探伤时检测金属材料焊接结构内部缺陷高度用的定量分析试块块链带。
掌握焊接接头内部缺陷的实际情况，对保证焊接结构的安全使用和操作人员的人身安全是非常重要的。尤其对锅炉、压力窗口这类具有潜在爆炸危害的设备就显得更为重要，当前，用于检测金属材料焊接接头内部缺陷的无损探伤方法有超声波检测法和射线照相检测法，用以检测内部缺陷的长度、高度、缺陷性质、分布状况以及在使用条件下缺陷是否扩展，以此来决定设备能否安全使用。前一种方法由于采用超声波波形信号来显示缺陷，因而缺陷显示不直观，定性困难，探伤时记录困难，不便于存查，且对操作人员的实践经验依赖性很强，就缺陷高度检测而言，由于超声波信号的高度与缺陷的高度并无明显或简单的关系，因此虽有很多超声检测方法用以估判缺陷高度，但大部分都非常麻烦，费时或昂贵的，并且绝大多数方法不同于常规的超声检测法，更重要的是不同操作者使用同一台仪器检测同一部位缺陷高度，得出的实际缺陷数值准确性误差很大。而射线照相法虽有准确，可靠、直观及便于存查等特点，但对缺陷高度的定量分析仍难以进行。科研结果表明，工件内的缺陷在高度方向的危害程度大于在长度方向的危害，所以，对缺陷高度的定量分析，是无损检测的关键。射线探伤对缺陷高度无法进行定量分析的根本原因是，射线源照射到工件表面各部位的射线强度随射线源与工件表面各点形成的角度和距离的变化而衰减，导致射线在工件表面各点的强度分布不一样，最终所得的照相底片黑度不一样，目前虽有采用平行焊缝放置的槽形透度计估判决缺陷高度，但由于上述原因，在远离槽形透度计的部位就没有多少参考价值。在有些透照条件下，在槽形透度计等厚点上黑度也不一样，因此，采用此种方法对比判断缺陷高度尺寸精度很低，尤其在直径较小的环焊缝及球面焊缝透照时精度更低。
本实用新型的目的是提供一种定型系列和活动系列的人造试块，将其装入试块袋链带中，均匀置贴分布在工件平面或曲面焊缝两侧的对比试块装置，该装置将对比区间划小、增加对比点的数量和范围，使小区域内的射线照射强度对比误差尽量缩小，提高小区域内等厚点黑度的一致率，从而简便直观和有效地提高射线探伤缺陷高度检测时定量分析的精度。
本实用新型的目的是如下实现的，用透明的软质材料制作试块袋、试块袋链带及试块链盖，在试块袋链带的两端设有大磁铁，用于将链带吸附在工件表面定位，中段制有两个以上供安装固定试块用的试块袋，在试块链盖的两端设有小磁铁，用于吸附在大磁铁上防护试块从袋中脱出，为适应不同的缺陷高度、不同的母材和不同厚度的工件、以及方便实际工作现场检测的需要，用低碳钢、低碳低合金结构钢或奥氏体不锈钢或铜及铜合金或铝及铝合金或钛及钛合金材料将试块加工制成定型系列的A型试块和B型试块，或加工制成每个台阶和台阶之间为活动系列的A型试块和B型试块，两种系列的A型试块和B型试块的台阶高度范围是A型试块的第一台阶(7)为0.5～2.0mmA型试块的第二台阶(8)为1.0～3.5mmA型试块的第三台阶(9)为1.5～5.0mmA型试块的第四台阶(10)为2.0～6.5mmA型试块的第五台阶(11)为2.5～8.0mmB型试块的第一台阶(12)为0.5～2.0mmB型试块的第二台阶(13)为2.0～8.0mmB型试块的第三台阶(14)为1.0～4.0mmB型试块的第四台阶(15)为1.5～6.0mm本实用新型与现有技术相比，具有的优点是，由于定型系列和活动系列的A型试块或B型试块呈链状均匀分布在工件焊缝的两侧，能实现缺陷高度的影相黑度与上下左右的人工试块影相黑度就近对比分析，确定缺陷高度，减少误差，克服了射线在工件各点处强度不一致的缺点，提高对比精度，从而提高无损探伤缺陷高度定量分析的精确度，利于正确评估决定使用中的焊接设备是否需要复修以及报废，间接提高设备的使用效益，降低生产成本。另外，两种系列的A型试块或B型试块可选择插入整个试块袋链带中组合使用，磁铁又可将试块袋链带吸附紧贴在工件面上需检测的部位，所以，操作使用灵活方便。
附图
的图面说明如下图一是 射线检测缺陷高度的试块块链带打开的俯视结构示意图，图二是A型试块的结构示意图，图三是B型试块的结构示意图。图中，试块袋(1)、试块(2)、试块袋链带(3)、大磁铁(4)、小磁铁(5)、试块链盖(6)、A型试块的第一台阶(7)、A型试块的第二台阶(8)、A型试块的第三台阶(9)、A型试块的第四台阶(10)、A型试块的第五台阶(11)、B型试块的第一台阶(12)、B型试块的第二台阶(13)、B型试块的第三台阶(14)，B型试块的第四台阶(15)。
结合附图，本实用新型的具体实施例是用低碳钢、低碳低合金结构钢或奥氏体不锈钢或铜及铜合金或铝及铝合金或钛及钛合金材料，采用常规的机械加工方法制作试块(2)，其定型系列和每个台阶及台阶之间为活动系列的A型试块或B型试块的尺寸是A型试块的第一台阶(7)为4×3×0.5～2.0mmA型试块的第二台阶(8)为4×3×1.0～3.5mmA型试块的第三台阶(9)为4×3×1.5～5.0mmA型试块的第四台阶(10)为4×3×2.0～6.5mmA型试块的第五台阶(11)为4×3×2.5～8.0mmB型试块的第一台阶(12)为4×3×0.5～2.0mmB型试块的第二台阶(13)为4×3×2.0～8.0mmB型试块的第三台阶(14)为4×3×1.0～4.0mmB型试块的第四台阶(15)为4×3×1.5～6.0mm
用透明软质材料制作20×60～405mm的试块袋链带(3)，距两端20mm处各设有大磁铁(4)，中段制有均匀分布的两个以上20×5×8mm的试块袋(1)，用透明软质材料制作20×60～405mm的试块链盖(6)，在距两端20mm处各设有小磁铁(5)，使用于射线测检缺陷高度的试块块链带即告制作完成投入使用。
使用方法是，根据对需探伤的焊缝余高，母材的材料和厚度及检测缺陷的精度要求，选择相对应金属材料制成的两种系列的A型试块或B型试块，将选中的A型试块或B型试块分别插入试块袋(1)之中，置于焊缝上部的试块(2)插入试块袋(1)时，先插入A型试块的A端或B型试块的B端，置于焊缝下部的试块(2)插入试块袋(1)时，先插入A型试块的A′端或B型试块的B′端，将两个已插装满试块(2)的试块袋链带(3)通过两端的大磁铁(4)将其吸附在被检测工件焊缝的上部和下部。对检测无磁性的工件时则用胶布粘其贴在待检部位，按常规使用射线拍片工艺进行拍片冲洗，对达到国标规定的黑度和灵敏度规定范围的片进行评片。若为气孔、未焊透，未熔合及裂纹等，采用与相近试块的不同台阶在片上的影相黑度进行对比判断缺陷高度。若为夹渣，则应用本试块块链带在人工试板上拍片进行对比，解剖，求出夹渣对射线的吸收系数，在实际对比黑度时乘上该系数，才是实际的缺陷高度，为进一步提高对比精度，用小光孔数显式黑度计测定缺陷高度黑度和试块黑度直接比较或采用插值法比较，所得的对缺陷高度无损探伤定量分析的精度就能大幅度提高。
权利要求1.一种用于工业射线探伤时检测金属材料焊接结构内部缺陷高度用的试块块链带，由试块袋(1)、试块(2)、试块链盖(6)及磁铁等构成，其特征在于在试块袋链带(3)的两端设有大磁铁(4)、中段制有两个以上供安装固定试块(2)用的试块袋(1)，在试块链盖(6)的两端设有小磁铁(5)；试块(2)可制成定型系列的A型试块和B型试块，或者制成每个台阶和台阶之间为活动系列的A型试块和B型试块，其A型试块的定型系列和活动系列的台阶高度范围是A型试块的第一台阶(7)为0.5～2.0mmA型试块的第二台阶(8)为1.0～3.5mmA型试块的第三台阶(9)为1.5～5.0mmA型试块的第四台阶(10)为2.0～6.5mmA型试块的第五台阶(11)为2.5～8.0mm其B型试块的定型系列和活动系列的台阶高度范围是B型试块的第一台阶(12)为0.5～2.0mmB型试块的第二台阶(13)为2.0～8.0mmB型试块的第三台阶(14)为1.0～4.0mmB型试块的第四台阶(15)为1.5～6.0mm
2.根据权利要求1、所述的试块袋链带(3)、试块(2)、试块袋(1)和试块链盖(6)，其特征在于试块(2)采用低碳钢、低碳低合金结构钢或奥氏体不锈钢或铜及铜合金或铝及铝合金或钛及钛合金材料加工制成，试块袋链带(3)、试块链盖(6)和试块袋(1)均采用透明软质材料制作而成。
专利摘要一种用于射线无损探伤检测金属材料焊接结构内部缺陷高度定量分析的试块块链带，链带两端设有大磁铁，将其吸附在需检测工件的部位，中部制有均匀分布的两个以上的试块袋，袋中装入定型系列或活动系列的试块，整个试块块链带可紧贴在平面工件或曲面工件或球面工件焊缝的上下两侧，划小对比区间，增加对比点，缩小射线照射误差，本试块块链带具有制造简单，成本低，使用灵活方便，利用现有设备就能大幅度提高射线探伤缺陷高度检测定量分析的精度。
文档编号G01N23/00GK2099974SQ9121961
公开日1992年3月25日 申请日期1991年8月1日 优先权日1991年8月1日
发明者陶志强 申请人:陶志强