专利名称：探头内藏式保护型测试棒的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及的是电子设备的测试工具。
现有的测试电子元器件的测量探头均为顶尖式裸露状的，在测量时，由于电子元器件的日趋小型化、密集化，各焊点或各电引脚之间的距离很小，顶尖式的测试探头稳定性差，容易滑动，使探头碰到不应接触的焊点或引足，造成测试数据不准，或发生连脚短路、烧坏元器件甚至发生事故。
为克服速一缺点，中国专利ZL92216594.7(《实用新型专利公报》第9卷第19号)公开了一种“防滑动互补型触头”，其特征是将传统探头的顶尖式结构改为与焊点呈互补型的凹形结构形式，测试时触头扣压在焊点上使之不致滑动。这种互补型触头虽能解决滑动问题，但其呈裸露状的触头在测试时，也会因摇摆偏料或晃动而碰到邻近的不应碰及的地方而同样造成测试不准或连脚短路等现象。
本实用新型的目的是提供一种测试触点准确、稳定性好，安全可靠的探头内藏式保护型测试棒。
本实用新型的构成包括一个测试棒棒体和一个一端设在棒体中，另一端伸在棒体外的测试探头，在所述的棒体中还设有一弹性回位机构和一与该弹性回位机构相连接的绝缘保护套，所述的测试探头套装在绝缘保护套中。该保护套的伸出端比测试探头的伸出端长，将测试探头的测试端包藏在保护套内。在测试时，由绝缘性的保护套前端先扣压在所测焊点上，与邻近的焊点形成绝缘性封隔；再由探头在保护套中伸向被测焊点完成测试，从根本上避免了误触。
所述的探头向测点的伸向运动可通过由绝缘保护套相对于探头运动的结构形式来实现将探头与棒体固接，绝缘保护套的一端与弹性回位机构相接，下压棒体使绝缘保护套克服弹性回位机构的弹性力而向棒体内回缩，直到探头与测点相触接。
也可以将绝缘保护套与棒体固接，探头与弹性回位机构相接，且设置一径向操作钮伸在棒体外，通过下压操作钮使探头相对于保护套运动而伸向测点完成测量。
本实用新型测点定位准确，接触稳定性好，探头内藏于绝缘保护套中完成测量、测试完毕后随着轻微着力的释放而自如地回位于绝缘保护套中，安全、可靠。
以下结合附图给出实施例。但并实用新型的内容并不仅限于所述实施例。
图1是实施例1的结构示意图图2是两节式保护套的结构示意图图8是测试状态示意图图4是实施例2的结构示意图实施例1参见图1，本实施例的棒体由上壳体2、下壳体5用螺杆3连接构成，探头6固接在螺杆3上，上端与导线1相接。弹性回位机构4可采用常见的如弹性片、弹簧之类的结构形式，在本实施例中选用的是便于安装的压簧，顶接在螺杆3与绝缘保护套7之间。绝缘保护套7可由硬质塑料管类制作，其伸出端的长度略长于探头6，使探头的测试端藏在保护套内。保护套的前端以做成透明状的为好，以便直观地看到探头与测试点的接触状况。或者在其端部开一个观察窗口8以供现视。
也可以将保护套7设计成两节式的，参见图2，可简单采用静配合连接构成。这种两节式的保护套的优点是除可损坏更换外，还可视被测点的情况选用合适的保护套前端。
考虑到保护套前端部的磨蚀或损坏，可在棒体中设置一个限位螺套9，通过调节螺套9的位置来调节保护套7的伸长度长于探头6。
测量时首先是保护套7扣压在被测点上，参见图3，再轻微着力于棒体，保护套7则在被测点的反作用力的作用下克服压簧4的阻力而相对于探头和棒体向上运动，即往棒体内回缩，也就是棒体带着探头往被测点方向运动直至与被测点相触接。
实施例2本实施例的结构基本与实施例1相同。不同的是其保护套7固接在棒体中，参见图4，探头11通过一径向设置的且伸在棒体外的操作钮12与压簧4相接。通过下按操作钮12即可使探头11克服压簧4的阻力下行与被测点相触完成测试。
权利要求1.一种探头内藏式保护型测试棒，包括测试棒棒体和一根一端设在棒体中、另一端伸出在棒体外的测试探头，其特征在于所述的棒体中还设有一弹性回位机构和一与该弹性回位机构相连接的绝缘性保护套，所述的测试探头套装在绝缘性保护套中。
2.如权利要求1所述的探头内藏式保护型测试棒，其特征在于所述的绝缘保护套与棒体固接，探头与弹性回位机构相接且设有一径向操作钮伸在棒体外。
3.如权利要求1所述的探头内藏式保护型测试棒，其特征在于所述的弹性回位机构为一压缩弹簧。
4.如权利要求1所述的探头内藏式保护型测试棒，其特征在于所述的绝缘保护套的外伸端端部开有观察窗口。
5.如权利要求1所述的探头内藏式保护型测试棒，其特征在于所述的棒体中还设有一限位螺套。
6.如权利要求1所述的探头内藏式保护型测试棒，其特征在于所述的绝缘保护套为两节式保护套。
专利摘要本实用新型提供了一种探头内藏式保护型测试棒，属电子元器件测试领域。其主要构成包括棒体和一根一端设在棒体中、另一端伸在棒体外的测试探头。本实用新型的特征是在棒体中还设有一弹性回位机构和一与该弹性回位机构相连接的绝缘性保护套，所述的测试探头套装在绝缘保护套中。利用探头克服弹性回位机构的阻力在保护套中伸向预测焊点完成测试。定点准确、稳定性好、安全可靠，可取代现有的裸露状顶尖式测试探头。
文档编号G01R1/067GK2239625SQ95242588
公开日1996年11月6日 申请日期1995年12月27日 优先权日1995年12月27日
发明者谭明生 申请人:谭明生