一种测量半圆弧内径的装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种测量装置，尤其是一种测量半圆弧内径的装置。
【背景技术】
[0002] 目前，像含有半圆弧类的零部件在验收或者加工的过程中，需对半圆弧内径进行 测量，因检测手段限制，现在大部分类似结构内径的检测都借助于立坐标测量化该仪器测 量过程复杂、繁琐，需要进行多处打点拟合，测量时间较长，并且不能实现半圆弧内径100% 测量，测量费用十分昂贵，不适于长期大量使用。
[0003] 因此一种操作简单，测量精确的用于测量半圆弧内径的装置是亟需被发明的。
【发明内容】
[0004] 本发明为解决上述现有技术的不足，提出一种测量半圆弧内径的装置，该装置可 W快速实现半圆弧内孔的测量，具有结构简单、使用方便，测量精确、实用高效等特点。
[0005] 本发明涉及一种测量半圆弧内径的装置，其包括对表块、表架和测量仪表，所述测 量仪表上设有外圆夹持部位插入所述表架上与之对应的内孔处，通过螺钉固定，所属表架 两端安装有两个支腿，两个支腿外露部分的长度一致，两个支腿之间夹角为141. 058度。
[0006] 所述支腿与所述表架过盈配合安装。
[0007] 所述支腿可拆卸。
[0008] 所述支腿外露部分的长度范围是1. 5mm?11. 5mm，相应的所测半圆弧的内经范围是 30mm ?50mm。
[0009] 所述测量仪表的测量杆和所述支腿的底端均与所述对表块的圆弧形凹部相接触。
[0010] 所述对表块圆弧真实直径值与被测半圆弧内径理论值相同或接近。
[0011] 被测半圆弧的内径值等于所述对表块的真实直径值减去所述测量仪表的读数值。
[0012] 所述测量仪表为百分表或千分表。优选的，当高精度测量时使用千分表。
[0013] 所述测量装置的使用方法为；对表块的制备，对表和测量。
[0014] 本发明的理论依据为： 半圆弧内径值测量公式为；D=D0+AD =D0- Ah。
[0015] D为所需测量半圆弧内径值，DO为对表块圆弧直径真实值，AD为直径变化量，Ah 为弓高变化量(即测量时百分表读数值，带正负)，a为两支腿之间的夹角。
[0016] 所述公式通过应用H角函数公式及半径、弓高、弦长之间的关系可推导得出，当 弦长一定时，弓高变化量与直径变化量之间的关系，即固定弦长测弓高法：AD=- ( -1) Ah,从而推导出所述的测量公式。
[0017] 当时，a为141. 058度，所W当两支腿之间夹角为141. 058度时，本发 明测量公式为；D=D〇-A h，即被测半圆弧内径值等于对表块真实直径值DO减去百分表读数 值Ah (带正负）。
[0018] 本发明的有益技术效果是；本发明操作简单、实用高效，利用弓高、弦长之间的关 系算出当两只腿之间夹角为为141. 058度时，被测半圆弧的内径值等于对表块真实直径值 减去百分表刻度读数值，有效解决了半圆弧内径精确测量的难题，提高了半圆弧内径的测 量效率，节省了因H坐标测量而产生的大量费用。
[0019] 下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
【附图说明】
[0020] 附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成本说明书的一部分，与本发明的 实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中： 图1为本发明主视图； 图2为本发明左视图； 图中，1-对表块，2-支腿，3-表架，4-百分表，5-螺钉，6-外圆夹持部位，7-表架内孔。
[0021]
【具体实施方式】： 一种测量半圆弧内径的装置，其包括对表块1、支腿2、表架3、百分表4和螺钉5,支腿 2与表架3过盈配合安装，保证两个支腿之间的夹角是141. 058度，两个支腿外露部分长度 相等，减小本发明因制造误差而影响测量精度；然后将百分表4外圆夹持部位6插入表架内 孔7处；对表时根据实际情况通过上下移动百分表或千分表适当调整其预压值，使预压值 大于等于0. 5mm且小于1mm ;最后挣紧螺钉5,固定好百分表或千分表，本发明装配完成。
[0022] 此时，所述装置的使用方法既半圆弧内径的测量方法为；1、对表块1的制备，对 表块1的对表处为圆弧型，且对表块圆弧的真实直径值需与被测圆弧直径理论值相同或接 近。对表块加工完成后需用H坐标测量仪对圆弧形凹部进行真实值测量并将真实值打刻在 对表块下方平面处，方便后续使用，此处对表块圆弧直径真实值记为DO。
[0023] 2、将本发明如图1对表，将所述测量仪表的测量杆和所述支腿的底端均与所述对 表块的圆弧形凹部相接触，转动表架，观察百分表指针，转动刻度盘，将指针所指最大读数 处置为零，对表完成。
[0024] 3、测量，将对完表的所述装置放置于需测半圆弧内，放置状态与对表时放置状态 相同，转动百分表，读出指针所指最大刻度A h (带正负)，根据公式D=D〇- A h用对表块真实 值DO减去百分表所指最大刻度值Ah (带正负）即为该半圆弧内径值D，测量完毕。
[0025] 其中，在保证百分表或者千分表量程足够的前提下可通过更换不同长度的支腿 测量不同内径的半圆弧。 W上所述，仅是本专利的较佳实施例而已，并非是对本专利作其它形式的限制，任何熟 悉本专业的技术人员可能利用上述掲示的技术内容加W变更或改型为等同变化的等效实 施例。但是凡是未脱离本专利技术方案内容，依据本专利的技术实质对W上实施例所作的 任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本专利技术方案的保护范围。
【主权项】
1. 一种测量半圆弧内径的装置，包括对表块、表架和测量仪表，所述测量仪表上设有外 圆夹持部位插入所述表架上与之对应的内孔处，通过螺钉固定，其特征在于：所属表架两端 安装有两个支腿，两个支腿外露部分的长度相等，两个支腿之间夹角为141. 058度。
2. 根据权利要求1所述的测量半圆弧内径的装置，其特征在于：所述支腿与所述表架 为过盈配合安装。
3. 根据权利要求1所述的测量半圆弧内径的装置，其特征在于：所述支腿可拆卸。
4. 根据权利要求1所述的测量半圆弧内径的装置，其特征在于：所述支腿外露部分的 长度范围是1. 5mm~ll. 5mm。
5. 根据权利要求1所述的测量半圆弧内径的装置，其特征在于：被测半圆弧的内径值 等于所述对表块的真实直径值减去所述测量仪表的读数值。
6. 根据权利要求1所述的测量半圆弧内径的装置，其特征在于：所述测量仪表的测量 杆和所述支腿的底端均与所述对表块的圆弧形凹部相接触。
7. 根据权利要求1所述的测量半圆弧内径的装置，其特征在于：所述对表块的圆弧真 实直径值与被测半圆弧内径理论值相同或者接近。
8. 根据权利要求1-7中任一项所述的测量半圆弧内径的装置，其特征在于：所述测量 仪表为百分表或千分表。
【专利摘要】本发明公开了一种测量半圆弧内径的装置，其包括对表块、表架、测量仪表及支腿。本发明所述的装置可以通过更换不同长度的支腿来满足不同内径半圆弧的测量，被测半圆弧的内径值等于对表块的真实值减去测量仪表的读数值。本发明操作简单、实用性好，测量效率高。
【IPC分类】G01B5-213, G01B5-12
【公开号】CN104596396
【申请号】CN201410843495
【发明人】纪建奕, 纪奕春, 位本杰, 孙丽丽, 邴启顺
【申请人】青特集团有限公司
【公开日】2015年5月6日
【申请日】2014年12月30日