连接接口的差分信号测试系统及其方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种信号测试系统及其方法，特别是指根据差分信号测试连接接口的差分信号线路的连接接口的差分信号测试系统及其方法。
【背景技术】
[0002]近年来，随着硬盘的普及与蓬勃发展，传统的汇流排在频宽上已逐渐不敷使用，因此，扩展汇流排的频宽与相容性已成为共识，例如:国际标准组织提出了 “SFF-8639”的接口规范，以便同时支援“PCI ExpresWSATA”及“SAS”等接口。然而，在提高频宽及相容性的同时，如何快速、有效地测试连接接口便成为各家厂商亟欲解决的问题之一。
[0003]一般而言，传统的连接接口测试方式是使用一台服务器及大量的硬盘来实现，藉由实际连接硬盘来测试连接接口是否符合要求。然而，此方式需要花费大量的时间进行测试以及使用大量的硬盘，故具有测试效率低落以及成本高昂的问题。
[0004]有鉴于此，便有厂商提出一种测试端设备，以探针的方式对连接接口进行信号测试，无需实际连接大量的硬盘，所以可节省大量的测试时间及成本。然而，此方式存在差分信号的测试覆盖率不佳的问题。
[0005]综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在差分信号的测试覆盖率不佳的问题，因此实有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。
【发明内容】
[0006]本发明揭露一种连接接口的差分信号测试系统及其方法。
[0007]首先，本发明揭露一种连接接口的差分信号测试系统，用以测试具有差分信号线路的连接接口，此系统包含:回路装置及测试端，所述回路装置与连接接口电性连接，用以自连接接口接收差分信号，并且将差分信号同步反馈至连接接口。所述测试端用以与连接接口电性连接，此测试端包含:第一测试模块及第二测试模块。其中，第一测试模块用以产生一组伪随机二进制序列(Pseudo Random Binary.Sequence, PRBS),并且将此组伪随机二进制序列传送至连接接口作为差分信号，以及根据反馈的差分信号测试连接接口的串列通道传输的比特误码率(Bit Error Rate, BER);第二测试模块用以使用边界扫描(BoundaryScan)方式，测试连接接口上的每一对差分信号线路中的单一信号线路的短路及开路状态。
[0008]另外，本发明揭露一种连接接口的差分信号测试方法，用以测试具有差分信号线路的连接接口，其步骤包括:将回路装置与连接接口电性连接，以及将测试端与连接接口电性连接；测试端产生一组伪随机二进制序列，并且将此组伪随机二进制序列传送至连接接口作为差分信号；回路装置自连接接口接收差分信号，并且将差分信号同步反馈至连接接口 ；测试端根据反馈的差分信号测试连接接口的串列通道传输的比特误码率；测试端使用边界扫描方式，测试连接接口上的每一对差分信号线路中的单一信号线路的短路及开路状态。
[0009]本发明所揭露的系统与方法如上，与现有技术的差异在于本发明是通过在连接接口电性连接回路装置及测试端，并且由测试端产生伪随机二进制序列及使用边界扫描方式来测试连接接口，以便根据回路装置反馈的差分信号获得连接接口的比特误码率及差分信号线路的短路及开路状态。
[0010]通过上述的技术手段，本发明可以达成提高差分信号的测试覆盖率的技术功效。
【附图说明】
[0011]图1为本发明连接接口的差分信号测试系统的系统方块图。
[0012]图2为本发明连接接口的差分信号测试方法的方法流程图。
[0013]图3为本发明连接接口的差分信号测试的电路示意图。
[0014]【符号说明】
[0015]110 连接接口
[0016]111差分信号线路
[0017]120回路装置
[0018]130测试端
[0019]131第一测试模块
[0020]132第二测试模块
[0021]133信号多路器
[0022]300信号调节重定时器
【具体实施方式】
[0023]以下将配合图式及实施例来详细说明本发明的实施方式，藉此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
[0024]在说明本发明所揭露的连接接口的差分信号测试系统及其方法之前，先对本发明自行定义的名词作说明，本发明所述的连接接口也可称为连接背板、连接插槽、连接端口等等，其具有差分信号线路。以符合“SFF-8639”接口规范的连接接口为例，此连接接口可同时支援使用“PCI Express”、“SATA”及“SAS”等接口的硬盘装置。
[0025]以下配合图式对本发明连接接口的差分信号测试系统及其方法做进一步说明，请参阅「图1」，「图1」为本发明连接接口的差分信号测试系统的系统方块图，用以测试具有差分信号线路的连接接口 110，此系统包含:回路装置120及测试端130。其中，回路装置120与连接接口 110电性连接，用以自连接接口 110接收差分信号，并且将差分信号同步反馈至连接接口 110。在实际实施上，连接接口 110的一端电性连接回路装置120，连接接口 110的另一端则电性连接测试端130，此电性连接方式符合“SFF-8639”接口规范。换句话说，测试端130产生的信号会先经由连接接口 110再传送至回路装置120，而回路装置120则直接将此信号反馈回连接接口 110，再由连接接口 110传送至测试端130。
[0026]至于在测试端130的部分，测试端130用以与连接接口 110电性连接，此测试端130包含:第一测试模块131及第二测试模块132。其中，第一测试模块131用以产生一组伪随机二进制序列(Pseudo Random Binary.Sequence, PRBS),并且将这组伪随机二进制序列传送至连接接口 110作为差分信号，以及根据反馈的差分信号测试连接接口 110的串列通道传输的比特误码率(Bit Error Rate, BER)。在实际实施上，对于连接接口的差分信号线路可以分别采用2.5G、5.0G及8.0Gbps的速率来验证各条差分信号线路在高速差分模式下的信号特征，并根据比特误码率得知差分信号线路的品质。
[0027]第二测试模块132用以使用边界扫描(Boundary Scan)方式，测试连接接口 110上的每一对差分信号线路中的单一信号线路的短路及开路状态。在实际实施上，此边界扫描为根据差分信号的上升速度对交流耦合电路进行测试，其测试方式是依据联合测试工作组(Joint Test Act1n Group, JTAG)制定的1149.6标准来实现,属于差分信号的一种测试方式，可实现交流偶合电路的特征测试。由于此1149.6标准为公知技术，故在此不再多作赘述。