一种激光测距机综合性能检测设备的制造方法

文档序号:8360087阅读:321来源:国知局
一种激光测距机综合性能检测设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及现代电子应用技术领域,具体涉及一种激光测距机综合性能检测设备。
【背景技术】
[0002]由于传统的激光测距性能检测必须到室外对目标靶进行检测,并且受到天气条件的限制,使得技术普查和日常维护受到很大的制约。

【发明内容】

[0003]本发明旨在提出一种基于AVR微处理器的激光测距机综合性能检测设备。
[0004]本发明的技术方案在于:
一种激光测距机综合性能检测设备,由微处理器、人机对话界面、窄脉冲功率驱动级发光强度控制电路、激光脉冲信号同步器、激光脉冲能量探测器及前置放大器、打印机、面板显示及按键控制电路、精密延时信号发生器、重复频率精密测时器;高速数据采集转换器以及打印机接口控制电路;其中,人机对话界面通过面板显示及按键控制电路连接微处理器,窄脉冲功率驱动级发光强度控制电路通过精密延时信号发生器微处理器、激光脉冲信号同步器通过重复频率精密测时器连接微处理器,激光脉冲能量探测器及前置放大器通过高速数据采集转换器连接微处理器,打印机通过打印机接口控制电路连接微处理器。
[0005]优选地,所述的精密延时信号发生器与激光脉冲信号同步器相互连接。
[0006]本发明的技术效果在于:
本发明提供的激光测距机综合性能检测设备可改变以前激光测距性能检测必须到室外对目标靶进行检测,并且受到天气条件限制的现状,使技术普查和日常维护在室内就可以方便完成,检测结果数字化显示,大大提高了检测效率和测试精度。检测设备配备三维调节平台,激光发射和接收装置位置可以任意调节,并可互换,使调整瞄准非常方便。对不同型号的激光测距机都可以进行检测。检测设备还可对激光脉冲能量进行检测,作为激光能量计使用,可以对各种激光发射装备的输出激光能量进行快速检测。
【附图说明】
[0007]图1为本发明一种激光测距机综合性能检测设备的系统连接图。
【具体实施方式】
[0008]一种激光测距机综合性能检测设备,由微处理器、人机对话界面、窄脉冲功率驱动级发光强度控制电路、激光脉冲信号同步器、激光脉冲能量探测器及前置放大器、打印机、面板显示及按键控制电路、精密延时信号发生器、重复频率精密测时器;高速数据采集转换器以及打印机接口控制电路组成;其中,人机对话界面通过面板显示及按键控制电路连接微处理器,窄脉冲功率驱动级发光强度控制电路通过精密延时信号发生器微处理器、激光脉冲信号同步器通过重复频率精密测时器连接微处理器,激光脉冲能量探测器及前置放大器通过高速数据采集转换器连接微处理器,打印机通过打印机接口控制电路连接微处理器。所述的精密延时信号发生器与激光脉冲信号同步器相互连接。
[0009]本发明的基本思想基于模拟激光测距机的工作原理和激光传输过程,激光测距机在工作时,首先从其发射通道发射一激光脉冲,经过大气传输照射在被测物体上,然后漫反射,激光测距机的接收通道接收到漫反射的激光回波,激光测距机内部安装有激光脉冲的发射、接收和计时模块,根据激光脉冲从发射到返回的时间可以计算出其走过的距离,从而得到被测目标和激光测距机之间的距离。而本方案的综合性能检测设备与激光测距机的接收、发射通道相对应,分别提供发射、接收通道,检测设备内部也相应设置计时模块,实现相对应一定距离上的目标回波时间、能量的双重模拟,即可由检测设备代替目标模拟回波脉冲,实现激光测距机测距性能的自动化、数字化检测。
[0010]其中,本发明使用双频双光路耦合法是先激光测距,本方法将目标漫反射的远方目标回波由半导体激光器模拟,当模拟该回波的光谱和空间特性后,即可驱动激光器的逻辑单元工作。而激光脉冲相应距离上的飞行时间则由精密延时模块实现。这样将激光脉冲在空间的延迟特性转换为时间特性,从而将远方目标从一定距离拉近到被测仪器前端,代替了激光测距机性能检测必须要有远方的实际合作目标的传统检测方法。
[0011]本方案对激光测距机测程的检测,首先通过设置延时时间为被测激光测距机测程对应的激光脉冲运行时间,当检测设备接收到“取样”脉冲后即控制开始计时,计时结束后,微处理器控制分别发出一个模拟回波脉冲信号,同时,微处理器控制激光脉冲能量探测器及前置放大器发出激光脉冲的能量,使该能量相当于对应距离目标回波的能量,这样在激光测距机的接收通道上就可以对应测程上目标回波脉冲,根据显示结果,即可判断激光测距机在光轴正常情况下可否满足测程指标要求。
【主权项】
1.一种激光测距机综合性能检测设备,其特征在于:由微处理器、人机对话界面、窄脉冲功率驱动级发光强度控制电路、激光脉冲信号同步器、激光脉冲能量探测器及前置放大器、打印机、面板显示及按键控制电路、精密延时信号发生器、重复频率精密测时器;高速数据采集转换器以及打印机接口控制电路组成;其中,人机对话界面通过面板显示及按键控制电路连接微处理器,窄脉冲功率驱动级发光强度控制电路通过精密延时信号发生器微处理器、激光脉冲信号同步器通过重复频率精密测时器连接微处理器,激光脉冲能量探测器及前置放大器通过高速数据采集转换器连接微处理器,打印机通过打印机接口控制电路连接微处理器。
2.如权利要求1一种激光测距机综合性能检测设备,其特征在于:所述的精密延时信号发生器与激光脉冲信号同步器相互连接。
【专利摘要】本发明涉及现代电子应用技术领域,具体涉及一种激光测距机综合性能检测设备。一种激光测距机综合性能检测设备,人机对话界面通过面板显示及按键控制电路连接微处理器,窄脉冲功率驱动级发光强度控制电路通过精密延时信号发生器微处理器、激光脉冲信号同步器通过重复频率精密测时器连接微处理器,激光脉冲能量探测器及前置放大器通过高速数据采集转换器连接微处理器,打印机通过打印机接口控制电路连接微处理器。本发明提供的激光测距机综合性能检测设备可改变以前激光测距性能检测必须到室外对目标靶进行检测,并且受到天气条件限制的现状,使技术普查和日常维护在室内就可以方便完成,检测结果数字化显示,大大提高了检测效率和测试精度。
【IPC分类】G01S7-497
【公开号】CN104678375
【申请号】CN201410758123
【发明人】周继德
【申请人】周继德
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2014年12月11日
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1