一种电容检验方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电容检验方法。
【背景技术】
[0002]电容是电子电路中必不可少的电子元器件，广泛应用于隔直、耦合、旁路、滤波、调谐回路、能量转换和控制电路等方面，其精度的高低直接影响着电子电路的可靠性和电路性能，电容由于标称精度的不同可以分为普通电容和精密电容，精度范围从±20%至±0.5%不等，电容量C的大小受电容材料、形状、极板间的距离、温度、湿度等多种因素影响，故同一标称值的电容实际上的电容值往往存在一定的差别，因此实际使用时对电容的容值校验是十分必要的，尤其是用于去耦电路中的电容，去耦电容的电容精度不够会直接导致去耦效果不佳，进而影响电路的整体性能。
【发明内容】
[0003]本发明针对以上问题的提出，而研制一种准确实用的电容检验方法。
[0004]本发明的技术手段如下:
[0005]一种电容检验方法，包括如下步骤:
[0006]①在待测电容与已知阻值的电阻R相互串联构成的回路两端施加频率为50Hz、电压有效值为U的正弦交流电；
[0007]②检测电阻R两端的电压Ur ；
[0008]③计算待测电容两端的电压Uc=U-Uk ；
[0009]④计算待测电容与电阻R构成的串联回路电流I=UK/R ；
[0010]⑤根据计算出的待测电容两端电压U。和回路电流I利用公式C=I/ (UCX2 π f)得出待测电容的电容值C ;
[0011]⑥根据基准电容在频率为50Hz的正弦交流电条件下的电容值对待测电容的容值C进行校验差值；
[0012]⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果；
[0013]进一步地，所述正弦交流电的电压有效值U小于待测电容的耐压值。
[0014]由于采用了上述技术方案，本发明提供的一种电容检验方法，通过一种简单准确的检测和计算方式来获取待测电容容值，并通过待测电容容值与基准电容容值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，尤其是当为去耦电路等对电容精度要求较高的电路选取电容时，可以利用该电容检验方法对电容器件进行筛选，进而利于保证待测电容的应用效果，适于广泛推广。
【附图说明】
[0015]图1是本发明所述方法的流程图。
【具体实施方式】
[0016]如图1所示的一种电容检验方法，包括如下步骤:
[0017]①在待测电容与已知阻值的电阻R相互串联构成的回路两端施加频率为50Hz、电压有效值为U的正弦交流电；
[0018]②检测电阻R两端的电压Ur ；
[0019]③计算待测电容两端的电压Uc=U-Uk ；
[0020]④计算待测电容与电阻R构成的串联回路电流I=UK/R ；
[0021]⑤根据计算出的待测电容两端电压U。和回路电流I利用公式C=I/ (UCX2 π f)得出待测电容的电容值C ;
[0022]⑥根据基准电容在频率为50Hz的正弦交流电条件下的电容值对待测电容的容值C进行校验差值；
[0023]⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果；
[0024]进一步地，所述正弦交流电的电压有效值U小于待测电容的耐压值。
[0025]本发明提供的一种电容检验方法，通过一种简单准确的检测和计算方式来获取待测电容容值，并通过待测电容容值与基准电容容值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，尤其是当为去耦电路等对电容精度要求较高的电路选取电容时，可以利用该电容检验方法对电容器件进行筛选，进而利于保证待测电容的应用效果，适于广泛推广。
[0026]以上所述，仅为本发明较佳的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种电容检验方法，其特征在于包括如下步骤: ①在待测电容与已知阻值的电阻R相互串联构成的回路两端施加频率为50Hz、电压有效值为U的正弦交流电； ②检测电阻R两端的电压Ur； ③计算待测电容两端的电压Uc=U-Ur； ④计算待测电容与电阻R构成的串联回路电流I=UK/R； ⑤根据计算出的待测电容两端电压UC和回路电流I利用公式C=I/(%Χ2 π f)得出待测电容的电容值C ; ⑥根据基准电容在频率为50Hz的正弦交流电条件下的电容值对待测电容的容值C进行校验差值； ⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果。
2.根据权利要求1所述的一种电容检验方法，其特征在于所述正弦交流电的电压有效值U小于待测电容的耐压值。
【专利摘要】本发明公开了一种电容检验方法，包括如下步骤：在待测电容与已知阻值的电阻R相互串联构成的回路两端施加频率为50Hz、电压有效值为U的正弦交流电；检测电阻R两端的电压UR；计算待测电容两端的电压UC=U-UR；计算待测电容与电阻R构成的串联回路电流I=UR/R；根据计算出的待测电容两端电压UC和回路电流I利用公式C=I/（UC×2 π f）得出待测电容的电容值C；根据基准电容在频率为50Hz的正弦交流电条件下的电容值对待测电容的容值C进行校验差值；本发明能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，可以利用该电容检验方法对电容器件进行筛选，进而利于保证待测电容的应用效果。
【IPC分类】G01R27-26, G01R31-00
【公开号】CN104698305
【申请号】CN201310657220
【发明人】王榕英
【申请人】大连东浦机电有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2013年12月4日