自动测试设备资源配置方法与自动测试通道配置装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明关于一种资源配置方法与通道配置装置，特别关于一种应用于自动测试设 备的自动测试设备资源配置方法与自动测试通道配置装置。
【背景技术】
[0002] 在集成电路的领域中，测试是一个很重要的步骤。测试的目的在于确认被测试的 集成电路（或称芯片）的运作符合预期，并且将通过测试与未通过测试的集成电路分门别 类。避免将未通过测试的集成电路贩售给客户从而造成巨大的损失。
[0003] 在测试时，自动测试设备（automated test equipment, ATE)被广泛地运用。自动 测试设备可以用来对受测的集成电路送出信号，并接收、分析从受测集成电路反馈的信号， 来决定受测的集成电路有没有发生功能错误（malfunction)的状况。
[0004] 在自动测试设备的领域中，如何同时测试多个待测物（device under test, DUT) 一直是重要的课题。同一时间能测试的待测物的数量越多，代表产品的测试成本越低。
【发明内容】
[0005] 有鉴于以上的课题，本发明提出一种自动测试设备资源配置方法以及应用此方法 的自动测试通道配置装置，应用此方法，可以依据多个测试环境中每个测试环境被选择的 状态与多个测试通道中每个测试通道在多个测试环境中是否被致能以供测试的状态，来决 定在一个批次的测试中前述多个通道中每个通道是否该导通。
[0006] 为达到上述目的，依据本发明的一种自动测试设备资源配置方法，包含设定关系 表，该关系表用以纪录多个通道对应多个测试环境的操作关联性。并且，由前述多个测试环 境中，选择其中一个第一测试环境。并且，依据前述关系表计算对应第一测试环境的第一通 道状态。并且，由前述多个测试环境中，选择其中一个第二测试环境。并且，依据前述关系 表计算对应第二测试环境的第二通道状态。并且，依据第一通道状态与第二通道状态，计算 前述多个通道中的一个第一通道是否需要被导通，以产生一个第一通道控制信号。
[0007] 上述的自动测试设备资源配置方法，其中在计算该第一通道状态的步骤中，依据 该关系表中所记录的该第一通道对应于该第一测试环境是否被导通来决定该第一通道状 态。
[0008] 上述的自动测试设备资源配置方法，其中在计算这些通道中的该第一通道是否需 要被导通的步骤中，依据该第一通道状态与该第二通道状态进行一逻辑或（logic or)计 算，以决定这些通道中的该第一通道是否需要被导通。
[0009] 上述的自动测试设备资源配置方法，其中还包含依据一启动信号以从这些通道中 选择该第一通道。
[0010] 上述的自动测试设备资源配置方法，其中还包含依据该第一通道状态与该第二通 道状态，计算这些通道中的一第二通道是否需要被导通，以产生一第二通道控制信号。
[0011] 上述的自动测试设备资源配置方法，其中还包含输出该第一通道控制信号以控制 该第一通道。
[0012] 为达到上述目的，依据本发明的一种自动测试设备，包含多个测试通道、记忆模块 与逻辑运算模块。多个测试通道中的每个测试通道用以依据一个测试通道控制信号而选择 性地被导通。记忆模块包含对应于前述多个测试通道的多行记忆区块，这些记忆区块中每 一行记忆区块关于前述多个测试通道中一个测试通道，每一行记忆区块中包含多个导通状 态值。逻辑运算模块电性连接至前述多个测试通道与前述记忆模块，用以依据前述一行记 忆区块中的被记录的多个导通状态值与测试环境选择数据以产生一个测试通道控制信号， 其中前述测试环境选择数据用以纪录多个选择状态值，这些选择状态值对应于前述多个测 试环境。
[0013] 上述的自动测试通道配置装置，其中该逻辑运算模块包含：一控制单元，电性连接 至该记忆模块，用以从这些记忆区块中读取一第一记忆区块中的多个导通状态值；多个第 一逻辑单元，电性连接至该记忆模块，每一该第一逻辑单元用以依据被读取的这些导通状 态值其中之一导通状态值与该测试环境选择数据中的一选择状态值决定一测试环境致能 信号；以及一第二逻辑单元，电性连接至这些第一逻辑单元与这些测试通道，用以依据这些 测试环境致能信号以产生该测试通道控制信号。
[0014] 上述的自动测试通道配置装置，其中该控制单元有顺序地从这些记忆区块中读取 这些导通状态值，以依序产生这些测试通道控制信号。
[0015] 上述的自动测试通道配置装置，其中该控制单元在这些测试通道控制信号都被产 生后，输出这些测试通道控制信号。
[0016] 应用本发明所提供的自动测试设备资源配置方法以及对应的自动测试通道配置 装置，可以依据多个测试环境中每个测试环境被选择的状态与多个测试通道中每个测试通 道在多个测试环境中是否被致能以供测试的状态，来决定在一个批次的测试中前述多个通 道中每个通道是否该被致能。
[0017] 以上的关于本
【发明内容】
的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明 的精神与原理，并且提供本发明的权利要求书更进一步的解释。
【附图说明】
[0018] 图1依据本发明一实施例的自动测试系统功能方块图；
[0019] 图2依据本发明一实施例的自动测试通道配置装置功能方块图；
[0020] 图3用以说明依据本发明一实施例的逻辑运算模块中的电路示意图；
[0021] 图4依据本发明一实施例的有限状态机运作模式示意图；
[0022] 图5依据本发明一实施例中第一逻辑单元与第二逻辑单元的电路示意图；
[0023] 图6依据本发明一实施例的自动测试设备资源配置方法流程图。
[0024] 其中附图标记：
[0025] 1自动测试系统 11自动测试设备
[0026] 13自动测试通道配置装置131通道模块
[0027] 133记忆模块 135逻辑运算模块
[0028] 1351控制单元 1353、1353a第一逻辑单元
[0029] 1355、1355a第二逻辑单元1357缓冲器
[0030] 15待测装置 Fl有限状态机
[0031] Ml多工器 Q1、Q2电晶体
【具体实施方式】
[0032] 以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何本领 域技术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、权利要求 书及附图，任何本领域技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例进 一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。
[0033] 鉴于公知技术已存在的问题，本发明提出一种自动测试设备资源配置方法及使用 此方法的自动测试通道配置装置（automatic test equipment, ATE)。自动测试设备可应用 于集成电路的功能测试。
[0034] 于本发明一实施例中的自动测试系统，请参照图1，其依据本发明一实施例的自动 测试系统功能方块图。如图1所示，自动测试系统1包含自动测试设备（automated test equipment, AT