光谱检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及光谱领域，尤其涉及一种光谱检测装置。
【背景技术】
[0002]太赫兹波作为频率在0.1THz到1THz远红外波段的电磁波，其具有透视性好、安全性高、光谱分辨本领强等独特的性质以及非常重要的学术价值和应用前景。随着太赫兹技术的发展，太赫兹光谱及成像在生物学、医学疾病诊断、材料科学、军事以及化学基础研究等许多领域展现出巨大的应用潜力。太赫兹时域光谱技术是近年发展起来的太赫兹辐射的应用技术之一，其是太赫兹光谱技术的核心研发领域。
[0003]太赫兹时域光谱系统通常分为反射式光谱系统和透射式光谱测量系统，相应地，太赫兹时域光谱的测量分为反射式测量和透射式测量两种方式，这两种测量方式各有特点，因而需要按照不同的样品或用途做出选择。然而，现有的太赫兹时域光谱装置，在实际应用中往往需要在透射式测量和反射式测量的切换中耗费较多时间，而且需要重新设置部分光学器件的位置和角度以及重新调节光路，给太赫兹光谱研究和实际应用带来了很多不便。
【发明内容】
[0004]针对上述问题，本发明的目的在于提供一种光谱检测装置，其实现了太赫兹时域光谱的测量中反射式测量和透射式测量的灵活切换，且便于光谱测量，为太赫兹实验研究和太赫兹光谱测量实用化提供了方便。
[0005]为了解决上述技术问题，本发明提供了一种光谱检测装置，用于检测样品的光谱，所述光谱检测装置包括基座、发射器、探测器及光谱检测模块，所述发射器、探测器及光谱检测模块均安装于所述基座上，所述样品置于所述光谱检测模块内，所述发射器发射电磁波，所述电磁波进入所述光谱检测模块并在所述样品表面反射或透射后从所述光谱检测模块出射，出射后的电磁波被所述探测器接收以检测所述样品的反射光谱或透射光谱。
[0006]其中，所述光谱检测模块包括:
[0007]反射模块，用于接收所述发射器发射的电磁波，并将所述样品反射的电磁波传输至所述探测器以检测所述样品的反射光谱；或者
[0008]透射模块，用于接收所述发射器发射的电磁波，并将所述样品透射的电磁波传输至所述探测器以检测探测所述样品的透射光谱。
[0009]其中，所述反射模块包括第一底板、第一反射调节组件及第一反射件，所述第一反射调节组件包括第一反射调节架及第二反射调节架，所述第一反射调节架安装于所述第一底板上，所述第二反射调节架安装于所述第一反射调节架上，所述第一反射件安装于所述第二反射调节架上并对准所述发射器。
[0010]其中，所述反射模块还包括第二反射调节组件及第二反射件，所述第二反射调节组件包括第三反射调节架及第四反射调节架，所述第三反射调节架安装于所述第一底板上，所述第四反射调节架安装于所述第三反射调节架上，所述第二反射件安装于所述第四反射调节架上且对准所述探测器。
[0011]其中，所述第一反射调节架、第二反射调节架、第三反射调节架及第四反射调节架上均具有锁紧件，所述锁紧件松开时，所述第一反射调节架及所述第二反射调节架调节所述第一反射件的空间位置及其与所述第一底板之间的角度，所述第三反射调节架及第四反射调节架调节所述第二反射件的空间位置及其与所述第一底板之间的角度；所述锁紧件锁紧时，所述第一反射件及第二反射件被固定而无法移动。
[0012]其中，所述反射模块还包括第一样品支架，所述第一样品支架固定于所述第一底板上并位于所述第一反射件及第二反射件之间，所述样品水平横置于所述第一样品支架上且所述样品到所述第一底板的距离分别小于所述第一反射件及所述第二反射件到所述第一底板的距离，所述第一反射件及第二反射件的焦点同时位于所述样品上。
[0013]其中，所述透射模块包括第二底板、第一透射调节组件及第三反射件，所述第一透射调节组件包括第一透射调节架及第二透射调节架，所述第一透射调节架安装于所述第二底板上，所述第二透射调节架安装于所述第一透射调节架上，所述第三反射件安装于所述第二透射调节架上并对准所述发射器。
[0014]其中，所述透射模块还包括第二透射调节组件及第四反射件，所述第二透射调节组件包括第三透射调节架及第四透射调节架，所述第三透射调节架安装于所述第二底板上，所述第四透射调节架安装于所述第三透射调节架上，所述第四反射件安装于所述第四透射调节架上并对准所述探测器。
[0015]其中，所述第一透射调节架、第二透射调节架、第三透射调节架及第四透射调节架上均具有锁紧件，所述锁紧件松开时，所述第一透射调节架及所述第二透射调节架调节所述第三反射件的空间位置及其与所述第二底板之间的角度，所述第三透射调节架及第四透射调节架调节所述第四反射件的空间位置及其与所述第二底板之间的角度；所述锁紧件锁紧时，所述第三反射件及第四反射件镜被固定而无法移动。
[0016]其中，所述透射模块还包括第二样品支架，所述第二样品支架固定于所述第二底板上并位于所述第三反射件及第四反射件之间，所述样品竖直放置于所述第二样品支架上且所述样品到所述第一底板的距离与所述第三反射件及所述第四反射件到所述第一底板的距离相等，所述第三反射件及第四反射件的焦点同时位于所述样品上。
[0017]本发明提供的一种光谱检测装置，其可用于所述样品的反射光谱和透射光谱检测。所述发射器发射电磁波，该电磁波进入所述反射模块或透射模块并在所述样品发生反射或透射，并从所述反射模块透射模块，出射后的电磁波被所述探测器接收以检测所述样品的反射光谱或透射光谱，即通过所述反射模块及透射模块的结构设计配合所述发射器和探测器可使得所述反射模块及所述透射模块进行灵活的切换，从而分别实现反射光谱检测和透射光谱检测。此外，由于更换所述反射模块及所述透射模块时无需重新设置部分光学器件的位置和角度以及再次调整光路，因而极大方便了实验研究和光谱测量。
【附图说明】
[0018]为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1是本发明实施例提供的光谱检测装置的一种测试示意图。
[0020]图2是本发明实施例提供的光谱检测装置的另一种测试示意图。
[0021]图3是图1所示的光谱检测装置的反射模块的光路示意图。
[0022]图4是图2所示的光谱检测装置的透射模块的光路示意图。
【具体实施方式】
[0023]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0024]请一并参阅图1及图2，本发明实施例提供一种光谱检测装置100，其包括基座20、发射器30、探测器40、反射模块50及透射模块60，所述发射器30、探测器40均固定于所述基座20上。所述反射模块50及透射模块60构成了所述光谱检测装置100的光谱检测模块，且任一时刻所述反射模块50及所述透射模块60 二者中只有一个安装在所述基座20上。所述发射器30发射电磁波，所述电磁波经所述反射模块50或透射模块60后传输至所述探测器40。在本发明的实施例中，所述电磁波为太赫兹波，其频率位于0.1THz?1THz之间，所述太赫兹波具有透视性好、安全性高、光谱分辨本领强等优点。
[0025]在本发明的是实施例中，所述基座20用于固定所述发射器30、探测器40、反射模块50及透射模块60，所述基座20开设有固定孔(图未示)，所述固定孔用于安装所述反射模块50及透射模块60。所述发射器30用于向该反射模块50和透射模块60发射电磁波,所述探测器40用于接收所述反射模块50和透射模块60反射的电磁波。
[0026]请一并参阅图3,所述反射模块50包括第一底板51、第一样品支架52、第一反射调节组件53、第一反射件54、第二反射调节组件55及第二反射件56。所述第一底板51上开设若干安装孔512，所述安装孔512与所述基座20上的固定孔一一对