薄膜的卷取不良检查方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种薄膜的卷取不良检查方法。
【背景技术】
[0002] 近年，与现有的作为显示器的CRT (Cathode Ray Tube :电子射线管）相比较，正急 速地扩大需要一种具有薄型轻量化、省电、高画质化等优点的液晶显示器（LCD)，尤其正急 速地扩大需要一种用于大画面监视器或32英寸以上的大画面TV的LCD。多数情况下，随着 LCD的大画面化，通过提高背光源的辉度或者安装用于提高辉度的功能性薄膜等，由此即使 画面较大也能确保IXD有足够的辉度。
[0003] 对于这种高辉度类型的IXD，由于辉度较高，因此在显示器中存在的小缺点通常成 为问题，另外，在偏光板、相位差板这样具有光学特性的结构部件中，存在对于现有的LCD 不成为问题的大小的缺点却成为问题的情况。因此，较为重要的是，防止在各光学部件的制 造工序中产生缺点，或者即使产生了缺点也可以切实地识别出缺点的检查性能的提高。
[0004] 这种现有的薄膜检查方法是在薄膜制造工序中，对片（sheet)状的薄膜进行检 查。
[0005] 然而，当薄膜以辊子状流通时，这种辊子是一边生产薄膜一边将薄膜卷取在辊子 上进行制造，但在将薄膜卷取于辊子上时，有可能会流入杂质、薄膜厚度的不均匀、因张力 等条件等问题而产生凹凸或者产生外观不良。
[0006] 并且，若在不理会这些不良的状态下继续卷取薄膜时，而在所卷取的薄膜整体上 继续累积这些不良，由此会发生必须废弃已卷取在辊子上的薄膜整体的问题。
[0007] 由于这些不良与其说是薄膜本身的问题，不如说是在卷取过程中所产生的不良， 而在现有的薄膜评价方法中，对这些不良无法进行检查。
[0008] 因此，为了不使所述不良累积，寻求一种检查方法，其可以在薄膜的卷取过程中实 时地检查并采取调节工序等措施，但实际上这种方法尚未确立。
[0009] 在韩国公开专利第2013-00076801号公报中，记载了薄膜的缺陷检查装置、缺陷 检查方法以及脱模薄膜。
[0010] 现有技术文献
[0011] 专利文献
[0012] 专利文献1 :韩国公开专利第2013-00076801号公报
【发明内容】
[0013] 本发明所要解决的问题
[0014] 本发明的目的是提供一种可以一边将薄膜卷取于辊子上，一边实时地判别卷取过 程中产生的不良的检查方法。
[0015] 为解决问题的方法
[0016] 1.薄膜的卷取不良检查方法是向卷取于辊子上的薄膜照射光，并对光所照射的部 位进行拍摄，将从所拍摄的影像中得到的规定尺寸的低明亮度点判别为卷取不良部位。
[0017] 2.在所述项目1的薄膜的卷取不良检查方法中，所述光的照度为50000勒克司 (Iux)以上。
[0018] 3.在所述项目1的薄膜的卷取不良检查方法中，所述光从离薄膜1.5m以内的距离 进行照射。
[0019] 4.在所述项目1的薄膜的卷取不良检查方法中，当所述影像中包括与基准灰度的 灰度差在6以上的部位的最小正方形为I X Imm~50 X 50mm时，则判别为该部位为凹凸不 良。
[0020] 5.在所述项目1的薄膜的卷取不良检查方法中，当所述影像中包括与基准灰度的 灰度差在10以上的部位的最小正方形超过50 X 50mm时，则判别为该部位为外观不良。
[0021] 6.在所述项目4或5的薄膜的卷取不良检查方法中，包括具有所述灰度差的部位 的最小正方形是包括存在于以任一部位为中心的半径IOmm的圆内的所有部位的最小正方 形。
[0022] 7.在所述项目1的薄膜的卷取不良检查方法中，当所述影像的沿辊子的外周面所 形成的线与基准灰度的灰度差在5以上且其宽度在Imm以上时，则判别为所述线为线形不 良。
[0023] 8.薄膜的卷取不良检查方法具有如下步骤：
[0024] 步骤（SI)，向卷取于辊子上的薄膜照射光，并对光所照射的部位进行拍摄，在所拍 摄的影像中选别与基准灰度的灰度差在6以上的部位；
[0025] 步骤（S2)，当包括在所述（SI)步骤中所选别的部位的最小正方形为IX Imm~ 50 X 50mm时，则判别为该部位为凹凸不良；
[0026] 步骤（S3)，对未判别为所述凹凸不良的部位中、与基准灰度的灰度差为10以上的 部位进行选别；
[0027] 步骤（S4)，当包括在所述（S3)步骤中所选别的部位的最小正方形超过50X50mm 时，则判别为该部位为外观不良；
[0028] 步骤（S5)，对未判别为所述凹凸不良以及外观不良的部位中、与基准灰度的灰度 差为5以上且沿辊子的外周面所形成的线进行选别；以及
[0029] 步骤（S6)，若在所述（S5)步骤中所选别的线的宽度为1mm以上，则判别为该部位 为线形不良。
[0030] 9.在所述项目8的薄膜的卷取不良检查方法中，对于凹凸不良以及外观不良，包 括具有灰度差的部位的最小正方形是包括存在于以任一部位为中心的半径IOmm的圆内的 所有部位的最小正方形。
[0031] 10.薄膜的卷取不良检查系统具有：光源，其向卷取于辊子上的薄膜的卷取部照 射光；拍摄设备，其对所述卷取部的光照射部位进行拍摄；编码器，其根据所述薄膜的卷取 速度而发出所述拍摄设备的拍摄周期信号；与控制部，其从所述编码器接收拍摄周期信号 并将拍摄信号传送至所述拍摄设备，并在从所述拍摄设备接收的拍摄影像中对卷取不良进 行检测。
[0032] 11.在所述项目10的薄膜的卷取不良检查系统中，当拍摄影像中包括与基准灰度 的灰度差为6以上的部位的最小正方形为IX Imm~50X 50mm时，则所述控制部判别为该 部位为凹凸不良。
[0033] 12.在所述项目10的薄膜的卷取不良检查系统中，当拍摄影像中包括与基准灰度 的灰度差为10以上的部位的最小正方形超过50X50mm时，则所述控制部判别为该部位为 外观不良。
[0034] 13.在所述项目11或12的薄膜的卷取不良检查系统中，包括具有所述灰度差的部 位的最小正方形是包括存在于以任一部位为中心的半径IOmm的圆内的所有部位的最小正 方形。
[0035] 14.在所述项目10的薄膜的卷取不良检查系统中，当拍摄影像的沿辊子的外周面 所形成的线与基准灰度的灰度差在5以上且其宽度在Imm以上时，则所述控制部判别为所 述线为线形不良。
[0036] 发明效果
[0037] 由于本发明的检查方法可以对经由将薄膜卷取于辊子上的卷取过程中产生的不 良进行判别，因此适用于将薄膜卷取于辊子上来制造薄膜辊子的工序中而可以实时地对不 良进行判别。由此，可以防止在不理会不良的状态下而继续卷取薄膜而防止废弃薄膜整体， 因此可以显著地改善薄膜辊子制造工序的收获率。
【附图说明】
[0038] 图1是表示所卷取的薄膜的凹凸不良的图。
[0039] 图2是表示所卷取的薄膜的外观不良的图。
[0040]图3是表示所卷取的薄膜的线形不良的图。
[0041] 图4是大致地表示群集型不良的一例的图。
[0042] 图5是大致地表示本发明的一具体例所实现的卷取不良检查系统的图。
【具体实施方式】
[0043] 本发明涉及如下一种薄膜的卷取不良检查方法：向卷取于辊子上的薄膜照射光， 并对光所照射的部位进行拍摄，而将从所拍摄的影像中得到的规定尺寸的低明亮度点判别 为