测定装置、测定方法及机械装置的制造方法

文档序号:8486414阅读:295来源:国知局
测定装置、测定方法及机械装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测定装置、测定方法及机械装置。
【背景技术】
[0002]在专利文献I中记载了一种杂质微粒测定技术,该杂质微粒测定技术的特征在于,具备:发光二极管,其对用于供期望流体流动的流路照射光;两个受光元件,其沿着流体的流路方向分离配置,对因光的照射而形成的流路的透射光进行检测;检测部,其根据各受光元件的差动输出来检测在流路中流动的杂质微粒的量。
[0003]在先技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1:日本特开2013-142626号公报
[0006]液体中含有的微粒的量并不局限于在静态环境下测定。在利用专利文献I所记载的技术测定例如建筑机械或车辆等那样的、在动态环境下使用的液体中含有的微粒的量时,实际的量和测定出的量之间产生背离。

【发明内容】

[0007]本发明是鉴于上述情况而完成的,其目的在于,提供一种能够准确地测定在动态环境下使用的液体中含有的微粒的量的技术。
[0008]本申请包括有多个用于解决上述课题的方案,例举其中的一例,S卩,一种测定装置,其特征在于,该测定装置包括污染度获取部,该污染度获取部根据液体的流量、用于测定所述液体中的微粒的测定传感器的振动和所述测定传感器的气氛温度中的至少一方对来自所述测定传感器的传感器值进行补正,从而获取微粒引起的液体的污染度。
[0009]一种机械装置,其包括上述的测定装置。
[0010]一种测定方法,其特征在于,该测定方法包括:获取来自用于测定液体中的微粒的测定传感器的传感器值的步骤;
[0011]根据所述液体的流量、所述测定传感器的振动和所述测定传感器的气氛温度中的至少一方对所述传感器值进行补正,从而获取微粒引起的液体的污染度的步骤。
[0012]【发明效果】
[0013]根据本发明的技术,能够提供一种能够准确地测定在动态环境下使用的液体中含有的微粒引起的污染度的技术。通过以下的实施方式的说明来阐述上述以外的课题、结构以及效果等。
【附图说明】
[0014]图1为包括本实施方式的机械装置的系统的结构图。
[0015]图2为测定传感器的结构图。
[0016]图3为测定装置、管理装置、管理系统的各自的硬件结构图。
[0017]图4为测定装置获取污染度C的动作流程。
[0018]图5为通过时序表示测定装置获取的传感器值SO和液体L的流量FR的示例。
[0019]图6为通过时序表示技术I中的测定传感器所输出的传感器值S0、补正了传感器值SO得到的补正值SC、液体L的流量FR的示例。
[0020]图7为通过时序表示技术2中的测定传感器所输出的传感器值S0、由污染度获取部获取的补正值SC、液体L的流量FR的示例。
[0021]图8为通过时序表示技术3中的改变获取传感器值SO的时间间隔的示例。
[0022]图9为通过时序表示对测定传感器施加有振动的情况下的传感器值S0、未对测定传感器施加振动的情况下的传感器值SO的示例。
[0023]图10为根据测定传感器的振动条件对传感器值SO提供的偏移值的示例。
[0024]图11为通过时序表示对向测定传感器施加有振动的情况下的传感器值SO进行积分而得到的积分值、使传感器值SO偏移并进行积分而得到的积分值的示例。
[0025]图12为表示气氛温度对LED输出的影响的示例。
[0026]图13为表不技术5中的测定传感器所输出的传感器值S0、补正值SC的不例。
[0027]图14为在显示装置显示污染度C的示例。
[0028]图15为在显示装置显示污染度C的示例。
[0029]图16为在显示装置显示变数输入画面的示例。
[0030]符号说明
[0031]I机械装置;10测定装置;101传感器控制部;102污染度获取部;103输出部;11测定传感器;12管理装置;121输出部;13通信装置;14输出装置;151加速度传感器;152陀螺仪传感器;153温度传感器;154压力传感器;155流量传感器;2通信网络;3管理系统。
【具体实施方式】
[0032]以下,参照附图详细说明本发明的一个实施方式。以下,为了简化说明,对具有相同结构的构件标注相同的符号并省略说明。
[0033]图1为包括本实施方式的机械装置(machinery) I的系统结构图。在此所称的机械装置I包括例如液压设备(Hydraulic device)那样的、使用液体L(后述)进行所期望的动作的机构(图示省略)。更具体而言,机械装置I为建设、土木、制造等所用的各种设备或机器人、运输等所用的车辆等、或者它们的组合。
[0034]机械装置I包括测定装置10、测定传感器11、管理装置12、通信装置13、输出装置14、加速度传感器151、陀螺仪传感器152、温度传感器153、压力传感器154、流量传感器155
坐寸ο
[0035]测定传感器11将对液体L中含有的微粒进行测定而得到的传感器值SO向测定装置10输出。对于测定传感器11的详细结构见后述。
[0036]测定装置10包括传感器控制部101、污染度获取部102、输出部103等。传感器控制部101控制测定传感器11。污染度获取部102对补正了来自测定传感器11的传感器值SO而得到的补正值SC进行积分等来获取因微粒引起的液体L的污染度C。输出部103将污染度C向管理装置12输出。
[0037]管理装置12对机械装置I进行管理。管理装置12可以包括任意的功能,但至少包括输出部121。输出部121将来自测定装置10的污染度C向通信装置13及输出装置14中的至少一方输出。
[0038]输出装置14是机械装置I的操作员所使用的装置,通过使用输出装置14,操作员能够确认机械装置I的各种状态。
[0039]加速度传感器151获取加速度传感器151自身所设置的位置处的机械装置I的加速度。在此,加速度传感器151设为获取以任意的坐标系为基准的X、Y、Z方向的各自的加速度,但并不限定于此。陀螺仪传感器152获取陀螺仪传感器152自身所设置的位置处的机械装置I的角速度。温度传感器153获取在机械装置I中使用的液体L的温度。压力传感器154获取在机械装置I中使用的液体L的压力。流量传感器155获取在机械装置I中使用的液体L的流量。
[0040]测定传感器11所设置的数量及位置、加速度传感器151、陀螺仪传感器152、温度传感器153、压力传感器154、流量传感器155各自所设置的数量及位置没有特别限定。但是,加速度传感器151、陀螺仪传感器152、温度传感器153、压力传感器154、流量传感器155分别以能够测定与要由测定传感器11获取污染度C的液体L相关的各环境条件的数量及位置设置,详细见后述。
[0041]机械装置I经由通信网络2而与管理系统3连接。管理系统3能够包括机械装置I的管理等任意的功能,以下,仅对与本实施方式的测定装置10相关的功能进行说明,省略其他功能的说明。
[0042]通过测定装置10获取的污染度C被输出至管理装置12,被输出至通信装置13及输出装置14中的至少一方。但是,并不限定于此,例如,若测定装置10具有通信装置13及输出装置14,则也可以不输出至管理装置12,而输出至自身的通信装置13及输出装置14。而且,由加速度传感器151、陀螺仪传感器152、温度传感器153、压力传感器154、流量传感器155各自得到的值从管理装置12输出至测定装置10,但并不限定于此,也可以从加速度传感器151、陀螺仪传感器152、温度传感器153、压力传感器154、流量传感器155各自直接输出至测定装置10。
[0043]测定传感器11是公知的,以下简单说明其结构。图2为测定传感器11的结构图。
[0044]测定传感器11包括发光部201和受光部202。发光部201为例如发光二极管(LED ;Light Emitting D1de)等。受光部202为例如光电二极管(photod1de)等。发光部201和受光部202隔着筒T对置,且设置为能够由受光部202接收来自发光部201的光。
[0045]在筒T的中空部流动有液体L。液体L中含有微粒P。微粒P的量因筒T或其他机械装置I的结构部的劣化、液体L的劣化、来自外部的侵入等各种各样的原因而增大。
[0046]在发光部201和受光部202之间的筒T的中空部流动的流体L中存在微粒P的情况下,来自发光部201的光由于微粒P而被吸收、散射、衰减等。因此,测定传感器11能够根据受光部202的受光量来测定微粒P的量。测定传感器11将受光部202的受光量作为传感器值SO输出至测定装置10。
[0047]图3为测定装置10、管理装置12、管理系统3各自的硬件结构图。测定装置10、管理装置12、管理系统3分别具有运算装置301、存储器302、外部存储装置303、输入装置304、输出装置305、通信装置306、写入读取装置307等。它们通过母线等而相互连接。
[0048]运算装置301为例如CPU (Central Processing Unit)等。存储器302为易失性存储器。外部存储装置 303 为例如 HDD (Hard disk drive)、SSD (Solid State Drive)等非易失性存储器。输入装置304为例如键盘、鼠标、麦克风、触控面板等。输出装置305为例如显示装置、扬声器、打印机、触控面板等。测定装置10、管理装置12、管理系统3分别通过通信装置306而与通信网络2连接。写入读取装置307向移动性存储介质308写入信息以及读取来自移动性存储介质308的信息。
[0049]需要说明的是,虽然未进行图示,但测定装置10、
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