一种超导带材电流传输能力测量探头、测量装置及方法

文档序号:8498236阅读:234来源:国知局
一种超导带材电流传输能力测量探头、测量装置及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及超导电工领域,尤其涉及一种超导带材电流传输能力测量探头、测量装置及方法。
【背景技术】
[0002]超导材料因其无阻可携带大电流的特性可广泛用于大型电力装置,可以预期大规模使用高温超导材料的年代即将到来。电流传输性能是反映超导带材性能的最基本参数。目前普遍采取“四引线法”测量临界电流反映电流的传输性能,即在样品两端加载电流,观测电压信号。随着电流的增加,通过观测电压的增加,以每厘米带材长度产生I微伏作为失超判据,确定超导带材的临界电流。这种方法原理简单,广泛应用于实验室级别的长度小于1cm的短样品测量。作为一种接触式的测量方法,四引线法应用在长超导带材的临界电流测量有很多局限性。首先在测量中电流引线和电压引线需要与带材接触,有可能对超导带材造成机械损伤,其次测试效率也十分低下,不方便实现对百米级长带的连续快速测量。
[0003]针对四引线法对于高温超导带材连续测量能力的不足,科研人员发展了磁路法探测超导带材电流传输能力的方法,如专利Z1201010033688.5,这种方法利用双狭缝磁路和霍尔探头实现了对高温超导带材电流传输能力的测量,但这种方法磁路需要设置两个狭缝,导致磁路励磁能力大幅下降,另外特别是在测量外磁场下电流传输能力的时候的,需要在大背景磁场下检测一个小2-3个数量级的信号,导致会产生很大的误差,不利于实际应用。

【发明内容】

[0004]鉴于上述问题,提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决或者减缓上述问题的超导带材电流传输能力测量探头、测量装置及方法。
[0005]根据本发明的一个方面,提供了一种超导带材电流传输能力测量探头,所述超导带材电流传输能力测量探头包括一个磁路、探测绕组以及连接在所述探测绕组上的测量电路;所述磁路包括磁路铁芯、励磁绕组以及为所述励磁绕组提供电流的可调电源,所述励磁绕组和所述探测绕组分别缠绕在所述磁路铁芯上,所述磁路铁芯上开设有一个用于容纳待测超导带材样品的狭缝,磁路铁芯和所述狭缝构成闭合磁路;通过所述励磁绕组以及为所述励磁绕组提供电流的可调电源调整所述狭缝中的磁场幅值,所述探测绕组以及连接在所述探测绕组上的测量电路对放置在所述狭缝中的待测超导带材样品的电流传输能力进行测量。
[0006]可选的,所述磁路铁芯的材料为软磁铁芯。
[0007]可选的,所述磁路铁芯为闭合铁芯,形状为O型、矩形或闭合多边形。
[0008]可选的,所述狭缝的高度大于待测超导带材样品的厚度,且宽度大于待测超导带材样品的宽度。
[0009]根据本发明的另一个方面,提供了一种超导带材电流传输能力测量装置,所述超导带材电流传输能力测量装置包括如上任一所述的超导带材电流传输能力测量探头、连续传动装置、低温维持装置,所述连续传动装置由配合所述低温维持装置外部的放线设备和收线设备的第一导轮和第二导轮组成,第一导轮和第二导轮分别置于所述磁路两侧,所述第一导轮、狭缝和第二导轮在同一条直线上,所述待测超导带材样品从外部的放线设备经过第一导轮导向穿过所述狭缝后再经过第二导轮导向传送到外部收线设备,所述待测超导带材样品运动方向从第一导轮指向第二导轮;装置工作时所述磁路和待测超导带材样品均放置在低温维持装置中。
[0010]可选的,所述超导带材电流传输能力测量装置还包括设置在所述连续传动装置上的外加磁场,所述第一导轮、外加磁场、狭缝和第二导轮依次设置在同一条直线上。
[0011 ] 可选的,所述外加磁场通过电磁铁或永磁体施加。
[0012]可选的,所述低温维持装置为装有液氮的容器。
[0013]根据本发明的又一个方面,提供了一种基于上述的超导带材电流传输能力测量装置的超导带材电流传输能力的测量方法,所述方法包括:
[0014]将待测超导带材样品放置在所述低温维持装置中进行冷却;
[0015]通过所述连续传动装置将冷却后的待测超导带材样品进入所述狭缝;
[0016]通过所述为所述励磁绕组提供电流的可调电源,调整所述励磁绕组所产生磁场的大小和/或方向进行;
[0017]通过探测绕组和测量电路以感应电压的形式对所述待测超导带材样品进行测量。
[0018]根据本发明的又一个方面,提供了一种基于上述的超导带材电流传输能力测量装置的超导带材电流传输能力的测量方法,所述方法包括:
[0019]将待测超导带材样品放置在所述低温维持装置中进行冷却;
[0020]将冷却后的待测超导带材样品通过电磁铁或永磁体提供放入一个至少大于2倍穿透磁场的外加磁场;
[0021]通过所述连续传动装置将所述待测超导带材样品移出所述外加磁场,并进入所述狭缝;
[0022]通过探测绕组和测量电路以感应电压的形式对所述待测超导带材样品进行测量。
[0023]本发明超导带材电流传输能力测量装置中的励磁绕组匝数及励磁电源需保证在狭缝处具有产生至少大于I倍超导带材穿透磁场幅值的能力,超导带材,如高温超导导线。高温超导带材穿透磁场可以利用Jc*d的公式估算,其中,Jc为超导带材的电流密度,d为超导带材的厚度。
[0024]本发明超导带材电流传输能力测量装置具有3种使用方法,可以反映出带材在不同条件下的电流传输能力。
[0025]第一种使用方法:高温超导带材经过液氮制冷后,进入磁路的狭缝,此时励磁绕组即磁路励磁线圈通流,在狭缝处产生直流磁场,磁场幅值小于等于I倍穿透磁场。高温超导带材经过直流磁场,在带材上会被磁化产生环流,随着加载外磁场幅值的增加,环流会呈现自外向内的穿透过程。环流产生的磁场与施加的外磁场方向相反,这种对于施加外磁场的抵抗导致磁路磁通变化,会被探测绕组以感应电压的形式探测到。由于带材各处的临界电流密度不一致,同时调整外磁场的幅值,可以调控环流位置,获得不同位置的电流传输能力信息,这些信息会被探测绕组和测量电路以感应电压的形式探测到。在这种结构下,探测绕组和测量电路检测到的仅仅是电流传输能力的变化,通过系统标定之后,可以到电流传输能力的绝对值。
[0026]第二种使用方法:高温超导带材经过液氮制冷后,进入磁路的狭缝,此时励磁绕组通流,在狭缝处产生直流磁场,第二种使用方法中,磁场幅值至少达到I倍穿透磁场以上。高温超导带材暴露在大于I倍穿透磁场条件下,会产生全穿透固定形状的大环流,但随着加载外磁场幅值的增加,受到高温超导带材本征的Jc (B)影响,虽然全穿透环流形状不会改变,但是环流幅值会降低,加载不同外磁场,反映了超导带材在磁场下的电流传输能力。这些信息会被探测绕组以感应电压的形式探测到。探测线圈检测到的仅仅是电流传输能力的变化,通过系统标定之后,可以到电流传输能力的绝对值。
[0027]第三种使用方法:高温超导带材经过液氮冷却后,先经过一个至少大于2倍穿透磁场的外加磁场,外加磁场可以通过电磁铁施加,也可以通过永磁体施加。超导带材经过大于2倍大小外加磁场之后,再移出外加磁场之后会剩余全穿透形态超导环流,此时高温超导带材进入本发明超导带材电流传输能力测量装置中的狭缝,利用探测绕组和测量电路检测该高温超导带材在零外加磁场下的整体电流传输能力。
[0028]本发明的有益效果为:
[0029]本发明提供的一种超导带材电流传输能力测量探头、测量装置及方法,仅需要单狭缝磁路就实现了对超导带材电流传输能力的非接触无损测量,采用单狭缝使得励磁信号更强,同时通过外加磁场的设置可以在对超导带材施加外磁场测量的同时,并在过滤外磁场信号后,实现超导带材在外磁场下的整体电流传输特性的测量,有效地提高了测量精度,同时降低了系统的复杂性。
[0030]上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本发明的【具体实施方式】。
【附图说明】
[0031]通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:
[0032]图1示出了本发明实施例的一种超导带材电流传输能力测量探头的结构示意图;
[0033]图2示出了本发明实施例的一种超导带材电流传输能力测量装置的结构示意图;
[0034]图3示出了本发明实施例中采用第一种测试方法在超导带材上形成的环流示意图;
[0035]图4示出了本发明实施例中采用第二种测试方法在超导带材上形成的环流示意图;
[0036]图5示出了本发明实施例中采用第三种测试方法在超导带材上形成的环流示意图。
【具体实施方式】
[0037]下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能解释为对本发明的限制。
[0038]本技术领域技术人员可以理解,除非特意声明,这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是,本发明的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件,但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。
[0039]本技术领域技术人员可以理解,除非另外定义,这里使用的所有术语(包括技术术语和
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