一种led灯寿命的测试方法
【技术领域】
[0001]本发明属于一种LED灯的寿命的测试方法。
【背景技术】
[0002]LED灯是使用LED进行照明的灯具，由于其诸多的优点，目前得到广泛的使用。
[0003]LED灯出厂时，需要进行检测，以确定该批次产品的寿命是否达到标准。
【发明内容】
[0004]本发明提供一种LED灯寿命的测试方法，其目的是提供一种可以测定一个批次的LED灯的寿命的数据的测试方法。
[0005]本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0006]一种LED灯寿命的测试方法，其特征在于:
[0007]包括如下步骤:
[0008]A:对正常生产批次的LED产品，按标准进行周期检验计数抽样；
[0009]B:把产品放入高温测试箱中，进行如下测试:在一定的压力、温度、电压环境下通电测试一定的测试时间；然后升高压力和电压，进一步通电测试一定的测试时间；重复以上步骤测试数次，其中温度高于环境温度；
[0010]C:通过上述步骤B中若干次的测试后，对所测产品进行合格判定，能够正常启动，正常点亮判为合格；
[0011]D:把步骤C的经高温测试箱测试判为合格的产品，放入高低温交变湿热测试箱中，进行一定时间的测试，其中温度低于环境温度，完成后恢复常温后，通电进行合格判定，能正常启动，判定合格。
[0012]进一步地，步骤B为:把产品放入高温测试箱中，进行:如下三步骤的测试
[0013]I)低压环境，温度70_100°C，电压176V ；
[0014]2)常压环境，温度70_100°C，电压220V到230V ；
[0015]3)高压环境，温度70_100°C，电压264V。
[0016]进一步地，低压环境下测试时间为为300小时，常压环境下测试时间为400小时，高压环境下测试时间为300小时。
[0017]进一步地，步骤D中的在高低温交变湿热测试箱中的测试温度为-15°C，测试时间为48小时，完成后恢复常温后，进行合格判定，176V电压下能正常启动，判定合格。
[0018]本发明的有益之处在于:
[0019]本发明由于采用了依次进行高温环境下三阶段的压力测试，低温环境下的测试，可以使被测LED灯在极端环境下得到完整的测试，从而得到批次产品的合格率，从中可以推出批次产品的寿命。
【具体实施方式】
[0020]一种LED灯寿命的测试方法，其特征在于:
[0021]包括如下步骤
[0022]A:对正常生产批次的LED产品，按标准进行周期检验计数抽样；
[0023]B:把产品放入高温测试箱中，进行:如下三步骤的测试
[0024]I)低压环境，温度85°C，电压176V，测试时间300小时；
[0025]2)常压环境，温度85°C，电压220V到230V，测试时间400小时；
[0026]3)高压环境，温度85°C，电压264V，测试时间300小时；
[0027]C:通过上述步骤B中1000小时高温环境下三段电压的测试工作后，对所测产品进行合格判定，能够正常启动，正常点亮判为合格；
[0028]D:把步骤C的经高温测试箱测试判为合格的产品，放入高低温交变湿热测试箱中，进行温度_15°C，测试时间为48小时的低温测试，完成后恢复常温后，进行合格判定，176V电压下能正常启动，判定合格。
[0029]通过本方法测试后，可判断出所测批次LED产品的正常寿命大于35000小时。
【主权项】
1.一种LED灯寿命的测试方法,其特征在于: 包括如下步骤: A:对正常生产批次的LED产品，按标准进行周期检验计数抽样； B:把产品放入高温测试箱中，进行如下测试:在一定的压力、温度、电压环境下通电测试一定的测试时间；然后升高压力和电压，进一步通电测试一定的测试时间；重复以上步骤测试数次，其中温度高于环境温度； C:通过上述步骤B中若干次的测试后，对所测产品进行合格判定，能够正常启动，正常点亮判为合格； D:把步骤C的经高温测试箱测试判为合格的产品，放入高低温交变湿热测试箱中，进行一定时间的测试，其中温度低于环境温度，完成后恢复常温后，通电进行合格判定，能正常启动，判定合格。
2.如权利要求1所述的一种LED灯寿命的测试方法:其特征在于: 步骤B为:把产品放入高温测试箱中，进行:如下三步骤的测试 1)低压环境，温度70-100°C，电压176V； 2)常压环境，温度70-100°C，电压220V到230V； 3)高压环境，温度70-100°C，电压264V。
3.如权利要求2所述的一种LED灯寿命的测试方法，其特征在于:低压环境下测试时间为为300小时，常压环境下测试时间为400小时，高压环境下测试时间为300小时。
4.如权利要求1所述的一种LED灯寿命的测试方法，其特征在于:步骤D中的在高低温交变湿热测试箱中的测试温度为_15°C，测试时间为48小时，完成后恢复常温后，进行合格判定，176V电压下能正常启动，判定合格。
【专利摘要】本发明提供一种LED灯寿命的测试方法，A：对正常生产批次的LED产品，按标准进行周期检验计数抽样；B：把产品放入高温测试箱中，进行如下测试：在一定的压力、温度、电压环境下通电测试一定的测试时间；然后升高压力和电压，进一步通电测试一定的测试时间；重复以上步骤测试数次，其中温度高于环境温度；C：通过上述步骤B中若干次的测试后，对所测产品进行合格判定；D：把步骤C的经高温测试箱测试判为合格的产品，放入高低温交变湿热测试箱中，进行一定时间的测试，其中温度低于环境温度，完成后恢复常温后，通电进行合格判定，能正常启动，判定合格。本发明提供可以测定一个批次的LED灯的寿命的数据的测试方法。
【IPC分类】G01R31-44
【公开号】CN104849677
【申请号】CN201410053190
【发明人】周金龙
【申请人】浙江云时代光电科技有限公司
【公开日】2015年8月19日
【申请日】2014年2月17日