一种变压比自动测试仪的制作方法

文档序号:8556853阅读:374来源:国知局
一种变压比自动测试仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电工技术领域,具体为一种变压比自动测试仪。
【背景技术】
[0002]中国专利89214620公布了 “一种变压比自动测试仪”,该测试仪只能完成变压器变比的自动测量和显示,固有功能少,应用范围窄的缺陷。目前市场上存在的变压比自动测试仪,一是给现场使用带来极大的不方便,二是易受三相电源的供电质量的影响,不能保证测量的准确性。本发明提供一种变压比自动测试仪,具有现场使用方便、功能多、结构简单、紧凑合理和成本较低等优点。

【发明内容】

[0003]本发明的目的在于提供一种变压比自动测试仪,以解决上述【背景技术】中提出的问题。
[0004]为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种变压比自动测试仪,包括相位检测电路、被试变压器、单相/三相电源变换、单相电源、变压比测量电路、MCU、外端设备、显示屏和单片机,所述相位检测电路与变压比测量电路连接,所述被试变压器与变压比测量电路连接,所述单相/三相电源变换与变压比测量电路连接,所述单相电源与变压比测量电路,所述变压比测量电路与MCU连接,MCU与显示屏连接,所述MCU与单片机连接。
[0005]优选的,所述显示屏为液晶显示屏。
[0006]优选的,所述被试变压器与单相/三相电源变换连接。
[0007]优选的,所述相位检测电路与被试变压器连接。
[0008]优选的,所述MCU6与外端设备连接。
[0009]优选的,所述外端设备可与微型打印机连接。
[0010]优选的,所述外端设备可与旋转鼠标连接。
[0011]与现有技术相比,本发明的有益效果是:该变压比自动测试仪具有现场使用方便、功能多、结构简单、紧凑合理和成本较低等优点。
【附图说明】
[0012]图1为本发明结构示意图。
[0013]图中:1、相位检测电路,2、被试变压器,3、单相/三相电源变换,4、单相电源,5、变压比测量电路,6、MCU,7、外端设备,8、显示屏和9、单片机。
【具体实施方式】
[0014]下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
[0015]请参阅图1,本发明提供一种技术方案:一种变压比自动测试仪,包括相位检测电路1、被试变压器2、单相/三相电源变换3、单相电源4、变压比测量电路5、MCU6、外端设备
7、显示屏8和单片机9,所述相位检测电路I与变压比测量电路5连接,所述被试变压器2与变压比测量电路5连接,所述单相/三相电源变换3与变压比测量电路5连接,所述单相电源4与变压比测量电路5,所述变压比测量电路5与MCU6连接,MCU6与显示屏8连接,所述MCU6与单片机9连接。
[0016]工作原理:使用时,相位检测电路I和单相/三相电源变换3处于工作状态,MCU6控制变压比测量电路5,测量出三个电压矢量,然后,相位检测电路I将输入信号电压信号进行转换,转换后的信号加到单片机7上进行处理,运算即可。
[0017]尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
【主权项】
1.一种变压比自动测试仪,包括相位检测电路(I)、被试变压器(2)、单相/三相电源变换(3)、单相电源(4)、变压比测量电路(5)、MCU(6)、外端设备(7)、显示屏⑶和单片机(9),其特征在于:所述相位检测电路(I)与变压比测量电路(5)连接,所述被试变压器(2)与变压比测量电路(5)连接,所述单相/三相电源变换(3)与变压比测量电路(5)连接,所述单相电源⑷与变压比测量电路(5),所述变压比测量电路(5)与MCU(6)连接,MCU(6)与显示屏(8)连接,所述MCU(6)与单片机(9)连接。
2.根据权利要求1所述的一种变压比自动测试仪,其特征在于:所述显示屏(8)为液晶显不屏O
3.根据权利要求1所述的一种变压比自动测试仪,其特征在于:所述被试变压器(2)与单相/三相电源变换(3)连接。
4.根据权利要求1所述的一种变压比自动测试仪,其特征在于:所述相位检测电路(I)与被试变压器(2)连接。
5.根据权利要求1所述的一种变压比自动测试仪,其特征在于:所述MCU6与外端设备(7)连接。
6.根据权利要求1所述的一种变压比自动测试仪,其特征在于:所述外端设备(7)与微型打印机连接。
7.根据权利要求1所述的一种变压比自动测试仪,其特征在于:所述外端设备(7)与旋转鼠标连接。
【专利摘要】本发明公开了一种变压比自动测试仪,包括相位检测电路、被试变压器、单相/三相电源变换、单相电源、变压比测量电路、MCU、外端设备、显示屏和单片机,所述相位检测电路与变压比测量电路连接,所述被试变压器与变压比测量电路连接,所述单相/三相电源变换与变压比测量电路连接,所述单相电源与变压比测量电路,所述变压比测量电路与MCU连接,MCU与显示屏连接,所述MCU与单片机连接。本发明具有现场使用方便、功能多、结构简单、紧凑合理和成本较低等优点。
【IPC分类】G01R29-20
【公开号】CN104880616
【申请号】CN201510256117
【发明人】邱江涛, 曹晖, 聂威
【申请人】苏州市华安普电力工程有限公司
【公开日】2015年9月2日
【申请日】2015年5月19日
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