嵌入式测试器的制造方法
【技术领域】
[0001] 本专利申请整体涉及可配置的嵌入式测试器。
【背景技术】
[0002] 自测试可包括在设备上并入测试系统，在本文中称为"嵌入式测试器"。嵌入式测 试器可用于测试设备的任何合适的结构和/或功能。
[0003] 可通过配置/重新配置板载逻辑器来将嵌入式测试器并入设备，诸如印刷电路板 组件（PCBA)。通过此类过程，逻辑器实质上成为能够测试设备的微型测试器。在涉及可编 程逻辑器的情况下，此过程始于专用测试固件重写设备的任务模式固件。然后执行测试，并 且逻辑器恢复至其初始任务模式配置。
【发明内容】
[0004] 一般来讲，在一个方面，待测设备上用于测试待测设备的部件电路的测试器包括 逻辑器，该逻辑器通过固件被配置为实施测试电路，该测试电路包括：协议发生器，其可被 配置为生成协议；模式发生器，其可被配置为提供可根据协议中的一个或多个进行驱动的 测试模式；和系统控制器，其用于响应于程序输入来选择用以测试部件电路的测试模式和 协议。
[0005] 本发明的具体实施可包括下列特征中的一者或多者。在一些具体实施中，测试器 还包括模式控制器，其用于（i)控制到部件电路的输出的驱动，该输出基于所选择的模式 和所选择的协议，以及用于（ii)响应于该输出接收来自部件电路的测试结果。在其他具体 实施中，系统控制器被配置为接收程序输入，以根据程序输入来生成一个或多个命令，以及 将该一个或多个命令发送到模式控制器；其中模式控制器响应于该一个或多个命令根据所 选择的模式和所选择的协议来生成输出。在另外的其他具体实施中，模式控制器包括矢量 控制器，其被配置为改变所选择的模式和所选择的协议。
[0006] 在另外的其他具体实施中，测试器包括时钟发生器以提供时钟信息；其中系统控 制器被配置为向时钟发生器请求时钟信息以及从时钟发生器接收时钟信息，并且影响测试 信号的边沿布置。在一些具体实施中，系统控制器可被配置为更改时钟信息以及将所更改 的时钟信息输出到测试器的一个或多个部件。在其他具体实施中，系统控制器可被配置为 生成用于测试器的多个测试端口。
[0007] 在其他具体实施中，系统控制器可被配置为通过多次复制测试端口（包括其部 件）来生成测试端口的数量。在另外的其他具体实施中，每个测试端口包括：驱动器，其用 于驱动到部件电路的输出；接收器，其用于接收响应；和触发检测器，其用于识别响应的特 征以及在检测到特征之后输出信号。在另外的其他具体实施中，每个测试端口还包括：端口 控制器，其响应于系统控制器以影响对来自驱动器的输出的驱动。在一些具体实施中，测试 器包括模式存储器，可通过信息配置该模式存储器以控制输出中的模式矢量的重复。
[0008] 在另外的其他具体实施中，逻辑器包括现场可编程门阵列（FPGA)或专用集成电 路（ASIC)中的一者。在一些具体实施中，系统控制器可被配置为检测DUT的协议以及选择 对应于DUT的协议的协议。在另外的其他具体实施中，待测设备包括使用不同的通信协议 来工作的部件电路；并且其中测试电路可被配置为测试部件电路中的至少一个。在另外的 其他具体实施中，模式发生器可被配置为提供先前生成的可作为测试器刺激来施加的测试 矢量；或者其中模式发生器可被配置为提供动态生成的测试矢量。在一些具体实施中，测试 器嵌入在待测设备中，并且可被配置为使用不同的协议来测试待测设备的多个电路部件。
[0009] 在本公开的又一个方面，配置待测设备上的测试器以测试待测设备的部件电路的 方法包括通过固件配置逻辑器以实施测试电路，该测试电路包括：协议发生器，其可被配置 为生成协议；模式发生器，其可被配置为提供可根据协议中的一个或多个进行驱动的测试 模式；和系统控制器，其用于响应于程序输入来选择用以测试部件电路的测试模式和协议。
[0010] 本发明的具体实施可包括下列特征中的一者或多者。在一些具体实施中，测试电 路包括输出控制器，其用于（i)控制到部件电路的输出的驱动，该输出基于所选择的模式 和所选择的协议，以及用于（ii)响应于该输出接收来自部件电路的测试结果。在其他具体 实施中，该方法还包括防止任务代码被加载到装置上的逻辑器中，该任务代码用于使装置 执行测试之外的功能；其中配置逻辑器包括通过固件配置逻辑器。
[0011] 在本公开的又一个方面，一个或多个机器可读介质存储用于执行操作的可执行 指令，所述操作包括：通过固件配置逻辑器以实施测试电路，所述测试电路包括：协议发生 器，其可被配置为生成协议；模式发生器，其可被配置为提供可根据协议中的一个或多个进 行驱动的测试模式；和系统控制器，其用于响应于程序输入来选择用以测试部件电路的测 试模式和协议；其中测试电路为待测设备上的测试器的一部分，该测试器用于测试待测装 置的部件电路。本发明的此方面的具体实施可包括前述特征中的一者或多者。
[0012] 可将包括在
【发明内容】
部分中的本文所述特征中的任意两者或更多者相结合以形 成本文未具体描述的实施例。
[0013] 上述全部或部分内容可被实现为由指令构成的计算机程序产品，所述指令存储在 一个或多个非暂态机器可读存储介质上，并可在一个或多个处理设备上执行。上述全部或 部分内容可被实现为装置、方法或系统，其可包括一个或多个处理设备以及存储用于实现 功能的可执行指令的存储器。
[0014] 附图和以下【具体实施方式】阐述了一个或多个例子的细节。根据说明书、附图和权 利要求书，其他特征、方面和优点将变得清楚。
【附图说明】
[0015] 图1为示例性嵌入式测试器的框图。
[0016] 图2为用于使用嵌入式测试器的示例性过程的流程图。
[0017] 图3为框图，示出了可使用嵌入式测试器进行测试的示例性测试系统。
【具体实施方式】
[0018] 本文描述了可用于测试各种类型的设备或系统的嵌入式测试器的示例性具体实 施。该示例性具体实施在自动测试设备（ATE)的背景下描述。在该示例中，ATE或其部件 电路为待测设备（DUT)。然而，本文所述的示例性嵌入式测试器并不局限于在ATE背景下使 用。相反，可将此类系统并入任何合适的设备中。例如，可将嵌入式测试器并入芯片组、印 刷电路板组件（PCBA)、诸如蜂窝电话、平板电脑等的设备或系统，或包含待测部件的任何其 他合适的设备。
[0019] 图1示出了嵌入式测试器10的示例性具体实施，该嵌入式测试器被编程到待测系 统的FPGA 12中。示例性嵌入式测试器10包括但不限于：设备接口 14、系统控制器16、时 钟发生器18、模式发生器20、协议发生器22、模式控制器24和测试端口控制电路26。这些 特征的示例在下文描述。
[0020] 系统控制器16包含命令路由器（未示出），其用于接收和路由用户（例如，测试 工程师）发出的指令。这些指令可通过设备接口 14接收，并且可提供与待执行的测试的类 型有关的信息。指令可以是特定于设备的。对于测试协议，示例性指令集可指定：引脚功能 设置，包括用于嵌入式测试器的多个测试引脚；触发定义，包括用于触发对接收自待测设备 (DUT)的数据的识别的信息（在该示例中，嵌入式测试器的DUT为其内嵌入该测试器的系 统，或该系统的部件电路）；模式数据和控制信息，包括用于选择测试模式/模式发生器以 及用于修改测试模式的信息；捕集结果和通过/失败数据，包括判定测试通过或失败的依 据的信息；仪器状态，包括监视状态和执行状态；和时钟配置，包括时钟的可配置（例如，可 编程）属性，诸如频率。可将该信息与本文未描述的其他信息一起编程到嵌入式测试器的 各个元件中，以便实施测试协议。
[0021] 模式控制器24包括存储器和用于在测试期间模式部署