一种光纤预制棒掺杂元素分布的原位检测方法和装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明属于光学检测技术领域，涉及了一种高分辨率、非接触、非真空和多元素的光纤预制棒掺杂元素分布的原位检测方法和装置。
【背景技术】
[0002]早期的光纤制备中，人们都在想方设法去除光纤中的各类杂质元素来提高石英光纤的纯度，从而降低光纤的损耗。上世纪80年代，英国的南安普顿大学的Payne等首先发现掺杂稀土元素的光纤有激光振荡和光放大的现象。S.B.Poole和J.E.Townsend等人发现通过严格控制纤芯和包层中掺杂离子的含量和种类可使光纤具有抗辐照、抗光子暗化等特殊性能。对于特定掺杂元素的光纤，只要通过改变元素掺杂浓度比例或者掺杂浓度分布，也能带来许多新的特性。光纤激光器和放大器中的有源光纤需要在纤芯处掺杂镱(Yb)、铒(Er)、铥(Tm)、铽(Tb)等稀土元素离子；抗辐照光纤需要在减小纤芯着色元素离子铁(Fe)、铬(Cr)、锰(Mn)、铜(Cu)、钴(Co)、镍(Ni)、铅(Pb)浓度的同时，在纤芯掺杂元素铈(Ce)和氮(N)，在包层掺杂氟(F)和着色离子；光纤温度传感器中，掺杂钕(Nd)或钬(Ho)元素可以使光纤吸收与温度之间具有良好的线性关系；偏振器件中，纤芯掺铽(Tb)和铈(Ce)元素使光纤具有强旋光特性。近年来，各类掺杂光纤特别是基于稀土掺杂的光纤器件已经广泛应用于传感、材料加工、医疗以及国防等领域。
[0003]国际上生产石英光纤预制棒的方法有十多种，其中常用的方法主要有以下四种:改进的化学气相沉积法(Modified Chemical Vapor Deposit1n，MCVD)、轴向气相沉积法(Vapor phase Axial Deposit1n, VAD)、棒外化学气相沉积法(Outside Chemical VaporDeposit1n, OVD)和等离子体激活化学气相沉积法(Plasma activated Chemical VaporDeposit1n，PCVD)。合理设计并优化纤芯内各掺杂元素离子的浓度分布，不仅能优化掺杂元素离子作用特性，改善光纤折射率分布，实现模式控制，而且还能大幅提高光纤损伤阈值及斜率效率，实现抗光子暗化性能的提升，消除掺杂元素离子浓度淬灭现象。光纤中的掺杂元素离子分布与预制棒缩棒过程密切相关，缩棒过程中，各元素离子浓度分布、离子挥发情况等参数的不同会导致拉制出的光纤存在性能差异。因此，光纤预制棒横截面的各掺杂元素浓度分布的检测对光纤制备工艺的优化、光纤模式的调控、光纤光学质量的控制具有非常关键的指导性作用，从而为生产高性能优质特种光纤提供强有力的支持和保障。目前传统的预制棒元素成分分析方法主要有折射率测定法、电子探针法、X射线荧光光谱法、原子吸收光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱法等。
[0004]然而，折射率测定法只能通过折射率分布来推测掺杂元素的总体分布，无法得到每个元素分布信息，该方法适合检测单一元素掺杂的光纤预制棒，对于多元素共掺的光纤预制棒并不适用。电子探针法不仅需要在测量前对光纤预制棒样品进行喷涂导电层，对浓度较低的掺杂元素带来干扰，并且需要真空环境，操作过于复杂，耗时过长。X射线荧光光谱法只适合于测量原子序数大于11的元素，而且X射线聚焦能力有限，难以实现高分辨率分析。原子吸收光谱法只能测定元素周期表中的七十多种元素，如磷和硫等常用元素无法测定，而且测定元素不同，必须更换激发光源灯，无法实现同时全元素测量。电感耦合等离子体原子发射光谱法是目前最常用的分析方法，但它需要先将玻璃材料溶于氢氟酸，会生成剧毒的四氟化硅气体，对于含量高的元素还需要先稀释，因此无法实现对光纤预制棒的原位分析，也无法获得其元素含量的分布情况。
[0005]常用的光纤预制棒直径从几毫米到十几个毫米不等，其中纤芯直径大约为I毫米，这对成分分析技术提出了更高的要求。
【发明内容】
[0006]本发明提出了一种光纤预制棒掺杂元素分布的原位检测方法和装置，目的在于解决传统预制棒成分分析技术存在的难题，实现对光纤预制棒掺杂元素分布的原位高精度检测。
[0007]本发明提供的一种光纤预制棒掺杂元素分布的原位检测方法，该方法将脉冲激光聚焦至光纤预制棒表面的待测点，形成几个至几十个微米的光斑尺寸，瞬间在激光聚焦点处烧蚀并产生等离子体，采集待测点的等离子体，得到待测点的坐标信息和元素浓度信息，利用多个不同待测点的坐标信息和元素浓度信息得到光纤预制棒所需精度的掺杂元素浓度分布光谱图。
[0008]本发明提供的一种光纤预制棒掺杂元素分布的原位检测装置，其特征在于，该装置包括激光器系统、光路系统、光谱采集系统和控制分析系统；激光器系统用于产生轰击光纤预制棒表面的待测点脉冲激光束，使待测点产生等离子体；光路系统用于对激光束整形和聚焦，以及对样品表面形态的照明和成像；光谱采集系统用于采集等离子体发射的包含待测点的坐标信息和元素浓度信息的特征光谱信号，并转换成电信号传输到控制分析系统；控制分析系统用于控制所述激光器系统和光谱采集系统工作，并对光谱采集系统提供的特征光谱信号进行处理，得到光纤预制棒所需精度的掺杂元素浓度分布光谱图。
[0009]本发明提出了一种光纤预制棒掺杂元素分布的原位检测方法和装置，利用激光方向性好，脉冲峰值功率高的特点，对光纤预制棒掺杂元素的分布实现高分辨率、非接触、非真空、多元素的快速原位检测。具体而言，本发明具有以下技术特点:
[0010](I)本发明利用激光的方向性好，能量密度大的特点，配合使用高倍聚焦物镜，将激光束聚焦到待测预制棒样品表面某个分析点，形成几个至几十个微米的光斑尺寸，瞬间在激光聚焦点处烧蚀并产生等离子体。通过收集等离子体的发射光，快速分析出等离子体内元素种类及其含量。
[0011](2)与传统的检测技术相比，本发明对预制棒可以实现高分辨率、非接触、非真空、多元素的原位检测，获得掺杂元素离子的浓度分布。由于本发明的易集成性与环境适应性，可以在光纤预制棒生产现场对其掺杂元素分布实现实时在线检测。
[0012](3)本发明将每个分析点的元素种类及含量的数据与该点位置坐标组合，生成高分辨率多兀素种类和浓度分布图；
[0013](4)本发明使用透射照明装置，使预制棒纤芯与包层成像时更加清晰；
[0014](5)本发明利用中值滤波对坏点噪声具有非常理想的去除椒盐噪声的能力，将测量后的掺杂元素浓度分布原始光谱图进行处理，将实验中由于激光与预制棒样品表面相互作用随机产生的坏点数据进行去除；
[0015](6)本发明中数据处理过程将掺杂元素浓度分布图进行傅立叶变换，得到频域图。由于各类噪声和测量过程中引入的波动皆处于频域图中高频部分，利用低通滤镜将高频部分进行衰减，保留由于元素浓度变化引起的低频分量。然后将处理后的频域图进行傅立叶反变换得到更接近真实的掺杂元素浓度分布图。
[0016]综上所述，本发明所公开的方法和装置利用激光诱导等离子体检测光纤预制棒截面掺杂元素分布，具有高分辨率、多元素同时分析，非接触、微损、快速实时、原位检测等优点，可以作为光纤预制棒生产过程中判断预制棒优劣的依据，从而为光纤预制棒掺杂浓度和生产工艺的改进提供关键的指导性作用。
【附图说明】
[0017]附图是为提供对本发明进一步的理解，它们被收录并构成本申请的一部分，附图示出了本发明的实施例，并与本说明书一同起到解释本发明原理的作用。
[0018]图1是本发明的光纤预制棒掺杂元素分布原位检测方法的流程示意图；
[0019]图2是本发明的光纤预制棒掺杂元素分布原位检测方法的数据处理示意图；
[0020]图3是本发明的光纤预制棒掺杂元素分布原位检测装置的示意图；
[0021]图4是本发明提供的方法和装置对光纤预制棒截面一维线扫描结果示意图；
[0022]图5是本发明提供的方法和装置对光纤预制棒截面二维面扫描结果示意图。
[0023]其中:1.激光器；2.激光衰减器；3.光阑；4.第一半透半反镜；5.同轴监控摄像头；6.光收集器；7.第二半透半反镜；8.可选择式高倍聚焦物镜；9.预制棒样品；10.三维位移平台；11.光纤；12.光谱仪；13.计算机；14.数字同步控制器；15.图像传输线；16.数字同步信号传输线；17.光谱仪同步信号传输线；18.激光器同步信号传输线；19.三维位移平台控制信号传输线；20.光谱仪数据传输线；21.透射照明面板。
【具体实施方式】
[0024]下面结合附图对本发明的【具体实施方式】作详细说明。在此需要说明的是，对于这些实施方式的说明用于帮助理解本发明，但并不构成对本发明的限定。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0025]本发明方法利用聚焦后的脉冲激光在待测预制棒样品表面某个点可以烧蚀出微量物质用于分析，以达到高分辨率、多元素同时分析，非接触、微损、快速实时、原位检测的目的，并且可以在工业现场使用，无需真空环境。
[0026]如图1所示，本发明实施例的实验过程具体包括下述过程:
[0027]第I步，将预制棒样品切片后抛光，使其上下表面平行；
[0028]第2步，利用聚焦的脉冲激光轰击预制棒表面的待测点，产生等离子体；
[0029]第3步，采集等离子体光谱，传输至计算机分析并存储；
[0030]第4步，改变脉冲激光在预制棒表面的轰击位置，并重复第2步和第3步；
[0031]第5步，将所有分析点的坐标信息和元素浓度信息组合成浓度分布原始光谱图；
[0032]如图2所示，本发明实施例的数据处理过程具体包括下述过程:
[0033]第51步，将实验中得到的掺杂元素浓度分布原始光谱图进行中值滤波，去除坏点光谱数据；
[0034]第52步，将去除坏点后的光谱分布空间域图像进行傅立叶变换得到频域图像；
[0035]第53步，将频域图像进行低通滤波处理，将噪声和实验引入的波动所处的高频部分减弱甚至消除；
[0036]第54步，将低通滤波处理后的频域图像进行傅立叶