一种快速检测电子设备指南针的系统及方法

文档序号:9303006阅读:459来源:国知局
一种快速检测电子设备指南针的系统及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及检测领域,尤其涉及一种快速检测电子设备指南针的系统及方法。
【背景技术】
[0002]目前,电子设备厂家在组装完设备以后,对机台的检测往往通过利用人工摇摆装有指南针程序进行机台的检测,以保证良率。该项检测人工摇转校正机台主观因素较多,精确度较低,每次测试均需要调整治具方位,浪费时间,人力成本也很高。

【发明内容】

[0003]本发明的目的在于提供一种可节省时间及人力且精确度比较高的一种快速检测电子设备指南针的系统及方法。
[0004]—种快速检测电子设备指南针的系统,其中,包括:
[0005]—磁场产生模块,用于在所述电子设备周围产生周期变化的磁场;
[0006]—指南针模块,设置于电子设备上,用于感应所述磁场的变化并偏置设定角度;
[0007]—控制模块,与所述指南针模块连接,用于根据接收到的信号发出控制信号;
[0008]—检测模块,与所述控制模块连接,用于检测所述磁场在通过所述电子设备时产生所述角度的角度值中的最大值和最小值;
[0009]—判断模块,与所述控制模块连接,用于根据所述角度值中的所述最大值和所述最小值的差值与预定范围对比,判断所述电子设备是否合格。
[0010]优选的,所述的快速检测电子设备指南针的系统,其中,所述测量模块包括:
[0011]一角度测量仪,与所述指南针模块连接,用于测量所述指南针模块产生所述角度值;
[0012]—获取模块,与所述角度测量仪连接,用于获取所述角度值的所述最大值和所述最小值。
[0013]优选的,所述的快速检测电子设备指南针的系统,其中,包括:
[0014]—计算模块,与所述控制模块连接,用于计算所述角度值中的所述最大值和所述最小值的差值。
[0015]优选的,所述的快速检测电子设备指南针的系统,其中,包括:
[0016]—启动模块,用于启动所述电子设备。
[0017]优选的,所述的快速检测电子设备指南针的系统,其中,包括:
[0018]一供电模块,用于向所述电子设备提供电能。
[0019]优选的,所述的快速检测电子设备指南针的系统,其中,包括:
[0020]一显示模块,与所述判断模块连接,用于根据所述判断模块的判断结果显示所述电子设备是否合格。
[0021]优选的,一种快速检测电子设备指南针的方法,应用于权利要求1-7所述快速检测电子设备指南针的系统,其中,步骤包括:
[0022]步骤S1、启动所述电子设备;
[0023]步骤S2、利用具有周期变化的磁场,检测所述磁场在通过所述电子设备时产生的角度;
[0024]步骤S3、测量所述角度的角度值,并获取所述角度值的最大值和最小值;
[0025]步骤S4、将所述最大值和所述最小值的差值与预定范围对比
[0026]步骤S5、根据所述差值与所述预定范围对比的结果,判断所述电子设备是否合格;
[0027]优选的,所述快速检测电子设备指南针的方法,其中,步骤5包括:
[0028]步骤S51、当所述差值在所述预定范围内的,则显示合格;
[0029]步骤S52、当所述差值不在所述预定范围的,则显示不合格。
[0030]本发明的有益效果是:提高了检测的精确度,同时能大量节约了人力和时间,提高了效率。
【附图说明】
[0031]图1-图2为本发明快速检测电子设备指南针的系统及方法的系统实施例的结构图;
[0032]图3-图4为本发明快速检测电子设备指南针的系统及方法的方法实施例的流程图;
【具体实施方式】
[0033]下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
[0034]需要说明的是,在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0035]下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明,但不作为本发明的限定。
[0036]如图1所示,
[0037]—种快速检测电子设备指南针的系统,包括:
[0038]—磁场产生模块1,用于在电子设备周围产生周期变化的磁场;
[0039]—指南针模块2,设置于电子设备上,用于感应磁场变化并偏置设定角度;
[0040]一控制模块3,与指南针模块2连接,用于根据接收到的信号发出控制信号;
[0041]—检测模块4,与控制模块3连接,用于检测磁场在通过电子设备时产生的角度值中的最大值和最小值;
[0042]—判断模块5,与控制模块3连接,用于根据角度值中的最大值和最小值的差值与预定范围对比,判断电子设备是否合格。
[0043]本发明中通过在电子设备附近设置一辅助设备(如电流变化的线圈,往复运动的磁铁等),该辅助设备在待检测的电子设备周围产生周期变化的磁场,并采用磁场周期变化的辅助设备和电子设备互动的方式,对待检测电子设备进行检测。设置在待检测的电子设备上的指南针感应到磁场变化发生偏转,偏转的角度会不停的摆动,选择偏转角度的最大值和最小值,计算最大值和最小值的差值,预先设置电子设备偏转角度的合格范围,通过以比较模块,将计算的差值于预先设置的范围对比,当差值在合格范围内的为合格产品,显示合格;当差值不再合格范围内的为不合格产品,显示为不合格。
[0044]如图2所示,
[0045]本发明较佳实施例中,测量模块包括:
[0046]一角度测量仪7,与指南针模块2连接,用于测量指南针模块2产生的角度值;
[0047]—获取模块8,与角度测量仪7连接,用于获取角度值的最大值和最小值。
[0048]本发明较佳实施例中,还包括一计算模块6,与控制模块3连接,用于计算角度值中的最大值和最小值的差值。计算差值用于自动与事先设置的合格范围进行比较,用以确定待测设备是否合格。
[0049]通过角度测量仪7自动获取偏转角度的最大值和最小值,使得获取的数值更精确,检测更为准确。
[0050]本发明较佳实施例中,包括一启动模块,用于启动电子设备。以便进行检测事项。
[0051]本发明较佳实施例中,包括一供电模块,用于向电子设备提供电能。用以待测电子设备正常使用。
[0052]本发明较佳实施例中,包括一显示模块9,与判断模块5连接,用于根据判断模块的判断结果显示电子设备是否合格。用以向使用者显示待测电子设备是否合格,方便使用。
[0053]如图3所示,
[0054]本发明较佳实施例中,一种快速检测电子设备指南针的方法,应用于快速检测电子设备指南针的系统,步骤包括:
[0055]步骤S1、启动电子设备;
[0056]步骤S2、利用具有周期变化的磁场,检测磁场在通过电子设备时产生的角度;
[0057]步骤S3、测量角度的角度值,并获取角度值的最大值和最小值;
[0058]步骤S4、将最大值和最小值的差值与预定范围对比
[0059]步骤S5、根据差值与预定范围对比的结果,判断电子设备是否合格;
[0060]进一步的,如图4所示,步骤S5包括:
[0061]步骤S51、当差值在预定范围内的,则显示合格;
[0062]步骤S52、当差值不在预定范围的,则显示不合格。
[0063]以上所述仅为本发明较佳的实施例,并非因此限制本发明的实施方式及保护范围,对于本领域技术人员而言,应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案,均应当包含在本发明的保护范围内。
【主权项】
1.一种快速检测电子设备指南针的系统,其特征在于,包括: 一磁场产生模块,用于在所述电子设备周围产生周期变化的磁场; 一指南针模块,设置于电子设备上,用于感应所述磁场的变化并偏置设定角度; 一控制模块,与所述指南针模块连接,用于根据接收到的信号发出控制信号; 一检测模块,与所述控制模块连接,用于检测所述磁场在通过所述电子设备时产生所述角度的角度值中的最大值和最小值; 一判断模块,与所述控制模块连接,用于根据所述角度值中的所述最大值和所述最小值的差值与预定范围对比,判断所述电子设备是否合格。2.如权利要求1所述的快速检测电子设备指南针的系统,其特征在于,所述检测模块包括: 一角度测量仪,与所述指南针模块连接,用于测量所述指南针模块产生所述角度值; 一获取模块,与所述角度测量仪连接,用于获取所述角度值的所述最大值和所述最小值。3.如权利要求1所述的快速检测电子设备指南针的系统,其特征在于,还包括: 一计算模块,与所述控制模块连接,用于计算所述角度值中的所述最大值和所述最小值的差值。4.如权利要求1所述的快速检测电子设备指南针的系统,其特征在于,包括: 一启动模块,用于启动所述电子设备。5.如权利要求1所述的快速检测电子设备指南针的系统,其特征在于,包括: 一供电模块,用于向所述电子设备提供电能。6.如权利要求1所述的快速检测电子设备指南针的系统,其特征在于,包括: 一显示模块,与所述判断模块连接,用于根据所述判断模块的判断结果显示所述电子设备是否合格。7.一种快速检测电子设备指南针的方法,应用于权利要求1-6所述快速检测电子设备指南针的系统,其特征在于,步骤包括: 步骤S1、启动所述电子设备; 步骤S2、利用具有周期变化的磁场,检测所述电子设备的指南针模块感测磁场变化并偏置设定角度; 步骤S3、测量所述角度的角度值,并获取所述角度值的最大值和最小值; 步骤S4、将所述最大值和所述最小值的差值与预定范围对比; 步骤S5、根据所述差值与所述预定范围对比的结果,判断所述电子设备是否合格。8.如权利要求7所述的快速检测电子设备指南针的方法,其特征在于,步骤S5包括: 步骤S51、当所述差值在所述预定范围内的,则显示合格; 步骤S52、当所述差值不在所述预定范围的,则显示不合格。
【专利摘要】本发明涉及检测领域,尤其涉及一种快速检测电子设备指南针的系统及方法。包括:磁场产生模块用于在电子设备周围产生周期变化的磁场;指南针模块设置于电子设备上,用于感应磁场变化并偏置设定角度;控制模块与指南针模块连接,用于根据接收到的信号发出控制信号;检测模块与控制模块连接,用于检测磁场在通过电子设备时产生的角度值中的最大值和最小值;判断模块与控制模块连接,用于根据角度值中的最大值和最小值的差值与预定范围对比,判断电子设备是否合格。有益效果是:提高了检测的精确度,同时能大量节约了人力和时间,提高了效率。
【IPC分类】G01C17/38
【公开号】CN105021175
【申请号】CN201510397900
【发明人】张国忠, 牟琦, 王鹏, 范超群, 许园园
【申请人】宁波萨瑞通讯有限公司
【公开日】2015年11月4日
【申请日】2015年7月3日
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