远距离激光干涉尺及其测量方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种远距离激光干涉尺及其测量方法，属于光学测量仪器技术领域。
【背景技术】
[0002]目前，对于建筑物的高度、宽度等测量多采用三角函数计算方法，如中国专利申请200610065882.5公开的“一种建筑物高度快速测量方法”，201410575353.4公开的“竖向建筑物垂直度的测量方法”，这些测量方法中需要测量当前测量点与测量物的直线距离，以及当前测量点与测量物最高点之间的连线与水平面之间的夹角，从而利用三角函数对建筑物高度进行测量，该方式费时费力，效率低下；且需要专业人员操作专业器械才能进行，其适用范围较小。
【发明内容】
[0003]本发明的目的在于克服上述不足，提供一种测量快速精确且适用范围广的远距离激光干涉尺及其测量方法。
[0004]本发明的目的是这样实现的:
一种远距离激光干涉尺，所述远距离激光干涉尺包含有主壳体，所述主壳体的前端设置有出光孔，所述主壳体的前端左右两侧对称连接有左壳体和右壳体；
所述左壳体内安装有激光源，所述主壳体内安装有反射镜一和半反半透镜，所述右壳体内安装有反射镜二，激光源发出的激光入射至半反半透镜后分为反射光路和折射光路，反射光路经反射镜一反射后再经半反半透镜折射形成出射光一，折射光路经反射镜二反射后再经半反半透镜反射形成出射光二，构成相干光的出射光一和出射光二汇总后经由出光孔射出。
[0005]本发明一种远距离激光干涉尺，所述主壳体的左右两侧分别穿接有左套筒和右套筒，所述左壳体和右壳体上分别穿接有左插筒和右插筒，左插筒和右插筒分别插入左套筒和右套筒内。
[0006]本发明一种远距离激光干涉尺，所述主壳体上还安装有激光测距仪和CXD模组，所述主壳体内还安装有处理器。
[0007]一种远距离激光干涉尺的测量方法，该测量方法远距离激光干涉尺将干涉条纹照射在被测物上，利用CCD模组获取干涉条纹的图片，经处理器内进行图像处理，获取干涉条纹的条数；通过激光测距仪获取远距离激光干涉尺与被测物之间的距离，结合激光源和反射镜二之间的间距，以及激光源发出的激光波长信息，处理器计算得出相邻干涉条纹之间的间距，通过该间距与干涉条纹的条数，即可得出被测物的高度或长度。
[0008]与现有技术相比，本发明的有益效果是:
本发明利用干涉条纹来实现对被测物的尺寸测量，使用方便快捷且测量误差小精度高，而且采用处理器后能够实现快速自动计算，从而没有经过专业技术培训的人员也可方便的使用；同时该方式在夜晚等看不清的情况下，干涉条纹反而更为明显，因此其适用范围更广。
【附图说明】
[0009]图1为本发明一种远距离激光干涉尺的结构示意图。
[0010]图2为本发明一种远距离激光干涉尺的主壳体、左壳体和右壳体在剖视状态下的结构简图。
[0011]其中:
主壳体1、左壳体2、右壳体3、激光源4、反射镜一 5、半反半透镜6、反射镜二 7、激光测距仪8、CXD模组9、处理器10 ；
出光孔1.1、左套筒1.2、右套筒1.3 ;
左插筒2.1、右插筒3.10
【具体实施方式】
[0012]参见图1和图2，本发明涉及的一种远距离激光干涉尺，所述远距离激光干涉尺包含有主壳体1，所述主壳体I的前端设置有出光孔1.1，所述主壳体I的前端左右两侧对称连接有左壳体2和右壳体3，具体的讲，所述主壳体I的左右两侧分别穿接有左套筒1.2和右套筒1.3，所述左壳体2和右壳体3上分别穿接有左插筒2.1和右插筒3.1，左插筒2.1和右插筒3.1分别插入左套筒1.2和右套筒1.3内；
所述左壳体2内安装有激光源4，所述主壳体I内安装有反射镜一 5和半反半透镜6，所述右壳体3内安装有反射镜二 7，激光源4发出的激光入射至半反半透镜6后分为反射光路和折射光路，反射光路经反射镜一 5反射后再经半反半透镜6折射形成出射光一，折射光路经反射镜二 7反射后再经半反半透镜6反射形成出射光二，构成相干光的出射光一和出射光二汇总后经由出光孔1.1射出；
进一步的，所述主壳体I上还安装有激光测距仪8和CXD模组9，所述主壳体I内还安装有处理器10 ；
一种远距离激光干涉尺的测量方法，其利用远距离激光干涉尺将干涉条纹照射在被测物上，利用C⑶模组9获取干涉条纹的图片，经处理器10内进行图像处理，获取干涉条纹的条数；通过激光测距仪8获取远距离激光干涉尺与被测物之间的距离，结合激光源4和反射镜二 7之间的间距，以及激光源4发出的激光波长信息，处理器10计算得出相邻干涉条纹之间的间距，通过该间距与干涉条纹的条数，即可得出被测物的高度或长度；
另外:需要注意的是，上述【具体实施方式】仅为本专利的一个优化方案，本领域的技术人员根据上述构思所做的任何改动或改进，均在本专利的保护范围之内。
【主权项】
1.一种远距离激光干涉尺，其特征在于:所述远距离激光干涉尺包含有主壳体(I)，所述主壳体(I)的前端设置有出光孔(1.1)，所述主壳体(I)的前端左右两侧对称连接有左壳体(2)和右壳体(3)， 所述左壳体(2)内安装有激光源(4)，所述主壳体(I)内安装有反射镜一(5)和半反半透镜(6 )，所述右壳体(3 )内安装有反射镜二( 7 )，激光源(4 )发出的激光入射至半反半透镜(6)后分为反射光路和折射光路，反射光路经反射镜一(5)反射后再经半反半透镜(6)折射形成出射光一，折射光路经反射镜二(7)反射后再经半反半透镜(6)反射形成出射光二，构成相干光的出射光一和出射光二汇总后经由出光孔(1.1)射出。2.如权利要求1所述一种远距离激光干涉尺，其特征在于:所述主壳体(I)的左右两侧分别穿接有左套筒(1.2)和右套筒(1.3)，所述左壳体(2)和右壳体(3)上分别穿接有左插筒(2.1)和右插筒(3.1)，左插筒(2.1)和右插筒(3.1)分别插入左套筒(1.2)和右套筒(1.3)内。3.如权利要求1或2所述一种远距离激光干涉尺，其特征在于:所述主壳体(I)上还安装有激光测距仪(8 )和CXD模组(9 )，所述主壳体(I)内还安装有处理器(10 )。4.一种远距离激光干涉尺的测量方法，其特征在于:该测量方法利用一种远距离激光干涉尺将干涉条纹照射在被测物上，所述远距离激光干涉尺包含有主壳体(I )，所述主壳体Cl)的前端设置有出光孔(1.1)，所述主壳体(I)的前端左右两侧对称连接有左壳体(2)和右壳体(3)， 所述左壳体(2)内安装有激光源(4)，所述主壳体(I)内安装有反射镜一(5)和半反半透镜(6 )，所述右壳体(3 )内安装有反射镜二( 7 )，激光源(4 )发出的激光入射至半反半透镜(6)后分为反射光路和折射光路，反射光路经反射镜一(5)反射后再经半反半透镜(6)折射形成出射光一，折射光路经反射镜二(7)反射后再经半反半透镜(6)反射形成出射光二，构成相干光的出射光一和出射光二汇总后经由出光孔(1.1)射出；所述主壳体(I)上还安装有激光测距仪(8)和CXD模组(9)，所述主壳体(I)内还安装有处理器(10)，利用CXD模组(9)获取干涉条纹的图片，经处理器(10)内进行图像处理，获取干涉条纹的条数；通过激光测距仪(8)获取远距离激光干涉尺与被测物之间的距离，结合激光源(4)和反射镜二(7)之间的间距，以及激光源(4)发出的激光波长信息，处理器(10 )计算得出相邻干涉条纹之间的间距，通过该间距与干涉条纹的条数，即可得出被测物的高度或长度。5.如权利要求4所述一种远距离激光干涉尺的测量方法，其特征在于:所述主壳体(I)的左右两侧分别穿接有左套筒(1.2)和右套筒(1.3)，所述左壳体(2)和右壳体(3)上分别穿接有左插筒(2.1)和右插筒(3.1)，左插筒(2.1)和右插筒(3.1)分别插入左套筒(1.2)和右套筒(1.3)内。
【专利摘要】本发明涉及一种远距离激光干涉尺及其测量方法，所述远距离激光干涉尺包含有主壳体（1），所述主壳体（1）的前端设置有出光孔（1.1），所述主壳体（1）的前端左右两侧对称连接有左壳体（2）和右壳体（3），所述左壳体（2）内安装有激光源（4），所述主壳体（1）内安装有反射镜一（5）和半反半透镜（6），所述右壳体（3）内安装有反射镜二（7）。本发明涉及一种远距离激光干涉尺及其测量方法，测量快速精确且适用范围广。
【IPC分类】G01B11/02
【公开号】CN105043268
【申请号】CN201510389515
【发明人】张泽宇, 凌一洲
【申请人】张泽宇
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年7月6日