集成电路、集成电路测试装置以及方法

文档序号:9348934阅读:512来源:国知局
集成电路、集成电路测试装置以及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种集成电路测试装置以及方法,涉及一种利用不同引脚同时施加测试条件并且测量测试项目的集成电路测试装置以及方法。
【背景技术】
[0002]在最终测试(FinalTest, FT)集成电路(Integrated Circuit,IC)的时候,往往都会将封装后的集成电路放置在集成电路插座(IC socket)中,以测试封装后的集成电路是否功能正常。针对功率集成电路进行最终测试时,通常需要抽取负载电流后,再测量负载后的输出电压是否符合规格要求。因此,我们需要一个有效率的集成电路测试装置以及方法。

【发明内容】

[0003]有鉴于此,本发明提出一种集成电路,包括:一第一电源单元、一第二电源单元以及一选择开关。上述第一电源单元输出一第一输出电压且耦接至一第一负载引脚,其中上述第一负载引脚耦接至一第一负载。上述第二电源单元输出一第二输出电压且耦接至一第二负载引脚,其中上述第二负载引脚耦接至一第二负载。上述选择开关,根据一选择信号,选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至一电压引脚。
[0004]根据本发明的一实施例,上述选择开关为一多工器。
[0005]根据本发明的一实施例,上述第一负载以及上述第二负载为一电阻或一电子式负载。
[0006]根据本发明的一实施例,上述选择开关还根据一测试逻辑,序列地将上述第一输出电压以及上述第二输出电压输出至上述电压引脚。
[0007]本发明还提出一种集成电路测试装置,包括:一集成电路、一集成电路插座、一电压计以及一处理器。上述集成电路包括:一第一电源单元、一第二电源单元以及一选择开关。上述第一电源单元输出一第一输出电压且耦接至一第一负载引脚。上述第二电源单元输出一第二输出电压且耦接至一第二负载引脚。上述选择开关根据一选择信号选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至一电压引脚。上述集成电路插座包括:一集成电路插槽、一第一负载探针、一第二负载探针以及一电压探针。上述集成电路插槽可分离地容置上述集成电路。上述第一负载探针耦接至上述第一负载引脚且耦接至一第一负载。上述第二负载探针耦接至上述第二负载引脚且耦接至一第二负载。上述电压探针耦接至上述电压引脚。上述电压计耦接至上述电压探针,根据一测量信号测量上述电压探针的电压值而发出一电压信号。上述处理器产生上述选择信号以及上述测量信号,并接收上述电压信号。
[0008]根据本发明的一实施例,上述选择开关为一多工器。
[0009]根据本发明的一实施例,上述第一负载以及上述第二负载为一电阻或一电子式负载。
[0010]根据本发明的一实施例,上述处理器还根据一测试逻辑输出上述选择信号以及上述测量信号,以序列地将上述第一输出电压以及上述第二输出电压输出至上述电压引脚,且序列地测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压,并将上述第一输出电压以及上述第二输出电压存储于一暂存器。
[0011]本发明还提出一种集成电路测试方法,适用于上述的集成电路测试装置,包括:利用上述第一负载以及上述第二负载,分别对上述第一电源单元以及上述第二电源单元抽取一第一电流以及一第二电流;根据上述选择信号选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至上述电压引脚;以及根据上述测量信号测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压。
[0012]根据本发明的一实施例,集成电路测试方法还包括:利用上述选择信号序列输出上述第一输出电压以及上述第二输出电压;利用上述测量信号,序列测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压;以及将上述第一输出电压以及上述第二输出电压的电压值存储于一暂存器。
【附图说明】
[0013]图1是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试装置的示意图;
[0014]图2是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路的方块图;
[0015]图3是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试装置的示意图;以及
[0016]图4是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试方法的流程图。
[0017]【符号说明】
[0018]100、300集成电路测试装置
[0019]110、200、310集成电路
[0020]111引脚
[0021]120集成电路插座
[0022]121探针
[0023]130负载
[0024]140电压计
[0025]201第一电源单元
[0026]202第二电源单元
[0027]203选择开关
[0028]204第一负载引脚
[0029]205第二负载引脚
[0030]206电压引脚
[0031]210、330第一负载
[0032]220、340第二负载
[0033]320集成电路插座
[0034]321第一负载探针
[0035]322第二负载探针
[0036]323电压探针
[0037]324集成电路插槽
[0038]350电压计
[0039]360处理器
[0040]SC选择信号
[0041]SM测量信号
[0042]SV电压信号
[0043]I负载电流
[0044]Il第一负载电流
[0045]12第二负载电流
[0046]Vl第一输出电压
[0047]V2第二输出电压
[0048]SI?S3步骤流程
【具体实施方式】
[0049]为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特例举一优选实施例,并配合附图,来作详细说明如下:
[0050]以下将介绍根据本发明所述的优选实施例。必须要说明的是,本发明提供了许多可应用的发明概念,在此所公开的特定实施例,仅是用于说明达成与运用本发明的特定方式,而不可用以局限本发明的范围。
[0051]图1是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试装置的示意图。如图1所示,集成电路测试装置100包括集成电路110、集成电路插座120、负载130以及电压计140。集成电路110可分离地容置于集成电路插座120中,并且集成电路110的引脚111耦接至集成电路插座120的探针121。当负载130抽取负载电流I时,电压计140通过探针121以测量集成电路110所输出的电压。
[0052]然而,由于负载电流I流经探针121会造成压降,使得电压计140所测量到的电压将比实际集成电路110所输出的输出电压低了上述压降。若负载电流I更大时,所产生的电压压降也越大,造成的测量误差也越显著。
[0053]图2是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路的方块图。如图2所示,集成电路200包括第一电源单元201、第二电源单元202以及选择开关203,并接受一供应电压(图2并未显示)的供电。第一电源单元201输出第一输出电压Vl且耦接至第一负载引脚204,第二电源单元202输出第二输出电压V2且耦接至第二负载引脚205。根据本发明的另一实施例,集成电路200可具有多个电源单元,在此仅以第一电源单元201以及第二电源单元202作为范例。
[0054]选择开关203根据选择信号SC选择第一输出电压Vl以及第二输出电压V2中的一个,输出至电压引脚206。根据本发明的一实施例,集成电路200为封装后的集成电路,第一负载引脚204、第二负载引脚205以及电压引脚206为集成电路200的输出引脚。
[0055]第一负载210耦接至第一负载引脚204,用以对第一电源单元201抽取第一负载电流II。第二负载220耦接至第二负载引脚205,用以对第二电源单元202抽取第二负载电流12。
[0056]根据本发明的一实施例,第一负载210以及第二负载220分别为一电阻,具有一电阻值,所抽取的第一负载电流Il以及第二负载电流12,分别根据第一输出电压Vl以及第二输出电压V2除以电阻值所决定。
[0057]根据本发明的另一实施例,第一负载210以及第二负载220分别为一电子式负载(electronic load),其中电子式负载可以手动设定抽取的第一负载电流Il以及第二负载电流12的大小。根据本发明的另一实施例,第一负载210以及第二负载220可以为电阻、电子式负载以及电阻与电子式负载的任意组合。
[0058]根据本发明的一实施例,选择开关203为一多工器。根据本发明的另一实施例,选择开关203可为其他任意型式的开关。根据本发明的一实施例,选择信号SC利用内部整合电路(Inter-1ntegrated Circuit, I2C)所产生,以控制选择开关203选择第一输出电压Vl以及第二输出电压V2中的一个。根据本发明的另一实施例,可利用各种目前已知以及将来发明的各种信号产生方式,产生选择信号SC。
[0059]根据本发明的一实施例,选择开关203还根据一测试逻辑,序列地输出上第一
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