射线检测铸件点状缺陷深度的系统及方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及检测技术领域，特别涉及一种射线检测铸件点状缺陷深度的系统及方 法。
【背景技术】
[0002] 目前大型铸钢件的应用领域越来越广，很多的零部件在后期装配服役中需要承受 特殊的温度和压力等条件，所以为了确保铸钢件质量，铸件的关键部位要求必须进行射线 检测。射线检测受其检测原理的限制，只能暴露缺陷投影的两维形状。，实际生产中，为了有 效去除铸件缺陷，必须借助超声波检测对其进行深度方向的定位。但是点状缺陷的尺寸、缺 陷性质及内含物对检测影响较大，且缺陷尺寸较小时容易形成衍射和绕射，导致无法准确 定位。
【发明内容】
[0003] 有鉴于此，有必要提供一种射线检测铸件点状缺陷深度的系统。
[0004] 还有必要提供一种射线检测铸件点状缺陷深度的方法。
[0005] -种射线检测铸件点状缺陷深度的系统，包括铸件定位装置、放射源、第一曝光图 片获取装置、第二曝光图片获取装置、数据处理装置，第一曝光图片获取装置、第二曝光图 片获取装置用于在受到放射源照射后产生对应的反应铸件的待测位置的点状缺陷的曝光 图片，铸件定位装置包括支架、设置在支架两端的放射源定位移动机构、曝光图片获取装置 固定机构、设置在支架上的铸件定位机构，铸件定位机构位于放射源定位移动机构、曝光图 片获取装置固定机构之间，且铸件定位机构靠近曝光图片获取装置固定机构；数据处理装 置与第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置、铸件定位装置电性连接，数据处理装 置用于控制设置有放射源的放射源定位移动机构移动到第一照射位置、第二照射位置，第 一照射位置与设置在铸件定位机构上的铸件上的待测位置相正对，第一照射位置到铸件的 距离等于第二照射位置到铸件的距离，数据处理装置还用于控制曝光图片获取装置固定机 构依次夹持第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置，以使第一曝光图片获取装置、 第二曝光图片获取装置依次获得第一曝光图片、第二曝光图片，第一曝光图片中具有第一 投影点，第一投影点是铸件上的待测位置上的缺陷点在第一曝光图片中的投影点，第二曝 光图片中具有第二投影点，第二投影点是铸件上的待测位置上的缺陷点在第二曝光图片中 的投影点；数据处理装置还用于根据第一曝光图片中的第一投影点、第二曝光图片中的第 二投影点计算出第一投影点与第二投影点之间的距离H 2，数据处理装置中还预设有铸件的 被检测厚度的厚度值T、第一照射位置与第二照射位置之间的距离值H1、第一照射位置到铸 件上的待测位置的距离为L，数据处理装置还用于根据如下公式计算铸件的点状缺陷到铸 件两侧表面的距离!\与T 2;
(I) T=T^T2 (2)。
[0006] -种射线检测铸件点状缺陷深度的方法，包括如下步骤： 在铸件的一侧设置第一照射位置、第二照射位置，第一照射位置到铸件的距离等于第 二照射位置到铸件的距离，第一照射位置与铸件上的待测位置相正对，第一照射位置与第 二照射位置之间的距离为H1，第一照射位置到铸件上的待测位置的距离为L，在铸件的另一 侧设置第一曝光图片获取装置，第一曝光图片获取装置与连接第一照射位置、第二照射位 置的直线平行，第一曝光图片获取装置与铸件上的待测位置相平行，铸件的被检测厚度的 厚度值为T ; 将放射源放置在第一照射位置后，垂直照射铸件上的待测位置，以使第一曝光图片获 取装置成像显示出铸件上的待测位置上的缺陷点在第一曝光图片获取装置上的第一投影 占. 将铸件的另一侧设置的曝光后的第一曝光图片获取装置取下，在铸件的另一侧原来设 置第一曝光图片获取装置的位置上再设置第二曝光图片获取装置，第二曝光图片获取装置 与第一曝光图片获取装置尺寸相同； 将放射源放置在第二照射位置后，放射源指向铸件上的待测位置后照射，以使第二曝 光图片获取装置成像显示出铸件上的待测位置上的缺陷点在第二曝光图片获取装置上的 第二投影点； 将曝光后的第二曝光图片获取装置、第一曝光图片获取装置重叠放置，以测量出第一 投影点与第二投影点之间的距离H2，其中，第二曝光图片获取装置、第一曝光图片获取装置 重叠放置时，第二曝光图片获取装置、第一曝光图片获取装置上的图像相重合； 利用相似三角形的同比原理，用如下公式计算铸件的点状缺陷到铸件两侧表面的距离
(1) T=T^T2 (2)。
[0007] 上述射线检测铸件点状缺陷深度的系统及方法中，利用射线倾斜透照形成两次投 影之间的几何关系原理，通过计算求得缺陷距离工件表面的距离Tl或者Τ2,通过实施这 种缺陷定位方法，有效地避免了点状缺陷因超声波检测的衍射和绕射导致的深度定位不准 确，使得点状缺陷的返修成功率直线提升，极大地提高了返修效率，节约了返修成本。
【附图说明】
[0008] 图1是一较佳实施方式的射线检测铸件点状缺陷深度的方法的原理示意图。
[0009] 图2是一较佳实施方式的射线检测铸件点状缺陷深度的系统的结构示意图。
[0010] 图3是射线检测铸件点状缺陷深度的系统的另一角度的结构示意图。
[0011] 图中：铸件1、点状缺陷2、胶片3、第一次透照放射源位置4、第二次透照放射源位 置5、第一次缺陷投影位置6、第二次缺陷投影位置7、射线检测铸件点状缺陷深度的系统 10、铸件定位装置20、支架21、放射源定位移动机构22、曝光图片获取装置固定机构23、铸 件定位机构24、放射源30、第一曝光图片获取装置40、第二曝光图片获取装置50、数据处理 装置60。
【具体实施方式】
[0012] 本发明提供一种射线检测铸件点状缺陷深度的方法，该方法利用射线多角度曝光 投影的几何分布原理，从理论上计算缺陷距离工件表面的深度，准确的确定缺陷深度。该射 线检测铸件点状缺陷深度的方法，包括如下步骤： 步骤S301，在铸件的一侧设置第一照射位置、第二照射位置，第一照射位置到铸件的距 离等于第二照射位置到铸件的距离，第一照射位置与铸件上的待测位置相正对，第一照射 位置与第二照射位置之间的距离为H1，第一照射位置到铸件上的待测位置的距离为L，在铸 件的另一侧设置第一曝光图片获取装置，第一曝光图片获取装置与连接第一照射位置、第 二照射位置的直线平行，第一曝光图片获取装置与铸件上的待测位置相平行，铸件的被检 测厚度的厚度值为T。第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置为胶片。
[0013] 步骤S302,将放射源放置在第一照射位置后，垂直照射铸件上的待测位置，以使第 一曝光图片获取装置成像显示出铸件上的待测位置上的缺陷点在第一曝光图片获取装置 上的第一投影点。
[0014] 步骤S303,将铸件的另一侧设置的曝光后的第一曝光图片获取装置取下，在铸件 的另一侧原来设置第一曝光图片获取装置的位置上再设置第二曝光图片获取装置，第二曝 光图片获取装置与第一曝光图片获取装置尺寸相同。
[0015] 步骤S304,将放射源放置在第二照射位置后，放射源指向铸件上的待测位置后照 射，以使第二曝光图片获取装置成像显示出铸件上的待测位置上的缺陷点在第二曝光图片 获取装置上的第二投影点。
[0016] 步骤S305,将曝光后的第二曝光图片获取装置、第一曝光图片获取装置重叠放置， 以测量出第一投影点与第二投影点之间的距离H 2，其中，第二曝光图片获取装置、第一曝光 图片获取装置重叠放置时，第二曝光图片获取装置、第一曝光图片获取装置上的图像相重 合。
[0017] 步骤S306,利用相似三角形的同比原理，用如下公式计算铸件的点状缺陷到铸件 两侧表面的距离！\与T 2; (1) T=T^T2
(2)。
[0018] 优选的，第一曝光图片获取装置、第二曝光图片获取装置为胶片。
[0019] 以下，给出举例说明上述射线检测铸件点状缺陷深度的方法，如图1中所示的铸 件1、铸件内部点状缺陷2、胶片3、第一次透照放射源位置4、第二次透照放射源位置5、第一 次缺陷投影位置6、第二次缺陷投影位置7 :准确测量铸件1的透照区域的壁厚T，利用曝光 尺或曝光计算公式计算透照焦距F，使用升降支架调整放射源位置，将其固定在第一次透照 放射源位置4处，则L=F-T ;胶片3贴置于铸件背面，边界标示记号；放射源曝光，铸件内部 点状缺陷2在胶片3上曝光形成第一次缺陷投影位置6 ;放射源提升至第二次透照放射源 位置5处，与第一次透照放射源位置4距离H1;第二张胶片紧挨着第一张的边界贴置；放射 源曝光，铸件内部点状缺陷2在胶片3上曝光形成第二次缺陷投影位置7 ;两张胶片重叠， 测量第一次缺陷投影位置6与第二次缺陷投影位置7的距离H2;借助铸件分区基准位置可 重叠放置，确保前后两次透照基准一致，胶片使用磁铁吸附固定。
[0020] 根据图1中的关系