电磁线的测试方法
【技术领域】
[0001]本发明公开了一种电磁线的测试方法，可在电磁线生产行业对在线生产的电磁线进行检测。
【背景技术】
[0002]电磁线的电气绝缘性能是衡量电磁线质量优劣的关键指标，判断电磁线电气绝缘性能优劣需要通过对电磁线进行耐电压测试实现。公知的电磁线的测试方法是:电磁线取样一入检测箱一通电作耐压测试一检测结果。这种电磁线传统的检测方法在实际应用中存在有以下缺陷:在电磁线生产中的过漆、烘焙生产工艺段，因烘焙不充分或过度烘焙，在电磁线的绝缘层内存在有残余的有机小分子溶剂，这些残余的有机小分子溶剂短期内不易暴露出来，需经过存放、自然老化15天-180天(状况不同时间不同)后才会显露出其缺陷，有机小分子溶剂的存在会降低电磁线的绝缘度，直至不能使用。但是电磁线绝缘层存在的这种有机小分子溶剂在电磁线烘焙后能承受较高电压的冲击，造成对其测试耐压时不易被检测出来，不能发现电磁线存在的隐形缺陷；随着电磁线的存放、自然老化，这些残余的有机小分子溶剂由绝缘层向外扩散，这样就弱化了绝缘层的耐电压强度，这时候电磁线的耐电性能会大大下降，有的甚至不能使用。
【发明内容】
[0003]本发明的目的旨在提供一种电磁线的测试方法，利用这种测试方法可对在线生产的电磁线即时进行取样测试，达到及时发现电磁线是否存在有机小分子溶剂的隐形缺陷，当班取样、当班得出检测结果，大幅度提高电磁线检测效率，保证电磁线检测质量。
[0004]为实现本发明的目的采取了如下技术方案:
[0005]—种电磁线的测试方法，所述的检测方法为:电磁线取样一水煮一烘干一入检测箱一通电作耐压测试一检测结果。
[0006]所述的水煮温度为95°C?100°C。
[0007]所述的水煮时间为25分钟?35分钟。
[0008]所述的烘干温度为60°C?80 °C。
[0009]所述的烘干时间为:10分钟?15分钟。
[0010]本发明烘干后入检测箱、通电作耐压测试、成品检测工艺与传统的检测工艺相同，在此不再赘述。
[0011]具体实施方法如下:
[0012]取电磁线样品，入水温为95 °C?100 °C水中进行水煮，水煮时间为25分钟?35分钟，然后取出放入温度为60°C?80°C的烘干室内进行烘干，烘干时间为10分钟?15分钟，接着进入检测箱通电作耐压测试，测试后得出检测结果。
[0013]本发明的特点是测试方法简单、便于操作、容易实现；其显著优点是可对在线生产的电磁线进行即时取样测试，即取样即检测不必等到自然老化15-180天后再检测，加快电磁线老化时间，及时发现电磁线是否存在有机小分子溶剂的隐形缺陷，大幅提高电磁线的检测效率，保证电磁线的检测质量。
【具体实施方式】
[0014]下面结合实施例进一步详细说明本发明的技术特征:
[0015]实施例1
[0016]取直径为0.1mm电磁线样品，入水温为95°C的水中进行水煮，水煮时间为25分钟，然后取出放入温度为60°C的烘干室内进行烘干，烘干时间为10分钟，接着进入检测箱通电作耐压测试，测试后取出即可。
[0017]实施例2
[0018]取直径为0.15mm电磁线样品，入水温为100°C的水中进行水煮，水煮时间为30分钟，然后取出放入温度为70°C的烘干室内进行烘干，烘干时间为13分钟，接着进入检测箱通电作耐压测试，测试后取出即可。
[0019]实施例3
[0020]取直径为0.25mm电磁线样品，入水温为100°C的水中进行水煮，水煮时间为35分钟，然后取出放入温度为80 °C的烘干室内进行烘干，烘干时间为15分钟，接着进入检测箱通电作耐压测试，测试后取出即可。
[0021]由于本发明对在线生产的电磁线于入检测箱测试前先进行取样水煮、烘干，加快了电磁线的老化、缩短了电磁线的老化时间，使电磁线有机小分子溶剂的隐形缺陷提前暴露出来，采用本方法测试电磁线的准确率达百分之百，实用可靠，便于操作。
【主权项】
1.一种电磁线的测试方法，其特征在于:所述的检测方法为:电磁线取样一水煮一烘干一入检测箱一通电作耐压测试一检测结果。2.按权利要求1所述的电磁线的测试方法，其特征在于:所述的水煮温度为95°C?10cC03.按权利要求1所述的电磁线的测试方法，其特征在于:所述的水煮时间为25分钟?35分钟。4.按权利要求1所述的电磁线的测试方法，其特征在于:所述的烘干温度为60°C?80。。。5.按权利要求1所述的电磁线的测试方法，其特征在于:所述的烘干时间为:10分钟?15分钟。
【专利摘要】本发明公开了一种电磁线的测试方法，所述的测试方法为：电磁线取样→水煮→烘干→入检测箱→通电作耐压测试→测试结果。利用这种测试方法可对在线生产的电磁线即时进行测试，达到及时发现电磁线是否存在隐形缺陷，提高电磁线检测效率，保证电磁线检测质量。本发明的特点是测试方法简单、便于操作、容易实现；其显著优点是可对在线生产的电磁线进行即时取样测试，加快电磁线老化时间，大幅提高电磁线的检测效率，提高电磁线的检测质量。
【IPC分类】G01R31/08
【公开号】CN105158645
【申请号】CN201510621349
【发明人】马法周, 孟祥富, 高景超, 付信开, 李永军, 马宁
【申请人】许昌华元电工器材有限公司
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年9月22日