一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，属于电网信息安全检测与防 御技术领域。
【背景技术】
[0002] 随着我国经济的发展，环境污染问题越发严重，对输电线路、变电站的绝缘设备的 外绝缘特性造成了很大的影响，导致电网的污闪事故，影响电网的安全运行。在实验室开展 研究是探索高电压外绝缘问题的有效手段，模拟绝缘子饱和受潮状态是其中的重要研究内 容。由于自然污秽绝缘子其成分组成复杂，多数条件下会存在二价盐，同时其结构致密，受 潮速度明显慢于人工污秽绝缘子。为使自然污秽绝缘子迅速达到饱和受潮，需要改变绝缘 子的受潮方式，如延长受潮时间，但延长受潮时间可能会带来污秽的流失，引起试验结果失 真。
【发明内容】
[0003] 目的：为了克服现有技术中存在的不足，解决现有智能变电站网络安全监控和异 常行为检测的不足等问题，本发明提供一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法。
[0004] 技术方案：为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
[0005] -种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，其特征在于，包括如下步骤：
[0006] 1)试验流程：
[0007] (1)测定绝缘子初始温度T0;
[0008] (2)设定冰室温度Tfri;
[0009] (3)将绝缘子置于冰室中，处理时间t1;
[0010] (4)设定雾室温度TAa、相对湿度100% ;
[0011] (5)将绝缘子取出，置于雾室中，受潮时间t2;
[0012] (6)受潮结束，开展试验；
[0013] 2)参数设定：
[0014] 降温阶段绝缘子温度常数为τ i，处理时间为tl，处理接受后绝缘子温度为T1;雾 室受潮阶段绝缘子温度常数为τ 2，受潮时间为t2，处理接受后绝缘子温度为T2;则有
[0015]
[0016]
[0017] 为保证在绝缘子受潮阶段t2时间范围内绝缘子温度均低于环境露点，冰室中的处 理时间应不低于h CN 105158665 A ~P 2/3 页
[0018]
°
[0019] 所述的污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，其特征在于：XWP2_160型双伞形瓷绝 缘子，其绝缘子温度降温阶段温度常数τ := 26. 5 ;升温阶段温度常数τ 2= 43. 7。
[0020] 有益效果：本发明提供的污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，试验前对绝缘子做 预处理，通过测量与控制绝缘子表面温度，控制受潮环境温度与湿度，人为造成绝缘子表面 污层冷凝受潮，达到加速绝缘子表面污层受潮的目的。
【附图说明】
[0021] 图1是试验过程中绝缘子表面温度变化曲线。
【具体实施方式】
[0022] 下面结合附图和实施例对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说 明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。
[0023] 污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，其特征在于，包括如下步骤：
[0024] 1、试验流程：
[0025] (1)测定绝缘子初始温度T0;
[0026] (2)设定冰室温度Tfri;
[0027] (3)将绝缘子置于冰室中，处理时间t1;
[0028] (4)设定雾室温度Tcha、相对湿度100% ;
[0029] (5)将绝缘子取出，置于雾室中，受潮时间t2;
[0030] (6)受潮结束，开展试验；
[0031] 2、参数设定：
[0032] 降温阶段绝缘子温度常数为τ i，处理时间为tl，处理接受后绝缘子温度为T1;雾 室受潮阶段绝缘子温度常数为τ 2，受潮时间为t2，处理接受后绝缘子温度为T2;则有
[0033]
[0034]
[0035] 试验过程中的绝缘子表面温度变化曲线如图1所示。
[0036] 为保证在绝缘子受潮阶段t2时间范围内绝缘子温度均低于环境露点，冰室中的最 短处理时间为
[0037]
,
[0038] 对常见的XWP2-160型双伞形瓷绝缘子，其绝缘子温度降温阶段温度常数τ 1 = 26. 5 ;升温阶段温度常数τ 2= 43. 7。
[0039] 实施例1 :处理前绝缘子温度为40°C ;设定冰柜设定温度为7°C ;设定雾室温度为 20°(：，相对湿度100%;设定在雾室151^11受潮时间内绝缘子温度低于19.5°(：以保证绝缘子 充分受潮；绝缘子温度降温阶段温度常数τ := 26. 5 ;升温阶段温度常数τ 2= 43. 7。
[0040] 则在冰箱中的最短处理时间为
[0041]
(3-1)
[0042] 该过程中：在冰柜中处理时间为27. 5min ;处理完成后置于雾室中受潮，15min后 绝缘子温度为19. 5°C，满足试验要求。
[0043] 以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出：对于本技术领域的普通技术人 员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应 视为本发明的保护范围。
【主权项】
1. 一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，其特征在于，包括如下步骤： 1) 试验流程： (1) 测定绝缘子初始温度T。； (2) 设定冰室温度Tfri; (3) 将绝缘子置于冰室中，处理时间t1; (4) 设定雾室温度I；ha、相对湿度100% ; (5) 将绝缘子取出，置于雾室中，受潮时间t2; (6) 受潮结束，开展试验； 2) 参数设定： 降温阶段绝缘子温度常数为τ i，处理时间为^，处理接受后绝缘子温度为T1;雾室受 潮阶段绝缘子温度常数为τ 2，受潮时间为t2，处理接受后绝缘子温度为T2;则有为保证在绝缘子受潮阶段t2时间范围内绝缘子温度均低于环境露点，冰室中的处理时 间应不低于L2. 根据权利要求1所述的污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，其特征在于：XWP2_160 型双伞形瓷绝缘子，其绝缘子温度降温阶段温度常数T1= 26. 5;升温阶段温度常数τ 2 = 43. 7〇
【专利摘要】本发明公开了一种污秽试验中加快绝缘子受潮的方法，试验前对绝缘子做预处理，通过测量与控制绝缘子表面温度，控制受潮环境温度与湿度，人为造成绝缘子表面污层冷凝受潮，达到加速绝缘子表面污层受潮的目的。
【IPC分类】G01R31/20
【公开号】CN105158665
【申请号】CN201510522532
【发明人】周志成, 赵晨龙, 高嵩, 陶风波, 朱明曦, 张龙, 王黎明
【申请人】国家电网公司, 江苏省电力公司, 江苏省电力公司电力科学研究院, 清华大学深圳研究生院
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年8月24日