测试器件和电路布置的制作方法
【技术领域】
[0001]各种实施例涉及测试器件和电路布置。
【背景技术】
[0002]可并行地测试的被测试器件(DUT)的数目可取决于测试设备(例如测试器)的硬件。可能期望增加可并行地测试的DUT的数目，其例如可减少测试时间和/或测试成本。
【发明内容】
[0003]根据各种实施例的测试器件可包括:多个第一端子，被配置成连接到多个被测试器件(DUT)，其中多个第一端子中的每个第一端子可被配置成连接到多个DUT中的相应的DUT ;信号接口，被配置成连接到测试器；以及电路，被配置成通过多个第一端子中的相应的第一端子与多个DUT中的每个DUT交换相同的第一信号，并通过信号接口与测试器交换至少一个接口信号。
【附图说明】
[0004]在图中，遍及不同的视图，相似的参考字符一般地指的是相同的部分。附图不一定按比例，改为一般地将重点放在图示出本发明的原理上。在以下描述中，参考以下各图来描述本发明的各种实施例，其中:
图1示出了包括其中可执行并行测试的多个DUT和测试器的框图。
[0005]图2示出了根据各种实施例的测试器件的框图。
[0006]图3示出了根据各种实施例的电路布置的框图。
[0007]图4示出了根据各种实施例的包括测试器的测试器件的详细框图。
[0008]图5A至图?示出了根据各种实施例的用于测试多个DUT中的每个DUT的各种计时的电路布置和各种曲线。
[0009]图6A至图6C示出了根据各种实施例的用于测试多个DUT中的每个DUT的各种计时的电路布置和各种曲线。
[0010]图7示出了根据各种实施例的电路布置的框图。
【具体实施方式】
[0011]以下详细描述参考附图，附图以图示的方式示出了其中可实施本发明的实施例和特定细节。足够详细地描述了这些实施例以使得本领域的技术人员能够实施本发明。在不脱离本发明的范围的情况下，可利用其它实施例，并且可进行结构、逻辑以及电学改变。各种实施例不一定是相互排斥的，因为可以将某些实施例与一个或多个其它实施例组合以形成新的实施例。针对结构或器件描述了各种实施例，并且针对方法描述了各种实施例。可理解的是结合结构或器件所述的一个或多个(例如所有)实施例可同样地适用于方法，并且反之亦然。
[0012]词语“示例性”在本文中用来意指“充当示例、实例或图示”。在本文中描述为“示例性”的任何实施例或设计不一定要被解释为相比于其它实施例或设计而言是优选或有利的。
[0013]在这里用来描述被连接到至少一个其它暗指特征的特征的术语“耦合”和/或“电耦合”和/或“连接”和/或“电连接”并不意图意指必须将该特征和至少一个其它暗指特征直接地耦合或连接在一起；可在该特征与至少一个其它暗指特征之间提供中间特征。
[0014]可参考正在描述的(多个)图的取向来使用方向术语，例如诸如“上”、“下”、“顶部”、“底部”、“左侧”、“右侧”等。因为(多个)图的部件可以以多个不同的取向定位，所以方向术语是用于说明的目的且绝不是限制性的。应理解的是在不脱离本发明的范围的情况下，可进行结构或逻辑改变。
[0015]可提供电路测试器以在组件中的芯片(或管芯)和/或部件的插入或安装(例如诸如印刷电路板上的焊接)之前测试芯片(或管芯)和/或部件的功能。如果芯片(或管芯)和/或部件的任何故障仅在板层级(例如用板测试器)可检测，则可能存在丢弃和/或拒绝整个板的需要，或者至少将出现对昂贵措施的需要，例如诸如去除有缺陷的芯片和/或部件。因此，测试器可确保在组装的早期检测到有缺陷的芯片和/或部件。这方面可随着增加的集成(例如增加的芯片和/或部件的封装密度)而变得更加重要。可将单个地测试的芯片和/或部件称为被测试器件(DUT)。
[0016]为了节省测试时间和/或测试成本，并行测试、即同时地测试超过一个芯片和/或部件可以是个因素。为了实现这个，可将要测试的每个DUT与测试器的单独源相连，并且可向测试器硬件提供所需数目的部件。
[0017]图1示出了包括测试器112和多个DUT 108a、108b、108c的框图，其中可执行并行测试。
[0018]如图1中所示，可将多个DUT 108a、108b、108c连接到测试器112。测试器112可包括多个测试引脚112a、112b。多个测试引脚112a、112b中的至少一个测试引脚可被配置成提供用于测试多个DUT 108a、108b、108c的测试信号114a。例如，可将测试引脚112a配置为测试器112的输出引脚，并且可向多个DUT 108a、108b、108c中的每个DUT提供测试信号114a。可将多个测试引脚112a、112b中的至少一个测试引脚配置成从多个DUT 108a、108b、108c中的每个DUT接收测试响应信号114b。例如，可将测试引脚112b配置为测试器112的输入引脚，并且可从多个DUT 108a、108b、108c中的每个DUT接收测试响应信号114b。
[0019]在图1中可看到可并行地测试的DUT 108a、108b、108c的数目可受到测试器112的资源(例如被配置成提供测试信号114a的测试器112的测试引脚112a的数目和/或被配置成接收测试响应信号114b的测试器112的测试引脚112b的数目和/或测试器112中的测试信号源的数目)的限制。换言之，可并行地测试的DUT 108a、108b、108c的数目可取决于包括在测试器112中的源和/或测量通道(例如测试引脚)的数目。另外，可并行地测试的DUT 108a、108b、108c的数目可取决于测试器112的硬件上的可用空间。因此，可能期望去除可并行地测试的DUT 108a、108b、108c的数目对测试器112的资源的相关性。换言之，可能期望增加可并行地测试的DUT的数目，而不必重新设计测试器112。
[0020]图2示出了根据各种实施例的测试器件200的框图。
[0021]图2中所示的测试器件200可用来增加可并行地测试的DUT的数目。换言之，测试器件200可增加可并行地测试的DUT的数目。例如，使用测试器件200，可并行地测试的DUT的数目可大于或等于约2，例如大于或等于约5，例如大于或等于约10，例如大于或等于约30，例如大于或等于约50，例如大于或等于约100，例如大于或等于约200，例如大于或等于约500，例如大于或等于约800，例如大于或等于约1000，例如大于或等于约1500，例如大于或等于约2000，然而根据其它实施例其它数目也可以是可能的。下面描述其中测试器件200可增加可并行地测试的DUT的数目的方式。
[0022]测试器件200可包括多个第一端子202a、202b、202c;信号接口 204;以及电路206。
[0023]词语“电路”在这里用来意指任何种类的逻辑实现实体，其可以是专用电路或处理器，其执行存储在存储器中的软件、固件或其任何组合。因此，在一个或多个示例中，“电路”可以是硬连线逻辑电路或可编程逻辑电路，诸如可编程处理器，例如微处理器(例如复杂指令集计算机(CISC)处理器或精减指令集计算机(RISC)处理器)。“电路”还可以是执行软件(例如任何种类的计算机程序、例如使用诸如例如Java之类的虚拟机代码的计算机程序)的处理器。因此还可以用同一部件(例如用执行两个不同程序的处理器)来实现不同的电路。
[0024]仅示出三个第一端子202a、202b、202c作为示例，然而，第一端子202a、202b、202c的数目可大于三个，并且在某些实施例中可以是例如四个、五个、六个、七个、八个、九个或者大约数十个、数百个、数千个或者甚至更多的第一端子202a、202b、202c。
[0025]在一个或多个实施例中，可将多个第一端子202a、202b、202c配置成连接到多个DUT 208a 208b、208c。仅示出三个DUT 208a、208b、208c作为示例，然而，DUT的数目可大于三个，并且在某些实施例中可以是例如四个、五个、六个、七个、八个、九个或者大约数十个、数百个、数千个或者甚至更多DUT。
[0026]在一个或多个实施例中，可将多个第一端子202a、202b、202c中的每个第一端子配置成连接到多个DUT 208a,208b,208c中的相应的DUT。例如，如图2中所示，可将第一端子202a配置成连接到DUT 208a ;可将第一端子202b配置成连接到DUT 208b ;并且可将第一端子202c配置成连接到DUT 208c。换言之，可将多个第一端子202a、202b、202c中的相应的第一端子配置成连接到多个DUT 208a、208b、208c中的相应的DUT。在一个或多个实施例中，可将多个第一端子202a、202b、202c中的每个第一端子配置成连接到多个DUT 208a、208b、208c 中的不同 DUT。
[0027]在一个或多个实施例中，可将相应的第一端子配置成连接到相应DUT的相应引脚。例如，如图2中所示，可将相应的第一端子202a配置成连接到相应DUT 208a的相应引脚210a。以类似方式，可将相应的第一端子202b配置成连接到相应DUT 208b的相应引脚210b ;并且可将相应的第一端子202c配置成连接到相应的DUT 208c的相应的引脚210c。
[0028]在一个或多个实施例中，可将相应的DUT 208a、208b、208c的相应引脚210a、210b、210c配置成在每个相应DUT 208a,208b,208c中提供相同的(技术)功能(例如针对相同的技术使用)。换言之，相应的引脚210a、210b、210c可在相应的DUT 208a,208b,208c中履行相同的功能。例如，可将相应的引脚210a、210b、210c每个配置为用于相应的DUT208a、208b、208c的非反相信号输入。作为另一示例，可将相应的引脚210a、210b、210c每个配置为用于相应DUT 208a、208b、208c的电源输入。作为又一示例，可将相应引脚210a、210b和210c每个配置为用于相应DUT 208a、208b、208c的信号输出。在一个或多个实施例中，相应DUT 208a、208b、208c可彼此相同。因此，可在相应DUT 208a、208b、208c中的每一个中已用相同的名称来标记相应的引脚210a、210b、210c。例如，可在相应的DUT 208a、208b,208c中的每一个中将相应的引脚210a、210b、210c中的每一个标记为“入口”引脚(例如，图5和图6中所示)。
[0029]测试多个DUT 208a、208b、208c 可包括向多个 DUT 208a、208b、208c 中的每个 DUT提供至少一个信号和/或从多个DUT 208a、208b、208c中的每个DUT接收至少一个信号。换言之，测试多个DUT 208a,208b,208c可包括测试器件200通过多个第一端子202a、202b、202c与多个DUT 208a,208b,208c交换信号(例如向其