粉尘颗粒检测设备的制造方法

文档序号:9522533阅读:403来源:国知局
粉尘颗粒检测设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及粉尘颗粒检测技术领域,尤其涉及一种粉尘颗粒检测设备。
【背景技术】
[0002]从烟囱里排放的高浓度PM10颗粒是大气污染的大问题。需要有设备对PM10颗粒的浓度进行检测。

【发明内容】

[0003]本发明的目的是提供一种粉尘颗粒检测设备,以实现对粉尘颗粒(例如PM10)浓度的检测。
[0004]本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
[0005]一种粉尘颗粒检测设备,包括:
[0006]检测腔体,所述检测腔体的腔体壁一端为质量负载效应传感器的检测面,所述检测腔体的非检测面的腔体壁开有一入气口和一出气口,所述检测腔体的出气口处设置有第一抽气装置;
[0007]所述检测腔体外、与所述入气口相对设置的遮挡部;
[0008]质量负载效应传感器的电路部,与所述检测面电连接。
[0009]可选的,所述入气口高于所述出气口。
[0010]可选的,所述入气口设置于所述检测腔体的顶部。
[0011]基于上述任意设备实施例,可选的,还包括抽气管道,所述抽气管道的外壁与所述出气口密封连接,所述第一抽气装置设置于所述抽气管道。
[0012]可选的,所述抽气管道与所述检测面不平行。
[0013]基于上述任意设备实施例,可选的,所述遮挡部为斗笠形。
[0014]可选的,所述斗笠形的遮挡部的开口端朝向所述入气口。
[0015]可选的,所述斗笠形的遮挡部的开口端的端面不高于所述入气口的端面;或者,所述斗笠形的遮挡部的开口端高于所述入气口的端面、且距离不超过设定阈值。
[0016]基于上述任意设备实施例,可选的,所述检测腔体还包括另一出气口,所述粉尘颗粒检测设备还包括用于清洗的第二抽气装置,所述第二抽气装置设置于所述检测腔体的另一出气口处。
[0017]基于上述任意设备实施例,可选的,所述检测腔体的出气口处设置有不密封的挡板;或者,所述检测腔体由一漏斗形部件分割为第一腔体和第二腔体,所述检测面位于所述第二腔体,所述漏斗形部件的敞口端朝向所述第一腔体,尖口端朝向所述检测面。
[0018]本发明实施例提供的粉尘颗粒检测设备在工作时,第一抽气装置启动,气流从检测腔体的入气口被吸入检测腔体,由于与入气口相对设置有遮挡部,因此可以避免颗粒直接落入入气口,而直径较大的颗粒受限于自身质量,不会被吸入检测腔体,因此可以分离出PM10颗粒。吸入检测腔体的颗粒击冲质量负载效应传感器的检测面通过检测频率变化从而检测粉尘颗粒的浓度。
[0019]可见,采用本发明实施例提供的粉尘颗粒检测设备,可以实现对PM10的检测。
【附图说明】
[0020]图1为本发明实施例所基于的坐标系不意图;
[0021]图2为本发明实施例提供的一种粉尘颗粒检测设备结构示意图。
【具体实施方式】
[0022]在对本发明实施例提供的技术方案进行详细说明之前,首先对本发明实施例中涉及到的方位名词进行说明。
[0023]本发明实施例中所涉及到的方位均基于如图1所示的坐标系:该坐标系的X轴和Y轴所在平面与粉尘颗粒检测设备1工作时放置的平面平行。应当指出的是,图1中的粉尘颗粒检测设备1的外形仅为示意,并不是实际产品外形。
[0024]基于上述坐标系,部件A位于部件B的上方是指,部件A在坐标系中的Z坐标大于部件B在坐标系中的Z坐标,也称为部件A高于部件B ;反之亦然。
[0025]基于上述坐标系,部件A位于部件B的左方是指,部件A在坐标系中的X坐标小于部件B在坐标系中的X坐标;反之亦然。
[0026]基于上述坐标系,部件A位于部件B的前方是指,部件A在坐标系中的Y坐标大于部件B在坐标系中的Y坐标;反之亦然。
[0027]下面将结合附图,对本发明实施例提供的技术方案进行详细说明。
[0028]如图2所示,本发明实施例提供的粉尘颗粒检测设备至少包括:
[0029]检测腔体10,该检测腔体10的腔体壁一端为质量负载效应传感器的检测面11,该检测腔体10的非检测面的腔体壁开有一入气口 12和一出气口 13,所述检测腔体的出气口13处设置有第一抽气装置14 ;
[0030]检测腔体10夕卜、与入气口 12相对设置的遮挡部15 ;
[0031]质量负载效应传感器的电路部16,与检测面11电连接。
[0032]图2中的箭头表示气流方向。
[0033]其中,质量负载效应传感器的工作原理是,其检测面对质量变化敏感,其电路将检测面上的质量负载变化转换为电参数(例如频率变化),从而对颗粒的质量/浓度进行检测。本发明可以采用任何一种质量负载效应传感器,例如,采用石英微天平(QCM)。
[0034]QCM的灵敏度依据频率变化测得,原理为索尔布雷方程,通过观察石英微天平电极表面每单位面积的质量变化来获得石英震动频率变化:
[0035]Δ f = -Cf.Δ m
[0036]其中:△ f 一表示频率变化值,单位为Hz ;
[0037]Am—单位面积内质量变化值,单位为g/cm2 ;
[0038]Cf—表示晶振的灵敏因素(如,56.6Ηζ μ g_lcm2,表示室温情况下5MHz沿AT角度切割石英晶体微天平的灵敏度)。
[0039]通过上述方程,QCM的灵敏度主要取决于Cf。而对于固定维度石英微天平的Cf是确定的值。
[0040]本发明实施例提供的粉尘颗粒检测设备在工作时,第一抽气装置启动,气流从检测腔体的入气口被吸入检测腔体,由于与入气口相对设置有遮挡部,因此可以避免颗粒直接落入入气口,而直径较大的颗粒受限于自身质量,不会被吸入检测腔体,因此可以分离出PM10颗粒。吸入检测腔体的颗粒击冲质量负载效应传感器的检测面通过检测频率变化从而检测粉尘颗粒的浓度。
[0041]可见,采用本发明实施例提供的粉尘颗粒检测设备,可以实现对PM10的检测。
[0042]并且,由于本发明实施例提供的粉尘颗粒检测设备采用质量负载效应传感器,其灵敏度较高,保证了设备较高的检测精度。另外,设备内部不设置滤网等等颗粒分离机构,而是利用上述的遮挡部即可实现PM10颗粒的分离,其结构简单且分离效果好。
[0043]本发明实施例中,不对检测腔体的入气口和出气口的位置进行限定。但是为了达到更好的检测效果,入气口高于出气口。更进一步的,入气口
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