可携式测量治具模组的制作方法

文档序号:9562867阅读:275来源:国知局
可携式测量治具模组的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种治具模组,尤其是一种可携式测量治具模组。
【背景技术】
[0002]例如硅晶锭(ingot)等块状物,其两表面间的角度通常称为倒角(chamfer)。以硅晶碇为例,通常在完成制作晶锭后,有众多测量,以判定是否符合客户的规格。这些测量包含倒角大小(chamfer size),业界又称为C角的测量,主要是测量晶锭两表面交接的倒角的宽度。目前常见的方式,主要是人工测量及设备测量。人工方式主要是以游标尺进行测量。设备测量方式类似于中国台湾专利公开号200809018或是中国专利公开号101782414,主要是将晶锭加载(load)设备内部后,再以至少一镜头,以移动镜头的非接触方式拍摄倒角,再由软件进行将影像转换成数据。
[0003]传统的人工测量方面,虽然游标尺的准确度足够,但是无固定端,使得测量点与测量点之间,没有标准参考点的依据。另外,由于测量晶锭的长度较长,通常是以取多个点取平均来判定,而导致人为因素的变数大幅的提升,误差值较大。采用设备测量能够以镜头设定标准点,并扫描整个晶锭边界的倒角,但是需要较高的成本以及较大的放置空间。同时,设备测量的速度较慢,在产量较大时,会影响到整体的产出。
[0004]因此,需要一种能够减少人为因素变量,且不需要大幅成本支出的测量工具。

【发明内容】

[0005]本发明的主要目的在于提供一种可携式测量治具模组。可携式测量治具模组电气连接处理单元,以测量一待测物两表面间的倒角。可携式测量治具模组包含一治具本体及一镜头模组。治具本体包含一凹槽及一通孔。凹槽包含两斜面,两斜面分别对应于待测物的两表面,且通孔与凹槽连通。镜头模组固定在通孔中,并朝向凹槽以撷取影像,并将所撷取的影像传送至处理单元。
[0006]进一步地,治具本体的两斜面可以设置为相交,且两斜面的夹角为60~120度,优选为90度。镜头模组包含一影像撷取单元、多个光源、以及一信号线。影像撷取单元朝向凹槽,用以撷取待测物两表面间的影像。光源朝向凹槽,用以提供光线,以辅助影像撷取单元撷取影像。信号线电气连接处理单元、光源及影像撷取单元,影像撷取单元所撷取影像透过信号线传送至处理单元。处理单元再利用特定软件以影像计算出倒角的宽度。
[0007]本发明的可携式测量治具模组,在测量时是将治具本体的两斜面紧靠待测物的两表面上,接着沿着两表面间的边界移动治具本体,以镜头模组撷取影像。最后再由外部的处理单元以影像来计算出倒角的宽度。因此,能够测量整个边界的倒角,且具有标准的参考点,同时不需要额外的设备空间及成本,而改善了目前现有的问题。
【附图说明】
[0008]图1为本发明可携式测量治具模组的立体图。
[0009]图2为本发明可携式测量治具模组的侧视图。
[0010]图3为本发明可携式测量治具模组的仰视图。
[0011]图4为本发明镜头模组的立体图。
[0012]符号说明
1可携式测量治具模组
10治具本体
11凹槽
111斜面
13通孔
17穿孔
20镜头模组
21影像撷取单元
23光源
25信号线
27固定孔
29开关
30固定组件
200处理单元
500待测物
510表面。
【具体实施方式】
[0013]参见图1及图2,本发明可携式测量治具模组的立体图及侧视图。如图1及图2所示,本发明可携式测量治具模组1包含一治具本体10及一镜头模组20。治具本体10包含一凹槽11及一通孔13。凹槽11包含两斜面111,两斜面111分别对应于待测物500的两表面510。待测物500可以为各种晶徒,如单晶娃晶徒、多晶娃晶徒、监宝石晶徒等等,在此仅作为示例,但也不排除用于测量其它的物体。通孔13与凹槽11连通。镜头模组20固定在通孔13中,并朝向凹槽11,用以撷取待测物两表面间的影像。镜头模组20电气连接一处理装置200,将影像传送至处理单元200。处理单元200通过特定软件以影像计算出宽度。处理单元200实际上可以由计算机、笔记型计算机、平板计算机、智能型手机,或特用芯片来实施。上述仅作为示例,但不限于此。
[0014]进一步地,凹槽11的两斜面111相交,且两斜面的夹角为60~120度。优选地,两斜面相互垂直,夹角为90度。优选地,可携式测量治具模组1还包含一固定组件30。固定组件30穿过治具本体上与通孔13连通的一穿孔17,用以将镜头模组20固定在通孔13中。固定组件30可以由螺丝、卡榫等方式实施。进一步地,固定组件30的一端固定在镜头模组20的一固定孔27上。
[0015]参见图3及图4,分别为本发明可携式测量治具模组的仰视图及镜头模组的立体图。如图3及图4所示,镜头模组20包含一影像撷取单元21、多个光源23及一信号线25。影像撷取单元21朝向凹槽11,用以撷取待测物500两表面510间的影像。光源23朝向凹槽11,用以提供光线辅助影像撷取单元21撷取影像。信号线25电气连接影像撷取单元21、光源23及处理单元200。电气连接的方式可通过将信号线25与镜头模组20内部的驱动电路(图中未示)连接而实现。影像撷取单元21所撷取到的影像通过信号线25传送至处理单元200。而处理单元200通过特定软件以影像计算出倒角的宽度。
[0016]进一步地,镜头模组20还包含一开关29。开关29电气连接光源23,用以控制光源23是否开启。此外,光源23可以为发光二极管(Light-Emitting D1de),环状排列在影像撷取单元21的周围。影像撷取单元21能以电荷親合组件(Charge-Coupled Device,CCD)或互补性氧化金属半导体(Complementary Metal-Oxide Semiconductor, CMOS)组件来实施。
[0017]本发明的主要特点在于在测量时将治具本体10的斜面111紧靠在待测物500的两表面510上,使得测量上具有标准的参考点。接着再沿着待测物500的边界移动治具本体10。通过镜头模组20进行影像撷取及并将影像传送至处理单元200,最后由外部的处理单元200以影像计算出倒角宽度。因此,能够测量整个待测物500边界的倒角。由于具有标准的参考点,能够减少人为因素的变化,同时不需要额外的设备空间及成本,而改善了目前现有的问题。
[0018]以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种可携式测量治具模组,电气连接一处理单元,以测量一待测物两表面间的倒角,其特征在于,包含: 一治具本体,包含一凹槽及一通孔,所述凹槽包含两斜面,所述两斜面分别对应于所述待测物的所述两表面,所述通孔与所述凹槽连通;以及 一镜头模组,固定于所述通孔中,并朝向所述凹槽,用以撷取所述待测物两表面间的影像,并将所述影像传送至所述处理单元。2.如权利要求1所述的可携式测量治具模组,其特征在于,所述两斜面相交,且所述两斜面的夹角为60~120度。3.如权利要求1所述的可携式测量治具模组,其特征在于,所述两斜面相互垂直。4.如权利要求1所述的可携式测量治具模组,其特征在于,所述镜头模组包含: 一影像撷取单元,朝向所述凹槽,用以撷取所述待测物两表面间的影像; 多个光源,朝向所述凹槽,用以提供一光线;以及 一信号线,电气连接所述影像撷取单元、所述光源及所述处理单元,所述影像撷取单元所撷取的所述影像通过所述信号线传送至所述处理单元。5.如权利要求4所述的可携式测量治具模组,其特征在于,所述光源环状排列于所述影像撷取单元的周围。6.如权利要求4所述的可携式测量治具模组,其特征在于,所述光源为发光二极管。7.如权利要求4所述的可携式测量治具模组,其特征在于,所述影像撷取单元为电荷耦合组件(CXD)或互补性氧化金属半导体(CMOS)组件。8.如权利要求4所述的可携式测量治具模组,其特征在于,所述镜头模组还包含一开关,电气连接所述光源。9.如权利要求1所述的可携式测量治具模组,其特征在于,进一步包含一固定组件,所述固定组件穿过所述治具本体上与所述通孔连通的一穿孔,用以将所述镜头模组固定在所述通孔中。10.如权利要求9所述的可携式测量治具模组,其特征在于,所述固定组件的一端固定在所述镜头模组的一固定孔上。
【专利摘要】本发明提供一种可携式测量治具模组,其电气连接一处理单元,以测量待测物的倒角,可携式测量治具模组包含治具本体及镜头模组,治具本体包含凹槽及通孔,凹槽包含两斜面,两斜面分别对应于待测物的两表面,通孔与凹槽连通,镜头模组固定在通孔中,并朝向凹槽,用以撷取待测物两表面间的影像并传送至处理单元,再通过处理单元以影像计算出倒角的角度及起伏,本发明可携式测量治具模组利用对应待测物表面的两斜面作为测量时的参考基准,并可携地利用镜头模组来撷取影像,解决了传统上测量缺乏标准参考点,以及成本过于昂贵的问题。
【IPC分类】G01B9/10
【公开号】CN105318834
【申请号】CN201510132510
【发明人】张志伟, 沈澄辉, 王柏凯, 许松林, 范俊一, 徐文庆
【申请人】昆山中辰矽晶有限公司
【公开日】2016年2月10日
【申请日】2015年3月25日
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