键盘薄膜检测设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及自动光学检测，具体地，涉及一种键盘薄膜检测设备。
【背景技术】
[0002]随着工业的发展，电子行业目前仍然有着重要的地位，薄膜键盘由于其功能性与外观，广泛应用于多个领域。薄膜键盘为平面多层组合而成的整体密封结构，是将按键开关、面板、标记、符号显不及衬板密封在一起的集光、机、电一体化的一种新型电子元器件，是电子产品外观结构根本性的变革，它可取代常规分立元件的按键。
[0003]目前市面上的AOI (Automatic Optic Inspect1n，自动光学检测)检测，大多是针对PCB板和插件板，而对于键盘薄膜，仍然是采用传统的人工检测。传统的光学检测设备，是将被检测件放置于支撑块上，由于键盘薄膜非常软，如有弯曲，则容易使图像采集出现误差，精度降低，所以适用性不好；而人工检测的效率又太低。
【发明内容】
[0004]针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种键盘薄膜检测设备。
[0005]根据本发明提供的键盘薄膜检测设备，包括待检测产品承载进给装置、光学检测装置、机架、Z轴装置、X轴运行装置和Y轴运行装置；
[0006]其中，所述X轴运行装置在所述机架上，所述待检测产品承载进给装置与X轴运行装置相连，所述X轴运行装置用于带动所述待检测产品承载进给装置沿着X轴方向运动；
[0007]所述Y轴运行装置设置在所述机架上；所述Z轴装置设置在所述Y轴运行装置上；所述光学检测装置设置在所述Z轴装置上；
[0008]所述Y轴运行装置带动所述光学检测装置沿Y轴方向移动；所述光学检测装置能够通过所述Z轴装置沿Z轴方向运动；
[0009]所述待检测产品承载进给装置设置在所述光学检测装置的下侧，所述光学检测装置的检测端朝向所述待检测产品承载进给装置的上表面。
[0010]优选地，所述待检测产品承载进给装置的数量为多个；
[0011]多个所述待检测产品承载进给装置依次沿Y轴方向排列。
[0012]优选地，相邻的多个待检测产品承载进给装置能够合并构成大尺寸待检测产品承载进给装置，能够进行大尺寸的待检测薄膜键盘的检测。
[0013]优选地，所述待检测产品承载进给装置包括相邻设置的第一检测平台和第二检测平台；
[0014]所述第一检测平台和所述第二检测平台均包括托盘、第一丝杠、第一丝杠螺母、X轴导轨和第一驱动电机；
[0015]其中，所述托盘一方面连接所述第一丝杠螺母，另一方面连接所述导轨；所述第一丝杠螺母设置在所述第一丝杠上；
[0016]所述驱动电机驱动所述第一丝杠，进而带动所述托盘沿所述X轴导轨滑动。
[0017]优选地，还包括梯形挡块；所述待检测产品承载进给装置还包括前夹具、后夹具、第一扭柄、第二扭柄、压板、压板轴、驱动弹簧、第一光轴和第二光轴；
[0018]其中，所述前夹具设置在所述托盘的外端；所述压板轴的一端连接所述第一扭柄的上端部，所述压板轴的另一端连接所述第二扭柄的上端部；所述第一扭柄的下端部铰接所述前夹具的一端，所述第二扭柄的下端铰接所述前夹具的另一端，且所述第一扭柄和/或所述第二扭柄通过所述驱动弹簧连接所述前夹具；所述压板设置在所述压板轴上；
[0019]所述梯形挡块设置在所述待检测产品承载进给装置的外端部侧面，当所述托盘运动至所述待检测产品承载进给装置的外端时，即初始位置时，所述第一扭柄和/或所述第二扭柄在所述梯形挡块的限位下向上转动，进而带动所述压板轴转动，所述压板打开，所述驱动弹簧呈拉伸状态；
[0020]当所述托盘运动向内侧运动，离开所述初始位置时，所述第一扭柄和/或所述第二扭柄在所述驱动弹簧的驱动向下转动，所述压板压住所述托盘上的待检测薄膜键盘；
[0021]所述第一光轴和第二光轴分别设置在所述托盘的两侧，所述后夹具设置在所述第一光轴和第二光轴上且能够沿所述第一光轴和所述第二光轴移动。
[0022]优选地，还包括多个电磁吸盘，所述电磁吸盘设置在所述托盘的下侧。
[0023]优选地，所述光学检测装置包括工业镜头和弧形LED光源；
[0024]所述Z轴装置采用摄像机滑块；所述弧形LED光源连接所述摄像机滑块的下端面；所述工业镜头设置在所述摄像机滑块上，能够沿所述摄像机滑块的Z轴方向滑动。
[0025]优选地，所述Y轴运行装置包括第二丝杠、第二丝杠螺母、Y轴导轨和第二驱动电机；
[0026]其中，所述摄像机滑块连接所述第二丝杠螺母，所述第二丝杠螺母带动所述摄像机滑块沿所述Y轴导轨滑动；所述第二丝杠螺母设置在所述第二丝杠上；
[0027]所述第二驱动电机驱动所述第二丝杠，进而带动所述摄像机滑块沿所述X轴导轨滑动。
[0028]优选地，所述光学检测装置采用非接触式图像采集装置。
[0029]优选地，当第二检测平台检测时，第一检测平台上料或/和下料；当第一检测平台检测时，第二平台下料或/和上料。
[0030]与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果:
[0031]1、本发明中采用托盘承载待检测键盘薄膜，且通过压板的自动旋转压住待检测键盘薄膜，从而避免了由于键盘薄膜较软容易弯曲而使得图像采集出现偏差；
[0032]2、本发明中相邻的多个待检测产品承载进给装置构成大尺寸待检测产品承载进给装置，从而能够对多种尺寸的键盘薄膜有着良好的通用性；
[0033]3、本发明中光学检测装置采用非接触式图像采集装置，比起接触式，速度更快，而又可以保证检测精度；
[0034]4、本发明中托盘的下侧设置有电磁吸盘，从而能够吸住键盘薄膜，可以使接触更加牢靠，键盘薄膜更加紧贴托盘。
[0035]5、本发明结构简单，布局合理，易于推广。
【附图说明】
[0036]通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
[0037]图1、图2共同示出了本发明的结构示意图；
[0038]图3为本发明中待检测产品承载进给装置的结构示意图；
[0039]图4为本发明的局部放大图。
[0040]图中:
[0041]1为机架；
[0042]2为待检测产品承载进给装置；
[0043]3为Y轴运行装置；
[0044]4为X轴运行装置；
[0045]5为Z轴装置；
[0046]6为光学检测装置；
[0047]7为梯形挡块。
【具体实施方式】
[0048]下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本发明，但不以任何形式限制本发明。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进。这些都属于本发明的保护范围。
[0049]在本实施例中，本发明提供的键盘薄膜检测设备，包括待检测产品承载进给装置2、光学检测装置6、机架1、Z轴装置5、X轴运行装置4和Y轴运行装置3 ;
[0050]其中，所述X轴运行装置4在所述机架1上，所述待检测产品承载进给装置2与X轴运行装置4相连，所述X轴运行装置4用于带动所述待检测产品承载进给装置2沿着X轴方向运动；所述Y轴运行装置3设置在所述机架1上；所述Z轴装置5设置在所述Y轴运行装置3上；所述光学检测装置6设置在所述Z轴装置5上；所述Y轴运行装置3带动所述光学检测装置6沿Y轴方向移动；所述光学检测装置6能够通过所述Z轴装置5沿Z轴方向运动；所述待检测产品承载进给装置2设置在所述光学检测装置6的下侧，所述光学检测装置6的检测端朝向所述待检测产品承载进给装置2的上表面。
[0051]所述待检测产品承载进给装置2的数量为多个；多个所述待检测产品承载进给装置2依次沿Y轴方向排列。相邻的多个待检测产品承载进给装置2能够合并构成大尺寸待