用于支持协议无关器件测试系统中协议重新配置的基于云的基础设施的制作方法

文档序号:9620699阅读:286来源:国知局
用于支持协议无关器件测试系统中协议重新配置的基于云的基础设施的制作方法
【技术领域】
[0001]本公开一般涉及自动测试设备的领域,并且更具体地,涉及控制此类设备的技术。
【背景技术】
[0002]自动测试设备(ATE)可以是对半导体片或管芯、集成电路(1C)、电路板或诸如固态驱动器之类的封装器件执行测试的任何测试组件。ATE组件可用于执行快速执行测量并生成随后可被分析的测试结果的自动测试。ATE组件可以是来自耦接至仪表、复杂的自动测试组件的计算机系统的任何东西,复杂的自动测试组件可包括定制的专用计算机控制系统以及能够自动测试电子零件和/或进行半导体片测试(例如,片上系统(S0C)测试或集成电路测试)的许多不同测试器具。ATE系统既减少测试器件所花费的时间量以确保器件如设计那样起作用,又用作诊断工具以在给定器件到达客户之前确定给定器件内故障部件的存在。
[0003]当典型ATE系统测试某器件(通常称为被测器件或DUT)时,ATE系统向该器件施加刺激(例如,电信号)并检查器件的响应(例如,电流和电压)。典型地,测试的最终结果是:“合格”,如果器件成功地提供了在预先建立的容差内的某些预期响应;或“不合格”,如果器件未提供在预先建立的容差内的预期响应。更尖端ATE系统能够评估不合格器件以潜在地确定不合格的一个或多个原因。
[0004]ATE系统通常包括指导ATE系统操作的计算机。典型地,计算机运行一个或多个专用软件程序以提供(i)测试开发环境和(ii)器件测试环境。在测试开发环境中,用户典型地创建测试程序,即基于软件构建控制ATE系统的各个部分的一个或多个文件。在器件测试环境中,用户典型地向ATE系统提供一个或多个器件以进行测试,并指导ATE系统根据测试程序测试每个器件。用户可通过简单地向ATE系统提供另外的器件并指导ATE系统根据测试程序测试另外的器件来测试另外的器件。因此,ATE系统使得用户能够基于测试程序以一致且自动的方式测试许多器件。
[0005]图1是用于测试某种典型DUT (例如,诸如DRAM之类的半导体存储器器件)的常规自动测试设备主体111的示意框图,常规自动测试设备主体111由通过通信总线102与ATE仪器111通信的系统控制器101控制。系统控制器101运行提供测试开发环境和器件测试环境以便运行用户的测试所需的软件程序。
[0006]ATE主体111包括硬件总线适配器卡座108A-108N。特定通信协议(例如PCIe、USB、SAS、SATA等)所特定的硬件总线适配器卡连接至设置在ATE主体上的硬件总线适配器卡座108A-108N并且通过相应协议所特定的缆线与DUT 109A-109N接口接合。ATE主体111还包括具有相关联存储器105的测试仪处理器101,以控制内置于ATE主体111中的硬件部件并生成通过硬件总线适配器卡与正被测试的DUT通信所必需的命令和数据。测试仪处理器101通过系统总线106与硬件总线适配器卡通信。
[0007]ATE主体111测试通过插接到ATE主体的硬件总线适配器卡座的硬件总线适配器而连接至ATE主体111的DUT 109A-109N的电子功能。因此,测试仪处理器101被编程以使用对于硬件总线适配器唯一的协议将需要运行的测试程序传达至DUT。
[0008]由测试仪处理器101运行的测试程序可包括功能测试,其涉及:将由算法模型生成器103创建的输入信号写入至DUT,从DUT读出写入的信号,以及使用比较器104将输出与预期模型进行比较。如果输出与输入不匹配,则测试仪处理器101将会将DUT标识为次品。例如,如果DUT是诸如DRAM之类的存储器设备,那么测试程序将会使用写入操作(Write Operat1n)将由算法模型生成器103生成的数据写入至DUT,使用读取操作(ReadOperat1n)从DRAM读取数据,并且使用比较器104将预期位模型与读取模型进行比较。典型系统中的测试仪处理器101包括生成用于测试DUT的命令和测试模型的功能块,例如直接在处理器上以软件编程的算法模型生成器103和比较器104。
[0009]在常规系统中,用于与DUT进行通信的通信协议是固定的,因为插接到ATE主体100中的硬件总线适配器卡是设计用于仅在一个协议下通信并且不能重新编程以在另一个协议下通信的单一用途设备。例如,被配置来测试PCIe器件的ATE主体将具有插接到主体中的仅支持PCIe协议的硬件总线适配器卡。为了测试支持不同协议的DUT,用户一般将需要用支持另一个协议的总线适配器卡替换PCIe硬件总线适配器卡。除非PCIe硬件总线适配器卡被支持另一个协议的卡物理地取代,否则这种系统仅可以测试支持PCIe协议的DUT。
[0010]另外,在常规系统中的系统控制器101上提供测试开发环境的测试应用程序被设计为与硬件充分解耦,因此除其他方面之外,它保持对由测试仪处理器101用来与DUT进行通信的通信协议是不可知的。内置在运行于系统控制器101上的软件程序的智能仅限于将指令传送至测试仪处理器101并从测试仪处理器101接收结果以传送回用户。甚至内置在软件中的诊断工具被设计成是硬件无关的。软件将诊断功能发送至测试仪处理器101,测试仪处理器具有接收指令、处理功能并将结果报告回软件的对应驱动器。这允许驻留在系统控制器101上的测试开发环境足够通用以允许用户将系统控制器连接至不同种类的测试仪。然而,这并不向用户提供对执行硬件特定配置的控制。为了重新配置测试仪仪器111,用户典型地需要物理地重新配置仪器111的硬件。
[0011]因此,在测试场地,在例如需要测试运行的协议与现有适配器卡所支持的协议不同的DUT时,替换硬件总线适配器卡和手动地重新配置硬件消耗了关键时间。

【发明内容】

[0012]因此,需要一种可解决上述系统的问题的测试仪体系架构。另外,需要一种用于控制ATE主体的测试应用,其中通信协议引擎是可配置的,使得ATE主体不被束缚于任何单一协议。另外,需要一种基于云的应用,通过基于云的应用可经由网络容易地访问协议引擎中所使用的可重新配置的协议。还需要一种用于基于配置的协议关于ATE主体做出决策的过程。使用所描述系统的有益方面而无它们的相应限制,本发明的实施例提供解决这些问题的新颖解决方案。
[0013]本文公开一种用于配置可编程测试仪模块的方法,其中测试仪模块包括用于实施多种通信协议之一的可重新配置的电路。所述方法是用户友好的,使得具有普通技能的用户能够快速访问并配置具有多种配置的复杂可编程测试仪模块。
[0014]提供一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的方法。该方法包括:使用图形用户界面(GUI)获取用于编程可编程测试仪模块的协议选择。该方法进一步包括:通过网络从远程计算机访问与协议相关联的配置文件。随后,该方法包括利用应用于至少一个被测器件(DUT)的使用该配置文件的通信协议来配置可编程测试仪模块,其中可编程测试仪模块可操作以通信地耦接至至少一个DUT。最后,该方法包括:向可编程测试仪模块传输用于执行程序流程的指令,其中程序流程包括用于测试至少一个DUT的测试序列;以及从可编程测试仪模块接收这些测试的结果。
[0015]在另一个实施例中,公开一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的方法。该方法包括:获取用于编程多个可编程测试仪模块的多个协议选择。该方法还包括:通过网络从远程计算机访问与多个协议选择相关联的配置文件。另外,该方法包括:利用应用于多个被测器件(DUT)的使用相应配置文件的通信协议来配置多个可编程测试仪模块,其中多个可编程测试仪模块通信地耦接至多个DUT。该方法随后包括:向多个可编程测试仪模块传输用于对多个DUT执行测试的指令。最后,该方法包括:从多个可编程测试仪模块接收与对多个DUT运行测试相关联的结果。
[0016]在不同实施例中,公开一种用于执行自动测试的系统。该系统包括通信地耦接至至少一个可编程测试仪模块的系统控制器,其中系统控制器包括具有存储在其中的测试应用的存储器、连接至至少一个可编程测试仪模块的测试接口以及耦接至存储器和测试接口的处理器。处理器被配置来根据测试应用操作以使用图形用户界面(GUI)获取用于编程至少一个可编程测试仪模块的协议选择,通过网络从远程计算机访问与协议相关联的配置文件,并且利用应用于至少一个被测器件(DUT)的使用该配置文件的通信协议来配置至少一个可编程测试仪模块,其中至少一个可编程测试仪模块可操作来通信地耦接至至少一个DUT。处理器进一步被配置来向至少一个可编程测试仪模块传输用于执行程序流程的指令,其中程序流程包括用于测试至少一个DUT的测试序列。最后,处理器被配置来从可编程测试仪模块接收与对至少一个DUT运行程序流程中的测试序列相关联的结果。
[0017]在一个实施例中,公开一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的方法。该方法包括:从远程客户端计算机接收用于编程可编程测试仪模块的协议选择。另外,该方法包括:访问与协议选择相关联的配置文件;以及向远程客户端计算机传输与协议选择相关联的配置文件。此外,该方法包括:利用应用于至少一个被测器件(DUT)的使用该配置文件的通信协议来远程配置可编程测试仪模块,其中可编程测试仪模块通信地耦接至至少一个DUT。随后,该方法包括:向可编程测试仪模块传输用于执行程序流程的指令,其中程序流程包括用于测试至少一个DUT的测试序列。最后,该方法包括:从远程客户端计算机接收与对至少一个DUT运行程序流程中的测试序列相关联的结果。
[0018]以下详细描述结合附图将提供对本发明的性质和优点的更好理解。
【附图说明】
[0019]本发明的实施例通过举例而非限制的方式在附图的图示中示出,并且其中相似参考标号指代类似元件。
[0020]图1是用于测试典型被测器件(DUT)的常规自动测试系统的示意框图;
[0021]图2A是根据本发明的一个实施例的计算机系统,本发明的自动测试系统的实施例可在该计算机系统上实施;
[0022]图2B是根据本发明实施例的网络体系架构的示例的框图,在该网络体系架构中,自动测试系统的客户端系统和服务器可耦接至网络;
[0023]图3A是根据本发明的一个实施例的系统控制器、站点模块以及DUT之间的互连的尚级不意框图;
[0024]图3B是根据本发明的实施例的站点模块及其与系统控制器和DUT的互连的详细示意框图;
[0025]图3C是根据本发明的实施例的图3A的实例化FPGA测试仪块的详细示意框图;
[0026]图4A是示出根据本发明的实施例的用于使系统控制器与系统中的测试仪切片和DUT连接的典型硬件配置的示意框图;
[0027]图4B是示出根据本发明的一个实施例的自动测试系统的站点模块和系统控制器的示例性软件部件的示意框图;
[0028]图5是示出根据本发明的一个实施例的测试应用的体系架构的示意框图;
[0029]图6示出了根据本发明的一个实施例的用于测试应用的图形用户界面(GUI)的示例性截图,其示出了 GUI中可用的多个工具;
[0030]图7A示出了根据本发明的一个实施例的测试应用内的程序流程工具(Programflow tool)的基于⑶I的实施方式;
[0031]图7B示出了根据本发明的一个实施例的测试应用内的程序流程工具的基于文本的实施方式;
[0032]图8A示出了根据本发明的一个实施例的测试应用内的DUT配置工具(DutConfigTool)的基于⑶I的实施方式;
[0033]图8B是示出根据本发明的一个实施例的测试应用内的DUT配置工具的基于文本的实施方式;
[0034]图9示出了根据本发明的实施例的测试应用内的shmoo工具(Shmoo Tool)
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