基座的同轴通路测试装置的制造方法
【专利说明】
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试装置，特别是涉及一种基座的同轴通路测试装置。
【【背景技术】】
[0002]目前的一些电子产品会使用基座docking来放置，以方便使用者观看。对于用于手持式电子产品或平板电脑的docking，其通常会主要具有两个功能。其一，作为电子产品支架，在使用者办公时，无需手持，即可使用；其二，作为电子产品充电或者数据传送时转接来用。
[0003]请共同参阅图1、图2，图1绘示为现有技术的一种电子产品基座正面结构示意图、图2绘为现有技术的一种电子广品基座背面结构7K意图。该基座100包括底板101和背板102，所述底板101上具有三个第一同轴接口 103、104、105(pOgO接口)，所述底板101靠近所述背板102的一侧具有与所述第一同轴接口 103、104、105—一对应的三个第二同轴接口 106、107、108 (SMA 接口 )。
[0004]请再参阅图3，图3绘示为图1中第一同轴接口与第二同轴接口间的电路连接示意图。由图可见，所述第一同轴接口 103与所述第二同轴接口 106之间，所述第一同轴接口104与所述第二同轴接口 107之间，所述第一同轴接口 105与所述第二同轴接口 108之间皆分别连接有同轴线10。
[0005]请再参阅图4，图4为同轴线的内部结构示意图。所述同轴线缆10包括由内到外的四层结构:芯线11、绝缘层12、屏蔽层13以及保护层14。其中，芯线11、屏蔽层13为导体。
[0006]请再结合参阅图5,图5绘示为所述第一同轴接口及第二同轴接口的结构示意图。如图所示，所述第一同轴接口 103、104、105及所述第二同轴接口 106、107、108皆具有相互间隔的内引脚及外圈引脚，内引脚与所述芯线11连接，外圈引脚与所述屏蔽层13连接。
[0007]使用时，是将机台(例如为平板电脑、智能手机)放入基座100上，所述机台底部也包括与所述第一同轴接口 103、104、105 一一对应的三个机台同轴接口，该三个机台同轴接口分别与所述第一同轴接口 103、104、105对接，从而把机台的射频(RF)功能延展到该基座100上。
[0008]在测试基座100性能时，为了确保该第一同轴接口 103、104、105及第二同轴接口106、107、108的各通路是良好的，通常会采用万用表进行如下测试:分别将万用表搭在第一同轴接口 103与第二同轴接口 106的内引脚间，以测试芯线11是否导通；将万用表搭在第一同轴接口 103与第二同轴接口 106的外圈引脚间，以测试屏蔽层13是否导通，再将万用表搭在第一同轴接口 103内引脚及第二同轴接口 106的外圈引脚间，以测试芯线11于屏蔽层之间是否短路；另外两条通路也参照上述方法进行测试。
[0009]然而，采用上述方式进行测试时，测试过程复杂，需要两人合作测试，测试耗时。
[0010]有鉴于此，实有必要开发一种基座的同轴通路测试装置，以解决上述问题。【
【发明内容】
】
[0011]因此，本发明的目的是提供一种基座的同轴通路测试装置，以解决现有技术对基座的同轴通路测试时，测试过程复杂、耗时耗人力的问题。
[0012]为了达到上述目的，本发明提供基座的同轴通路测试装置，该基座具有与电子产品的机台同轴接口连接的第一同轴接口以及与该第一同轴接口通过同轴线连接的第二同轴接口，该装置包括:
[0013]测试治具，其上具有治具同轴接口，各所述治具同轴接口与所述第一同轴接口对应连接，该测试治具还具有与所述治具同轴接口串接的电源及显示单元；
[0014]短接接头，与各所述第二同轴接口可拆卸式连接，短接所述第二同轴接口的内引脚及外圈引脚。
[0015]可选地，所述显示单元为发光二极管或扬声器。
[0016]可选地，所述测试治具还具有与所述治具同轴接口串接的电阻。
[0017]可选地，所述测试治具还具有与所述治具同轴接口串接的开关。
[0018]可选地，所述第一同轴接口、第二同轴接口及所述治具同轴接口的个数分别为三个。
[0019]相较于现有技术，利用本发明基座的同轴通路测试装置，于测试时，将所述测试治具安装于所述基座上，各所述治具同轴接口分别与对应的所述第一同轴接口连接，若此时其中的某显示单元有显示，则对应的所述第一同轴接口与对应的所述第二同轴接口内部短路；将所述短接接头安装于所述第二同轴接口其中之一，关闭所述开关，若此时对应的所述显示单元有显示，则对应的第一同轴接口及第二同轴接口正常导通，若有显示的显示单元与所述第二同轴接口不对应，则所述第一同轴接口与所述第二同轴接口之间的同轴线对应关系接错；拆卸下所述短接接头，再将其安装在另一第二同轴接口，并进行上述测试，直至测试完所有通路。由于只需安装拆卸所述短接接头，通过判断显示单元即可达到测试目的，因此测试过程简单，只需一人即可，节省人力及时间。
【【附图说明】】
[0020]图1绘示为现有技术的一种电子产品基座正面结构示意图。
[0021]图2绘为现有技术的一种电子广品基座背面结构意图。
[0022]图3绘示为图1中第一同轴接口与第二同轴接口间的电路连接示意图。
[0023]图4为同轴线的内部结构示意图。
[0024]图5绘示为所述第一同轴接口及第二同轴接口的结构示意图。
[0025]图6绘示为本发明基座的同轴通路测试装置一较佳实施例的结构示意图。
[0026]图7绘示为本发明基座的同轴通路测试装置一较佳实施例的电路结构示意图。
[0027]图8绘示为本发明基座的同轴通路测试装置一较佳实施例的短接接头结构示意图。
[0028]图9绘示为本发明基座的同轴通路测试装置一较佳实施例的工作状态正面结构示意图。
[0029]图10绘示为本发明基座的同轴通路测试装置一较佳实施例的工作状态背面结构示意图。【【具体实施方式】】
[0030]请再结合参阅图6、图7，图6绘示为本发明基座的同轴通路测试装置一较佳实施例的结构示意图、图7绘示为本发明基座的同轴通路测试装置一较佳实施例的电路结构示意图、图8绘示为本发明基座的同轴通路测试装置一较佳实施例的短接接头结构示意图。
[0031]为了达到上述目的，本发明提供基座的同轴通路测试装置，该基座100(请结合参阅图1、图2，可包括底板101和背板102)具有与电子产品的机台同轴接口连接的第一同轴接口 103、104、105以及与该第一同轴接口 103、104、105通过同轴线10 (请结合参阅图3、图4)连接的第二同轴接口 106、107、108，该装置包括:
[0032]测试治具109，其上具有治具同轴接口 110、111、112(所述第一同轴接口 103、104、105、第二同轴接口 106、107、108及所述治具同轴接口 110、111、112的个数以三个为例)，各所述治具同轴接口 110、111、112与所述第一同轴接口 103、104、105对应连接，该测试治具109还具有与所述治具同轴接口 110、111、112串接的电源及各支路分别串接的显示单元113、114、115 ；
[0033]短接接头116，与各所述第二同轴接口 106、107、108可拆卸式连接，短接所述第二同轴接口 106、107、108的内引脚及外圈引脚。
[0034]其中，所述显示单元113、114、115为发光二极管(此处以发光二极管为例)或扬声器。
[0035]其中，所述测试治具109各支路还可以具有与所述治具同轴接口 110、111、112串接的电阻117，用以保护电路。
[0036]其中，所述测试治具109还可以具有与所述治具同轴接口 110、111、112串接的开关118，用以控制通断。
[0037]请再结合参阅图9，图9绘示为本发明基座的同轴通路测试装置一较佳实施例的工作状态正面结构示意图。
[0038]于测试时，将所述测试治具安装于所述基座100上，各所述治具同轴接口 110、111、112分别与对应的所述第一同轴接口 103、104、105连接，若此时其中的某显示单元113、114、115有显示，则对应的所述第一同轴接口 103、104、105与对应的所述第二同轴接口 106、107、108 内部短路。
[0039]请再结合参阅图10，图10绘示为本发明基座的同轴通路测试装置一较佳实施例的工作状态背面结构示意图。
[0040]将所述短接接头116安装于所述第二同轴接口 106、107、108其中之一，例如为第二同轴接口 108，关闭所述开关118，若此时对应的所述显示单元113有显示，则对应的第一同轴接口 105及第二同轴接口 108正常导通，若有显示是显示单元113或114，与所述第二同轴接口 108不对应，则所述第一同轴接口 105与所述第二同轴接口 108之间的同轴线10对应关系接错；拆卸下所述短接接头116，再将其安装在另一第二同轴接口 107，并进行上述测试，直至测试完所有通路。
[0041]由于只需安装拆卸所述短接接头116，通过判断显示单元113、114、115即可达到测试目的，因此测试过程简单，只需一人即可，节省人力及时间。
[0042]需指出的是，本发明不限于上述实施方式，任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，都落入本发明的保护范围内。
【主权项】
1.一种基座的同轴通路测试装置，该基座具有与电子产品的机台同轴接口连接的第一同轴接口以及与该第一同轴接口通过同轴线连接的第二同轴接口，其特征在于，该装置包括: 测试治具，其上具有治具同轴接口，各所述治具同轴接口与所述第一同轴接口对应连接，该测试治具还具有与所述治具同轴接口串接的电源及显示单元； 短接接头，与各所述第二同轴接口可拆卸式连接，短接所述第二同轴接口的内引脚及外圈引脚。2.如权利要求1所述的基座的同轴通路测试装置，其特征在于，所述显示单元为发光二极管或扬声器。3.如权利要求1所述的基座的同轴通路测试装置，其特征在于，所述测试治具还具有与所述治具同轴接口串接的电阻。4.如权利要求1所述的基座的同轴通路测试装置，其特征在于，所述测试治具还具有与所述治具同轴接口串接的开关。5.如权利要求1所述的基座的同轴通路测试装置，其特征在于，所述第一同轴接口、第二同轴接口及所述治具同轴接口的个数分别为三个。
【专利摘要】本发明揭示一种基座的同轴通路测试装置，该基座具有与电子产品的机台同轴接口连接的第一同轴接口以及与该第一同轴接口通过同轴线连接的第二同轴接口，该装置包括：测试治具，其上具有治具同轴接口，各所述治具同轴接口与所述第一同轴接口对应连接，该测试治具还具有与所述治具同轴接口串接的电源及显示单元；短接接头，与各所述第二同轴接口可拆卸式连接，短接所述第二同轴接口的内引脚及外圈引脚。由于只需安装拆卸所述短接接头，通过判断显示单元即可达到测试目的，因此测试过程简单，只需一人即可，节省人力及时间。
【IPC分类】G01R31/02
【公开号】CN105425088
【申请号】CN201410488191
【发明人】沈细荣
【申请人】神讯电脑(昆山)有限公司
【公开日】2016年3月23日
【申请日】2014年9月22日