熔断器温度测试装置及测试方法
【专利说明】
[0001]技术领域:
本发明涉及一种熔断器温度测试装置及测试方法。
[0002]【背景技术】:
熔断器作用是电路发生故障或异常时，伴随着电流不断升高，可以发生熔断来切断通路，在通路中升高的电流有可能损坏电路中的某些重要器件或贵重器件，也有可能烧毁电路甚至造成火灾。若电路中正确地安置了熔断器，那么，熔断器就会在电流异常升高到一定的高度和热度的时候，自身熔断切断电流，从而起到保护电路安全运行的作用。因此测量和掌握熔断器的熔断温度临界值，可以更好的应用到不同的电路中，从而更好起到一些更好的保护作用。
[0003]
【发明内容】
:
本发明的目的是提供一种熔断器温度测试装置及测试方法。
[0004]上述的目的通过以下的技术方案实现:
一种熔断器温度测试装置，其组成包括:甘油池，所述的甘油池下面具有加热器，所述的甘油池内具有搅拌器，所述的甘油池内具有一组夹具，所述的夹具插入甘油池内，所述的一组夹具之间安装有试样，所述的试样上方对应位置具有温度计，所述的一组夹具与限流电阻和发光二极管试样串联。
[0005]熔断器温度测试的方法，拿取同样的熔断器试样五件，将一件试样两引脚分别连接在测试装置的夹具上，通上10-100毫安的检测电流，用一发光二极管指示检测电流的通断，启动加热器对其甘油池进行加热，通过温度计观察甘油池内的温度，加热的同时通过搅拌器进行搅拌，温度计测试温度升高时，要距离试样l-2cm处，确保测试试样周边温度准确，当通过温度计观测到甘油池内温度稳定在TF-10°C，关闭加热器停止加热，使甘油池内的温度稳定在10°C，然后将试样放入甘油池内，开启加热器加热甘油池，通过温度计观测和加热器控制甘油池温度没分钟0.5-l°C速率升温，当发光二极管熄灭时，记下温度计读数，绘制表格填入，关闭加热器，即试样的动作升温。
[0006]所述的熔断器温度测试的方法，将剩下四件试样分别接到夹具上，然后进行测量，分别通过二极管熄灭和温度计观测到温度值，记录到表格，最后通过表格绘制温度和二极管熄灭图形，通过图形可以直观观测到熔断器试样随温度的变化状态，及熔断状态。
[0007]有益效果:
1.本发明一种熔断器温度测试装置，所述的甘油池下面具有加热器，用来给甘油池进行加热，所述的甘油池内具有搅拌器，使甘油池内温度升温均匀，所述的甘油池内具有一组夹具，用来夹取试样，所述的试样上方对应位置具有温度计，用来测定试样熔断温度，所述的一组夹具与限流电阻和发光二极管试样串联，通过发光二极管的熄灭从和温度计，来确定熔断器熔断时候的温度状态。
[0008]本发明结构简单、操作方便，通过绘制表格和多次测量绘制图像，可以更直观更准确的观测到熔断器的熔断温度的状态。
[0009]【附图说明】: 附图1是本发明的结构示意图。
[0010]【具体实施方式】:
实施例1:
一种熔断器温度测试装置，其组成包括:甘油池7，所述的甘油池下面具有加热器1，所述的甘油池内具有搅拌器8，所述的甘油池内具有一组夹具6，所述的夹具插入甘油池内，所述的一组夹具之间安装有试样2，所述的试样上方对应位置具有温度计3，所述的一组夹具与限流电阻5和发光二极管4试样串联。
[0011]实施例2:
利用实施例1所述的装置进行熔断器温度测试的方法，拿取同样的熔断器试样五件，将一件试样两引脚分别连接在测试装置的夹具上，通上10-100毫安的检测电流，用一发光二极管指示检测电流的通断，启动加热器对其甘油池进行加热，通过温度计观察甘油池内的温度，加热的同时通过搅拌器进行搅拌，温度计测试温度升高时，要距离试样l-2cm处，确保测试试样周边温度准确，当通过温度计观测到甘油池内温度稳定在TF-10°C，关闭加热器停止加热，使甘油池内的温度稳定在10°C，然后将试样放入甘油池内，开启加热器加热甘油池，通过温度计观测和加热器控制甘油池温度没分钟0.5-l°C速率升温，当发光二极管熄灭时，记下温度计读数，绘制表格填入，关闭加热器，即试样的动作升温。
[0012]实施例3:
根据实施例2所述的装置进行熔断器温度测试的方法，将剩下四件试样分别接到夹具上，然后进行测量，分别通过二极管熄灭和温度计观测到温度值，记录到表格，最后通过表格绘制温度和二极管熄灭图形，通过图形可以直观观测到熔断器试样随温度的变化状态，及熔断状态。
【主权项】
1.一种熔断器温度测试装置，其组成包括:甘油池，其特征是:所述的甘油池下面具有加热器，所述的甘油池内具有搅拌器，所述的甘油池内具有一组夹具，所述的夹具插入甘油池内，所述的一组夹具之间安装有试样，所述的试样上方对应位置具有温度计，所述的一组夹具与限流电阻和发光二极管试样串联。2.一种利用权利要求1所述的装置进行熔断器温度测试的方法，其特征是:拿取同样的熔断器试样五件，将一件试样两引脚分别连接在测试装置的夹具上，通上10-100毫安的检测电流，用一发光二极管指示检测电流的通断，启动加热器对其甘油池进行加热，通过温度计观察甘油池内的温度，加热的同时通过搅拌器进行搅拌，温度计测试温度升高时，要距离试样l_2cm处，确保测试试样周边温度准确，当通过温度计观测到甘油池内温度稳定在TF-10°C，关闭加热器停止加热，使甘油池内的温度稳定在10°C，然后将试样放入甘油池内，开启加热器加热甘油池，通过温度计观测和加热器控制甘油池温度没分钟0.5-l°C速率升温，当发光二极管熄灭时，记下温度计读数，绘制表格填入，关闭加热器，即试样的动作升温。3.根据权利要求2所述的熔断器温度测试的方法，其特征是:将剩下四件试样分别接到夹具上，然后进行测量，分别通过二极管熄灭和温度计观测到温度值，记录到表格，最后通过表格绘制温度和二极管熄灭图形，通过图形直观观测到熔断器试样随温度的变化状态，及熔断状态。
【专利摘要】<b>本发明涉及一种熔断器温度测试装置及测试方法。熔断器作用是电路发生故障或异常时，伴随着电流不断升高，可以发生熔断来切断通路，在通路中升高的电流有可能损坏电路中的某些重要器件或贵重器件，也有可能烧毁电路甚至造成火灾。</b><b>本发明方法包括：一种熔断器温度测试装置，</b><b>其组成包括：甘油池（</b><b>7</b><b>），所述的甘油池下面具有加热器（</b><b>1</b><b>），所述的甘油池内具有搅拌器（</b><b>8</b><b>），所述的甘油池内具有一组夹具（</b><b>6</b><b>），所述的夹具插入甘油池内，所述的一组夹具之间安装有试样（</b><b>2</b><b>），所述的试样上方对应位置具有温度计（</b><b>3</b><b>），所述的一组夹具与限流电阻（</b><b>5</b><b>）和发光二极管（</b><b>4</b><b>）试样串联。</b><b>本发明用于熔断器温度测试。</b>
【IPC分类】G01R31/327
【公开号】CN105425143
【申请号】CN201410474407
【发明人】吕实诚
【申请人】哈尔滨理大晟源科技开发有限公司
【公开日】2016年3月23日
【申请日】2014年9月17日