Υ坐标值的公差均为土0.02毫米，各根部高度检测柱高度尺寸相对各自Ζ坐标值的公差为± 0.02毫米;各根部凸面轮廓检测柱中心实际位置相对各自Χ、Υ坐标值的公差均为±0.02毫米，各根部凸面轮廓检测柱高度尺寸相对各自Ζ坐标值的公差为± 1毫米;各根部凹面轮廓检测柱中心实际位置相对各自Χ、Υ坐标值的公差均为±0.02毫米，各根部凹面轮廓检测柱高度尺寸相对各自Ζ坐标值的公差为±1毫米。
[0018]仍参看图1、图2，第一、第二、第三限位导向轴在根部检测底座上的位置根据喷推导叶叶片长度方向的两条侧边的设计尺寸而设定。所述第一限位导向轴4垂直于X轴，第一限位导向轴的轴线距根部测量底座上平面距离Η1为221-221.5毫米;第二限位导向轴2和第三限位导向轴3均垂直于X轴，第二限位导向轴右侧边距坐标原点的距离L1是654.8-655.1毫米，第二限位导向轴轴线距根部检测底座上平面距离Η2为70.4-70.7毫米，第三限位导向轴右侧边距坐标原点的距离L2是675.7-676毫米，第三限位导向轴轴线距根部检测底座上平面距ι^ιΗ3为141.4-141.7晕米。
[0019]参看图3、图4，检测喷推导叶叶片根部的具体操作如下:将喷推导叶叶片根部朝下、凹面朝前，沿第一、第二、第三限位导向轴滑入由六个根部凸面轮廓检测柱和六个根部凹面轮廓检测柱围成的检测空间中，喷推导叶叶片两条侧边分别与第一、第二、第三限位导向轴相切。喷推导叶叶片根部底面由数个根部高度检测柱支撑，各根部凸面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位根部底面6-20毫米，各根部凹面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位根部底面6-20毫米。如果喷推导叶叶片无法放置，则判定被测喷推导叶叶片根部不合格;如果可以顺利放置，则根据喷推导叶叶片根部轮廓与各根部凸面轮廓检测柱、凹面根部轮廓检测柱之间的间隙是否符合设计公差要求而判断喷推导叶叶片根部轮廓是否合格；同时使用塞尺测量各根部高度检测柱与喷推导叶叶片根部底面检测位的间隙量，并根据间隙量是否符合设计公差要求而判断被测喷推导叶叶片根部检测点高度值是否合格。
[0020]参看图5、图6，所述顶部检测装置包括顶部检测底座9，顶部检测底座既是装配检测柱的基础，也是检测的基准面。顶部检测底座的右侧设有限位柱10，顶部检测底座上分布六个顶部高度检测柱、七个顶部凸面轮廓检测柱和七个顶部凹面轮廓检测柱。各顶部高度检测柱的位置和高度根据喷推导叶叶片顶部顶面的设计尺寸而确定;各顶部凸面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片顶部凸面轮廓设计尺寸和各顶部凸面轮廓检测柱的直径而确定;各顶部凹面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片顶部凹面轮廓设计尺寸和各顶部凹面轮廓检测柱的直径而确定。各检测柱的高度和轴线位置如下确定:建立三维直角坐标系，坐标系的XI轴与顶部检测底座的长度方向的中心线重合，XI轴正方向向右，坐标系的Y1轴相对限位柱的中心线向左偏移2.8mm，Yl轴正方向相对XI轴正方向逆时针旋转90°，坐标系的Z1轴过XI轴、Y1轴交点并轴垂直于顶部检测底座上平面，Z1轴正方向向上，坐标原点位于顶部检测底座上平面；
六个根部高度检测柱的高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下:
XI坐标 Υ1坐标 Ζ1坐标第一顶部高度检测柱11-1-5581.11
第二顶部高度检测柱11-2-164.5 -12.7 7.1
第三顶部高度检测柱11-3-274.9 -40.4 18
第四顶部高度检测柱11-4-384.3 -71.1 46.9
第五顶部高度检测柱11-5-494.5 -81.4 75.8
第六顶部高度检测柱11-6-604.3 -72.4 126.9，
各顶部高度检测柱的顶部为球面。
[0021 ]七个顶部凸面轮廓检测柱高度Ζ1坐标值和轴线位置的X1、Y1坐标值如下:
XI坐标 Y1坐标 Z1坐标第一顶部凸面轮廓检测柱13-1 5.8109.8 9
第二顶部凸面轮廓检测柱13-2 -105.5 29.7 16 第三顶部凸面轮廓检测柱13-3 -216.3 -34.4 23 第四顶部凸面轮廓检测柱13-4 -327.8 -77.4 46 第五顶部凸面轮廓检测柱13-5 -483.9 -97.2 76 第六顶部凸面轮廓检测柱13-6 -550.2 -96.2 116 第七顶部凸面轮廓检测柱13-7 -661.5 -74.3 171;
各顶部凸面轮廓检测柱的直径为16±0.009毫米。
[0022]七个顶部凹面轮廓检测柱高度Z1坐标值和轴线位置的X1、Y1坐标值如下:
XI坐标 Y1坐标 Z1坐标第一顶部凹面轮廓检测柱12-1 -12125.8 16
第二顶部凹面轮廓检测柱12-2 -114.4 60.4 9 第三顶部凹面轮廓检测柱12-3 -223.5 1.923
第四顶部凹面轮廓检测柱12-4 -332 -39.4 39 第五顶部凹面轮廓检测柱12-5 -442.2 -60.3 69 第六顶部凹面轮廓检测柱12-6 -548.9 -62.5 107 第七顶部凹面轮廓检测柱12-7 -657.8 -46.4 163，
各顶部凹面轮廓检测柱的直径为16±0.009毫米。
[0023 ]所述限位柱的10的高度Ζ1坐标值为16、限位柱的轴线坐标值X1为2.8、Υ1坐标值为125.1ο
[0024]上述坐标值的单位均为毫米。
[0025]各顶部高度检测柱中心实际位置相对各自X1、Y1坐标值的公差均为±0.02毫米，各顶部高度检测柱高度尺寸相对各自Z1坐标值的公差为± 0.02毫米;各顶部凸面轮廓检测柱中心实际位置相对各自X1、Y1坐标值的公差均为±0.02毫米，各顶部凸面轮廓检测柱高度尺寸相对各自Ζ1坐标值的公差为±1毫米;各顶部凹面轮廓检测柱中心实际位置相对各自Χ1、Υ1坐标值的公差均为±0.02毫米，各顶部凹面轮廓检测柱高度尺寸相对各自Ζ1坐标值的公差为±1毫米;限位柱的高度尺寸相对其Ζ1坐标值的公差为±1毫米，限位柱的轴线实际位置相其X1、Υ1坐标值的公差均为0.02毫米。
[0026]参看图7、图8，检测喷推导叶叶片顶部的具体操作如下:将喷推导叶叶片顶部朝下、凸面朝前，置入由七个顶部凸面轮廓检测柱和七个顶部凹面轮廓检测柱围成的检测区域中，喷推导叶叶片右侧边与限位柱触接，喷推导叶叶片顶部顶面由六个顶部高度检测柱支撑，各顶部凸面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位顶部底面6-20毫米，各顶部凹面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位顶部底面6-20毫米。如果喷推导叶叶片无法放置，则判定被测喷推导叶叶片顶部不合格;如果可以顺利放置，则顶据喷推导叶叶片顶部轮廓与各顶部凸面轮廓检测柱、凹面顶部轮廓检测柱之间的间隙否符合设计公差要求而判断喷推导叶叶片顶部轮廓是否合格;同时使用塞尺测量各顶部高度检测柱与喷推导叶叶片顶部底面检测位的间隙量，并顶据间隙量否符合设计公差要求而判断被测喷推导叶叶片顶部检测点高度值是否合格。
[0027]如果用于检测喷推导叶叶片轮廓的各检测柱直径改变，则对应上述各检测柱轴线的坐标值相应发生变化，需要结合推导叶叶片轮廓曲线和检测柱的半径在坐标系中做出推导叶叶片轮廓曲线的等距线，再根据推导叶叶片轮廓的检测点在等距线上找出与检测点相切圆(半径为检测柱的半径)的圆心，该圆心即为测柱轴线坐标值，上述坐标值的变化落入本发明的保护范围中。
【主权项】
1.一种喷推导叶叶片检测方法，其特征在于，包括下述步骤: a、建立根部检测装置和顶部检测装置:根部检测装置包括根部检测底座，在根部检测底座的两侧设置用于限定喷推导叶叶片宽度的限位导向轴，在根部检测底座上设有数个根部高度检测柱，各高度检测柱的位置和高度根据喷推导叶叶片根部底面的设计尺寸而确定;在根部检测底座上还设有数个根部凸面轮廓检测柱和数个根部凹面轮廓检测柱，各根部凸面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片根部凸面轮廓设计尺寸和各凸面轮廓检测柱的直径而确定，各根部凹面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片根部凹面轮廓设计尺寸和各凹面轮廓检测柱的直径而确定； 所述顶部检测装置包括顶部检测底座，在顶部检测底座一侧设有限位柱，在顶部检测底座上设有数个顶部高度检测柱，各顶部高度检测柱的位置和高度根据喷推导叶叶片顶部顶面的设计尺寸而确定;在顶部检测底座上还设有数个顶部凸面轮廓检测柱和数个顶部凹面轮廓检测柱，各顶部凸面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片顶部凸面轮廓设计尺寸和各顶部凸面轮廓检测柱的直径而确定，各顶部凹面轮廓