腐蚀检测方法、装置及系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及环境监测领域，尤其涉及腐蚀检测方法、装置及系统。
【背景技术】
[0002] 由于近年来空气污染日益严重，电子设备应用环境变得越来越复杂，例如电子设 备常常应用在如高温高湿、高含硫量、盐雾、灰尘、酸性等恶劣环境下。电子设备长期处于上 述环境下，容易被腐蚀，从而出现故障。
[0003] 目前的腐蚀检测主要从检测环境变量方面开展：
[0004] 通过实时监测环境量，例如，温度、湿度、氢粒子浓度（Potential of Hydrogen,简 称PH)值、盐雾等，的变化，来判定设备腐蚀程度的影响。具体过程如下：
[0005] 各个环境量对应的传感器采集环境数据，并将采集到的环境数据发送给控制器， 控制器根据接收到的环境数据运行监测预警算法对电子设备的腐蚀程度进行判断。
[0006] 利用上述方法判断电子设备的腐蚀程度具体有以下缺点：
[0007] 1、由于上述方法需要多种传感器来检测环境量的变化，因此腐蚀检测成本较高并 难以批量复制推广。
[0008] 2、由于腐蚀是一个复杂的化学变化过程，涉及到环境变量太多，无法从环境量的 变化来真实反映电子设备的腐蚀状况。
【发明内容】
[0009] 本发明实施例提供一种腐蚀检测方法、装置及系统，用以解决现有技术中检测电 子设备的腐蚀情况，不够实时，检测成本高及检测精度低的问题。
[0010] 第一方面，本发明实施例提供了一种腐蚀检测方法，用于检测电子设备的腐蚀情 况，包括：
[0011] 获取腐蚀功能检测电路的检测结果，所述腐蚀功能检测电路连接在电子设备的腐 蚀薄弱部位；
[0012] 根据获取到的检测结果确定所述电子设备的腐蚀失效寿命。
[0013] 结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述腐蚀功能检测电路 与预先确定的腐蚀模式相对应；
[0014] 当所述腐蚀模式为电化学腐蚀时，获取腐蚀功能检测电路的检测结果，具体包 括：
[0015] 获取所述腐蚀功能检测电路中对插的梳状电极结构的金属走线两端点之间的电 压差；或者
[0016] 获取所述腐蚀功能检测电路中螺旋形状的金属走线两端点之间的电压差；或者
[0017] 获取所述腐蚀功能检测电路中的时域反射计TDR检测到的螺旋形状的金属走线 发生腐蚀的时间；
[0018] 根据获取到的检测结果确定所述电子设备的腐蚀失效寿命，具体包括：
[0019] 根据所述电压差或者所述时间确定所述电子设备的的腐蚀失效寿命。
[0020] 结合第一方面，在第一方面的第二种可能的实现方式中，所述腐蚀功能检测电路 与预先确定的腐蚀模式相对应；
[0021] 当所述腐蚀模式为化学腐蚀时，获取腐蚀功能检测电路的检测结果，具体包括：
[0022] 获取所述腐蚀功能检测电路中普通电阻或者抗化学腐蚀电阻两端的电压值；
[0023] 根据获取到的检测结果确定所述电子设备的腐蚀失效寿命，具体包括：
[0024] 根据所述普通电阻或者抗化学腐蚀电阻两端的电压值确定所述电子设备的腐蚀 时间；
[0025] 根据所述电子设备的使用寿命及所述电子设备的腐蚀时间确定所述电子设备的 腐蚀失效寿命。
[0026] 结合第一方面和第一方面的第一种至第二种可能的实现方式中的任意一种，在第 一方面的第三种可能的实现方式中，所述方法还包括：根据所述电子设备的散热风道确定 所述腐蚀薄弱部位。
[0027] 第二方面，本发明实施例还提供了一种腐蚀检测装置，用于检测电子设备的腐蚀 情况，所述装置包括：
[0028] 获取单元，用于获取腐蚀功能检测电路的检测结果，所述腐蚀功能检测电路连接 在电子设备的腐蚀薄弱部位；
[0029] 确定单元，用于根据获取到的检测结果确定所述电子设备的腐蚀失效寿命。
[0030] 结合第二方面，在第二方面的第一种可能的实现方式中，所述确定单元，还用于确 定电子设备的腐蚀模式，所述腐蚀功能检测电路与所述确定单元确定的腐蚀模式相对应；
[0031] 所述获取单元，具体用于：
[0032] 在所述确定单元确定的腐蚀模式为电化学腐蚀时，获取所述腐蚀功能检测电路中 对插的梳状电极结构的金属走线两端点之间的电压差；或者
[0033] 获取所述腐蚀功能检测电路中螺旋形状的金属走线两端点之间的电压差；或者
[0034] 获取所述腐蚀功能检测电路中的时域反射计TDR检测到的螺旋形状的金属走线 发生腐蚀的时间；
[0035] 所述确定单元，具体用于根据所述电压差或者所述时间确定所述电子设备的的腐 蚀失效寿命。
[0036] 结合第二方面，在第二方面的第二种可能的实现方式中，所述确定单元还用于，确 定设备的腐蚀模式，所述腐蚀功能检测电路与所述确定单元确定的腐蚀模式相对应；
[0037] 所述检测单元，具体用于在所述确定单元确定的腐蚀模式为化学腐蚀时，获取所 述腐蚀功能检测电路中普通电阻或者抗化学腐蚀电阻两端的电压值；
[0038] 所述确定单元，具体用于根据所述普通电阻或者抗化学腐蚀电阻两端的电压值确 定所述电子设备的腐蚀时间；根据所述电子设备的使用寿命及所述电子设备的腐蚀时间确 定所述电子设备的腐蚀失效寿命。
[0039] 结合第二方面和第二方面的第一种至第二种的可能的实现方式中的任意一种，在 第二方面的第三种可能的实现方式中，所述确定单元，还用于根据电子设备的散热风道确 定所述腐蚀薄弱部位。
[0040] 第三方面，本发明实施例还提供了一种腐蚀检测系统，包括：
[0041] 如第三方面和第三方面的第一种至第三种可能的实现方式中任意一种所述的电 子设备腐蚀检测装置；和
[0042] 至少一个腐蚀功能检测电路，所述腐蚀功能检测电路连接在电子设备的腐蚀薄弱 部位。
[0043] 结合第三方面，在第三方面的第一种可能的实现方式中，所述腐蚀功能检测电路 与预先确定的腐蚀模式相对应，在所述腐蚀模式为电化学腐蚀时，所述腐蚀功能检测电路 包括：
[0044] 对插的梳状电极结构的金属走线及电阻；所述对插的梳状电极结构的金属走线的 一侧与所述电阻的一侧相连，另一侧接地；所述电阻的另一侧用于连接待检测电子设备的 腐蚀薄弱位置；或者
[0045] 两条并行且不相交的螺旋形状的金属走线及电阻；其中一条旋形状金属走线的最 外圈的线端接地，另一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端连接所述电阻的一侧，所述电 阻的另一侧用于连接待检测电子设备的腐蚀薄弱位置；或者
[0046] 两条并行且不相交的螺旋形状的金属走线及时域反射计TDR ;其中一条螺旋形状 金属走线的最外圈的线端接地，另一条螺旋形状金属走线的最外圈的线端连接所述TDR的 一侧，所述TDR的另一侧连接待检测电子设备的腐蚀薄弱位子，所述两条螺旋形状的金属 走线之间的间距由最内圈至最外圈逐渐增大。
[0047] 利用本发明实施例提供的方案，通过获取连接在电子设备的腐蚀薄弱部位的腐蚀 功能检测电路的检测结果，判断腐蚀情况和程度，而不需要通过检测环境量间接确定电子 设备的腐蚀情况，可以提高腐蚀检测的精确度；由于不需要各种传感器来检测环境量，还可 以节省腐蚀检测成本，并且便于规模化应用。
【附图说明】
[0048] 图1为本发明实施例提供的电子设备腐蚀检测方法流程图；
[0049] 图2为本发明实施例提供的一种电化学腐蚀功能检测电路；
[0050] 图3为本发明实施例提供的另一种电化学腐蚀功能检测电路；
[0051] 图4为本发明实施例提供的又一种电化学腐蚀功能检测电路；
[0052] 图5为本发明实施例提供的阿基米德螺旋线的长度与腐蚀时间的关系曲线；