光电探测器检测发光二极管响应时间装置及检测方法
【专利说明】
[0001]技术领域:
本发明涉及一种光电探测器检测发光二极管响应时间装置及检测方法。
[0002]【背景技术】:
近几十年来，光电探测器在光通信、信号处理、传感系统和测温系统等高科技领域得到广泛应用，在信息为导向的时代，时间就是生命，提高速度的需要求日益紧迫，提高光电探测器响应速度的努力几乎从诞生它的一刻起就没停止过，
【发明内容】
:
本发明的目的是提供一种光电探测器检测发光二极管响应时间装置及检测方法。
[0003]上述的目的通过以下的技术方案实现:
光电探测器检测发光二极管响应时间装置，其组成包括:光电探测器，所述的光电探测器一端与偏压连接，所述的光电探测器另一端与负载连接，所述的光电探测器与负载之间接入毫伏表，所述的光电探测器、所述的负载、所述的毫伏表分别与示波器连接，所述的示波器分别与信号发生器和电阻一端连接，所述的电阻另一端与发光二极管连接。
[0004]利用光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，测量偏压下不同负载时其响应时间负载下部筒偏压时其响应时间，录在不同偏置电压下二极管的响应时间，记录偏置电阻时脉冲响应时间，最后根据表A和表B绘制偏置电压和偏置电阻分别与二极管响应时间关系图，从而得出二极管响应时间与不同时段的偏置电压和偏执电阻的趋势。
[0005]所述的利用光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，所述的测量偏压下不同负载时其响应时间负载下部筒偏压时其响应时间:首先将试验箱面板上的偏压和负载分别选通一组，然后将波形选择开关拨至脉冲挡，光电探测器开关拨至光电二极管挡，此时在输入波形的二极管处应可观测到方波，由输出处引出的输出线即可得到光电二极管的输出波形，其频率通过频率调节处的方法旋钮来调节，然后按照要求分别测量偏压下不同负载时其响应时间一定负载下部筒偏压时其响应时间。
[0006]所述的利用光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，所述的同偏置电压下二极管的响应时间，记录偏置电阻时脉冲响应时间是，负载10千欧，选择偏置电压0V、5V、10V、15V，观察记录在不同偏置电压下二极管的响应时间，记录成表A ;在偏置电压为15V时，选择OK、IK、10K、50K、100Κ的偏置电阻时脉冲响应时间，记录成表Β。
[0007]有益效果:
1.本发明的检测方法，通过光电探测器检测发光二极管响应时间装置来探测研究发光二极管和光敏电阻的响应时间，从而来掌握并了解其在不同偏置电压和偏置电阻状态下的响应时间，从而来提高其在不同领域的一个应用过程。本发明主要探讨光敏电阻和光电二极管的响应时间，确定所加电压和负载电阻变化过程中响应时间的特性，从而进一步来改进和改善其响应时间。
[0008]本发明方法简单，实用，可以准确快捷的得到其在不同偏置电压和偏置电阻条件下的响应时间，同时通过绘图形式更直观更准确的看出其随着骗着电压和偏置电阻变化的过程。
【附图说明】:
附图1是本发明的结构示意图。
[0009]【具体实施方式】:
实施例1:
一种光电探测器检测发光二极管响应时间装置，其组成包括:光电探测器2，所述的光电探测器一端与偏压3连接，所述的光电探测器另一端与负载6连接，所述的光电探测器与负载之间接入毫伏表5，所述的光电探测器、所述的负载、所述的毫伏表分别与示波器4连接，所述的示波器分别与信号发生器1和电阻8 一端连接，所述的电阻另一端与发光二极管7连接。
[0010]实施例2:
根据实施例1利用光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，(1)首先将试验箱面板上的偏压和负载分别选通一组，然后将波形选择开关拨至脉冲挡，光电探测器开关拨至光电二极管挡，此时在输入波形的二极管处应可观测到方波，由输出处引出的输出线即可得到光电二极管的输出波形，其频率可通过频率调节处的方法旋钮来调节，然后按照要求分别测量一定偏压下不同负载时其响应时间一定负载下部筒偏压时其响应时间。
[0011 ] (2)选定负载10千欧，选择偏置电压0V、5V、10V、15V，观察记录在不同偏置电压下二极管的响应时间，记录成表A ;在偏置电压为15V时，选择OK、IK、10K、50K、100Κ的偏置电阻时脉冲响应时间，记录成表Β。
[0012](3)最后根据表Α和表B绘制偏置电压和偏置电阻分别与二极管响应时间关系图，从而得出二极管响应时间与不同时段的偏置电压和偏执电阻的趋势。
[0013]实施例3
利用实施例1所述的光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，测量偏压下不同负载时其响应时间负载下部筒偏压时其响应时间，录在不同偏置电压下二极管的响应时间，记录偏置电阻时脉冲响应时间,最后根据表A和表B绘制偏置电压和偏置电阻分别与二极管响应时间关系图，从而得出二极管响应时间与不同时段的偏置电压和偏执电阻的趋势。
[0014]实施例4:
实施例3所述的光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，所述的测量偏压下不同负载时其响应时间负载下部筒偏压时其响应时间:首先将试验箱面板上的偏压和负载分别选通一组，然后将波形选择开关拨至脉冲挡，光电探测器开关拨至光电二极管挡，此时在输入波形的二极管处应可观测到方波，由输出处引出的输出线即可得到光电二极管的输出波形，其频率通过频率调节处的方法旋钮来调节，然后按照要求分别测量偏压下不同负载时其响应时间一定负载下部筒偏压时其响应时间。
[0015]实施例5:
实施例3或4所述的光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，其特征是:所述的同偏置电压下二极管的响应时间，记录偏置电阻时脉冲响应时间是，负载10千欧，选择偏置电压0V、5V、10V、15V，观察记录在不同偏置电压下二极管的响应时间，记录成表A ;在偏置电压为15V时，选择OK、IK、10K、50K、100Κ的偏置电阻时脉冲响应时间，记录成表Β。
【主权项】
1.一种光电探测器检测发光二极管响应时间装置，其组成包括:光电探测器，其特征是:所述的光电探测器一端与偏压连接，所述的光电探测器另一端与负载连接，所述的光电探测器与负载之间接入毫伏表，所述的光电探测器、所述的负载、所述的毫伏表分别与示波器连接，所述的示波器分别与信号发生器和电阻一端连接，所述的电阻另一端与发光二极管连接。2.一种利用权利要求1所述的光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，其特征是:测量偏压下不同负载时其响应时间负载下部筒偏压时其响应时间，录在不同偏置电压下二极管的响应时间，记录偏置电阻时脉冲响应时间，最后根据表A和表B绘制偏置电压和偏置电阻分别与二极管响应时间关系图，从而得出二极管响应时间与不同时段的偏置电压和偏执电阻的趋势。3.根据权利要求2所述的光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，其特征是:所述的测量偏压下不同负载时其响应时间负载下部筒偏压时其响应时间:首先将试验箱面板上的偏压和负载分别选通一组，然后将波形选择开关拨至脉冲挡，光电探测器开关拨至光电二极管挡，此时在输入波形的二极管处应可观测到方波，由输出处引出的输出线即可得到光电二极管的输出波形，其频率通过频率调节处的方法旋钮来调节，然后按照要求分别测量偏压下不同负载时其响应时间一定负载下部筒偏压时其响应时间。4.根据权利要求2或3所述的光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，其特征是:所述的同偏置电压下二极管的响应时间，记录偏置电阻时脉冲响应时间是，负载10千欧，选择偏置电压0V、5V、10V、15V，观察记录在不同偏置电压下二极管的响应时间，记录成表A ;在偏置电压为15V时，选择OK、IK、10K、50K、100Κ的偏置电阻时脉冲响应时间，记录成表Β。
【专利摘要】<b>本发明涉及一种光电探测器检测发光二极管响应时间装置及检测方法。近几十年来，光电探测器在光通信、信号处理、传感系统和测温系统等高科技领域得到广泛应用。光电探测器检测发光二极管响应时间装置，其组成包括：光电探测器（</b><b>2</b><b>），所述的光电探测器一端与偏压（</b><b>3</b><b>）连接，所述的光电探测器另一端与负载（</b><b>6</b><b>）连接，所述的光电探测器与负载之间接入毫伏表（</b><b>5</b><b>），所述的光电探测器、所述的负载、所述的毫伏表分别与示波器（</b><b>4</b><b>）连接，所述的示波器分别与信号发生器（</b><b>1</b><b>）和电阻（</b><b>8</b><b>）一端连接，所述的电阻另一端与发光二极管（</b><b>7</b><b>）连接。本发明用于光电探测器检测发光二极管响应时间检测。</b>
【IPC分类】G01R31/26
【公开号】CN105467288
【申请号】CN201410451122
【发明人】关晓东
【申请人】哈尔滨理大晟源科技开发有限公司
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2014年9月6日