介电阻抗谱仪样品夹具的制作方法

文档序号:9764943阅读:1020来源:国知局
介电阻抗谱仪样品夹具的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及仪器测定领域,尤其是涉及一种介电阻抗谱仪样品夹具。
【背景技术】
[0002]宽频介电谱仪不但可以测量各种固体、薄膜材料,还可以测量液体,粉末等样品材料;广泛应用于化学、物理化学、电化学、电子、电工工程、材料科学、生物学和制药等领域,特别是聚合物、树脂、陶瓷、橡胶、玻璃、液晶、石油及悬浮体等材料的研究。
[0003]宽频介电谱仪主要用于测量电介质材料或绝缘材料的介电参数、电气参数,如介电常数、电阻、电容、电导率等,其主要研究对象之一是具有一定极性的高分子体系。高分子材料的玻璃化温度普遍较高,在室温下较软,容易变形,且表面粗糙。介电谱仪要求测试的样品具有较高的光滑度,能与外接电极完美结合。现有技术常用的制样方法包括热压、冷压、滴膜等。这几种方法制备出的样品表面比较粗糙,需要在样品表面涂抹银浆或喷金以提高其与电极的接触。经过这样处理的样品,可以显著提高测试结果的精度,但也存在几点不足:(I)涂抹银浆容易造成样品的短路,使实验失败。(2)涂抹银浆或喷金的样品不易计算面积,会对测试结果造成二次误差。(3)喷金样品制备程序复杂,极大的增加了测试成本。(4)涂银浆或喷金的样品无法进行高温测试,会污染电极。尤其是对于极性较弱样品的测定,误差较大。

【发明内容】

[0004]有鉴于此,本发明要解决的技术问题在于提供一种介电阻抗谱仪样品夹具,本发明提供的样品夹具柔性好、与样品能够很好的接触,无需在样品表面涂抹银浆或喷金即可测定。
[0005]本发明提供了一种介电阻抗谱仪样品夹具,包括:
[0006]上附加电极和下附加电极;所述上附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成;所述下附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成。
[0007]优选的,所述上附加电极和下附加电极采用同种橡胶制成。
[0008]优选的,所述上附加电极厚度为0.5?3mm。
[0009]优选的,所述下附加电极厚度为0.5?3_。
[0010]优选的,所述上附加电极的直径为5?40mm。
[0011 ]本发明提供了一种介电阻抗谱仪测试夹具,包括:
[0012]电极和样品夹具;
[0013]所述电极包括上电极和下电极;
[0014]所述样品夹具包括上附加电极和下附加电极;
[0015]所述样品夹具置于上电极和下电极之间;
[0016]所述上附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成;所述下附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成。
[0017]优选的,所述上电极选自铜电极或镀金铜电极。
[0018]优选的,所述下电极选自铜电极或镀金铜电极。
[0019]本发明提供了一种介电阻抗谱仪,包括上述技术方案所述的样品夹具或上述技术方案所述的测试夹具。
[0020]与现有技术相比,本发明提供了一种介电阻抗谱仪样品夹具,包括:上附加电极和下附加电极;所述上附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成;所述下附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成。本发明提供的介电阻抗谱仪样品夹具的上附加电极和下附加电极采用的特定橡胶,柔性好,使得对于极性较低样品也可以很好的接触,从而无需涂覆银浆或喷金即可进行准确的测定。
【附图说明】
[0021]图1为本发明实施例1使用本发明电极测定样品的介电常数结果图;
[0022]图2为本发明实施例1使用镀金铜电极测定样品的介电常数结果图;
[0023]图3为本发明实施例2使用本发明电极测定样品的介电常数结果图;
[0024]图4为本发明实施例2使用镀金铜电极测定样品的介电常数结果图;
[0025]图5为本发明实施例3使用本发明电极测定样品的介电常数结果图;
[0026]图6为本发明实施例3使用镀金铜电极测定样品的介电常数结果图;
[0027]图7为本发明实施例4使用本发明电极测定样品的介电常数结果图;
[0028]图8为本发明实施例4使用镀金铜电极测定样品的介电常数结果图。
【具体实施方式】
[0029]本发明提供了一种介电阻抗谱仪样品夹具,包括:
[0030]上附加电极和下附加电极;所述上附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成;所述下附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成。
[0031]本发明提供的介电阻抗谱仪样品夹具包括上附加电极和下附加电极,所述上附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成;所述下附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成。
[0032]在本发明中,优选的,所述上附加电极和下附加电极采用同种橡胶制成。
[0033]在本发明中,所述上附加电极的厚度优选为0.5?3mm,所述下附加电极厚度优选为0.5?3mm。
[0034]本发明对于所述上附加电极和下附加电极的形状不进行限定,可以为圆形,也可以为方形或其他形状。
[0035]当上附加电极为圆形时,直径优选为5?40mm;当上附加电极为方形时,所述宽度优选为5?40mm。
[0036]在本发明中,按照本领域技术人员的公知常识,所述上附加电极的直径/宽度一般情况下小于、等于待测样品的直径/宽度,也可以略大于。区别在于,当往测试软件中输入样品尺寸时,如果上附加电极直径/宽度小于样品直径/宽度且样品表面没有导电层的时候,此时,计算时按照上附加电极的实际覆盖面积计算面积。
[0037]在本发明中,所述下附加电极的大小和形状不进行限定,大于等于上附加电极即可。
[0038]在本发明中,所述上附加电极的制备方法优选为:将铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种采用特定模具进行模压或采用切割的方式得到所需形状和大小即可。
[0039]在本发明中,所述下附加电极的制备方法优选为:将铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种采用特定模具进行模压或采用切割的方式得到所需形状和大小即可。
[0040]测定时,待测样品置于上附加电极和下附加电极之间。
[0041 ]本发明提供了一种介电阻抗谱仪测试夹具,包括:
[0042]电极和样品夹具;
[0043]所述电极包括上电极和下电极;
[0044]所述样品夹具包括上附加电极和下附加电极;
[0045]所述样品夹具置于上电极和下电极之间;
[0046]所述上附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成;所述下附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成。
[0047]本发明提供的介电阻抗谱仪测试夹具包括样品夹具,所述介电阻抗谱仪样品夹具包括上附加电极和下附加电极,所述上附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成;所述下附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成。
[0048]在本发明中,优选的,所述上附加电极和下附加电极采用同种橡胶制成。
[0049]在本发明中,所述上附加电极的厚度优选为0.5?3mm,所述下附加电极厚度优选为0.5?3mm。
[0050]本发明对于所述上附加电极和下附加电极的形状不进行限定,可以为圆形,也可以为方形或其他形状。
[0051]当上附加电极为圆形时,直径优选为5?40mm;当上附加电极为方形时,所述宽度优选为5?40mm。
[0052]在本发明中,按照本领域技术人员的公知常识,所述上附加电极的直径/宽度一般情况下小于、等于待测样品的直径/宽度,也可以略大于。区别在于,当往测试软件中输入样品尺寸时,如果上附加电极直径/宽度小于样品直径/宽度且样品表面没有导电层的时候,此时,计算时按照上附加电极的实际覆盖面积计算面积。
[0053]在本发明中,所述下附加电极的大小和形状不进行限定,大于、等于上附加电极即可。
[0054]在本发明中,所述上附加电极的制备方法优选为:将铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的
当前第1页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1