回转窑多探头无死角测温装置及其检测方法
【技术领域】
[0001]本发明属于红外测温技术领域，特别涉及一种回转窑多探头无死角测温装置及其检测方法。
【背景技术】
[0002]回转窑是物料煅烧的关键工艺设备，而窑衬又是回转窑生产中优质、高产、低消耗和长期安全运转的关键因素，温度过高、热振荡过大会严重损坏窑衬，甚至殃及窑体。在工业领域中，常使用高速红外测温扫描仪实现对回转窑表面的温度检测。
[0003]目前，一般根据回转窑窑体的长度，配置一台大角度视场角的红外测温扫描仪，让红外测温扫描仪瞄准回转窑窑体的某一轴线位置，当回转窑转动一周后，通过图像拼接技术，实现对窑体表面360度的温度检测。由于回转窑与红外测温扫描仪之前经常有一些支架、集热罩、风管等建筑物，回转窑部分局域被阻挡，从而造成很多测温死角，这样就存在很多无法检测的地方。虽然可以通过在回转窑周围寻找合适的位置可以降低遮挡面积，但不管怎样布置，都会存在检测盲区。
【发明内容】
[0004]本发明的首要目的在于提供一种回转窑多探头无死角测温装置，能够完整的检测回转窑窑体温度。
[0005]为实现以上目的，本发明采用的技术方案为:一种回转窑多探头无死角测温装置，包括一个主红外测温仪、多个从红外测温仪以及处理模块;所述的主红外测温仪扫描回转窑窑体的任一轴线位置，从红外测温仪设置在回转窑窑体的旁侧且从红外测温仪沿回转窑窑体的轴向扫描位置与主红外测温仪的测温盲区相吻合;处理模块根据主、从红外测温仪的位置信息以及回转窑的转速信息、从红外测温仪采集的温度信息对主红外测温仪的温度信息进行修正。
[0006]与现有技术相比，本发明存在以下技术效果:通过在主红外测温仪的测温盲区设置从红外测温仪，再通过设置处理模块根据主、从红外测温仪的布置位置以及回转窑的转速将从红外测温仪获得的温度数据代替主红外测温仪的测温盲区数据，从而获得完整的回转窑温度数据。
[0007]本发明的另一个目的在于提供一种回转窑多探头无死角测温装置的检测方法，能够完整的检测回转窑窑体温度。
[0008]为实现以上目的，本发明采用的技术方案为:一种如权利要求1所述的回转窑多探头无死角测温装置的检测方法，包括如下步骤:(A)根据主红外测温仪相对于回转窑的安装位置、视场角得到主红外测温仪的测温长度范围；(B)根据从红外测温仪相对于回转窑的安装位置、视场角得到从红外测温仪的测温长度范围、测温长度方向起点；(C)根据遮挡物相对于回转窑的安装位置得到主红外测温仪的测温盲区；(D)根据步骤A、B、C，建立回转窑轴向的温度替代式，即用从红外测温仪的温度点代替主红外测温仪在测温盲区内的点；(E)根据步骤A、B得到从红外测温仪与主红外测温仪之间的角度差；(F)根据步骤E得到的角度差、回转窑的转速得到从红外测温仪与主红外测温仪的采集时间差，根据该时间差值建立从红外测温仪的温度修正式；(G)根据步骤D的温度替代式、步骤E的温度修正式，不断的用从红外测温仪的测温点信号代替主红外测温仪测温盲区的测温点信号，得到正确的回转窑窑体温度。
[0009]与现有技术相比，本发明存在以下技术效果:通过温度替代式，可以得到主红外测温仪盲区位置中主、从红外测温仪温度测点的对应关系，使得能够用从红外测温仪测量的数据代替主红外测温仪测量的数据；同时，由于主、从红外测温仪的布置位置不同导致两者扫描轴线不同，通过设置温度修正式，可以对结果进行修正，使得检测结果非常的准确。
【附图说明】
[0010]图1是本发明的原理框图；
[0011]图2、3是本发明两个不同视角的结构示意图。
【具体实施方式】
[0012]下面结合图1至图3，对本发明做进一步详细叙述。
[0013]参阅图1，一种回转窑多探头无死角测温装置，包括一个主红外测温仪10、多个从红外测温仪20以及处理模块30;所述的主红外测温仪10扫描回转窑40窑体的任一轴线位置，从红外测温仪20设置在回转窑40窑体的旁侧且从红外测温仪20沿回转窑40窑体的轴向扫描位置与主红外测温仪10的测温盲区相吻合;处理模块30根据主、从红外测温仪10、20的位置信息以及回转窑40的转速信息、从红外测温仪20采集的温度信息对主红外测温仪10的温度信息进行修正。通过在主红外测温仪10的测量盲区设置从红外测温仪20，然后将从红外测温仪20采集到的数据替换掉主红外测温仪10采集到的数据中对应测温盲区的数据，这样就实现了回转窑40窑体的全面准确的测量，避免了因为遮挡物50的存在而导致的测温不全面现象。
[0014]参阅图2、图3，作为本发明的优选方案，所述的主红外测温仪10按如下步骤布置:
(SI)确定回转窑40的测温起点和测温终点位置；(S2)确定遮挡物50相对测温起点位置及相对回转窑40的位置；(S3)根据步骤S1、S2得到主红外测温仪10的最佳位置及所需视场角。之所以要确定主红外测温仪10的最佳位置，一是保证测温盲区尽可能的小，二是保证测温盲区尽可能的少。测温盲区小，需要替换的数据就少；测温盲区少，所需要的从红外测温仪20就少。
[0015]优选地，所述的从红外测温仪20按如下步骤布置:(S4)根据主红外测温仪10的布置位置确定测温盲区的个数和范围以及各测温盲区内包含的测温点数；(S5)在避开遮挡物50的位置布置从红外测温仪20监测主红外测温仪10的测温盲区，从红外测温仪20的个数与测温盲区的个数相吻合，所述从红外测温仪20在测温盲区的测温点数不少于主红外测温仪10在不受遮挡情况下测温盲区的测温点数。一般来说，每个测温盲区都会对应设置一个从红外测温仪20，但是如果两个测温盲区小且邻近布置，这个时候就可以用一个从红外测温仪20对这两个测温盲区进行扫描。从红外测温仪20的具体数量，可以根据实际情况进行选择。
[0016]更进一步地，本发明还公开了一种如前所述的回转窑多探头无死角测温装置的检测方法，包括如下步骤:(A)根据主红外测温仪10相对于回转窑40的安装位置、视场角得到主红外测温仪10的测温长度范围；(B)根据从红外测温仪20相对于回转窑40的安装位置、视场角得到从红外测温仪20的测温长度范围、测温长度方向起点；(C)根据遮挡物50相对于回转窑40的安装位置得到主红外测温仪10的测温盲区；(D)根据步骤A、B、C，建立回转窑40轴向的温度替代式，即用从红外测温仪20的测温点代替主红外测温仪10在测温盲区内的测温点；(E)根据步骤A、B得到从红外测温仪20与主红外测温仪10之间的角度差；(F)根据步骤E得到的角度差、回转窑40的转速得到从红外测温仪20与主红外测温仪10的采集时间差，根据该时间差值建立从红外测温仪20的温度修正式；(G)根据步骤D的温度替代式、步骤E的温度修正式，用从红外测温仪20的测温点信号代替主红外测温仪10测温盲区的测温点信号，得到正确的回转窑40窑体温度。通过上述步骤，可以实现回转窑40窑体温度的无死角测量。
【主权项】
1.一种回转窑多探头无死角测温装置，其特征在于:包括一个主红外测温仪(10)、多个从红外测温仪(20)以及处理模块(30);所述的主红外测温仪(10)扫描回转窑(40)窑体的任一轴线位置，从红外测温仪(20)设置在回转窑(40)窑体的旁侧且从红外测温仪(20)沿回转窑(40)窑体的轴向扫描位置与主红外测温仪(10)的测温盲区相吻合;处理模块(30)根据主、从红外测温仪(10、20)的位置信息以及回转窑(40)的转速信息、从红外测温仪(20)采集的温度信息对主红外测温仪(10)的温度信息进行修正。2.如权利要求1所述的回转窑多探头无死角测温装置，其特征在于:所述的主红外测温仪(10)按如下步骤布置: (51)确定回转窑(40)的测温起点和测温终点位置； (52)确定遮挡物(50)相对测温起点位置及相对回转窑(40)的位置； (53)根据步骤S1、S2得到主红外测温仪(10)的最佳位置及所需视场角。3.如权利要求2所述的回转窑多探头无死角测温装置，其特征在于:所述的从红外测温仪(20)按如下步骤布置: (54)根据主红外测温仪(10)的布置位置确定测温盲区的个数和范围以及各测温盲区内包含的测温点数； (55)在避开遮挡物(50)的位置布置从红外测温仪(20)监测主红外测温仪(10)的测温盲区，从红外测温仪(20)的个数与测温盲区的个数相吻合，所述从红外测温仪(20)在测温盲区的测温点数不少于主红外测温仪(10)在不受遮挡情况下测温盲区的测温点数。4.一种如权利要求1所述的回转窑多探头无死角测温装置的检测方法，包括如下步骤: (A)根据主红外测温仪(10)相对于回转窑(40)的安装位置、视场角得到主红外测温仪(10)的测温长度范围； (B)根据从红外测温仪(20)相对于回转窑(40)的安装位置、视场角得到从红外测温仪(20)的测温长度范围、测温长度方向起点； (C)根据遮挡物(50)相对于回转窑(40)的安装位置得到主红外测温仪(10)的测温盲区； (D)根据步骤A、B、C，建立回转窑(40)轴向的温度替代式，即用从红外测温仪(20)的测温点代替主红外测温仪(10)在测温盲区内的测温点； (E)根据步骤A、B得到从红外测温仪(20)与主红外测温仪(10)之间的角度差； (F)根据步骤E得到的角度差、回转窑(40)的转速得到从红外测温仪(20)与主红外测温仪(10)的采集时间差，根据该时间差值建立从红外测温仪(20)的温度修正式； (G)根据步骤D的温度替代式、步骤E的温度修正式，用从红外测温仪(20)的测温点信号代替主红外测温仪(10)测温盲区的测温点信号，得到正确的回转窑(40)窑体温度。
【专利摘要】本发明属于红外测温技术领域，特别涉及一种回转窑多探头无死角测温装置，包括一个主红外测温仪、多个从红外测温仪以及处理模块；所述的主红外测温仪扫描回转窑窑体的任一轴线位置，从红外测温仪设置在回转窑窑体的旁侧且从红外测温仪沿回转窑窑体的轴向扫描位置与主红外测温仪的测温盲区相吻合；处理模块根据主、从红外测温仪的位置信息以及回转窑的转速信息、从红外测温仪采集的温度信息对主红外测温仪的温度信息进行修正,还公开了其检测方法。通过在主红外测温仪的测温盲区设置从红外测温仪，并设置处理模块，从而获得完整的回转窑温度数据。
【IPC分类】G01J5/00
【公开号】CN105547488
【申请号】CN201510946342
【发明人】徐勇, 汪升, 曹明润, 王腾飞, 张亚东, 姚佳佳, 张卫星, 万力, 刘树峰, 周旸旻, 高鑫, 郑明生, 汤玉美, 王艳
【申请人】合肥金星机电科技发展有限公司
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2015年12月15日