采用超声波快捷测定单晶材料的方法

文档序号:9785580阅读:313来源:国知局
采用超声波快捷测定单晶材料的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及检测技术领域,尤其是一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法。
【背景技术】
[0002]在当今军用发动机叶片及民用高端燃气轮机叶片,由于它们需要在高温高压下保持正常运行,因此通常都要求它们在铸造生产过程中形成一个单一的晶体,也就是单晶体,它没有晶界,从而避免了晶界在高温下容易软化导致材料的热强度下降,造成疲劳裂纹的产生进而大大降低其使用寿命。
[0003]因此在生产线上直接铸造出来的叶片,如果铸造工艺和成分控制不严,导致产品在结晶过程中出现不合格组织,即不是一个单晶体,同时晶界又存在某些杂质元素的聚集,这样的叶片就是不合格的产品,必须快捷地将其鉴别出来。对出现严重质量问题的产品的快速便捷排查。
[0004]通常鉴定叶片是否为单晶体一般都采用X射线衍射法,但这种方法所使用的设备比较昂贵,程序也比较复杂,对检测人员的专业技术要求也比较高,同时检测效率也很低,在工程化应用中受到一定的制约。

【发明内容】

[0005]本发明的目的是:提供一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法,它能快速准确的判定材料是否为单晶材料,显著提高现场产品检测效率,且成本低廉。
[0006]本发明是这样实现的:采用超声波快捷测定单晶材料的方法,利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。
[0007]本发明的原理:单晶材料的工件只由一个晶粒构成,因此超声波在其内部传播时不发生反射,但如果不是单晶,晶粒与晶粒之间就会存在晶界,晶界相对于晶粒就是一种界面,所以当超声波传播遇到晶界时就会发生一定程度的反射。
[0008]超声波从工件的一侧向另一侧传播的过程中,如果内部没有界面,超声波不会在内部发生任何反射,在超声波显示屏上只会出现底面回波,假如工件内部有界面,超声波就会在这些界面上发生反射,在显示屏上,表现为在底波之前会有一些较小的杂波出现。
[0009]检测时,在底波之前如果不出现任何回波,说明工件内部没界面,则该工件是单晶材料,但如果在底波之前出现回波,则工件内部有界面,说明该工件不是单晶材料。
[0010]由于采用了上述技术方案,与现有技术相比,本发明采用超声波穿过待测产品,通过观察超声波的反射波形,即可判断材料是否为单晶材料,以检测出材料中存在的严重的晶界缺陷,这样便可显著提高现场产品检测效率,是一种经济适用的检测方法。本发明简单快捷、经济适用、检测效率高。
【附图说明】
[0011]附图1为本发明检测到单晶材料的超声波回波波形示意图;
附图2为本发明检测到非单晶材料的超声波回波波形示意图。
【具体实施方式】
[0012]本发明的实施例:采用超声波快捷测定单晶材料的方法,利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。
[0013]申请人为了验证本发明的技术效果,从贵州斯莱克玛公司,抽取了100片生产好的、但是未经检验的飞机发动机叶片,采用本发明的方法对这100个样品进行检测,并记录检测结果;之后将这100个样品采用X射线衍射法进行检测,并记录检测结果,两种方法的检测结果进行对比,对于产品是否为单晶材料的结论,其检测结论完全一致,而采用本发明的方案所用的时间仅为8小时,而采用现有技术的方法法检测的时间为50小时。
【主权项】
1.一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法,其特征在于:利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。
【专利摘要】本发明公开了一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法,利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。本发明采用超声波穿过待测产品,通过观察超声波的反射波形,即可判断材料是否为单晶材料,这样便可显著提高现场产品检测效率,是一种经济适用的检测方法。本发明简单快捷、经济适用、检测效率高。
【IPC分类】G01N29/04
【公开号】CN105548357
【申请号】CN201510962768
【发明人】孙捷, 王芹, 黄碧芳, 朱绍严, 袁春
【申请人】贵州大学
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2015年12月21日
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