用于环境测试的测试设备及方法
【专利说明】用于环境测试的测试设备及方法
[0001]
技术领域
[0002]本发明涉及电测试领域，特别涉及用于环境测试的测试设备及方法。
[0003]
【背景技术】
[0004]设计师使用新的元器件前，需要知道此款元器件的真实性能和它的典型使用方法，应用验证的任务是在设计师使用这款元器件前，预先搭建此元器件的典型应用线路，对于数字芯片还需编写相应的软件，使此元器件能够进入运行，并对元器件的以及它们外围电路的状态(模拟量，数字量)进行记录和评估。评估结果对设计师决定是否采用此芯片提供参考。
[0005]验证元器件需要一个测试设备。测试设备的功能是对元器件给出激励信号(模拟量或数字量)，采集、显示并分析元器件的输出信号(模拟量或数字量)。测试设备需要具备的具体功能包括:模拟信号/数字信号的激励，模拟信号的采集，数字信号的读取，数据传输，数据的显示和分析。现有技术中，待测元器件是通过直插接口直接与测试设备连接，进行测试;但是环境测试需要在非常规环境下对被测对象进行电测试。测试设备一般电路规模较大，在严酷的目标环境中，难以保证测试设备本身在目标环境中不出现异常。因此常规的测试设备都只能进行电性能测试。
[0006]
【发明内容】
[0007]本发明解决的问题是，现有的测试设备不能用于环境严酷的环境测试;为解决所述问题，本发明提供一种用于环境测试的测试设备及方法。
[0008]本发明提供的用于环境测试的测试设备包括:设备板和转接板，所述设备板包括第一直插接口和第一线缆接口，所述转接板包括第二直插接口和第二线缆接口，设备板具有测试设备的电路。
[0009]进一步，所述第一直插接口和第一线缆接口之间连接有第一驱动与变压芯片;第二直插接口和第二线缆接口之间连接有第二驱动与变压芯片。
[0010]进一步，所述转接板置于环境测试箱内。
[0011 ]进一步，第一直插接口和第一线缆接口之间连接有第一驱动与变压芯片，第二直插接口和第二线缆接口之间安装有上拉电阻。
[0012]本发明还提供所述的用于环境测试的测试设备的测试方法，在进行环境测试时，包括:
步骤一、将被测板连接于转接板，并将被测板与转接板置于环境测试箱内；
步骤二、利用线缆通过第一线缆接口和第二线缆接口连接设备板与转接板；
步骤三、开始测试。
[0013]进一步，在进行常规测试时，被测板通过直插接口与设备板连接。
[0014]本发明的优点包括:
在进行环境试验时，测试设备仍然置于常规环境中，被测对象置于目标环境中，从而避免了严酷的测试环境对测试设备造成损坏。
[0015]设备板与它们之间通过线缆连接，通过在直插接口与线缆接口之间安装驱动芯片，使信号具备较强的驱动能力。
[0016]在进行电性能测试时，采用直插连接，测试设备的各主要模块不经驱动芯片直接连到了被测对象，因此没有额外的传输延时。
[0017]由于有时需要探索被测对象的极限电源电压，此时，设备板上主控芯片输出的数字信号的高电平电压仍然与被测对象正常工作时的电压一致。但被测对象由于输入电源已不是它正常工作的电源，它的信号的高电平电压也随之改变。测试设备和被测对象高电平电压的不一致导致它们不能之间相连，必须通过变压措施把它们的高电平电压调节为一致，我们设备上的驱动与变压芯片起到了水坝的作用。
[0018]
【附图说明】
[0019]图1为本发明实施例提供的用于环境测试的测试设备与被测板的直插式连接示意图；
图2为本发明实施例提供的用于环境测试的测试设备与被测板采用线缆连接的示意图；
图3为设备板上的结构示意图；
图4为转接板结构示意图。
[0020]
【具体实施方式】
[0021]下文中，结合附图和实施例对本发明作进一步阐述。
[0022]结合参考图1至图4，本发明实施例提供的用于环境测试的测试设备包括:设备板03和转接板08，所述设备板03包括第一直插接口 031和第一线缆接口 05，所述转接板08包括第二直插接口 081和第二线缆接口 09，设备板03具有测试电路。
[0023]如图1所示，通过电脑01对设备板03进行控制，执行测试操作。电源板04对被测板02和设备板03提供电源。在进行常规电测试时，所述被测板02直接通过直插接口与设备板03进行电连接。
[0024]如图2所示，在进行环境测试时，所述被测板02与转接板连接后，置于环境实验箱07，转接板的第二线缆接口 09与设备板的第一设备接口通过线缆连接，从而实现被测板与设备板的连接，而设备板与电源板置于常温环境下，从而避免了严酷环境造成设备板不能正常工作或损坏。
[0025]结合参考图3和图4，所述第一线缆接口包括第一数字接口051、第一模拟接口 052、第一电源接口 053;所述第二线缆接口包括第二数字接口 091、第二模拟接口 092、第二电源接口 093;连接时，对应接口一一连接。
[0026]通过线缆连接设备板与转接板时，测试设备端和被测对象端需要有足够强的驱动能力，继续参考图3和图4，在本实施例中，当使用线缆连接时，所述第一直插接口031和第一线缆接口 05之间连接有第一驱动与变压芯片032 ；第二直插接口 081和第二线缆接口 09之间连接有第二驱动与变压芯片082。所述第一驱动与变压芯片、第二驱动与变压芯片采用16T245芯片。在其他实施例中，还可以采用它他驱动与变压芯片或者上拉电阻提高驱动能力。
[0027]在本发明的优选实施例中，第一直插接口和第一线缆接口之间连接有第一驱动与变压芯片，第二直插接口和第二线缆接口之间安装上拉电阻，所述上拉电阻的阻值为3?10千欧，上拉电阻具有提高驱动能力的作用，但没有变压的作用，经过实践发现，上拉电阻与第一驱动与变压芯片的组合可靠性最高，软件兼容度最高。
[0028]在进行环境试验时，测试设备上各数字信号首先通过驱动芯片，然后再传输至环境试验箱中的转接板;转接板把第二数字接口、第二模拟接口、第二电源接口重新合并为直插接口，被测对象直插在转接板上。所述环境试验箱置于目标环境中，环境试验箱固定转接板和被测板，环境试验箱具有抗震性和导热性，可以防止振动测试过程中，被测板和转接板分离，并且可以起到热传递的作用。信号的传输方向是双向的，与设备板类似，在转接板上，第二线缆接口和第二直插接口之间的驱动与变压芯片增强了从被测对象到测试设备方向的数字信号的驱动能力。第二驱动与变压芯片或者上拉电阻安装在转接板上而不是被测板上，是因为对于各种被测芯片，驱动与变压是一种通用的需求。
[0029]有些情况下，测试设备上的主控芯片驱动能力很强，此时测试设备可不加驱动芯片。在环境试验箱中，直插在转接板上的被测板必须提高驱动能力以适应各种驱动能力不同的被测芯片。
[0030]驱动与变压芯片不仅可以增强驱动能力，还可以改变信号的电压值。由于有时需要探索被测对象的极限电源电压，此时，设备板上主控芯片输出的数字信号的高电平电压仍然与被测对象正常工作时的电压一致。但被测对象由于输入电源已不是它正常工作的电源，它的信号的高电平电压也随之改变。测试设备和被测对象高电平电压的不一致导致它们不能之间相连，必须通过变压措施把它们的高电平电压调节为一致，此时驱动与变压芯片16T245芯片起到了水坝的作用。
[0031 ]本发明实施例还提供上述用于环境测试的测试设备的测试方法。
[0032]本发明虽然已以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本发明，任何本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，都可以利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出可能的变动和修改，因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均属于本发明技术方案的保护范围。
【主权项】
1.一种用于环境测试的测试设备，其特征在于，包括:设备板和转接板，所述设备板包括第一直插接口和第一线缆接口，所述转接板包括第二直插接口和第二线缆接口。2.依据权利要求1所述的用于环境测试的测试设备，其特征在于，所述第一直插接口和第一线缆接口之间连接有第一驱动与变压芯片;第二直插接口和第二线缆接口之间连接有第二驱动与变压芯片。3.依据权利要求1所述的用于环境测试的测试设备，其特征在于，所述转接板置于环境测试箱内。4.依据权利要求1所述的用于环境测试的测试设备，其特征在于，第一直插接口和第一线缆接口之间连接有第一驱动与变压芯片，第二直插接口和第二线缆接口之间存在上拉电阻。5.采用权利要求1至4中任意一项所提供的用于环境测试的测试设备的测试方法，其特征在于，在进行环境测试时，包括: 步骤一、将被测板连接于转接板，并将被测板与转接板置于环境测试箱内； 步骤二、利用线缆通过第一线缆接口和第二线缆接口连接设备板与转接板； 步骤三、开始测试。6.依据权利要求5所述的用于环境测试的测试设备的测试方法，其特征在于，在进行常规测试时，被测板通过直插接口与设备板连接。
【专利摘要】本发明公开了一种用于环境测试的测试设备及测试方法，本发明公开的用于环境测试的测试设备包括：设备板和转接板，所述设备板包括第一直插接口和第一线缆接口，所述转接板包括第二直插接口和第二线缆接口。本发明提供的方案可以用于严酷的环境测试。
【IPC分类】G01R31/28
【公开号】CN105548859
【申请号】CN201510906021
【发明人】项宗杰, 胡小海, 王兰来, 刘伟鑫, 刘大鹏
【申请人】上海精密计量测试研究所
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2015年12月9日