一种基于工业设备的微小间隙检测装置、方法及系统的制作方法

文档序号:9862690阅读:563来源:国知局
一种基于工业设备的微小间隙检测装置、方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及印刷电路板的品质检测技术领域,尤其设及一种基于工业设备的微小 间隙检测装置、方法及系统。
【背景技术】
[0002] 随着光学影像设备的不断成熟和计算机视觉技术的迅猛发展,在PCB检测领域利 用硬件设备和软件算法自由搭配组合,协调完成高效、高质量的检测任务成为新兴的发展 趋势。
[0003] 鉴于电子产品忍片的微型化、集成化发展趋势或者工业设备的高精度的微小间 隙,对PCB的要求急切体现在PCB的多层化、布线密集化之上,国内外PCB生产制造技术也正 在向高精度、细导线、大密度、小间距的方向发展,从而致使PCB板或微小间隙待测产品导线 自身的特性阻抗对电路板的信号传输影响越来越大,最终影响到电子产品的性能,其中导 线线宽的变化范围是影响特性阻抗的最主要因素,而导线线宽的毛边大小是特性阻抗的直 接误差来源,因此,PCB线宽及其毛边的长度是评定PCB品质好坏的重要参数,W及工业设备 的高精度的微小间隙,如针对满轮发动机叶片的叶尖间隙测量(即叶片与发动机机厘内壁 之间的距离,直接影响到发动机的耗油量和寿命)。
[0004] 目前PCB线宽的检测方法W及工业设备的高精度的微小间隙主要有人工目检法、 自动X光学检测法和自动光学检测法,但受限制于线路的精细化、影响蚀刻因素的多样化、 PCB板或微小间隙待测产品和背景环境的多样化,导致检测效果差、检测PCB板或微小间隙 待测产品的类型和适用范围不够广泛,实用性和适应性较差,特别针对线宽毛边的检测方 法还未成体系,然而,客户现场在实际测量中,对不同的PCB板或微小间隙待测产品,有时需 要低光源照明,有时采用高光源,目前,并没有不同光源照射进行PCB板或微小间隙待测产 品的图像处理的技术方案。

【发明内容】

[0005] 本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测装置、方法及系统,通过 镜筒和双光源组件,镜筒下端处与双光源组件连接,双光源组件包括上环形光源组件和下 环形光源组件,实现了不同光源照射进行PCB板或微小间隙待测产品的图像处理,并进行后 续的基于工业设备的微小间隙检测。
[0006] 本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测装置,包括:
[0007] 镜筒和双光源组件;
[000引所述镜筒下端处与所述双光源组件连接;
[0009] 所述双光源组件包括上环形光源组件和下环形光源组件。
[0010] 可选地,所述基于工业设备的微小间隙检测装置还包括:
[0011] 红光定位组件,用于通过红光定位待测PCB板或微小间隙待测产品;
[0012] 升降组件,与所述镜筒连接,所述升降组件通过支臂安装组件与测量台面连接。
[0013] 可选地,所述红光定位组件包括红光固定块和红光部件,所述红光固定块与所述 红光部件连接,所述红光固定块通过双C型接圈安装在所述镜筒一侧。
[0014] 可选地,所述红光定位组件包括红光固定块和红光部件,所述红光固定块与所述 红光部件连接,所述红光固定块通过一支撑块安装在所述双光源组件的灯罩上沿。
[0015] 可选地,所述红光定位组件包括红光固定块和红光部件,所述红光固定块与所述 红光部件连接,所述红光固定块通过夹持在所述镜筒上的夹持部件安装在所述双光源组件 的灯罩上方。
[0016] 可选地,所述双光源组件还包括光源连接套和灯罩,所述光源连接套连接在所述 镜筒和所述灯罩之间,所述上环形光源组件设置在所述灯罩内部上方,所述下环形光源组 件设置在所述灯罩内部下方。
[0017] 本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测方法,通过本实施例中提 及的任意一种所述的基于工业设备的微小间隙检测装置,其特征在于,包括:
[0018] 通过双光源部件对待测的PCB板或微小间隙待测产品进行高低环形光源的照射, 凸显所述PCB板的导线线宽及毛边处或微小间隙待测产品的间隙距离;
[0019] 通过标定片进行十字对等标定,并通过镜筒中的CCD相机采集所述PCB板导线线宽 及毛边处或所述微小间隙待测产品的间隙距离的图像;
[0020] 将采集的所述图像传输给处理终端进行所述图像的所述PCB板导线线宽及毛边处 或所述微小间隙待测产品的间隙距离的计算。
[0021] 可选地,将采集的所述图像传输给处理终端进行所述图像的所述PCB板导线线宽 及毛边处或所述微小间隙待测产品的间隙距离的计算具体包括:
[0022] 将采集的所述图像传输给处理终端;
[0023] 通过所述处理终端对所述图像进行导线区域的框选处理;
[0024] 对所述框选处理之后的所述导线区域进行预处理和特征分析,并计算所述PCB板 导线线宽及毛边处或所述微小间隙待测产品的间隙距离。
[0025] 可选地,通过双光源部件对待测的PCB板或微小间隙待测产品进行高低环形光源 的照射,凸显所述PCB板导线线宽及毛边处或微小间隙待测产品的间隙距离之前还包括: [00%]通过红光定位组件待测的所述PCB板或微小间隙待测产品的红光定位。
[0027]本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测系统,其特征在于,包括: [00%]处理终端,W及如本实施例中提及的任意一种所述的基于工业设备的微小间隙检 测装置;
[0029] 所述处理终端与所述基于工业设备的微小间隙检测装置建立有通信连接关系;
[0030] 所述处理终端,用于获取所述基于工业设备的微小间隙检测装置采集的所述图 像,并进行所述图像的PCB板导线线宽及毛边处或微小间隙待测产品的间隙距离。
[0031] 从W上技术方案可W看出,本发明实施例具有W下优点:
[0032] 本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测装置、方法及系统,其中, 基于工业设备的微小间隙检测装置包括:镜筒和双光源组件;镜筒下端处与双光源组件连 接;双光源组件包括上环形光源组件和下环形光源组件。本实施例中,通过镜筒和双光源组 件,镜筒下端处与双光源组件连接,双光源组件包括上环形光源组件和下环形光源组件,实 现了不同光源照射进行PCB板或微小间隙待测产品的图像处理,并进行后续的基于工业设 备的微小间隙检测。
【附图说明】
[0033] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本 发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可 W根据运些附图获得其它的附图。
[0034] 图1为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测装置的一个实施例 的结构示意图;
[0035] 图2(a)和(b)为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测装置的双 光源组件的结构示意图;
[0036] 图3为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测装置的红光定位组 件的一个安装结构示意图;
[0037] 图4为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测装置的红光定位组 件的另一个安装结构示意图;
[0038] 图5(a)和(b)为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测装置的红 光定位组件的另一个安装结构示意图;
[0039] 图6为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测方法的一个实施例 的流程示意图;
[0040] 图7为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测方法的另一个实施 例的流程示意图;
[0041] 图8为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测系统的一个实施例 的结构示意图;
[0042] 图9为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测系统的一个实施例 的操作流程示意图;
[0043] 图10为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测系统的一个实施 例的功能模块示意图;
[0044] 图11为本发明实施例提供的一种基于工业设备的微小间隙检测系统的界面示意 图;
[0045] 图12(a)至(d)为标定图和PCB线宽及其毛边的侧视图和俯视图;
[0046] 图13为图7应用例的流程示意图。
【具体实施方式】
[0047] 本发明实施例提供的一种基于
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