一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种光学的检测方法，具体是指一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法。
【背景技术】
[0002]在光学镜片生产中常常通过胶水将两光学表面粘合成一个整体从而满足固定客户的需求，光学胶合件存在减少光能损失、增加成像清晰度、简化光学零件的加工等优点，但两胶合光学表面之间由于胶水不均匀所形成的胶合件胶层偏芯，往往影响着胶合件的光学性能，如何快速、操作简单的检测出胶合件的偏芯角度成为了目前所需要攻克的难题。
【发明内容】
[0003]本发明所要解决的技术问题是针对上述的技术现状而提供一种结构简单、方便使用，操作简单，精密度高的一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法。
[0004]为了达到上述目的，本发明是通过以下技术方案实现的:
1.一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法，包括以下步骤:
A，将光学胶合件放置在设置在光学胶合件下端的检测平台上；
B，打开距离检测平台上端40cm的光源发生器；
C，距离检测平台上端30cm的光感器接收到反射光线；
D，通过设置在光感器左端的光电转换传输线连接光感器和显示器；
E，观察成像显示器现的一条“亮”十字线，一条“暗”十字线；
F，通过旋转光学胶合件，观察成像显示器，包括以下步骤:
1)通过旋转光学胶合件，观察成像显示器，如果“亮”十字线与“暗”十字线的X轴重合，读出“亮”十字线与“暗”十字线y轴之间的差值；
2)通过旋转光学胶合件，观察成像显示器，如果“亮”十字线与“暗”十字线的y轴重合，读出“亮”十字线与“暗”十字线X轴之间的差值；
G，所述差值为光学胶合件胶层偏芯角度。
[0005]本发明的有益效果:本发明是一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法，通过设备全欧反投射偏芯仪，能够测量出光学胶合件的偏芯角度，该发明一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法有效的替代带了市场上光学偏芯仪的装置，大大的减少了成本开支，并且此测量发法操作简单，精密度高，减轻了工作人员的工作压力。
【附图说明】
[0006]图1是本发明一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法工作流程图。
[0007]图2是本发明的工作原理示意图。
[0008]图3是本发明的实施例比较数据结果。
[0009]1-显示器，2-光源发生器，3-光感器，4-十字坐标系，5-光学胶合件，6_检测平台，7-光电转换传输线。
【具体实施方式】
[0010]为了加深对本发明的理解，下面将结合附图和实施例对本发明做进一步详细描述，该实施例仅用于解释本发明，并不对本发明的保护范围构成限定。
[0011 ]如图1-3所示，本发明是一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法，其特征在于:包括显示器1、光感器3、光源发生器2、检测平台6，所述显示器I内显示有十字坐标系4，所述检测平台6上方放置需要检测的光学胶合件5，所述光学胶合件5上方设置所述光感器3，所述光感器3上方设置有所述光源发射器2，所述光感器3左端设置有所述显示器I，所述光感器与所述显示器之间连接光电转换传输线7;检测方法包括以下步骤:
A，将光学胶合件5放置在设置在所述光学胶合件5下端的检测平台6上；
B，打开距离所述检测平台6上端40cm的光源发生器2;
C，距离所述检测平台6上端30cm的光感器3接收到反射光线:
D，通过设置在光感器3左端的光电转换传输线7连接光感器3和显示器I E，观察成像显示器I现的一条“亮”十字线，一条“暗”十字线；
F，通过旋转光学胶合件5，观察成像显示器1，包括以下步骤:
3)通过旋转光学胶合件5，观察成像显示器I，如果“亮”十字线与“暗”十字线的X轴重合，读出“亮”十字线与“暗”十字线y轴之间的差值；
4)通过旋转光学胶合件5，观察成像显示器I，如果“亮”十字线与“暗”十字线的y轴重合，读出“亮”十字线与“暗”十字线X轴之间的差值；
G，所述差值为光学胶合件胶层偏芯角度。
[0012]光源发射器发射出的光线照射到光学胶合件上，光学胶合件反射的光线照射到光感器，通过光电转换传输线显示到显示屏上，“亮”十字线是光源照射被检测镜片反射的成像，“暗”十字线是由于光源照射被检测胶面反射的成像。
[0013]
实施例，将6组使用全欧反投射偏芯仪检测胶合件的检测检测结果与客户检测相比较，如图3所示。
【主权项】
1.一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法，包括以下步骤: A，将光学胶合件(5)放置在设置在所述光学胶合件(5)下端的检测平台(6)上； B，打开距离所述检测平台(6)上端40cm的光源发生器(2); C，距离所述检测平台(6)上端30cm的光感器(3)接收到反射光线: D，通过设置在光感器(3)左端的光电转换传输线(7)连接光感器(3)和显示器(I) E，观察成像显示器(I)现的一条“亮”十字线，一条“暗”十字线； F，通过旋转光学胶合件(5)，观察成像显示器(1)，包括以下步骤: 1)通过旋转光学胶合件(5)，观察成像显示器(1)，如果“亮”十字线与“暗”十字线的X轴重合，读出“亮”十字线与“暗”十字线y轴之间的差值； 2)通过旋转光学胶合件(5)，观察成像显示器(1)，如果“亮”十字线与“暗”十字线的y轴重合，读出“亮”十字线与“暗”十字线X轴之间的差值； G，所述“亮”十字线与“暗”十字线y轴之间的差值或者“亮”十字线与“暗”十字线X轴之间的差值为光学胶合件胶层偏芯角度。
【专利摘要】本发明是一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法，其步骤包括：A，将光学胶合件放置在检测平台上，B，打开检测装置上的光源发生器，C，观察成像显示器出现的一条“亮”十字线，一条“暗”十字线，D，通过旋转光学胶合件，观察成像显示器，E,读出差值为光学胶合件胶层偏芯角度，本发明、设计合理新颖、操作安装方便，该发明既能使得光学镜片在生产过程中质量得以控制，又能减轻检测人员的工作压力。
【IPC分类】G01B11/27
【公开号】CN105627955
【申请号】CN201610004307
【发明人】周伟华, 张梁
【申请人】丹阳丹耀光学有限公司
【公开日】2016年6月1日
【申请日】2016年1月7日