一种降低成本的检测探针生产方法

文档序号:9863732阅读:406来源:国知局
一种降低成本的检测探针生产方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种降低成本的生产方法。
【背景技术】
[0002]芯片IC检测探针,核心技术还是掌握在国外公司手中,国内生产厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。其结构比较复杂由弹簧、探针头、探针尾、探针套筒4个部分组成,因为IC检测探针非常细小,所以组装和安装工艺要求高,从而形成探针的生产成本居高不下。

【发明内容】

[0003]发明目的:针对上述问题,本发明的目的是提供一种在不影响测试性能的前提下降低成本的检测探针生产方法。
[0004]技术方案:一种降低成本的检测探针生产方法,在生产时,将探针的针头、弹簧、探针套筒、探针尾四个部分进行简化,将弹簧两头延伸出连接段,省去探针头、探针尾以及探针套筒。
[0005]有益效果:与现有技术相比,本发明的优点是简化了探针结构,从而极大地降低了原材料采购及生产成本,大约能节约70%的成本。
【具体实施方式】
[0006]下面结合具体实施例,进一步阐明本发明,应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围,在阅读了本发明之后,本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
[0007]在IC芯片测试领域中有很多芯片对测试弹簧探针的要求不是特别高,比如电源管理芯片、LED恒流源芯片、555时钟芯片等,但是这些芯片应用于各种电子产品领域,所以芯片出货量巨大,对测试成本比较敏感。
[0008]本发明一种降低成本的检测探针生产方法,在生产时,将探针的针头、弹簧、探针套筒、探针尾四个部分进行简化,改变弹簧的形状,将弹簧两头延伸出连接段,省去探针头、探针尾以及探针套筒。本发明将复杂的探针结构尽量简化,在不影响测试性能的前提下降低生产成本,大约能节约70%的成本。
【主权项】
1.一种降低成本的检测探针生产方法,其特征在于:在生产时,将探针的针头、弹簧、探针套筒、探针尾四个部分进行简化,将弹簧两头延伸出连接段,省去探针头、探针尾以及探针套筒。
【专利摘要】本发明公开了一种降低成本的检测探针生产方法,在生产时,将探针的针头、弹簧、探针套筒、探针尾四个部分进行简化,将弹簧两头延伸出连接段,省去探针头、探针尾以及探针套筒。本发明的优点是简化了探针结构,从而极大地降低了原材料采购及生产成本,大约能节约70%的成本。
【IPC分类】G01R3/00, G01R1/067
【公开号】CN105628986
【申请号】CN201410623375
【发明人】郎继英
【申请人】智比特信息技术(镇江)有限公司
【公开日】2016年6月1日
【申请日】2014年11月8日
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