一种校准三针圆度的辅助定位装置的制造方法
【专利摘要】本发明提供一种校准三针圆度的辅助定位装置，包括底座、夹持器、V型测座、三针、平面测帽，其中底座的中心部设有圆形通孔，夹持器呈倒置凸台结构，夹持器下端的凸台与底座上的通孔装配连接，V型测座固定在夹持器上，三针装夹在V型测座的V型槽内，平面测帽位于V型槽的正上方。采用本发明，整个测量过程控制在10分钟之内，而且使用此装置，仅需单人就能够完成全部的测量工作；采用本发明大大提高了工作效率，且由于是一体设计，因此稳定性好，准确度更高，保证了检测数据的可靠。
【专利说明】
一种校准三针圆度的辅助定位装置
技术领域
[0001]本发明涉及一种校准三针圆度的辅助定位装置，属于测量技术领域。
【背景技术】
[0002]三针是带有标称直径的圆柱体量具。通常成组使用，三根直径相同的三针为一组，用于测量螺纹中径。校准三针的只要技术指标有直线度、圆度、直径偏差三项，利用立式光学计进行测量，但由于无圆度辅助定位校准装置，导致三针圆度无法校准，只能对三针部分项目校准，影响测量准确度。
【发明内容】
[0003]本发明提供一种校准三针圆度的辅助定位装置，一次性解决了此型三针的圆度校准问题。
[0004]本发明是通过以下技术方案实现的:一种校准三针圆度的辅助定位装置，包括底座、夹持器、V型测座、三针、平面测帽，其中底座的中心部设有圆形通孔，夹持器呈倒置凸台结构，夹持器下端的凸台与底座上的通孔装配连接，V型测座固定在夹持器上，三针装夹在V型测座的V型槽内，平面测帽位于V型槽的正上方。
[0005]本发明的优点:采用本发明，整个测量过程控制在10分钟之内，而且使用此装置，仅需单人就能够完成全部的测量工作;采用本发明大大提高了工作效率，且由于是一体设计，因此稳定性好，准确度更高，保证了检测数据的可靠。
【附图说明】
[0006]图1为本发明的结构示意图。
【具体实施方式】
[0007]如图1所示的一种校准三针圆度的辅助定位装置，包括底座1、夹持器2、V型测座3、三针4、平面测帽5，其中底座I的中心部设有圆形通孔，夹持器2呈倒置凸台结构，夹持器2下端的凸台与底座I上的通孔装配连接，V型测座3固定在夹持器2上，三针4装夹在V型测座3的V型槽内，平面测帽5位于V型槽的正上方。
[0008]使用时，采用以下步骤:
1、将立式光学计放在工作平台上；
2、将本发明辅助定位装置放在立式光学计的工作平台上；
3、将三针4安装在本发明辅助定位装置上；
4、将平面测帽5安装在立式光学计测量头上；
5、利用本发明辅助定位装置调整三针上工作面与平面测帽相接触；
6、每隔90°手动旋转三针，在360°范围内开始一次测量；
7、通过立式光学计读数窗口读取测量值，其中变化量最大值减去最小值之差的1/3SP为三针圆度值；
8、通过测量三针圆度的示值，计算测量误差，判断合格与否。
【主权项】
1.一种校准三针圆度的辅助定位装置，其特征在于:包括底座(1)、夹持器(2)、V型测座(3)、三针(4)、平面测帽(5)，其中底座(1)的中心部设有圆形通孔，夹持器(2)呈倒置凸台结构，夹持器(2)下端的凸台与底座(1)上的通孔装配连接，V型测座(3)固定在夹持器(2)上，三针(4)装夹在V型测座(3)的V型槽内，平面测帽(5)位于V型槽的正上方。
【文档编号】G01B5/08GK105841583SQ201610420668
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2016年6月16日
【发明人】刘洪霞, 李大伟, 刘中阳
【申请人】沈阳飞机工业（集团）有限公司