测量显微镜的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种测量显微镜，涉及测量显微镜制造技术领域，包括设有底板和物镜的显微镜本体，所述底板于底部设有燕尾槽并通过其燕尾槽与底座上端面的燕尾条相卡接；所述底板于所述物镜下方设有连通所述底座轴承孔的通孔，在所述底座的轴承孔内通过轴承装有转盘，在所述转盘上端面的中心孔内设有带顶尖的轴套，所述转盘于上端面呈圆周分布有多个用于插装手柄的沉孔。较之现有技术，本发明可以解决现有使用的显微镜检测微型细长轴类工件端部粗糙度时的检验效率低的问题。
【专利说明】
测量显微镜
技术领域
[0001]本发明涉及检测显微镜制造技术领域，尤其是一种用于检测零件表面粗糙度显微镜的底座。【背景技术】
[0002]在检测微型细长轴类工件端部粗糙度时，工件在使用之前与之后均需要进行端部粗糙度的全方位检测，以掌握其使用磨损情况。工件的结构特征，决定了检测工作必须借助于显微镜才能够清晰观察得到专用工件端部粗糙度情况，由于工件底面接触面小，无法稳定地竖直放置在操作台上，另外，由于显微镜视野范围的限制，工件很容易在调整观察角度的时候，偏离视野范围，需要重新调整工件与显微镜镜头的相对位置，工作效率低。
【发明内容】
[0003]本发明所要解决的技术问题是提供一种能增加显微镜检测范围的测量显微镜，以解决现有使用的显微镜检测微型细长轴类工件端部粗糙度时的检验效率低的问题。
[0004]本发明解决技术问题所采用的技术方案为:这种测量显微镜包括设有底板和物镜的显微镜本体，所述底板于底部设有燕尾槽并通过其燕尾槽与底座上端面的燕尾条相卡接;所述底板于所述物镜下方设有连通所述底座轴承孔的通孔，在所述底座的轴承孔内通过轴承装有转盘，在所述转盘上端面的中心孔内设有带顶尖的轴套，所述转盘于上端面呈圆周分布有多个用于插装手柄的沉孔。
[0005]上述测量显微镜技术方案中，更具体的技术方案还可以是:所述底座于一侧设有与所述底板相抵接的定位部。
[0006]由于采用了上述技术方案，本发明与现有技术相比具有如下有益效果:1、检测微型细长轴类工件端部粗糙度时，可将细长轴的一端插入轴套内使之固定在一个位置，通过一次性地调整、固定显微镜的观察位置，就能够实现随意放、取工件，提高检验的效率;2、底座具有可拆卸结构，通过拆卸工件放置座，使之用途多样化。【附图说明】
[0007]图1是本发明实施例的结构示意图。
[0008]图2是图1的A向视图。
[0009]图3是图1的B向视图。【具体实施方式】
[0010]以下结合附图对本发明作进一步详述:如图1至3所示的测量显微镜包括设有底板1 一 1和物镜1 一 2的显微镜本体1，底板1 一 1 于底部设有两条燕尾槽并通过其燕尾槽与底座2上端面的两条燕尾条2 — 2相卡接，本实施例的底座2于右侧设有与底板1 一 1相抵接的定位部2 — 3;于物镜1 一2下方的底板1 一 1开有一个连通底座2轴承孔的通孔1 一 3,在底座2的轴承孔内通过两个轴承4装有转盘5,转盘5的芯轴插装在两个上下叠起轴承4的内孔上，两个上下叠起轴承4通过底盖板装在轴承孔内， 上部轴承4的外圈通过挡圈6和卡簧7装在轴承孔内；在转盘5上端面的中心孔内装有带顶尖的轴套8,转盘5于上端面呈圆周分布有五一个用于插装转动手柄的沉孔5 — 1。
【主权项】
1.一种测量显微镜，包括设有底板(1 一 1)和物镜(1 一2)的显微镜本体(1)，其特征在 于:所述底板(1 一 1)于底部设有燕尾槽并通过其燕尾槽与底座(2)上端面的燕尾条(2 — 2) 相卡接;所述底板(1 一 1)于所述物镜(1 一 2)下方设有连通所述底座(2)轴承孔的通孔(1 一 3)，在所述底座(2)的轴承孔内通过轴承(4)装有转盘(5)，在所述转盘(5)上端面的中心孔 内设有带顶尖的轴套(8)，所述转盘(5)于上端面呈圆周分布有多个用于插装手柄的沉孔 (5 — 1)。2.根据权利要求1所述的测量显微镜，其特征在于:所述底座(2)于一侧设有与所述底 板(1 一1)相抵接的定位部(2 — 3)。
【文档编号】G01B11/30GK106017309SQ201610484421
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年6月28日
【发明人】张景华
【申请人】梧州奥卡光学仪器有限公司