一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置的制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，包括卡座支架和固定支架，所述卡座支架位于固定支架下方，卡座支架的下端设置有卡座，卡座支架上设置有缓冲结构；卡座支架和固定支架采用支杆结构连接，卡座支架设置有卡座和缓冲结构，解决了容易受被检工件表面条件影响等问题；支杆连接结构为空心杆结构，减轻重量，方便携带，并且支杆连接结构使得有足够的观察视野；固定支架的竖直支杆可插入所述卡座支架的竖直支杆中并通过卡扣结构固定，可以根据实际需求调整装置高度并且方便携带，可重复利用；固定支架上端设置有防磨垫，能减轻磁粉检测仪器和固定支架的碰撞和摩擦，延长磁粉检测仪器和装置的使用寿命。
【专利说明】
一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置
技术领域
[0001]本发明涉及检测灵敏度校验领域，尤其是涉及一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置。
【背景技术】
[0002]磁粉检测的灵敏度试片用于检查磁粉检测设备、磁粉、磁悬液的综合性能。在采用磁粉检测方法对工件进行检测前，需要使用灵敏度试片对检测系统灵敏度进行校验，校验合格后才能对工件进行检测。
[0003]目前，磁粉检测通常采用DT4A超高纯低碳纯铁材质的A1-15/50型灵敏度试片对磁粉检测系统进行校验。灵敏度试片通常是由一侧刻有一定深度的直线和圆形细槽的薄铁片制成，如图1所示。A1-15/50型灵敏度试片是一边长为20mm、厚度为50um的正方形，以正方形中心为圆心设置一直径为1mm的圆形刻槽，以圆心为交点，在圆形刻槽内设置以一边长为6mm的十字形刻槽，圆形刻槽和十字形刻槽的深度均为15um。使用灵敏度试片对检测系统灵敏度进行校验的方法是将试片有刻槽的一面与被检工件的表面贴紧，然后对工件进行磁化并施加磁粉。如果磁化方法、规范选择得当，在试片另一面上应能看到与刻槽相对应的磁痕显不O
[0004]然而，在实际检测过程中，被检工件的表面并不能达到标准规定的条件，甚至会有表面粗糙、形状不规则、积灰、积渣等情况，如果把现有技术中公开的灵敏度试片粘贴在这类工件的表面，通常会造成试片不能与工件表面紧密贴合，影响灵敏度校验的效果；另一方面，现有的方法是使用胶带纸把试片粘贴在被检工件表面上，校验完毕后再把胶带纸从试片上撕掉，在这过程中，极其容易对薄薄的试片造成破损、折痕等。因此，现有的灵敏度试片在使用过程中操作繁琐、受被检工件表面条件影响较大、所使用的胶带纸不能重复使用且费时费力，从而给现场检测的工作人员带来很大的麻烦。本发明就是在这种背景下作出的。
【发明内容】
[0005]针对上述问题，本发明提供了一种受被检工件表面条件影响较小、方便携带以及可重复使用的用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置。
[0006]本发明为解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，包括卡座支架和固定支架，所述卡座支架位于固定支架下方，所述卡座支架的下端设置有可使试片固定并可使试片与试件贴紧的卡座，所述卡座支架上设置有能沿竖直方向自由伸缩的缓冲结构。
[0007]作为上述方案的进一步改进，所述卡座支架和固定支架均为支杆连接结构。
[0008]作为上述方案的进一步改进，所述卡座支架和固定支架的支杆连接结构均包括有竖直支杆和连接在相邻竖直支杆之间的水平支杆，所述竖直支杆和水平支杆均为空心杆。
[0009]作为上述方案的进一步改进，所述固定支架通过一可调节式定位结构安装在所述卡座支架上方。
[0010]作为上述方案的进一步改进，所述卡座设置在卡座支架的竖直支杆下端，并可绕其所在的竖直支杆旋转用于方便试片的放置和固定。
[0011]作为上述方案的进一步改进，所述缓冲结构为内部设置有弹性元件的弹性伸缩结构，并且缓冲结构两端与所述卡座支架的竖直支杆连接。
[0012]作为上述方案的进一步改进，所述可调节式定位结构采用卡扣结构，卡扣结构设置在所述卡座支架上端，并包括有固定卡口和活动锁扣，所述固定支架竖直支杆的外径比所述卡座支架竖直支杆的内径小，所述固定支架的竖直支杆可插入所述卡座支架的竖直支杆中并通过卡扣结构固定。
[0013]作为上述方案的进一步改进，所述固定支架上端设置有防磨垫用于减轻磁粉检测仪器对固定支架的碰撞以及摩擦。
[0014]作为上述方案的进一步改进，所述空心杆为高强度低密度材料。
[0015]本发明的有益效果是:本发明公开了一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，其卡座支架和固定支架采用支杆结构连接，卡座支架下端设置有固定试片并使试片与试件保持紧贴的卡座，并在其竖直支杆中部设置有缓冲结构，有效地解决了容易受被检工件表面条件影响等问题，避免因试件表面情况而造成的灵敏度校验失败；
此外，卡座支架和固定支架设置成支杆连接结构，支杆连接结构为空心杆结构，减轻了装置重量，方便携带使用，并且支杆连接结构使得在磁粉检测灵敏度校验过程中有足够的观察视野，便于快速判断灵敏度校验的效果；固定支架通过一可调节式定位结构安装在所述卡座支架上方，可调节式定位结构采用卡扣结构，固定支架的竖直支杆可插入所述卡座支架的竖直支杆中并通过卡扣结构固定，可以根据实际需求调整装置高度并且方便携带，可重复利用；
进一步，固定支架上端设置有防磨垫，因此在操作沉重的磁粉检测仪器时，能减轻磁粉检测仪器和固定支架的碰撞和摩擦，延长磁粉检测仪器和装置的使用寿命。
【附图说明】
[0016]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单说明。显然，所描述的附图只是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得的其他设计方案和附图:
图1是本发明较佳实施例的结构示意图。
【具体实施方式】
[0017]以下将结合实施例和附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本发明的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本发明的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本发明保护的范围。
[0018]参照图1，一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，包括卡座支架I和固定支架2，所述卡座支架I和固定支架2均为支杆连接结构，并且固定支架2位于卡座支架I的上方。优选的，所述卡座支架I设置有四根等长的竖直支杆并在卡座支架I上下端各设置四根等长的水平支杆，支杆相互连接保证卡座支架I的结构稳定性。卡座支架I的每根竖直支杆上端均设置有一个可调节式定位结构，优选的，所述可调节式定位结构为卡扣结构3，所述卡扣结构3包括有固定卡口和活动锁扣，所述可调节式定位结构除设置成卡扣结构3外，还可设置成插销式结构等其它结构;卡座支架I的每根竖直支杆中部均设置有一个能自由伸缩以适应不同表面的缓冲结构5，所述缓冲结构5设置为弹性伸缩结构，其内部设置有弹性元件如弹簧，缓冲结构5的伸缩距离为一到三毫米，可以根据试件的表面结构自由调节伸缩距离;卡座支架I的竖直支杆下端设置有能使试片固定并使试片紧贴于试件的卡座4，所述卡座4可绕其所在的竖直支杆旋转用于方便试片的放置和固定。固定支架2设置有四根等长的竖直支杆并在其上端设置有四根等长的水平支杆，每根水平支杆中部均设置有防磨垫6用于减轻磁粉检测仪器对固定支架2的碰撞以及摩擦。
[0019]所述卡座支架I与所述固定支架2通过卡扣结构3连接，
所述支杆连接结构为空心杆结构，所述卡座支架I的竖直支杆内径比固定支架2的竖直支杆外径大一到两毫米，形成间隙配合，并且卡座支架I与固定支架2的各自四根竖直支杆
--对应设置成通过卡扣结构3固定的可伸缩式结构，即固定支架2的竖直支杆可插入卡座支架I的竖直支杆中，并可通过卡扣结构3固定调整合适的高度。
[0020]本发明使用时，先拧松每个卡扣结构3的锁扣，再调节固定支架2的高度，使装置的整体高度比所配合使用的磁粉检测仪器的探头高度高一到两毫米，然后拧紧锁扣使固定支架2固定。将试片放在卡座4上，旋动卡座4的角度，使试片固定在卡座4上。把装置放到磁粉检测仪器下，从磁粉检测仪器上稍微用力，使试片紧贴试件表面，即可进行磁粉检测的灵敏度校验。
[0021]所述上述实施例是对本发明的上述内容作进一步的说明，但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于上述实施例，凡基于上述内容所实现的技术均属于本发明的范围。
【主权项】
1.一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，其特征在于:包括卡座支架(I)和固定支架(2)，所述卡座支架(I)位于固定支架(2)下方，所述卡座支架(I)的下端设置有可使试片固定并可使试片与试件贴紧的卡座(4)，所述卡座支架(I)上设置有能沿竖直方向自由伸缩的缓冲结构(5)。2.根据权利要求1所述的一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，其特征在于:所述卡座支架(I)和固定支架(2)均为支杆连接结构。3.根据权利要求2所述的一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，其特征在于:所述卡座支架(I)和固定支架(2)的支杆连接结构均包括有竖直支杆和连接在相邻竖直支杆之间的水平支杆，所述竖直支杆和水平支杆均为空心杆。4.根据权利要求3所述的一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，其特征在于:所述固定支架(2)通过一可调节式定位结构安装在所述卡座支架(I)上方。5.根据权利要求3所述的一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，其特征在于:所述卡座(4)设置在卡座支架(I)的竖直支杆下端，并可绕其所在的竖直支杆旋转用于方便试片的放置和固定。6.根据权利要求3所述的一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，其特征在于:所述缓冲结构(5)为内部设置有弹性元件的弹性伸缩结构，并且缓冲结构(5)两端与所述卡座支架(I)的竖直支杆连接。7.根据权利要求4所述的一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，其特征在于:所述可调节式定位结构采用卡扣结构(3)，卡扣结构(3)设置在所述卡座支架(I)上端，并包括有固定卡口和活动锁扣，所述固定支架(2)竖直支杆的外径比所述卡座支架(I)竖直支杆的内径小，所述固定支架(2 )的竖直支杆可插入所述卡座支架(I)的竖直支杆中并通过卡扣结构(3)固定。8.根据权利要求1所述的一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，其特征在于:所述固定支架(2)上端设置有防磨垫(6)用于减轻磁粉检测仪器对固定支架(2)的碰撞以及摩擦。9.根据权利要求3所述的一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置，其特征在于:所述空心杆为高强度低密度材料。
【文档编号】G01N27/84GK106018546SQ201610547480
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年7月11日
【发明人】杨新健, 黄桂林, 马志坚, 罗汇果
【申请人】广东省特种设备检测研究院珠海检测院