微波元件测试装置的制造方法
【专利摘要】一种微波元件测试装置，包含一底板；一第一夹持件，经由至少一第一万向轴承设置于该底板上；以及一第二夹持件，与该第一夹持件以并列夹持的排列方式固定于该底板之上。在本发明一实施例中，该第一夹持件经由该第一万向轴承设置于该底板上，因此该第一夹持件在一平面的位置可以微调，以适应待测微波元件在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管的测试接头紧密接合待测微波元件，避免电磁波外漏而影响测试结果。
【专利说明】
微波元件测试装置
技术领域
[0001]本发明关于微波元件测试领域，特别关于一种微波元件测试装置。
【背景技术】
[0002]最终产品的测试是产品的品质管制最重要且不可忽略的一环，在面对多样化和以客制化为主的厂商，用于最终产品测试的测试装置必须能够适应不同规格的产品来进行测试，所以在这样的状况下测试装置的可调整性便十分重要。
[0003]除了测试装置要能适应不同规格的产品而调整之外，产品本身在生产时所造成的尺寸误差在测量时也需要注意。例如，通信产品的导波件是以铸造方式来制作，因此制成的导波件会有较大的生产误差。在测量具有此一导波件的微波元件时，测量装置就要能够容许这样大的误差存在，使其在测量时不至于影响到测量值的正确性。
[0004]图1是一公知的微波元件测试装置的示意图。微波元件11的测试是由测试接头12与导波管13的组合接收并引导微波元件11所产生的收/发微波信号，被引导的微波信号经由仪器测量并分析以判断微波元件11的功能是否符合规格。为使测试接头12能适应微波元件11的铸造上产生尺寸误差，因此在导波管13的一端设置硅胶14。由于硅胶14的弹性与易变形的特性，使测试接头12得以在一定范围之内做偏移，藉此偏移来容纳微波元件11的尺寸误差。
[0005]然而，公知的测试装置在使用一段时间后，由于硅胶14的变形，使得测试接头12无法在测试结束后偏移回到中心位置，很容易在下次测试时卡在元件接口 15而造成无法测量的状况。此外，以上述的偏移方式所能容纳的制造误差是有限的，微波元件11的尺寸误差过大的话，测试接头12将无法密合元件接口 15而使得微波外泄影响到测试结果。
【发明内容】
[0006]本发明一实施例提供一种微波元件测试装置，包含一底板；一第一夹持件，经由至少一第一万向轴承设置于该底板上；以及一第二夹持件，与该第一夹持件以并列夹持的排列方式固定于该底板之上。在本发明一实施例中，该第一夹持件经由该第一万向轴承设置于该底板上，因此该第一夹持件在一平面的位置可以微调，以适应待测微波元件在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管的测试接头紧密接合待测微波元件，避免电磁波外漏而影响测试结果。
[0007]于本发明一实施例中，该第二夹持件具有一凹部，该第一夹持件设置于该凹部中。
[0008]于本发明一实施例中，该底板具有一第一开孔，且一导波管穿置于该第一开孔中。
[0009]于本发明一实施例中，该第一夹持件夹固该导波管。
[0010]于本发明一实施例中，所述微波元件测试装置还包含一连接模组，经由至少一第一万向轴承设置于该第二夹持件上。
[0011 ] 于本发明一实施例中，该连接模组包含:
[0012]至少一滑导件；
[0013]至少一连杆，所述连杆包含一第一端部与一第二端部，其中该第二端部穿置于该滑导件中；以及
[0014]至少一弹压件，所述弹压件设置于该第二端部，且压抵于该连杆；
[0015]其中该至少一连杆经由该至少一第一万向轴承连接该第二夹持件。
[0016]于本发明一实施例中，所述微波元件测试装置还包含:
[0017]—第一移动模组，包含一座体及一嵌合座，该嵌合座与该座体相互嵌合且沿第一方向移动；以及
[0018]—第二移动模组，设置于该嵌合座上且可沿第二方向移动，其中该第一方向与该第二方向在平面上是非垂直关系；
[0019]其中该座体具有至少一开孔，该第二端部设置于该开孔中。
[0020]于本发明一实施例中，该第二移动模组包含:
[0021]—基板，设置于该嵌合座上；
[0022]—第一板件，设置于该基板上且具有至少一第一斜边；以及
[0023]—第二板件，设置于该基板上且具有至少一第二斜边，该第二斜边经配置以与该第一斜边相对移动。
[0024]于本发明一实施例中，该基板具有一凹部，该第二板件具有一凸部，该凸部设置于该凹部内。
[0025]于本发明一实施例中，该基板具有一凸部，该嵌合座具有一凹部，该凸部设置于该凹部内。
[0026]于本发明一实施例中，该座体具有一第一嵌合部，该嵌合座具有一与该第一嵌合部相对应的第二嵌合部，该第一嵌合部与该第二嵌合部相互嵌合。
[0027]本发明另一实施例提供一种微波元件测试装置，包含至少一滑导件；至少一连杆，包含一第一端部与一第二端部，其中该第二端部穿置于该滑导件中；至少一万向轴承，设置于该第一端部；以及至少一弹压件，设置于该第二端部，且压抵于该连杆。在本发明一实施例中，该弹压件可让该测试接头在一方向做微幅的上下调整以容许待测微波元件在铸造时产生的高度误差。在测试当时，该弹压件受压缩所产生的弹压力，亦可让该测试接头得以紧压该待测微波元件，使得电磁波不外漏而影响测试结果。在本发明一实施例中，该微波元件测试装置可通过该至少一第二万向轴承微调在一平面的位置，以适应待测微波元件在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管的测试接头紧密接合待测微波元件，避免电磁波外漏而影响测试结果。
[0028]于本发明一实施例中，所述微波元件测试装置还包含一夹持模组，经配置以夹固一导波管，该至少一连杆经由该至少一万向轴承连接该夹持模组。
[0029]本发明另一实施例提供一种微波元件测试装置，包含一第一移动模组及一第二移动模组；该第一移动模组包含一座体及一嵌合座，该嵌合座与该座体相互嵌合且沿第一方向移动；该第二移动模组设置于该嵌合座上且可沿第二方向移动，其中该第一方向与该第二方向在平面上是非垂直关系。在本发明一实施例中，该微波元件测试装置通过该第二移动模组的第二方向与该第一移动模组的第一方向在平面上是非垂直关系，而微调在一平面的位置，以适应该待测微波元件在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管的测试接头紧密接合待测微波元件I，避免电磁波外漏而影响测试结果。
[0030]于本发明一实施例中，该第二移动模组包含:
[0031]—基板，设置于该嵌合座上；
[0032]—第一板件，设置于该基板上且具有至少一第一斜边；以及
[0033]—第二板件，设置于该基板上且具有至少一第二斜边，该第二斜边经配置以与该第一斜边相对移动。
[0034]于本发明一实施例中，该基板具有一凹部，该第二板件具有一凸部，该凸部设置于该凹部内。
[0035]于本发明一实施例中，该基板具有一凸部，该嵌合座具有一凹部，该凸部设置于该凹部内。
[0036]于本发明一实施例中，该座体具有一第一嵌合部，该嵌合座具有一与该第一嵌合部相对应的一第二嵌合部，该第一嵌合部与该第二嵌合部相互嵌合。
[0037]上文已相当广泛地概述本发明的技术特征及优点，俾使下文的本发明详细描述得以获得较佳了解。构成本发明的权利要求标的的其它技术特征及优点将描述于下文。本发明所属技术领域中具有通常知识者应了解，可相当容易地利用下文揭示的概念与特定实施例可作为修改或设计其它结构或工艺而实现与本发明相同的目的。本发明所属技术领域中具有通常知识者亦应了解，这类等效建构无法脱离本发明权利要求所界定的本发明的精神和范围。
【附图说明】
[0038]图1是一公知的微波元件测试装置的示意图；
[0039]图2及图3是本发明一实施例的微波元件测试装置的组合示意图；
[0040]图4是图2的分解示意图；
[0041 ]图5是图3的分解示意图；
[0042]图6及图7是本发明一实施例的微波元件测试装置的夹持模组的分解示意图；
[0043]图8及图9是本发明一实施例的微波元件测试装置的连接模组的分解示意图；
[0044]图10及第图11是本发明一实施例的微波元件测试装置的第一移动模组的分解示意图；
[0045]图12及图13是本发明一实施例的微波元件测试装置的第二移动模组的分解示意图。
[0046]其中，附图标记说明如下:
[0047]11微波元件
[0048]12测试接头
[0049]13导波管
[0050]14 硅胶
[0051]15元件接口
[0052]20微波元件测试装置
[0053]21测试接头
[0054]23导波管
[0055]30夹持模组
[0056]31底板
[0057]3IA 开孔
[0058]3IB开孔
[0059]33第一夹持件
[0060]35第二夹持件
[0061]35A 凹部
[0062]35B开孔
[0063]37第一万向轴承
[0064]37A 滚珠
[0065]50连接模组
[0066]51滑动件
[0067]53连杆
[0068]53A 第一端部
[0069]53B第二端部
[0070]55 弹压件
[0071]57 第二万向轴承
[0072]59 环凸
[0073]70 第一移动模组
[0074]71 座体
[0075]7IA第一嵌合部
[0076]7IB 开孔
[0077]73 嵌合座
[0078]73A第二嵌合部
[0079]73B 螺孔
[0080]73C 凹部
[0081]90 第二移动模组
[0082]91 基板
[0083]9IA 凹部
[0084]9IB 凸部
[0085]93 第一板件
[0086]93A 第一斜边
[0087]95 第二板件
[0088]95A 第二斜边
[0089]95B 凸部
[0090]100驱动机构
[0091]101 侧板
[0092]1lA 开孔
[0093]103 螺栓
【具体实施方式】
[0094]为了使本领域普通技术人员能彻底地了解本发明，将在下列的描述中提出详尽的步骤及结构。显然地，本发明的实现并未限定于相关领域的普通技术人员所熟悉的特殊细节。另一方面，众所周知的结构或步骤并未描述于细节中，以避免造成本发明不必要的限制。本发明的较佳实施例会详细描述如下，然而除了这些详细描述之外，本发明还可以广泛地施行在其他实施例中，且本发明的保护范围不受限定，其以本发明的权利要求书为准。
[0095]图2及图3是本发明一实施例的微波元件测试装置20的组合示意图，图4及图5分别是图2及图3的分解示意图。在本发明一实施例中，该微波元件测试装置20可概略分成一夹持模组30、一连接模组50、一第一移动模组70及一第二移动模组90，其中该连接模组50连接该夹持模组30与该第一移动模组70，该第二移动模组90设置于该第一移动模组70上。
[0096]图6及图7是本发明一实施例的微波元件测试装置20的夹持模组30的分解示意图。在本发明一实施例中，该夹持模组30包含一底板31 ;—第一夹持件33，经由至少一第一万向轴承37设置于该底板31上；以及一第二夹持件35，与该第一夹持件33以并列夹持的排列方式固定于该底板31的上。在本发明一实施例中，该第一万向轴承37是设置于该底板31的一第二开孔3IB中，且具有一滚珠37A，抵靠于该第一夹持件33的底面。在本发明一实施例中，该底板31配置多个(亦即2个以上)第一万向轴承37，且该第一夹持件33是经由该多个第一万向轴承37抵靠于该底板31。
[0097]在本发明一实施例中，该第二夹持件35具有一凹部35A，该第一夹持件33是设置于该凹部35A中。在本发明一实施例中，该第二夹持件35的顶面具有至少一开孔35B，容纳该连接模组50的一第二万向轴承57。在本发明一实施例中，该第二夹持件35配置多个(亦即2个以上)开孔35B，以容纳多个(亦即2个以上)第一万向轴承37。在本发明一实施例中，一导波管23是穿置于该底板31的一第一开孔31A中。在本发明一实施例中，该第一夹持件33与该第二夹持件35各采二件式设计，组合后即可夹固该导波管23。
[0098]铸造的微波元件11在水平方向(X-Y平面)通常具有尺寸误差。在本发明一实施例中，该第一夹持件33是经由该第一万向轴承37设置于该底板31上，因此该第一夹持件33在X-Y平面的位置可以微调，以适应待测的微波元件11在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管23的测试接头21紧密接合待测的微波元件11的元件接口 15，避免电磁波外漏而影响测试结果。
[0099]图8及图9是本发明一实施例的微波元件测试装置20的连接模组50的分解示意图。在本发明一实施例中，该连接模组50包含至少一滑导件51 ;至少一连杆53，包含一第一端部53A与一第二端部53B，其中该第二端部53B穿置于该滑导件51中；至少一第二万向轴承57，设置于该第一端部53A ;以及至少一弹压件55，设置于该第二端部53B，且压抵于该连杆53。在本发明一实施例中，该连杆53上介于该弹压件55与该滑导件51之间设有一环凸59，该环凸59与该连杆53可为一体成型。
[0100]在本发明一实施例中，该第一移动模组70具有一座体71，该滑导件51、该弹压件55及该环凸59是设置该座体71的一开孔7IA中。在本发明一实施例中，该第一移动模组70的座体71具有多个(亦即2个以上)开孔71B，以容纳多组该滑导件51、该弹压件55及该环凸59。在本发明一实施例中，该弹压件55是一可回复的弹性体，该连杆53的该第一端部53A与该第二夹持件35经由该第二万向轴承57连接。在本发明一实施例中，该弹压件55包含如实施例所示的弹簧，但亦可包含非金属如橡、硅胶等。
[0101]在测试铸造的微波元件11时，每个元件接口 15的高度(Z轴方向)会有些许尺寸误差。在本发明一实施例中，该弹压件55即可让该测试接头21在Z轴方向做微幅的上下调整以容许这些尺寸误差的存在。在测试当时，该弹压件55受压缩所产生的弹压力，亦可让该测试接头21得以紧压该元件接口 15，使得电磁波不外漏而影响测试结果。在本发明一实施例中，该滑导件30可包含如滑座、导套或轴承等构件，而轴承可使用铁氟龙线性轴承、线性气浮式轴承或线性滚珠轴承等。该滑导件30上的该环凸29可对该弹压件55做些微的抵压，以稳固整个组合使其在移动中不致晃动。
[0102]铸造的微波元件11在水平方向(X-Y平面)通常具有尺寸误差。在本发明一实施例中，该连接模组50经由该第二万向轴承57设置于该夹持模组30上，因此该连接模组50可通过该第二万向轴承57微调在X-Y平面的位置，以适应待测的微波元件11在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管23的测试接头21紧密接合待测的微波元件11的元件接口 15，避免电磁波外漏而影响测试结果。
[0103]图10及图11是本发明一实施例的微波元件测试装置20的第一移动模组70的分解不意图。在本发明一实施例中，该第一移动模组70包含一座体71及一嵌合座73，该嵌合座73与该座体71相互嵌合沿一第一方向(例如，X方向)移动。在本发明一实施例中，该座体71具有一第一嵌合部71A，该嵌合座73具有一第二嵌合部73A，其与该第一嵌合部7IA相对应，该第一嵌合部7IA与该第二嵌合部73A相互嵌合。在本发明一实施例中，该嵌合座73具有一螺孔73B，一螺栓75可通过该螺孔73B在第一方向(例如，X方向)移动该嵌合座73。
[0104]铸造的微波元件11在水平方向(X-Y平面)通常具有尺寸误差。在本发明一实施例中，该第一移动模组70经由在第一方向(例如，X方向)移动该嵌合座73而微调在X-Y平面的位置，以适应待测的微波元件11在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管23的测试接头21紧密接合待测的微波元件11的元件接口 15，避免电磁波外漏而影响测试结果。
[0105]图12及图13是本发明一实施例的微波元件测试装置20的第二移动模组90的分解示意图。在本发明一实施例中，该第二移动模组90是设置于该嵌合座73上且可沿第二方向移动，其中该第一方向(X方向)与该第二方向在一平面(X-Y平面)上是非垂直关系，亦即该第一方向(X方向)与该第二方向在一平面(X-Y平面)上是倾斜关系。
[0106]铸造的微波元件11在水平方向(X-Y平面)通常具有尺寸误差。在本发明一实施例中，该微波元件测试装置20通过沿该第二方向移动，其与该第一方向在平面上是非垂直关系，实现斜向移动而微调在X-Y平面的位置，以适应待测的微波元件11在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管23的测试接头21紧密接合待测的微波元件11的元件接口15，避免电磁波外漏而影响测试结果。
[0107]在本发明一实施例中，该第二移动模组90包含一基板91，设置该嵌合座73上；一第一板件93，设置于该基板91上且具有至少一第一斜边93A ;—第二板件95，设置于该基板91上且具有至少一第二斜边95A，该第二斜边95A经配置以与该第一斜边93A相对移动。在本发明一实施例中，该基板91具有一凹部91A，该第二板件95具有一凸部95B，该凸部95B设置于该凹部91A。在本发明一实施例中，该基板91具有一凸部91B，该嵌合座73具有一凹部73C，该凸部91B设置于该凹部73C。
[0108]在本发明一实施例中，该第二移动模组90包含一驱动机构100，包含一侧板101，设置于该基板91的侧边；以及一螺栓103，经由该侧板101的一开孔1lA驱动该第二板件95沿着X方向移动，而该第二板件95的该第二斜边95A则对应地与该第一板件93的该第一斜边93A进行斜向移动。
[0109]铸造的微波元件11在水平方向(X-Y平面)通常具有尺寸误差。在本发明一实施例中，该第二移动模组90经由该第二板件95的该第二斜边95A对应地与该第一板件93的该第一斜边93A进行斜向移动而微调在X-Y平面的位置，以适应待测的微波元件11在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管23的测试接头21紧密接合待测的微波元件11的元件接口 15，避免电磁波外漏而影响测试结果。
[0110]本发明的技术内容及技术特点已揭示如上，然而本发明所属技术领域中具有通常知识者应了解，在不背离本发明权利要求所界定的本发明精神和范围内，本发明的教示及揭示可作种种的替换及修饰。例如，上文揭示的许多工艺可以不同的方法实施或以其它工艺予以取代，或者采用上述二种方式的组合。
[0111]此外，本发明的权利要求范围并不局限于上文揭示的特定实施例的工艺、机台、制造、物质的成份、装置、方法或步骤。本发明所属技术领域中普通技术人员应了解，基于本发明教示及揭示工艺、机台、制造、物质的成份、装置、方法或步骤，无论现在已存在或日后开发者，其与本案实施例揭示者是以实质相同的方式执行实质相同的功能，而达到实质相同的结果，亦可使用于本发明。因此，本发明权利要求书盖此类工艺、机台、制造、物质的成份、装置、方法或步骤。
【主权项】
1.一种微波元件测试装置，包含: 一底板； 一第一夹持件，经由至少一第一万向轴承设置于该底板上；以及 一第二夹持件，与该第一夹持件以并列夹持的排列方式固定于该底板之上。2.根据权利要求1所述的微波元件测试装置，其特征在于，该第二夹持件具有一凹部，该第一夹持件设置于该凹部中。3.根据权利要求1所述的微波元件测试装置，其特征在于，该底板具有一第一开孔，且一导波管穿置于该第一开孔中。4.根据权利要求3所述的微波元件测试装置，其特征在于，该第一夹持件夹固该导波管。5.根据权利要求1所述的微波元件测试装置，其特征在于，所述微波元件测试装置还包含一连接模组，经由至少一第一万向轴承设置于该第二夹持件上。6.根据权利要求5所述的微波元件测试装置，其特征在于，该连接模组包含: 至少一滑导件； 至少一连杆，所述连杆包含第一端部与第二端部，其中该第二端部穿置于该滑导件中；以及 至少一弹压件，所述弹压件设置于该第二端部，且压抵于该连杆； 其中该至少一连杆经由该至少一第一万向轴承连接该第二夹持件。7.根据权利要求5所述的微波元件测试装置，其特征在于，所述微波元件测试装置还包含: 一第一移动模组，包含一座体及一嵌合座，该嵌合座与该座体相互嵌合且沿第一方向移动；以及 一第二移动模组，设置于该嵌合座上且可沿第二方向移动，其中该第一方向与该第二方向在平面上是非垂直关系； 其中该座体具有至少一开孔，该第二端部设置于该开孔中。8.根据权利要求7所述的微波元件测试装置，其特征在于，该第二移动模组包含: 一基板，设置于该嵌合座上； 一第一板件，设置于该基板上且具有至少一第一斜边；以及 一第二板件，设置于该基板上且具有至少一第二斜边，该第二斜边经配置以与该第一斜边相对移动。9.根据权利要求8所述的微波元件测试装置，其特征在于，该基板具有一凹部，该第二板件具有一凸部，该凸部设置于该凹部内。10.根据权利要求8所述的微波元件测试装置，其特征在于，该基板具有一凸部，该嵌合座具有一凹部，该凸部设置于该凹部内。11.根据权利要求7所述的微波元件测试装置，其特征在于，该座体具有第一嵌合部，该嵌合座具有与该第一嵌合部相对应的第二嵌合部，该第一嵌合部与该第二嵌合部相互嵌入口 ο12.—种微波元件测试装置，包含: 至少一滑导件； 至少一连杆，所述连杆包含一第一端部与一第二端部，其中该第二端部穿置于该滑导件中； 至少一万向轴承，所述万向轴承设置于该第一端部；以及 至少一弹压件，所述弹压件设置于该第二端部，且压抵于该连杆。13.根据权利要求12所述的微波元件测试装置，其特征在于，所述微波元件测试装置还包含一夹持模组，经配置以夹固一导波管，该至少一连杆经由该至少一万向轴承连接该夹持模组。14.一种微波元件测试装置，包含: 一第一移动模组，包含一座体及一嵌合座，该嵌合座与该座体相互嵌合且沿第一方向移动； 一第二移动模组，设置于该嵌合座上且可沿第二方向移动，其中该第一方向与该第二方向在平面上是非垂直关系。15.根据权利要求14所述的微波元件测试装置，其特征在于，该第二移动模组包含: 一基板，设置于该嵌合座上； 一第一板件，设置于该基板上且具有至少一第一斜边；以及 一第二板件，设置于该基板上且具有至少一第二斜边，该第二斜边经配置以与该第一斜边相对移动。16.根据权利要求15所述的微波元件测试装置，其特征在于，该基板具有一凹部，该第二板件具有一凸部，该凸部设置于该凹部内。17.根据权利要求15所述的微波元件测试装置，其特征在于，该基板具有一凸部，该嵌合座具有一凹部，该凸部设置于该凹部内。18.根据权利要求14所述的微波元件测试装置，其特征在于，该座体具有第一嵌合部，该嵌合座具有与该第一嵌合部相对应的第二嵌合部，该第一嵌合部与该第二嵌合部相互嵌入口 ο
【文档编号】G01B5/00GK106052504SQ201510229079
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2015年5月7日
【发明人】余秀文, 古世良
【申请人】台扬科技股份有限公司