一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法
【专利摘要】本发明涉及化学检测领域，尤其涉及一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法；本发明通过对表面镀膜金片进行脱膜前处理，再利用X射线荧光光谱法进行金含量检测；其中脱膜前处理溶胶步骤只针对膜上的胶体反应，对金层无反应，不仅能够快速便捷的将膜与金层分离，且能较大程度的保持金层的完整；脱膜的金片可以便捷进行X射线荧光光谱检测，解决了覆膜带来的测试结果失真问题，而且能准确的测出金质量，均很好的满足了快速、准确、无损耗的检测要求。
【专利说明】
一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法
技术领域
[0001] 本发明涉及化学检测领域，尤其涉及一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测 定方法。
【背景技术】
[0002] 金有极好的延展性能，可以加工成很薄的片材。随着生活质量的提高，金在人们生 活中的使用越来越频繁。当前市场上金片工艺品更是推陈出新，一种表面覆膜的金片在工 艺礼品上流行起来。随之而来的检验难度及工作量也在增加，这对快速准确的检验要求提 出了考验。
[0003] 在检测表面覆膜的金片产品过程中，金含量及质量是生产商及消费者关心的重 点。目前对于高含金量的测定主要有X荧光光谱法、灰吹法、容量法、电感耦合等离子体光谱 法及质谱法等。其中灰吹法、容量法、电感耦合等离子体光谱法及质谱法均为破坏性检测方 法，对样品具有一定的损耗，且分析周期较长，检测成本较高，不利于量产要求的快速分析 检测。而X荧光光谱法检测对样品无损耗，且分析速度快，操作简便，检测数据准确，能够很 好的满足量产检测要求的快速、准确。但是X射线荧光光谱仪测试时要求X射线必须击打在 金层上，表面覆膜金片由于表面覆膜，X射线无法直接击打在金层表面，导致数据异常失真， 且在进行质量分析时，由于覆膜原因，无法直接称量金质量。
[0004] 目前行业里多采用强酸或者强碱进行软化胶体的方法，或者采用火烧法。利用强 酸强碱除胶，需让覆膜金片完全浸没在强酸或强碱溶液中，这有可能使得金层中的杂质金 属元素铁、锌、铝、铜等与酸或碱反应，破坏金层的杂质元素含量，导致后续金含量测试不准 确。采用火烧法，当金片很薄时有可能使很薄的金片融化，或者覆膜的胶体燃烧不净无法得 到完整的金层以进行后续的质量及金含量的测量，且火烧法通过燃烧高分子覆膜，既不环 保也存在较多缺陷。
[0005] 所以需要一种新的检测表面覆膜的金片产品含金量和金质量的方法，可以在不损 坏金片的情况下快速测量。
【发明内容】
[0006] 本发明的目的在于提供一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，旨在 解决现有检测技术检测时对金片会产生损害的问题。
[0007] 本发明是这样实现的：一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其特 征在于，包括以下步骤： A. 溶胶步骤，所述溶胶步骤系将覆膜金片完全浸于溶胶剂中并密封，所述覆膜金片包 括金片层和包裹在所述金片层之外的覆膜层，所述覆膜层与所述金片层之间通过高分子胶 层相连;所述溶胶剂系所述高分子胶层的良溶剂； B. 脱模步骤，所述脱模步骤系将所述覆膜金片的所述覆膜层与所述金片层分离； C. 检测步骤，所述检测步骤系将经过所述脱模步骤的所述金片层放入X荧光光谱仪中 检测其含金量，将经过所述脱模步骤的所述金片层放入电子天平检测质量。
[0008] 本发明的进一步技术方案是:所述步骤A之前还包括步骤A1.裁剪步骤，所述裁剪 步骤系将所述覆膜金片中超出所述金片层的所述覆膜层剪掉，使所述覆膜层与所述金片层 齐边。
[0009] 本发明的进一步技术方案是:所述步骤A之前还包括步骤A2.清洗步骤，所述清洗 步骤系除去所述覆膜金片表面异物。步骤A1和步骤A2不分先后，可以先进行任一步骤。
[0010] 本发明的进一步技术方案是:所述步骤C之前还包括步骤B1:再清洗步骤，所述再 清洗步骤系除去所述金片层的表面异物。
[0011] 本发明的进一步技术方案是:所述步骤B1之后还包括步骤B2:烘干步骤:所述烘干 步骤系除去所述金片层表面液体。
[0012] 本发明的进一步技术方案是:所述溶胶剂温度为0-38摄氏度。
[0013] 本发明的进一步技术方案是:所述溶胶剂温度为23-27摄氏度。
[0014] 本发明的进一步技术方案是：步骤A中所述覆膜金片浸入所述溶胶剂中的时间为 30-150分钟。
[0015] 本发明的进一步技术方案是：步骤A中所述覆膜金片浸入所述溶胶剂中的时间为 60-120分钟。
[0016]本发明的进一步技术方案是:所述溶胶剂为乙酸乙酯、甲苯、醋酸异戊酯中的一种 或几种的组合。贵金属行业目前普遍采用的热熔胶主要是热塑性的EVA(聚乙烯-乙酸乙 烯），它是一种可塑性的粘合剂，因成本低廉所以被普遍采用。其在一定温度范围内其物理 状态随温度改变而改变，而化学特性不变，其无毒无味，属环保型化学产品。EVA热熔胶选取 乙酸乙酯或者甲苯或者天那水等常用的有机溶剂在常温条件下就可以软化甚至溶解掉。贵 金属行业普遍采用成本低廉的塑料材质PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)作为覆膜层的材料。 PET薄膜是一种性能比较全面的包装薄膜，具有耐热、耐寒性和良好的耐化学药品性和耐油 性，且PET薄膜的机械性能优良，其强韧性是所有热塑性塑料中最好的，抗张强度和抗冲击 强度比一般薄膜高得多。
[0017] 本发明的有益效果是:本发明通过对表面镀膜金片进行脱膜前处理，再利用X射线 荧光光谱法进行金含量检测。其中脱膜前处理溶胶步骤只针对膜上的胶体反应，对金层无 反应，不仅能够快速便捷的将膜与金层分离，且能较大程度的保持金层的完整。脱膜的金片 可以便捷进行X射线荧光光谱检测，解决了覆膜带来的测试结果失真问题，而且能准确的测 出金质量，均很好的满足了快速、准确、无损耗的检测要求。
【附图说明】
[0018] 图1是现有的覆膜金片的结构图。
[0019]附图标记:1-覆膜层;2-高分子胶层;3-金片层。
【具体实施方式】
[0020]实施例一如图1所示。以下结合附图和具体实施例来详细说明本发明。该实施例中 的表面覆膜金片选用行业里普遍采用的覆膜金片，其结构图如图1所示，1表示覆膜层，2表 示高分子胶层，3表示金片层。其中高分子胶层2主要由合成橡胶、树脂及橡胶油等混合组 成，将高分子胶层2加热成溶熔状态再涂布于覆膜层1而制成覆膜(层1+层2)，热熔胶覆膜因 成本低廉、环保，且与金层加工成覆膜金片工艺简单，因此被本行业领域普遍采用。在本实 施例中，所使用的溶胶剂主要由一些高分子溶剂组合而成，其主要作用是软化、蓬松高分子 热熔胶甚至溶解热熔胶，以大大降低覆膜层1和金片层3的粘接能力。
[0021]该实施例中表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其步骤如下： (1)裁剪:将覆膜金片中超出金片层3多余的覆膜层1剪掉，尽量使金片层3与覆膜层1齐 边，以便于溶胶过程中溶胶剂的渗透。
[0022] (2)清洗:将覆膜金片表面清洁干净，无水渍。
[0023] (3)溶胶:将表面覆膜金片完全浸没于溶胶剂中，因溶胶剂为易挥发的高分子混合 溶液，需上盖密封，且溶胶液控制温度为25 ± 2°C，溶胶时间为1至2小时，经常摇动会加快溶 胶速度，此时金片层3与覆膜层1之间的高分子胶层2出现软化蓬松甚至溶解，金片层3与覆 膜层1之间粘接力骤减。
[0024] (4)脱膜:小心将覆膜层1与金片层3剥离，并将金片层3上的其他杂质如胶渣清除。
[0025] (5)清洗:将金片层3用水清洗干净即可。
[0026] (6)烘干:将金片完全烘干无水渍，以便于后续测试。
[0027] (7)检测:将经过表面脱膜前处理的金片层3放入X荧光光谱仪中进行测试，当金片 厚度过低（彡0.12M1)时，可以借鉴专利CN102128850A处理之后再测试金含量。同样的，经过 脱膜处理的金片层3也可以通过电子天平进行质量检测。
[0028]下面结合测试结果进一步说明本实施例的效果。
[0029]准备的覆膜前的金片和覆膜后再经过本发明提供的表面覆膜金片金含量及金质 量的快速测定方法脱模处理后的相同的金片，金片规格长10. 〇5cm、宽5.08cm、厚度 0.206_;测量其覆膜前和脱模后的金片质量，其结果如下：
从表中可以看出，经过本发明的脱膜处理流程后，金质量并无差异，完全符合检测要 求。
[0030]继续使用X射线荧光光谱法测量覆膜前和脱模后金片中的净含量，得到的结果如 下表所示：
从表中可以看出，经过本发明的脱膜前处理流程后，金含量并无差异，完全符合检测要 求。
[0031] 实验数据说明本发明提供的表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法对覆 膜金片自身的质量及含金量均无影响，确保了方法的稳定性和科学性。
[0032] 本发明通过对表面镀膜金片进行脱膜前处理，再利用X射线荧光光谱法进行金含 量检测。其中脱膜前处理溶胶步骤只针对膜上的胶体反应，对金层无反应，不仅能够快速便 捷的将膜与金层分离，且能较大程度的保持金层的完整。脱膜的金片可以便捷进行X射线荧 光光谱检测，解决了覆膜带来的测试结果失真问题，而且能准确的测出金质量，均很好的满 足了快速、准确、无损耗的检测要求。
[0033] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精 神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1. 一种表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其特征在于，包括以下步骤： A. 溶胶步骤，所述溶胶步骤系将覆膜金片完全浸于溶胶剂中并密封，所述覆膜金片包 括金片层和包裹在所述金片层之外的覆膜层，所述覆膜层与所述金片层之间通过高分子胶 层相连;所述溶胶剂系所述高分子胶层的良溶剂； B. 脱模步骤，所述脱模步骤系将所述覆膜金片的所述覆膜层与所述金片层分离； C. 检测步骤，所述检测步骤系将经过所述脱模步骤的所述金片层放入X荧光光谱仪中 检测其含金量，将经过所述脱模步骤的所述金片层放入电子天平检测质量。2. 根据权利要求1所述的表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其特征在于： 所述步骤A之前还包括步骤A1.裁剪步骤，所述裁剪步骤系将所述覆膜金片中超出所述金片 层的所述覆膜层剪掉，使所述覆膜层与所述金片层齐边。3. 根据权利要求1所述的表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其特征在于： 所述步骤A之前还包括步骤A2.清洗步骤，所述清洗步骤系除去所述覆膜金片表面异物。4. 根据权利要求1所述的表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其特征在于： 所述步骤C之前还包括步骤B1:再清洗步骤，所述再清洗步骤系除去所述金片层的表面异 物。5. 根据权利要求4所述的表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其特征在于： 所述步骤B1之后还包括步骤B2:烘干步骤:所述烘干步骤系除去所述金片层表面液体。6. 根据权利要求1-5中任一所述的表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其 特征在于:所述溶胶剂温度为0-38摄氏度。7. 根据权利要求6所述的表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其特征在于： 所述溶胶剂温度为23-27摄氏度。8. 根据权利要求1-5中任一所述的表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其 特征在于:步骤A中所述覆膜金片浸入所述溶胶剂中的时间为30-150分钟。9. 根据权利要求8所述的表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其特征在于： 步骤A中所述覆膜金片浸入所述溶胶剂中的时间为60-120分钟。10. 根据权利要求1-5中任一所述的表面覆膜金片金含量及金质量的快速测定方法，其 特征在于:所述溶胶剂为乙酸乙酯、甲苯、醋酸异戊酯中的一种或几种的组合。
【文档编号】G01N1/30GK106053505SQ201610332962
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年5月17日
【发明人】曹小勇, 华毅超, 毛敏明, 黄杏娇
【申请人】深圳市宁深检验检测技术有限公司