用于对被测设备进行测试的测试装置和方法

用于对被测设备进行测试的测试装置和方法
【专利摘要】一种用于对被测设备进行测试的测试装置被配置为接收来自被测设备的响应信号并将一个或多个校正函数应用于接收到的响应信号，以至少部分地对被测设备的缺陷进行校正。该测试装置被配置为由此获得被测设备的经校正的响应信号，并对经校正的响应信号进行评估以判断被测设备。
【专利说明】
用于对被测设备进行测试的测试装置和方法
技术领域
[0001] 本发明的实施例设及用于对被测设备进行测试的测试装置。本发明的进一步的实 施例设及用于对被测设备进行测试的方法。本发明的进一步的实施例设及用于对被测设备 进行测试的测试仪。其它实施例设及计算机程序和用于对被测设备进行测试的方法。
【背景技术】
[0002] 为了使功耗最小化，RF功率放大器在边际电源电压等级处操作。运驱使他们被压 缩，导致强的互调产物。基带I/Q输入的数字预失真(DPD)缓解运种影响。针对进一步的功率 减小，电源电压可W动态地跟踪RF包络，也称之为包络跟踪化T)。数字预失真通常作为包含 两个测试步骤的直接测试的一部分来执行。在第一步骤中，从设备对固定的测试波形的响 应计算其非线性。在第二步骤中，针对每个被测设备计算、下载并应用单独预失真的波形， W便测量预失真后剩余的非线性。该第二步骤引起显著的测试时间损失，尤其在多点测试 中，因为针对被测设备必须按顺序执行下载。当对被测设备进行测试和判断时，该测试时间 损失导致高的时间工作量。
[000引此外，产品系列中、产品批中或相同类型的DUT可W包括单个DUT之间的偏差，例如 制作或材料公差、误差或失败。因此，DUT可能展示异常的行为，即，对同一信号输入的异常 响应。例如DUT的印刷电路板上诸如污垢之类的定性的寄生效应也可能导致行为的偏差。
[0004] 因此，例如，存在减小运种测试的测试时间的需求。减小测试时间将有助于提高对 被测设备进行测试的测试仪的测试能力，并且因此导致对被测设备进行测试的测试仪的更 高的工作量。

【发明内容】

[0005] 本发明的目标是提供允许对被测设备进行更省时的测试的概念。
[0006] 该目标由独立权利要求的主题解释。
[0007] 本发明的进一步的有益修改是从属权利要求的主题。
[0008] 本发明的实施例设及用于对被测设备进行测试的测试装置。该测试装置被配置为 接收来自被测设备的响应信号并将一个或多个校正函数应用于接收到的响应信号，W至少 部分地对被测设备的缺陷进行校正。由此，获得被测设备的经校正的响应信号。该测试装置 被配置为对经校正的响应信号进行评估，W根据经校正的响应信号判断被测设备。
[0009] 发明人已经发现，被配置为对接收到的被测设备的响应进行校正并根据经校正的 响应信号判断被测设备可W消除传统的基于预失真的测试的第二测试步骤。不同于(例如， 基于第一测量结果)对测试波形进行预失真，其响应被校正W预测对经预失真的信号的预 期响应，而无需实际将经预失真的波形应用于被测设备。通过消除基于预失真的测试的第 二测试步骤并因此消除将经预失真的波形单独上载到每个被测设备的需要，可W节省大量 的测试时间，导致测试仪(可能是测试系统）的更高的工作量。
[0010] 作为示例，经校正的响应信号可W通过频谱分析被评估并与与被测设备的输入信 号的相应的评估结果相比较。输入信号和经校正的输出信号之间的偏差(例如，频谱偏差） 可W被评估，W决定被测是被是否满足预定要求(例如，某个线性等级）。
[0011] 本发明的另外的实施例设及一种对被测设备进行测试的测试装置。该测试装置被 配置为接收来自被测设备的响应信号并确定一个或多个校正函数的至少一个校正参数。当 一个或多个校正函数被应用于接收到的响应信号时，一个或多个校正函数被适应为至少部 分地对被测设备的缺陷进行校正。该测试装置还被配置为对至少一个校正参数进行评估W 判断被测设备。
[0012] 通过对至少一个校正参数进行评估而不是对经校正的响应信号进行评估，（作为 示例)可W通过确定该至少一个参数是否在预定边界内来执行判断被测设备。
[0013] 另外的实施例设及用于对被测设备进行测试的方法。该方法包括接收来自被测设 备的响应信号。将一个或多个校正函数应用于接收到的响应信号，W至少部分地对被测设 备的缺陷进行校正，并由此获得经校正的响应信号。对经校正的响应信号进行评估W判断 被测设备。
[0014] 另外的实施例设及用于对被测设备进行测试的方法。接收来自被测设备的响应信 号。确定一个或多个校正函数的至少一个校正参数，使得当一个或多个校正函数被应用于 接收到的响应信号时，一个或多个校正函数被适应为至少部分地对被测设备的缺陷进行校 正。对至少一个校正参数进行评估W判断被测设备。
[0015] 本发明的另外的实施例设及用于对被测设备进行测试的方法和计算机程序。
【附图说明】
[0016] 将参考附图更详细地描述本发明的实施例，在附图中：
[0017]图1示出用于被测设备(DUT)的测试装置的方框示意图；
[001引图2示出DUT的非线性压缩模型的示意框图；
[0019] 图3示出用于对被测设备进行测试的测试仪的方框示意图；
[0020] 图4示出包括测试装置的测试仪130'的方框示意图；
[0021] 图5示出作为DUT的反向压缩模型的校正模型的示意框图；
[0022] 图6示出用于确定DUT的模型Μ的方法的示意框图；
[0023] 图7示出用于实现基于预失真模型和DUT的模型获得期望的响应信号的方法的算 法的框图；
[0024] 图8示出预失真模型和DUT模型的幅度到幅度调制和幅度到相位调制的方框示意 图；
[0025] 图9示出精确预测预失真效应的假设的基于校正的测试算法的示意框图；
[0026] 图10示出描绘基于预失真的测试和基于校正的测试之间的相似性和差异的示意 框图；
[0027] 图11示出用于对DUT执行基于预失真的测试过程的方法和用于对DUT执行基于校 正的测试的方法之间的示意性比较；
[00%]图12示出用于对被测设备进行测试的方法的示意图。
【具体实施方式】
[0029] 在详细描述本发明的实施例之前，应当指出相同的或功能上等同的元件被提供相 同的参考标号并且对具有相同参考标号的元件的重复描述被省略。因此，所提供的针对具 有相同参考标号的元件描述是可互换的。一些说明设及包括幅度和相位的信号。
[0030] 随后，拉下和希腊字符被用于设及幅度和相位的量。具体地，激励幅度和相位被表 示为s[n]和σ[η]，而响应幅度和相位被表示为r[n]和P[n]。索引P表示经预失真的波形，索 引m表示经建模的波形，索引C表示经校正的波形。
[0031] 在下文中，多个模型被用于描述可W是本发明的实施例的一部分的装置的功能。 一些实施例被配置为被可连接到被测设备。被测设备和装置可W接收或处理信号，其中被 测设备被配置为接收并输出物理(模拟或数字)信号。相反，被配置为对接收到的信号进行 处理（例如，使用软件）的测试仪或测试装置可W被配置为：当基于运种接收到的或经处理 的信号进行处置或计算时，使用运些信号的数字表示执行处理。数字表示例如可W通过W 下方式被接收:对物理信号进行采样并通过将用例信号用采样值进行表示。因为物理信号 可W被转换为其数字表示，并且数字表示可W被转换为物理信号，对本领域技术人员显而 易见的是，当描述对信号进行处理的装置的功能时，物理信号和其物理表示可W被用作等 同物。因此，在下文中，术语信号和信号的数字表示被用作等同物。
[0032] 一些图设及模型评估者，其被配置为对设备(例如，DUT或校正或类似物）的模型进 行评估。待评估的响应的模型例如可W是相应的设备的行为的数学表示。在下文中，当引用 待评估的相应的模型是，声明模型和模型评估者可W被用作同义词。
[0033] 图1示出用于对被测设备(DUTH02进行测试的测试装置100的示意框图。测试装置 100被配置为从DUT 102接收响应信号103。所接收的响应信号103例如包括幅度r和相位P。 测试装置100被配置为对所接收的响应信号103应用一个或多个校正函数(例如，c(r[n]) 和/或丫（r[η]) )，W至少部分地对DUT的缺陷（imperfection)进行校正。校正函数c(;r[η]) 和/或丫（r[n])例如可W是依赖于实际的时间步长η(其中，η在η = 1，...，Ν内）和在先的时 间步长1，...，Ν-1的函数。时间步长例如可W是对信号进行采样期间的采样步长。r被写成 粗体的符号r[n]用于指示r[n]是包括r[n]的在先时间步长的矢量，其中r[n]表示在时间步 长η处的幅度。
[0034] 装置100被配置为例如在运送DUT之前的质量测试期间实现对DUT的缺陷的判断， 或确定可W被用于随后对DUT的操作（例如，均衡）的校正参数。DUT的缺陷例如可W包括静 态非线性、动态非线性或静态和动态非线性的组合。当DUT是RF功率放大器时，运种非线性 的影响是放大器的输出信号103相对于放大器的应当被放大的输入信号101失真。理想的放 大器W常数因子m倍对输入信号101的激励幅度s[n]进行放大，使得相应的输出信号103(响 应信号）的幅度r[n]可W被表示为r[n]=m· s[n]，而输入信号101的相位〇[n]保持不变，使 得所接收的响应信号103的相位P[n]等于输入信号101的相位〇[n]，运可W被表示为P[n] = 曰[η]。因子m也可W被称为增益因子。被压缩的放大器展示减小的增益，被建模为幅度到幅 度调制，其可W被表示为r = m(s)和相移。相移可W被建模为幅度到相位调制，其可W被表 示为ρ-〇=μ(3)，其中P-0表示相移。对于任何合理的压缩，函数r=m(s)是光滑的、严格单调 的并且因此是可逆的。幅度到幅度调审ijr=m(s)和幅度到相位调制ρ-〇 = μ(3)两者各自是输 入信号101的幅度s[n]的函数。对于小的幅度s[n]，增益的减小和相移两者可W接近于零。 对于分别增加的幅度，增益的减小(压缩)和相移将通常开始随着幅度s[n]的增加而非线性 地增加。因此，压缩诱发的增益减小和相移通常是静态非线性的(尤其是当从属m(s)和/或μ (S)处于主静态中）并且近似地仅依赖于幅度s[n]。
[0035] 动态非线性（例如，溫度相关性)将可能向所接收的DUT 102(放大器）的输出（响 应)信号103增加进一步的非理想性。功率放大器中的溫度取决于累积的信号功率(可W被 表示为信号的幅度平方），被热敏电阻减小。因此，运种动态非线性不仅取决于瞬时激励幅 度s[n]，还取决于最近的幅度s[n]，s[n-l]...，即，非线性可W与频率相关状态(最近的幅 度)相混合。运种系统可W使用Volterra级数来描述，其允许对非线性动态系统的完全通用 建模。Volterra级数对不同时间步长的考虑使得对频率相关性的考虑成为可能。作为示例， 针对幅度到幅度调制示出下式：
[0036]
[0037] 针对线性频率相关性的FIR滤波器（即，第一加和）W及针对静态非线性的泰勒级 数（即，索引i，y，...，k相等)是Volterra级数的特殊情形。代替延迟采样的产物，也可W使 用其它的专用基函数：
[00；3 引
[0039] 其中f，g，h表示其它专用基函数。
[0040] 合适的基函数的候选包括对数、指数或S函数(sigmoid)项。例如，通过应用工程判 断，可W确定合理地小的、充分覆盖的Volterra项的子集。应当选择可接受的Volterra系数 的数目，使得模型138被充分校正，其中Volterra项和/或系数的超支导致可能过高的计算 工作量。实施例示出利用地5、7、10、12或15Volterra项和/或系数的测试装置。
[0041] 上述方法可W被应用于完全通用Volterra级数，其也可W用简练的形式来表示：
[0042]
[0043] 其中基函数为
[0044] Tj[n]=Tj(s[n])，0k[n] = 0k(s[n])
[0045] 激励幅度历史矢量为
[0046] s[n] = [s[n]，s[n-l]，s[n-2]，. . . ]/
[0047] 其中Μ表示用于DUT的模型。
[004引如果用激励幅度历史矢量s[n]替代瞬时激励幅度s[n]，则该通用形式还覆盖由图 2中所解释的方程式描述的静态模型，并且仍然覆盖一般情形。
[0049]测试装置100被配置为对所接收的具有r和P的响应信号103应用一个或多个校正 函数(例如，c(r[n])和/或r(r[n]))，W至少部分地对DUT102的静态和/或动态非线性的缺 陷进行校正。通过应用一个或多个校正函数c(r[n])和/或丫（r[n])，获得经校正的响应信 号105。经校正的响应信号105包括幅度。和相位P。。测试装置100被配置为对经校正的响应 信号105进行评估W对DUT 102进行判断。例如可W通过对一个或多个标准进行评估来执行 评估。标准可W是通过向所接收的响应信号103应用校正函数来确定或评估的在输入信号 101的一个或多个频率处的幅度压缩的相对值(例如，50 %、100 %或1，000 %)或绝对值(例 如，0.1V、5V或100V)、所接收的响应信号103的频率的稳定性或DUT 102的相位响应。评估还 可W包括对DUT 102的输入信号101(或其经缩放的或W其它方式被处理的版本）与经校正 的响应信号105的比较。当经校正的响应信号105相对于DUT 102的输入信号101在某个偏差 区间内时，DUT可W被判断为满足要求(DUT 102可W被判断为"好的(ok)")。
[0050]可替代地，校正函数c(r[n])和/或r(r[n])可W被形成，作为基函数的线性加和：
[0053] Cjn]是具有索引j并且被加权因子C神日权的基函数。基函数的线性加和等于J加权 的基函数的加和(其中j = l至J)。相位校正函数丫（r[n])可W被形成，作为输入信号101的 相位σ[η]与加权相位基函数Γ k[n](每一者被加权因子丫 k加权)的线性和的加和，其中相位 基函数的线性加和包括K个基函数和加权因子，其中k=l至K。加权因子C神日丫 k是可W适应 的校正参数，使得每个基函数Cjn]和rk[n]W及基函数的加和被配置为对所接收的响应信 号103进行校正。
[0054] 作为对所接收的响应信号103进行校正和对所获得的经校正的响应信号105进行 评估的替代，装置100可W被配置为例如基于DUT的响应对加权因子(分别为校正参数Cj和 丫 k)进行评估。运可W实现校正参数C神日丫 k对于参数的预定义的范围的比较。作为示例，装 置100可W被配置为在C1处于2和3之间并且γ 3处于5和7之间的情形下判断满足规格的 DUT102。换言之，所计算的校正函数被应用于所接收的响应信号103, W至少部分地对DUT的 缺陷(例如，静态或动态非线性)进行校正。
[0055] 装置100被配置为例如根据W下公式确定时间步长η处经校正的响应信号105的幅 度rc[n]:
[0化6]
[0057] 并根据W下公式确定响应的相位pc[n]:
[0化引
[0059] 校正参数C神日丫 k例如可W通过迭代地确定均方根误差线性地传播误差ε。基函数 Cj[n]是所接收的响应信号103的幅度r[n]的函数，其可W被看成W下公式：
[0060] Cj[n] =Cj(r[n])
[0061] 相位基函数也是所接收的响应信号103的幅度r[n]的函数，其可W被看成W下公 式：
[0062] Γ k[n]= Γ k(r[n])
[0063] 为了确定校正函数和/或校正参数W对所接收的响应信号103进行校正，装置100 可W利用描述所接收的响应信号103的目标状态或所期望的响应信号的相应信号，当没有 误差或缺陷或者误差或缺陷在可容许的范围内时期望DUT 102输出该相应信号。基于所接 收的响应信号103的目标状态(或所期望的响应信号），测试装置100可W评估目标状态和经 校正的响应信号105之间的偏差，W对DUT 102进行判断。然而，所期望的响应信号可W在 DUT 102的输入信号101存在预失真的情况下被确定，而DUT的实际响应信号可W在DUT 102 的输入信号101的没有预失真的情况下被确定，或至少在没有将预失真适应到正确测试的 DUT的情况下被确定。
[0064] 可W由测试装置100利用DUT 102的模型来确定所预期的输出信号，运允许对具有 幅度rpm和相位化m的经建模的输出信号的数学确定，如将在图3中所描述的。当测试装置100 被配置为利用DUT 102的模型及DUT 102的所预期的缺陷的模型时，测试装置可W被配 置为确定所期望的(预期的）响应信号和经校正的响应信号105之间的偏差。
[0065] 校正函数可W被适应为通过适应校正函数或校正参数并因此执行校正来降低或 减小所期望的响应信号和经校正的响应信号105之间的偏差。例如，校正函数或校正参数可 W被适应为补偿预失真的缺失(或发出到当前被测的DUT 102的预失真的适应）。
[0066] 因此，减小关于C神日丫 k的均方根误差可W作为简单的二次优化问题来执行，其可 W被表示为W下公式：
[0067]
[0074]其中C是包括幅度基校正函数Cjn](j = l. . .J，时间步长n=l. . .N)的值的矩阵， 其中C是所有加权相关因子cj(j = l. . .J)的矢量，并且其中rpm是幅度rpm[n](n=l. . .N)的矢 量。Γ是包括相位基校正函数Tk[nKk=l. . .K，时间步长n=l. . .N)的值的矩阵，其中Ppm是 所有加权校正因子Cj( j = l . . . J)的矢量，并且其中Ppm是相位Ρριη[η](η=1···Ν)的矢量。
[0075] 线性方程式系统的解是
[0076] c = (C'C)-Vrpm
[0077] W 及
[007引 丫 =( Γ' Γ )-ir'Ppm
[0079] 测试装置100被配置为基于所接收的响应信号103确定至少一个校正参数并对经 校正的响应信号105进行评估，W避免将第二和/或单独的测试信号应用于DUT 102。换言 之，在计算方程式的解的同时，被测设备102在优化循环之外，运允许测试装置100与针对给 定的DUT 102的单个捕获的响应信号103-起工作。
[0080] 作为软件中执行的后期处理，DUT的非线性可W由测试装置来校正。相比于计算预 失真的波形和将经预失真的波形上载到DUT(在硬件中）方面的重新执行，运可W节省测试 时间并可W允许覆盖更多溫度相关和频率相关的非线性。溫度相关和频率相关的非线性可 W由Velterra模型来描述。
[0081] DUT的建模例如可W使用笛卡尔坐标或极坐标来实现。由于基于预失真的测试和/ 或判断通常在(采样的)基带域执行并且由于放大器的压缩取决于激励包络幅度s[n]，在基 带采样η处在极坐标中（即，在激励幅度s[n]和相位σ[η]方面)而不是在激励的笛卡尔坐标 Is[n巧日Qs[n]中对RF被测设备（即放大器)进行建模可能是方便的，变换为
[0089] 针对执行基于软件的测试W判断被测设备102或确定DUT 102的校正参数W实现 校正，DUT 102的模型可W被用于在工作站或计算机(例如，可W是被配置为对DUT 102进行 测试的测试仪的一部分)处模拟DUT的行为。例如，通过对具有线性或非线性压缩模型的RF 功率放大器进行建模，运种模型例如可W模拟或评估DUT的行为，使得模型可W被模型评估 器(例如，可W是测试仪的一部分)使用。
[0090] 在下文中，出于解释的原因部分地使用模型描述来解释测试装置的功能。因此，W 下的图2-9部分地描述DUT的示例性模型、预失真算法和/或校正算法。
[0091] 图2示出将由测试仪测试和/或判断的DUT的非线性压缩模型506的示意框图。通过 基于输入信号的表示508计算DUT输出信号的表示203,模型506可W被用于确定校正函数的 参数并允许模拟DUT的行为。换言之，模型506可W被用于通过对相应的行为进行建模来相 对于输入信号对DUT的输出信号进行建模。
[0092] 被应用于模型506的输入信号的表示508表示时间步长η处的幅度s[n]和相位曰 [η]。由于DUT是真实的W及由于非理想的RF功率放大器，DUT是具有减小的增益的被压缩的 放大器。DUT的压缩可W被建模为幅度到幅度调制204,其可W被描述为函数m(s)。幅度到幅 度调制204导致输出信号的表示203,其表示输出信号的幅度r[n]。幅度r[n]可W被确定规 则 r[n]=m(s[n])确定。
[0093] DUT的压缩还导致输入信号关于输出信号的相移。运可W由函数μ(3)表示，μ(3)代 表对幅度到相位调制206的建模，其中μ(3)也依赖于幅度s[n](是其相应的表示）。输出信号 的相位P[n]可W被表示为相位σ[η]被移位(被添加）W幅度到相位调制206的附加的相位μ (S)，表示为Ρ[η] = 〇[η]+μ(3)。换言之，DUT的压缩可W由DUT的压缩模型506来建模，W通过 基于(虚拟的)输入信号和对DUT进行建模的函数或函数组计算(虚拟的)输出信号来执行预 测、模拟和/或类似操作。因此，非线性函数m(s)和/或μ(3)可W导致非线性压缩模型506。
[0094] DUT的静态模型的简单表示例如可W包含泰勒级数扩展的第一少量项。该简单表 示可W被形成为：
[0095] r[n] =m(;r[n]) =mi;r[n]+nKr2[n]+m：3r3[n] [η]
[0096] 针对表示203的幅度，W及
[0097] ρ[η]=σ[η]+μ(3[η]) =〇[n]+yis[n]+y2s2[n]+y3s3[n]
[009引针对表示203的相位。
[0099] 指数或S函数可W被用于W更少量的项对幅度压缩进行建模。作为示例，幅度压缩 可W被建模为：
[0100]
[0101] 笛卡尔到极坐标转换的模型208可W被用于把W具有幅度Is[n]和相位Qs[n]的笛 卡尔坐标表示的输入信号212的表示转换为极坐标中的表示208。换言之，除了表示的类型 (笛卡尔或极坐标）W外，同相分量Is[n]和正交相分量Qs[n]表示的信号等同于由s[n]和r [η]表示的信号。
[0102] 极坐标到笛卡尔坐标转换的模型214被配置为将W极坐标描述的表示203转换为 输出信号的表示216。表示216描述或表达笛卡尔坐标中具有同相分量Is[n巧日正交相分量Qs [η]的DUT的(虚拟的)输出信号。
[0103] 转换208和216运两个模型执行信号的数学转换而保持信号本身不变。在下文中， 用极坐标来表示信号。
[0104] 图3示出用于对被测设备102进行测试的测试仪300的方框示意图。测试仪300包括 测试装置300,其例如可W等同于测试装置100。测试仪被配置为连接到DUT 102, W将输入 信号101提供至DUT 102并接收响应信号103。测试仪300还被配置为将所接收的响应信号 103提供至测试装置310。测试装置310被配置为对所接收的响应信号103应用一个或多个校 正函数并基于所接收的响应信号103确定至少一个校正参数。
[0105] 为清楚起见，将校正函数描绘为包含DUT 102的校正模型的校正模型评估器312 (由块C指示）。校正模型评估器312被配置为对所接收的响应信号103应用一个或多个校正 函数。测试仪300可W被配置为把所接收的响应信号数字化并提供表示(例如，经采样的数 据）。换言之，校正模型评估器可W对所接收的响应信号或其表示应用一个或多个校正函 数。校正模型评估器312描绘校正函数对所接收的响应信号103的应用。
[0106] 测试装置310被配置为提供经校正的响应信号314,如果测试装置310等同于测试 装置100,经校正的响应信号314可w等同于经校正的响应信号105。
[0107] 校正模型312例如可W包括动态查找表或具有一项或多项的二项式，其例如可W 考虑导致所接收的响应信号103的偏差的模型范围内、生产线或很多DUT的变化或差异。校 正模型可能还考虑生产期间可能发生的DUT的一个或多个潜在的缺陷。假设，校正模型不考 虑无缺陷，测试装置310可W被配置为通过利用查找表对被认为可接受的变化内的接收到 的响应信号103进行校正。被看做可接受的变化例如可W是最大或最小相位压缩或延迟。
[0108] 在该示例中，在测试装置310不能够充分地对所接收的响应信号103进行校正的情 况中，运可W被标识为提示，即不能够被校正的相应的DUT102显示误差或缺陷并且可能被 判断为不好。可替代地或除此之外，测试装置310还可W被配置为确定完全或几乎完全地对 所接收的响应信号进行校正的校正参数。指示非常小的偏差（即，幅度和/或相位压缩在预 定范围内）的校正参数可W被用作提示，即检修或修复工作可能是适当的。当DUT 102显示 可能不满足相应的DUT的规格的偏差时，其可W被测试装置310所标识。
[0109] 测试装置310被配置为基于所期望的响应信号316确定校正模型评估器312的一个 或多个校正函数。所期望的响应信号316包括幅度rpm和相位Ppm。
[0110] 所期望的响应信号316可W由测试仪300通过基于输入信号101确定经预失真的波 形322或其表示并通过用模型评估器318(由块Μ指示）计算经建模的经预失真的输出信号 324来获得，其中模型评估器318被配置为修改类似于期望的（例如，无误差)DUT的经预失真 的波形322。换言之，模型评估器被配置为模拟所期望的DUT。模型评估器可W被实现为电路 或表示运种电路的软件代码。测试仪300可W被配置为对所接收的响应信号103与所期望的 响应信号316进行比较。
[0111] 所期望的响应信号316因此可能是在对DUT 102执行基于预失真的测试时将获得 的信号，使得从基于校正的测试获得的结果与基于预失真的测试可W是可比的。可替代地， 所期望的响应信号316例如可W是输入信号101的延迟版本。测试仪300被配置为基于所期 望的响应信号316(例如，通过使所期望的响应信号316和经校正的输出信号314之间的误差 最小化(例如通过使用均方根误差计算器和参数调节器326))确定校正模型评估器312的校 正函数。在参数调节器方面，均方根误差计算器326可W被配置为将校正函数适应为使经校 正的输出信号314和所期望的输出信号316之间的误差最小。当测试装置310等同于测试装 置100时，经校正的输出信号314可W是经校正的输出信号105。
[0112] 取决于校正函数的复杂性，例如，泰勒或Volterra级数的项数，所期望的响应信号 316和经校正的输出信号314之间的误差可W被减小或最小化，其中增加的校正函数的项数 可能导致计算复杂度的增加和对所期望的响应信号316的更详细的建模(其相应的数字表 示），并因此导致进一步减小的误差。
[0113] 模型评估器318(DUT 102的非线性模型）可W被配置为实现DUT102的行为的数学 压缩(或压缩模型），使得经预失真的输入信号322可W在数学上被确定。
[0114] 换言之，相比于原始测试波形(其可W是DUT 102的输入信号101或其数字表示）的 延迟版本，理想的预失真可W使对经预失真的波形的经建模的响应的误差最小化。在通用 动态非线性的情况下，（由于因果关系的原因）由例如延迟块328实现的延迟例如可能对获 得可实现的预失真是必要的。
[0115] 除了由物理方式引起的、由延迟块328建模的延迟之外，增益被设置为1的理想RF 功率放大器提供的输出信号等于该放大器的输入信号。因此，（由模型评估器318使用的模 型建模的）放大器的非线性行为旨在通过W下操作被减小或最小化:通过用一个或多个预 失真函数(其功能作为图3中的预失真块332(由块P指示)被描绘)对输入信号101的数字表 示进行预失真(预均衡），使得模型评估器318所用的DUT 102的模型转录的DUT 102的失真 被补偿(被抵消或被减小）。通过确定均方根误差(例如，通过均方根误差计算器336)并通过 适应依赖于由均方根误差计算器336提供的均方根误差的预失真块332,延迟的输入信号 334和经建模的输出信号324之间的偏差可W被减小或最小化。
[0116] 在一般情形中，求解非凸的优化问题可能是困难的，因为不管预失真模型或块332 如何被参数化，其参数通过设备模型318都非线性地映射到经延迟的输入信号334和经建模 的经预失真的信号324之间的误差或偏差。但是，对于任何实际的预失真方案，可W确定用 于获得预失真模型或块322和设备318的方法。当模型评估器318的模型可逆时，存在直接的 解决方案P = M^i，使得均方根误差计算器336的偏差或均方根可W被减小到零。当相应的计 算器336的非线性模型对可选的延迟d可逆时，将选择预失真P来使非线性反向，P=M^iAd， 其中Ad是延迟d的延迟运算符。在运种情形中，对经预失真的激励(描绘为经预失真的信号 322或其数字表示）的经建模的响应rpm等同于原始的、经延迟的激励s[n-d]、〇[n-d]。
[0117] 因此，所期望的响应信号316例如可W是经预失真的经建模的输出324或输入信号 101的延迟版本334。假如，所期望的响应信号316是输入信号101的延迟版本334,包括幅度 rpm和相位化m的所期望的响应信号316还可W被表示为包括幅度s[n-d和相位0[n-d]的信 号。
[0118] 测试仪300的框图描绘可逆非线性的校正(示出为优化问题）。测试仪300可W被配 置为连接到一个或多个DUT 102,例如，在包括DUT 102的测试机架方面。通过运种配置，一 个或多个DUT可W在一个测试周期中被测试。通过将输入信号101应用到每个DUT 102并针 对每个DUT 102单独地适应校正函数(校正块312)，（例如，基于经校正的信号314)可W实现 针对每个DUT 102的单独的判断结果，而针对所有DUT 102的期望的响应信号316可W基于 所有DUT 102共用的模型318。
[0119] 通过对所接收的响应信号103进行校正并通过基于校正执行判断，可W跳过将(单 独的）经预失真的波形上载到DUT。当将(通用)输入信号101同时应用到若干个DUT时，可W 通过评估(校正)接收到的每个DUT的响应信号103来执行对每个DUT的单独的判断。运种实 施例的优势例如可W是可W减小针对一个和/或若干个DUT的上载时间，因为可W节省经预 失真的波形的连续上载。
[0120] 图4示出包括测试装置410的测试仪400的方框示意图。测试装置410例如可W是测 试装置100或310中的一者。测试仪400被配置为提供(例如，计算)所期望的响应信号402,其 是DUT 102的输入信号101的延迟版本，并且例如可W是信号334或其数字表示。
[0121] 输入信号101(或其数字表示)通过使用延迟块328被延迟，使得除了延迟之外，幅 度s[n-d]和相位〇[n-d]等于输入信号101的幅度S和相位曰。
[0122] 因此，相对于图3,图4描绘简化的优化问题。该简化基于DUT 102的非线性是可逆 的导致经延迟的输入信号和所期望的响应信号之间的误差接近零(取决于均方根误差的步 长)运一假设，使得预失真P和模型Μ的计算可W被省略。
[0123] 可逆非线性的优点因此可W是既不需要计算预失真映射Ρ也不需要计算非线性模 型Μ。校正参数（系数Mcj和/或{:丫 k}可W直接拟合到原始的、经延迟的激励s[n-d]、〇[n- d]，运可W由优化问题规定：
[0135] 而通过计算(C=M-i · Δ d)的矩阵Μ的直接求逆可能包括针对通用Volterra模型的 高的计算工作量。
[0136] 对于运种情形，维度等于模型拟合的步骤，运意味着相同的计算工作量。
[0137] 图5示出校正模型评估器502的示意框图。校正模型评估器例如可W是校正模型评 估器312并且被配置为接收响应信号503或其数字表示并提供经校正的信号504或其数字表 示。经校正的信号504例如可W是经校正的信号105。换言之，校正模型评估器502是用于对 所接收的响应信号203进行校正的可能的实现。
[0138] 校正模型评估器所使用的校正模型被描绘为反向的DUT的压缩模型506。压缩模型 506在图2中被描述并且包括可逆的幅度到幅度失真m(s)。因此，校正模型评估器504的校正 模型被适应为对压缩模型506进行反向。例如，校正模型评估器可W被配置为实现或计算校 正算法c(r)=m-i(r)和/或丫（rc)=-y(。），其是图9中所描述的预失真的镜像(反向）版本 并且因此具有相同的计算复杂度。反向的压缩取决于所接收的具有r、P的响应信号203而不 是具有s、〇的输入信号101。经校正的输出信号105的幅度可W根据W下确定规则被确定：
[0139] Γ〇[η] = c(r[n]) =m^^(r[n])
[0140] 其中相移可W根据W下确定规则被确定：
[0141] Pc[n]-p[n]= γ (γ〇[π] ) =-μ0-〇[η])
[0142] 由于静态的（可逆的)非线性(其使得相应的用于预失真的模型Ρ或用于校正的C的 反演成为可能），校正函数c(.)和丫（.）可能与预失真函数相同，使得相应的方程式系统可 W被反演并且左乘或右乘可W导致相同的解。
[0143] c(.) =p(.) =m_i(.)
[0144] γ (.) =jt( .) =-μ( ·)
[0145] 在DUT的计算方面，执行静态非线性的逆需要包含压缩模型的DUT模型Μ。
[0146] 图6示出用于配置使用待校正的DUT 604的模型的模型评估器602的方法的示意框 图。模型评估器602例如可W是模型评估器318"DUT 604可W是无误差的或至少被判断为 "好的"的DUT。换言之，DUT 604例如可W是参考DUT，使得对其它DUT的判断可W通过将该其 它DUT与模型评估器602的模型（其是参考DUT的模型)进行比较来执行。DUT 606被配置为在 接收输入信号101时提供信号响应606。当DUT 606是DUT 102时，响应信号流入可W是响应 信号103。
[0147] 方法可W包括确定DUT 604的模型(模型M)。将输入信号101应用到DUT 604允许对 具有幅度r和相位P的输出（响应)信号606或其数字表示的接收。
[0148] 输入信号101还可W被输入到粗调，使其被模型评估器602适应。可W从模型评估 器608接收经建模的具有幅度rm和相位Pm的输出信号608或其数字表示。DUT 604的输出信号 606和模型的经建模的输出信号608之间的偏差(例如，通过用均方根误差计算器612计算均 方根误差)允许针对幅度值的适应参数{mj和针对相位值的hk}的确定或适应。适应参数可 W被用于适应或修改模型评估器602的模型并被用于减小或最小化输入信号606和经建模 的输出信号608之间的偏差，使得最终模型包括相对于真实DUT的可接受的偏差/误差。
[0149] DUT 604的模型覆盖非线性压缩模型，使得模型的拟合可W包括非线性压缩模型 的直接拟合。可W通过W下操作计算模型系数mj和Wk:向DUT 606应用激励s[n]、σ[η](η = 1. . .Ν)，并通过均方根误差计算器612使偏差(例如，均方根幅度和相位误差)最小化来将所 接收的DUT 604的响应信号606拟合到经建模的响应608(表示为r=m(s)和Ρ = σ+μ(3))。
[0150] 例如相应地由模型评估器602使用的模型Μ可W被表示为：
[0151]
[0152] 因为r[n]和Ρ[η]被建模为基函数值Tjn](幅度项）、0k[n](相位项）的加权的线性 和，系数叫和Wk可W通过解两个线性方程式系统来计算：
[0153；
[0154]和/或
[0155]
[0156] 模型评估器602的模型Μ可W被用于确定所期望的响应信号，其用于校正待测试仪 判断的DUT，例如，如图2中所描绘的。
[0157] 图7示出实现用于基于预失真模型704和模型评估器706评估的DUT的模型获得期 望的响应信号702的方法的算法的框图。例如可W由根据图6的算法获得的模型保持不变， 其中预失真模型704通过W下方式被适应:通过减小输入信号101(或其数字表示）的经延迟 的版本708(例如，通过延迟块712)和基于经预失真的输入信号获得的经建模的输出信号之 间的偏差或误差，确定用于W幅度(PJ)和相位(Kk)的形式调整预失真模型704的参数PJ和 化。当信号708和702之间的误差被充分减小时，模型评估器706的输出信号被认为是所期望 的响应信号702。
[0158] 针对静态非线性(如图2中所示），幅度到幅度调制m(sp)可W被反向，而附加的幅 度到相位失真μ(3ρ)可W简单地被减去，如下文中所描述的。
[0159] 当延迟块712是延迟快32別寸，所期望的响应信号例如可W是所期望的响应信号 316,使得图7中所描绘的算法例如可W由图3中所示出的测试仪300来实现。
[0160] 图8示出用于获得所期望的响应信号801的方法的方框示意图，所期望的响应信号 801例如可W是所期望的响应信号316,具有由预失真模型评估器802实现的幅度到幅度调 制和幅度到相位调制，其中预失真模型评估器802例如可W等同于预失真块332。具有幅度 sp[n]和相位〇ρ[η]的预失真块的输出信号(或其数字表示)被模型评估器804接收，模型评估 器804例如可W是模型评估器318。换言之，预失真被示出为反演的压缩模型，使得图8可W 被描述为测试仪300被配置提供的功能的一部分。
[0161] 由于p(s)=nfi(s)，所期望的响应信号801的幅度rpm等于输入信号101(或其数字 表示）的幅度。还由于被表示为-μ(3ρ)的幅度到相位调制3I(Sp)是可逆的，所期望的响应信号 801的相位化m等于输入信号101的相位0,其中所期望的响应信号801由经建模的、经预失真 的输出信号形成。用于静态预失真的算法可W被表示为：
[0162]
[0163] 对于通用Volterra模型，该基于预失真的方法可能是难的或者甚至非常困难得， 而基于校正的方法扩展地很好，运意味着利用易于管理的计算量来生成Volterra模型。所 计算的预失真波形Sp[n]、〇p[n]可W被应用于被测设备，其中响应rpm[n]、Ppm[n]然后被捕获 并被上载到工作站，并且被评定性能。
[0164] 图9示出精确预测预失真的效果的假设的基于校正的测试算法的示意框图，其作 为优化问题而示出。图3所描绘的真实的基于校正的测试可从假设的基于校正的测试得到。 换言之，根据图9的概念可构成用于改变根据本发明的概念的基础。图9的假设字符将解释 选择作为期望的响应信号的经建模的经预失真的输出信号作为输入信号的延迟版本的适 当的近似的可靠性。
[0165] 为了证明用校正替代预失真的正确性，对原始激励(输入信号s、〇)的DUT响应信号 ：1"、口的经校正的响应信号。、0。应等于（至少近似)对经预失真的激励3。、〇。的〇1]1'响应。、口。。 DUT响应rp、Pp的经建模的版本rpm、Ppm可W被优化为近似原始激励s、〇的延迟版本。
[0166] 信号902或其数字表示表示从预失真块332接收预失真波形时DUT 102m(a的模型） 的响应，且被认为是包含幅度。和相位化的经预失真的响应信号。与此相反，经校正的响应 信号314是通过先将输入信号101输入到DUT 102并使用校正模型评估器312的校正函数对 DUT输出103进行校正获得的。
[0167] 拟合校正模型评估器312的（准确的）校正模型C将需要并要求设备模型M，因为预 失真系数W和化可W从模型评估器318来计算，而经校正的响应信号314(其可W是经校正的 响应信号314)，其目的是将所建模的被测设备102m匹配到经预失真的激励Sp、〇p而不是模型 Μ的响应。所期望的DUT 102的响应902对于经预失真的激励sp、Op例如可能是未知的，因为基 于校正的测试的整个目的是避免具有激励Sp、〇p的基于预失真的测试获得响应rp、Pp。作为 可能的下一最佳近似，经校正的响应。、0。应当将具有rpm、Ppm的经建模的响应316近似到预 失真。
[0168] 换言之，图3中所描绘的基于校正的测试旨在减小经校正的响应信号314和经建模 的经预失真的信号之间的偏差，使得执行(真实的)基于校正的测试允许避免将经预失真的 (单独的）波形上载至DUT 102。运还使得能够避免向DUT应用经预失真的激励并且实现图3 中所描绘的基于校正的测试。
[0169] 因此可能不需要DUT的非线性模型。校正模型可W直接拟合到期望的响应。
[0170] 对预失真的激励Sp、〇p的经建模的响应rpm、化m可W通过预失真映射332(由块P指 示)来计算，它可W由DUT 102和通过上述方法获得的用于相应计算器318(由块Μ指示）的非 线性模型的设计者来设计。
[0171] 图10示出描绘具有相反顺序的DUT和逆DUT模型的基于预失真的测试和基于校正 的测试之间的相似性和差异的示意框图。
[0172] 图10上侧描绘的基于预失真的测试旨在通过块1002反演模型Μ(由DUT的"Ρ"指 示），并且在将经预失真的信号输入到DUT 102之前对激励信号101进行预失真，其中逆模型 Μ被用于预失真。与此相反，图10下侧描绘基于校正的测试，首先将输入信号101输入到DUT 102,然后试图W块1004(由"C"指示)使用DUT 102的经反演的模型对接收到的响应信号进 行校正。由于经预失真的激励需要针对每个DUT 102单独计算并然后被应用到每个单独的 DUT 102,而在基于校正的测试中相同的输入信号可被应用到同时测试的所有的DUT，且响 应可W被单独校正，可W显著节省测试时间。
[0173] 就DUT 102的行为完全与所建模的一样（即，D=M)来说，预失真和校正在数学上是 等同的，因为适用于具有相等的输入和输出域的任何可逆映射M。当考虑可 逆函数y = f (X)及其反函数x = fi(y)时，将它们插入到彼此得到y = f (厂i(y))和x =厂i(f (X))，掲示了f (fi(.))和〇(f (.))两者是相同的映射且因此是相等的，因为它们的输入和 输出域相等。对于未建模的DUT行为，D声M，M-i和D的顺序不能颠倒。运一假设的有效性可W 通过实验证明，W进一步证明工程直觉，其表明对于DUT 102的小压缩来说预失真和校正之 间的差异足够小。此外，基于预失真的测试和基于的校正测试对DUT 102应用略微不同的激 励波形。预失真可W是加宽了 DUT输入101的频谱的非线性映射，而基于校正的方法可W加 宽DUT输出频谱。为了减小运种差异，基于校正的测试可W使用的典型经预失真的作为波形 激励(其通常不适合于单独的DUT)。
[0174] 由于运两个原因，基于校正的测试的精确度可W通过将经校正的波形rc、Pc与对经 预失真的激励波形Sp、Op的响应r。、f>。的性能相比较来进行验证。
[0175] 换句话说，当幅度到幅度失真可逆时(例如，当仅存在静态非线性时），反向是准确 的。在基于校正的测试中，反向（校正)在DUT之后，而在基于预失真的测试，反向（预失真)在 DUT之前。
[0176] 图11示出用于对DUT执行基于预失真的测试过程的传统方法1102和用于对DUT执 行基于校正的方法1104之间的示意比较。基于预失真的测试的测试目标例如可W是在应用 预失真时确定剩余的非线性。直接的测试方法(被称为基于预失真的测试)包括步骤1102a- 1102h。在1102a中，用固定的、真实的测试激励(例如，来自任意波形生成器(AWG))对被测设 备进行激励。在步骤1102b中其响应被上载到工作站。在步骤1102c中，工作站将非线性压缩 模型拟合到测试激励和所接收的响应。在步骤ll〇2d中，工作站例如使用测试仪300的预失 真块332计算经预失真的波形，W试图使DUT的非线性反向。在步骤1102e中，把经预失真的 波形下载到AWG并使用AWG将其应用到DUT，AWG在步骤1102f中运行经预失真的波形。对经预 失真的波形的响应然后在步骤110?中被上载到工作站并基于诸如邻信道功率比(A化R)之 类的性能参数被判断。因此，针对所有的DUT，经预失真的波形必须被单独计算和下载，运增 加了相当大的测试时间，尤其在多点测试中当下载连续发生时增加的测试时间更多。
[0177] 在方法1104中，不同于运行附加的经预失真的测试波形，预失真的效果通过作为 工作站上的后处理步骤的校正DUT对未校正的测试波形的响应来预测。在第一步骤1104a 中，未校正测试波形在DUT上运行(反馈到DUT)。在第二步骤1104b中，DUT对波形的响应被上 载到工作站(例如，测试装置300)。在步骤1104c中，校正函数被确定或被适应。步骤1104c例 如可W由测试装置310执行，使得在步骤1104d中由执行该方法的测试仪(例如，工作站)获 得经校正的响应信号。然后例如使用与用于基于预失真的测试相同的算法（例如，ACLR)判 断对经预失真的测试波形的预测的响应。
[0178] 在相应的DUT上执行的DUT步骤1106的数目对基于预失真的测试和基于校正的测 试还可W是相似或等同的。计算步骤1108的数目对基于预失真的测试是Ξ个(拟合预失真 模型、预失真和判断），并且对基于校正的测试也是Ξ个(拟合校正模型、校正和判断）。相对 于基于预失真的测试1102,基于校正的测试形式1104的有利的区别在于，针对基于校正的 巧聯1104数据传送步骤1112的数目只有一个，即在步骤1104b中将DUT的响应信号上载到测 试装置时。相反，基于预失真的测试可能需要Ξ个数据传送步骤，即，在步骤1102b中将DUT 响应上载到相应的测试装置时，在步骤1102e中将经预失真的波形下载到AWG(或DUT)时和 在步骤110?中将DUT的响应上载到相应的测试装置时。尤其步骤1102e可能需要并且单独 测试每个DUT的波形，从而需要大量的测试时间用于上传经预失真的波形，而不在上载期间 实际测试DUT。基于校正的测试1104可W在不需要单独下载测试波形情况下执行。
[0179] 换言之，通过使用用于执行基于校正的测试的方法1104,用于下载和运行经预失 真的波形W及捕获设备的响应的测试时间可W被消除。所提出的基于校正的测试方法因此 可W完全消除运种耗费时间的步骤。
[0180] 通过执行基于校正的测试，可W比执行基于预失真的测试实现快得更多的测试时 间，因为它们无需下载和运行特定于设备的经预失真的基带波形。然后通过/失败确定(判 断）可W基于对所有设备共用的单个测试激励的响应，并因此可W保持在任意波形发生器 中预加载。
[0181] 作为一个附加的好处，基于校正的测试可容易地扩展到任何类型的频率相关的非 线性，例如，如Volterra模型所描述的。
[0182] 可能仍需保持基于预失真的测试，W用于验证基于校正的测试的适用性运一特 性。
[0183] 换言之，图11示出传统的基于预失真的测试和所提出的基于校正的测试的比较， 基于校正的测试可消除下载和运行二次的、费时的经预失真的波形的需要。
[0184] 虽然前述的解释表明，基于校正的测试针对精确建模的设备可能是准确的，所提 出的方法的精确度可W基于实际的设备数据被验证，因为没有模型是完美的。基于校正的 测试可被描述为(真的)基于预失真的测试的近似，使得基于实际设备数据的验证可W确保 基于校正的测试的可靠性。例如可W由针对一个或多个DUT的基于预失真的测试执行验证。
[0185] 换言之，通过执行基于校正的测试1104,执行对原始的测试波形的响应的校正，而 不是利用预失真波形运行第二测试。
[0186] 作为优势，基于校正的测试实现快速的测试时间，运可能会更显著更快。经校正的 响应或校正函数的校正参数代替经预失真的波形被用来判断DUT。运可W消除第二测试步 骤，使其显著缩短测试时间。判断可W包括判断幅度或振幅，W及经校正的响应信号的相 位。可替代地或另外的，例如在某个参数范围内，校正函数的校正参数可W被判断。
[0187] 图12示出根据本发明的实施例的用于对被测设备进行测试的方法1200的示意图。 在步骤1202中，从DUT 102接收响应信号103并计算校正函数。步骤120?可W是步骤1202的 子步骤并包括计算基函数Cj和/或rk。在步骤1202b(其可W是步骤1202的子步骤）中，确定 校正参数C j和/或丫 k，使得校正函数(包括基函数Cj和/或Γ kW及校正参数cj和/或丫 k)对所 接收的响应信号103的应用被配置为相对于所期望的响应信号1212(其例如可W是所期望 的响应信号316、402、702或802、激励的延迟版本或经建模的响应rpm、化m中的一者)对所接 收的响应信号103进行校正。在步骤1204a中，基于步骤1202b中计算的校正参数对DUT进行 判断。当一个或多个校正参数cj、Tk超过某个预定限制时，可W执行失败决定（可选的判 断）。在步骤1206中，将校正函数(基函数Cj、rk和校正参数C神日丫 k)应用于所接收的响应信 号103W相对于所期望的响应信号1212对其进行校正。在步骤1207中，确定所期望的响应信 号。执行校正1206,使得经校正的DUT输出信号105近似于所期望的响应信号1212。在步骤 1204b中，基于经校正的DUT输出信号105判断DUT 102。
[0188] 在用于预失真映射的步骤1214中，通过基于步骤1211处计算或提供的预失真模型 基于激励(具有s、o的输入信号101)确定经预失真的激励sp、〇p，从而获得经建模的响应信号 rpm，化m。在步骤1216中，基于经预失真的激励Sp、〇p并基于可在步骤1218中由DUT的设计者提 供的DUT的模型确定所期望的响应信号1212。
[0189] 可在步骤1204a和/或步骤1204b中对DUT进行判断。在步骤1204a中，判断基于所确 定的校正系数C神日丫 k，其中步骤1204b中基于经校正的DUT输出信号的判断可W利用信号分 析(例如，对DUT的输入和输出信号的幅度和/或相位进行比较），而不是确定在某个预定范 围内的校正参数。
[0190] 虽然在装置的上下文中描述了一些方面，显然的是，运些方面也表示对相应的方 法的描述，其中块或设备对应于方法步骤或方法步骤的特征。类似地，在方法步骤的上下文 中描述的方面也表示相应装置的相应的块或项或特征。
[0191] 取决于某些实现要求，本发明的实施例可W在硬件或软件中实现。该实现可W使 用数字存储介质（例如，软盘、DVD、CD、ROM、PROM、EPROM、邸PROM、或化ASH存储器)来执行，数 字存储介质上存储有电子可读控制信号，其与可编程计算机系统协作(或能够与之协作）， 使得相应的方法被执行。
[0192] 根据本发明的一些实施例包括具有电子可读控制信号的数据载体，该电子可读控 制信号能够与可编程计算机系统协作，使得本文所描述的方法之一被执行。
[0193] -般地，本发明的实施例可W被实现为具有程序代码的计算机程序产品，当计算 机程序产品在计算机上运行时程序代码可操作来执行方法之一。
[0194] 其它实施例包括存储在机器可读载体上的、用于执行本文所描述的方法之一的计 算机程序产品。
[01M]换言之，本发明的方法的实施例因此是具有程序代码的计算机程序，当计算机程 序在计算机上运行时，程序代码用于执行本文所描述的方法之一。
[0196] 本发明的方法的另外的实施例因此是数据载体(或数字存储介质、或计算机可读 介质），数据载体包括存储在其上的用于执行本文所描述的方法之一的计算机程序。
[0197] 本发明的方法的另外的实施例因此是表示用于执行本文所描述的方法之一的计 算机程序的数据流或信号序列。数据流或信号的序列例如可W被配置为经由数据通信连接 (例如，经由互联网）被传输。
[0198] 另外的实施例包括被配置为或被适应为执行本文所描述的方法之一的处理装置 (例如，计算机)或可编程逻辑设备。
[0199] 另外的实施例包括其上安装有用于执行本文所描述的方法之一的计算机程序的 计算机。
[0200] 在一些实施例中，可编程逻辑设备（例如，现场可编程口阵列）可W被用于执行本 文所描述的方法的所有功能或一些功能。在一些实施例中，现场可编程口阵列可W与微处 理器协作，W执行本文所描述的方法之一。一般地，方法优选地由硬件装置执行。
[0201] 上述实施例对于本发明的原理仅是示意性的。应当理解的是，本文所描述的布置 和细节的修改和变化对本领域技术人员将是显而易见的。因此本发明旨在仅由如下的专利 权利要求书限制，而非由通过描述和说明本文的实施例呈现的具体细节来限制。
【主权项】
1. 用于对被测设备DUT(102)进行测试的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置 (100、310、410)被配置为： 接收来自所述DUT( 102)的响应信号（103); 将一个或多个校正函数(c(r[n]); γ(Γ[η]))应用于所接收到的响应信号（103)，以至 少部分地对所述DUT( 102)的缺陷进行校正，由此获得所述DUT( 102)的经校正的响应信号 (105、314、504); 对所述经校正的响应信号（105、314、504)进行评估，以判断所述DUT(102)。2. 用于对被测设备DUT(102)进行测试的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置 (100、310、410)被配置为： 接收来自所述DUT( 102)的响应信号（103); 确定一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))的至少一个校正参数(cj，γ k)，使得当 所述一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))被应用于所接收到的响应信号（103)时，所 述一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))被适应为至少部分地对所述DUT(102)的缺陷 进行校正；以及 对所述一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))的至少一个校正参数(cj，γ k)进行评 估，以判断所述DUT(102)。3. 如权利要求1或2所述的测试装置（100、310、410)，其中所述装置被配置为将所述校 正函数(c(r[n]); γ(Γ[η]))应用于所述接收到的响应信号（103)，其中所述校正函数(c(r [η]); γ (r[n]))被适应为至少部分地对所述DUT(102)的缺陷进行校正，所述缺陷包括所述 DUT (102)的输入信号（101)和所述DUT (102)的、基于所述输入信号（101)的所述接收到的响 应信号（103)之间的所述DUT( 102)的静态非线性。4. 如权利要求1-3中的一者所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、 310、410)被配置为将所述校正函数（c(r[n]) ; y(r[n]))应用于所述接收到的响应信号 (103)，其中所述校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))被适应为至少部分地对所述DUT(102)的缺 陷进行校正，所述缺陷包括所述DUT(102)的输入信号（101)和所述DUT(102)的、基于所述输 入信号（101)的所述接收到的响应信号（103)之间的所述DUT( 102)的动态非线性。5. 如权利要求1-4中的一者所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、 310、410)还被配置为基于所述DUT(102)的期望的响应信号（316、402、702、802、1212)和所 述DUT(102)的所述接收到的响应信号（103)确定所述一个或多个校正函数(c(r[n]) ; γ (r [η]))。6. 如权利要求5所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、310、410)被 配置为基于所述DUT(102)的所述期望的响应信号（316、402、702、802、1212)和所述01^ (102)的所述接收到的响应信号（103)确定所述一个或多个校正函数(c(r[n]) ; y(r[n])); 使得当与所述DUT( 102)的所述接收到的响应信号（103)和所述DUT(102)的所述期望的 响应信号（316、402、702、802、1212)之间的偏差相比时，所述0171(102)的经校正的响应信号 (105、314、504)和所述DUT(102)的所述期望的响应信号（316、402、702、802、1212)之间的偏 差被减小。7. 如权利要求1 _6中的一者所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、 310、410)还被配置为使用至少一个基函数（Cb rk)确定所述一个或多个校正函数（c(r [n]);y(r[n]))〇8. 如权利要求7所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、310、410)被 配置为基于基函数(C〇的线性加和确定幅度校正，其中所述基函数(CJ根据以下确定规则： Cj[n]=Cj(r[n]) 或基于基函数（rk)的线性加和确定相位校正，其中所述基函数（rk)根据以下确定规 则： Γ k[n]= Γ k(r[n]) 其中Cjn]表示时间η处具有索引j的针对幅度校正的基函数； r [η ]表示时间步长η处所述DUT (102)的所述接收到的响应信号的历史幅度； 其中rk[n]表示时间步长η处具有索引k的针对相位校正的基函数。9. 如权利要求7或8中的一者所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、 310、410)被配置为确定所述一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))，使得所述一个或多 个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))包括定义所述至少一个基函数(Cj; rk)的权重的校正参数 (Cj，γ k)〇10. 如权利要求1 -9中的一者所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、 310、410)被配置为基于以下确定规则获得所述经校正的响应信号（105、314、504)的幅度 (r c)，其中rc[n]表示时间索引η处所述经校正的响应信号（105、314、504)的幅度； c (r [η ])表示时间索引η处所述DUT (102)的所述接收到的响应信号（103)的矢量化的幅 度的全部幅度校正函数c; 表示与时间索引η处具有索引j的所述幅度基函数Cjn]相对应的具有索引j的所述幅 度校正参数； 并且其中J表示幅度校正参数的数目和校正函数(?)的数目。11. 如权利要求1-10中的一者所述的测试装置（1〇〇、310、410)，其中所述测试装置 (100、310、410)被配置为基于以下确定规则确定所述经校正的响应信号（105、314、504)的 相位： p \ιι，\~ -//]十y^:%ry[:w.丨 ;?; 其中Pc [ η ]表示时间索引η处所述经校正的响应信号的所述相位； γ (r [η])表示时间索引η处所述DUT (102)的所述接收到的响应信号（103)的矢量化的 幅度的全部幅度校正函数γ ; γ k表示与时间索引η处具有索弓丨k的所述相位基函数Γ j[η]相对应的具有索弓|k的所述 相位校正参数； 并且其中K表示相位校正参数（yk)的数目和校正函数（Γ」)的数目。12. 如权利要求9所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置(100、310、410)还 被配置为根据以下确定规则确定所述一个或多个幅度校正参数( Cj):使得所述DUT(102)的所述经校正的响应信号（105、314、504)的幅度和所述DUT(102)的 所述期望的响应信号(316、402、702、802、1212)的幅度之间的偏差被减小； 其中C表示针对时间索引1至N所述幅度基函数&[.]至CK.]的值的矩阵； c表示所述幅度校正参数(c j )的矢量； rpm表示所述DUT (10 2)的所述期望的响应信号的所述幅度的矢量，其针对时间索引η = 1 至Ν对时间索引n处所述期望的响应信号rpm[n]的幅度(rpm)进行矢量化。13. 如权利要求12所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、310、410) 被配置为根据以下确定规则确定所述一个或多个幅度校正参数( Cj): c=(C，C)-VrPm14. 如权利要求9或12所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、310、 410)还被配置为根据以下确定规则确定所述一个或多个相位校正参数（γ k):使得所述DUT(102)的所述经校正的响应信号（105、314、504)的相位(pc)和所述DUT (1〇2)的所述期望的响应信号(316、4〇2、7〇2、8〇2、1212)的相位(0[?)之间的偏差被减小； 其中Γ表示针对时间索引1至N所述相位基函数Γ :至?!^的值的矩阵； γ表示所述相位校正参数（γιΟ的矢量； Pt?表示所述DUT (102)的所述期望的响应信号的所述相位的矢量，其针对时间索引η = 1 至Ν对时间索引n处所述期望的响应信号ppm[n]的相位(ppm)进行矢量化。15. 如权利要求14所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、310、410) 被配置为根据以下确定规则确定所述一个或多个相位校正参数（γk): γ = ( r' r )-1 r' ppm16. 如权利要求5-15中的一者所述的测试装置（100、310、410)，其中所述DUT (102)的所 述期望的响应信号（316、402、702、802、1212)是所述0171(102)的输入信号（101)的延迟版 本。17. 如权利要求5-15中的一者所述的测试装置（100、310、410)，其中所述DUT (102)的所 述期望的响应信号（316、402、702、802、1212)是所述0171(102)的经建模的输出信号（324、 702)，该经建模的输入信号(324、702)将基于输入到所述DUT(102)的经预失真的信号（322) 被获得； 其中所述测试装置（1〇〇、310、410)被配置为确定所述一个或多个校正函数((：&[11]); Y(r[n]))，使得所述经校正的输出信号在预定容差范围内近似于所述经建模的输出信号。18. 如权利要求7-17中的一者所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置 (100、310、410)被配置为基于Volterra级数确定所述一个或多个校正函数(c(r[n]) ; γ (r [η]))，使得所述校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))包括(J;K)个数目的Volterra系数。19. 如权利要求18所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、310、410) 被配置为基于Volterra级数确定所述一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))，使得所述 一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))包括小于或等于15的(J;K)个数目的Volterra系 数。20. 如权利要求1-19中的一者所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置 (100、310、410)被配置为基于预失真模型和所述输入信号（101)确定经预失真的信号 (322)。21. 如权利要求20所述的测试装置（100、310、410)，其中所述测试装置（100、310、410) 被配置为基于所述经预失真的信号（322)和所述DUT(102)的模型确定所述DUT(102)的所述 经建模的输出信号（324)，使得所述经建模的输出信号近似于当将所述经预失真的信号 (322)应用于所述DUT(102)时将获得的信号。22. -种用于对被测设备DUT(102)进行测试的测试仪，其中所述测试仪(300、400)被配 置为连接到至少一个DUT(102)并将输入信号（101)输入到所述DUT(102);其中所述测试仪 (300、400)包括如权利要求1所述的测试装置(100、310、410)。23. -种用于对被测设备DUT(102)进行测试的测试仪，其中所述测试仪(300、400)被配 置为连接到至少一个DUT(102)并将输入信号（101)输入到所述DUT(102);其中所述测试仪 (300、400)包括如权利要求2所述的测试装置(100、310、410)。24. -种用于对被测设备DUT(102)进行测试的方法（1200)，其中所述方法包括： 接收来自所述DUT( 102)的响应信号（103); 将一个或多个校正函数(c(r[n]); γ(Γ[η]))应用于所接收到的响应信号（103)，以至 少部分地对所述DUT(102)的缺陷进行校正，由此获得经校正的响应信号（105、314、504); 对所述经校正的响应信号（105、314、504)进行评估以判断所述DUT(102)。25. -种用于对被测设备DUT(102)进行测试的方法（1200)，其中所述方法包括： 接收来自所述DUT( 102)的响应信号（103); 确定一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))的至少一个校正参数(cj，γ k)，使得当 所述一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))被应用于所述接收到的响应信号（103)时， 所述一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))被适应为至少部分地对所述DUT(102)的缺 陷进行校正；以及 对所述一个或多个校正函数(c(r[n]); γ (r[n]))的至少一个校正参数(cj，γ k)进行评 估，以判断所述DUT(102)。26.-种用于执行如权利要求24-25中的一个权利要求所述的方法的计算机程序。
【文档编号】G01R31/319GK106068460SQ201480077041
【公开日】2016年11月2日
【申请日】2014年1月30日 公开号201480077041.9, CN 106068460 A, CN 106068460A, CN 201480077041, CN-A-106068460, CN106068460 A, CN106068460A, CN201480077041, CN201480077041.9, PCT/2014/51831, PCT/EP/14/051831, PCT/EP/14/51831, PCT/EP/2014/051831, PCT/EP/2014/51831, PCT/EP14/051831, PCT/EP14/51831, PCT/EP14051831, PCT/EP1451831, PCT/EP2014/051831, PCT/EP2014/51831, PCT/EP2014051831, PCT/EP201451831
【发明人】约亨·里瓦尔
【申请人】爱德万测试公司