高密度金手指探针式对准测试治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于检测装置技术领域，具体涉及一种高密度金手指探针式对准测试治具。
【背景技术】
[0002]电路板PCB、柔性电路板FPC的端部通常设有导电电极即金手指，用来与其他电子产品或其他部件相连通，以实现电性导通，为了避免金手指的连接不良，通常都需要对金手指的电路板进行电性测试，通常的测试方式是在电路板PCB或柔性电路板FPC上设置测试点，将锡膏印刷与测试点表面，通过自动化测试装置，以获取相关的电性参数。
[0003]目前有一种金手指电测治具，当需要检测带有金手指端子的产品时，将产品沿底板一端的空隙插入，将插入的待检测的金手指压紧贴合到底板上表面设置的金手指区内，实现对金手指的导通性检测，对每一个金手指的测试，都需要将金手指由缝隙处插入，且特别是一些蜂窝状金手指，蜂窝状金手指四周之间的间距都非常小，蜂窝金手指与蜂窝金手指对位要控制四个方向，前后左右，对位位置要求很高，对位不易控制，容易造成误测。
[0004]故，需要一种新的技术方案以解决上述问题。
【实用新型内容】
[0005]实用新型目的:针对上述现有技术存在的问题和不足，本实用新型的目的是提供一种高密度金手指探针式对准测试治具，特别适用于检测蜂窝状金手指的电性参数。
[0006]技术方案:本实用新型公开了一种高密度金手指探针式对准测试治具，一端用于对接待测金手指，另一端用于对接外部测试装置的金手指，该对准测试治具包括与外部测试装置的金手指电连接且与待测金手指形成电连接的探针和用于安装探针的安装座；所述安装座为中空、两端敞口结构，所述安装座内还设有与探针一体成型的对位导套孔。
[0007]作为本实用新型的进一步优化，本实用新型所述的安装座内还设有固定探针的固定位，所述若干固定位呈蜂窝状结构分布。
[0008]作为本实用新型的进一步优化，本实用新型位于不同水平线上的固定位与固定位之间错开设置。
[0009]作为本实用新型的进一步优化，本实用新型所述的固定位包括呈高脚杯型结构的固定位和主体呈八面体结构的固定位，所述主体呈八面体结构的固定位的竖直面上的两端分别设有短端脚、长端脚，所述呈八面体结构的固定位的长端脚设置于两个高脚杯型结构的固定位之间。
[0010]作为本实用新型的进一步优化，本实用新型所述的呈八面体结构的固定位的长端脚长度与呈高脚杯型结构的固定位的头部长度相同。
[0011]作为本实用新型的进一步优化，本实用新型的待测金手指的外型特性位置设有对位针脚。待测金手指通过对位针脚与对位导套孔配合进行定位固定。
[0012]有益效果:本实用新型与现有技术相比，具有以下优点:本实用新型通过采用测试治具内置的探针，减小接触点面积，增大待测金手指与外部检测装置的金手指之间的对位偏移的公差，从而对对位要求也就相应降低了，同时在测试治具安装座内加入与探针一体成型的对位导套孔，该对位导套孔与金手指外型特性位置的定位针脚相配合定位，极大的改善了外部测试装置的金手指与待测金手指的对位精度.避免由于对位不准引起的误测情况的发生，大大增加了金手指电性参数检测的可靠性和准确性，本实用新型结构简单，容易实现，具有良好的经济效益。
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型的截面结构示意图；
[0014]图2为本实用新型的结构示意图；
[0015]图3为待测金手指、外部测试装置的金手指与本实用新型的对接示意图；
[0016]A-外部测试装置的金手指、B-待测金手指、1-探针、2—安装座、2-1呈高脚杯型结构的固定位、2-2主体呈八面体结构的固定位。
【具体实施方式】
[0017]以下结合具体的实施例对本实用新型进行详细说明，但同时说明本实用新型的保护范围并不局限于本实施例的具体范围，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0018]需要说明的是，在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
实施例
[0019]如图1和图2所示，本实施例的一种高密度金手指探针式对准测试治具，一端用于对接待测金手指B，另一端用于对接外部测试装置的金手指A，该对准测试治具包括与外部测试装置的金手指A电连接且能与待测金手指B形成电连接的探针I和用于安装探针的安装座2 ;所述安装座2为中空、两端敞口结构，安装座内还设有与探针一体成型的对位导套孔，安装座内还设有固定探针的固定位，若干固定位呈蜂窝状结构分布，且位于不同水平线上的固定位与固定位之间错开设置，该固定位结构分布可根据实际待测金手指B结构进行位置更改。
[0020]本实施例的固定位包括呈高脚杯型结构的固定位2-1和主体呈八面体结构的固定位2-2，所述主体呈八面体结构的固定位2-2的竖直面上的两端分别设有短端脚、长端脚，主体呈八面体结构的固定位2-2的长端脚设置于两个高脚杯型结构的固定位2-1之间，主体呈八面体结构的固定位2-2的长端脚长度与高脚杯型结构的固定位2-1的头部长度相同。
[0021]本实施例的待测金手指外型特性位置装有对位针脚。
[0022]本实施例的对位导套孔和待测金手指外型特性位置的对位针脚实现高精度对准。
[0023]如图3所示，本实施例通过采用测试治具内置的探针，减小接触点面积，增大待测金手指与外部检测装置的金手指之间的对位偏移的公差，从而对对位要求也就相应降低了，同时在测试治具安装座内加入与探针一体成型的对位导套孔，该对位导套孔与金手指外型特性位置的定位针脚相配合定位，极大的改善了外部测试装置的金手指与待测金手指的对位精度.避免由于对位不准引起的误测情况的发生，大大增加了金手指电性参数检测的可靠性和准确性，本实用新型结构简单，容易实现，具有良好的经济效益。
[0024]本实用新型的实施例是为了示例和描述起见而给出的，而并不是无遗漏的或者将本实用新型限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本实用新型的原理和实际应用，并且使本领域的普通技术人员能够理解本实用新型从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。
【主权项】
1.一种高密度金手指探针式对准测试治具，一端用于对接待测金手指，另一端用于对接外部测试装置的金手指，其特征在于:包括与外部测试装置的金手指电连接且与待测金手指形成电连接的探针和用于安装探针的安装座；所述安装座为中空、两端敞口结构，所述安装座内还设有与探针一体成型的对位导套孔。
2.根据权利要求1所述的一种高密度金手指探针式对准测试治具，其特征在于:所述安装座内还设有固定探针的固定位，该固定位呈蜂窝状结构分布。
3.根据权利要求2所述的一种高密度金手指探针式对准测试治具，其特征在于:位于不同水平线上的固定位与固定位之间错开设置。
4.根据权利要求3所述的一种高密度金手指探针式对准测试治具，其特征在于:所述固定位包括呈高脚杯型结构的固定位和主体呈八面体结构的固定位，所述主体呈八面体结构的固定位的竖直面上的两端分别设有短端脚、长端脚，所述呈八面体结构的固定位的长端脚设置于两个高脚杯型结构的固定位之间。
5.根据权利要求4所述的一种高密度金手指探针式对准测试治具，其特征在于:所述呈八面体结构的固定位的长端脚长度与呈高脚杯型结构的固定位的头部长度相同。
6.根据权利要求1所述的一种高密度金手指探针式对准测试治具，其特征在于:所述待测金手指外型特性位置装有对位针脚。
【专利摘要】本实用新型公开了一种高密度金手指探针式对准测试治具，一端用于对接待测金手指，另一端用于对接外部测试装置的金手指，该对准测试治具包括与外部测试装置的金手指电连接且与待测金手指形成电连接的探针和用于安装探针的安装座；所述安装座为中空、两端敞口结构，所述安装座内还设有与探针一体成型的对位导套孔，本实用新型改善了外部测试装置的金手指与待测金手指的对位精度.增加了金手指电性参数检测的可靠性和准确性。
【IPC分类】G01R1-04, G01R31-00
【公开号】CN204389616
【申请号】CN201520072323
【发明人】黄柏翰, 蓝国凡, 邱金启
【申请人】昆山意力电路世界有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2015年2月2日