一种半导体致冷组件虚焊测试仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种半导体致冷组件虚焊测试仪。
【背景技术】
[0002]半导体致冷又称为温差电致冷或热电致冷。具有热电能量转换特性的材料，在通过直流电时有致冷功能。图1为现有半导体致冷组件的结构图，图2为现有半导体致冷组件的结构分解图。现有的半导体致冷组件为多个N型半导体元件和P型半导体元件串联而成的回路，如图2所示，现有的半导体致冷组件的结构从上到下为冷面瓷板1、导流片3、致冷元件2、导流片3以及热面瓷板4，另外引出两条引出线，分别为正极引出线5和负极引出线6。
[0003]其中若干致冷元件2通过焊锡焊接形成回路，每个致冷元件2有两个焊点，这样整个致冷组件有几十、几百个焊点，只要一个焊点出现虚焊，就会影响整个致冷组件的寿命，甚至致冷组件不能工作。而大多数焊点在致冷组件内部，无法直接观察到焊点是否虚焊。
【实用新型内容】
[0004]鉴于上述技术问题，本实用新型提供一种半导体致冷组件虚焊测试仪，能够方便的测试虚焊现象，提高半导体致冷组件的可靠性。
[0005]本实用新型提供一种半导体致冷组件虚焊测试仪，包括电压冲击电路和电阻测试装置，其中:
[0006]所述电压冲击电路具备三条支路，第一支路串联有若干个被测致冷元件以及时间继电器触点；
[0007]第二支路设置有时间继电器，用于控制所述时间继电器触点的断开时间；
[0008]第三支路串联设置有电源和开关，用于为所述电压冲击电路提供电压；
[0009]所述电阻测试装置为电阻表，用于测试经过电压冲击后的每个所述被测致冷元件的电阻变化。
[0010]优选的，所述电压冲击电路还包括电压表，所述电压表并联在相互串联的若干被测致冷元件的两端。
[0011]优选的，所述电源电压满足:每个被测致冷元件两端的电压为其额定工作电压的6?8倍。
[0012]优选的，所述第一支路串联有两个被测致冷元件。
[0013]优选的，所述电源电压220V。
[0014]利用本实用新型的半导体致冷组件虚焊测试仪，能够检测出半导体致冷元件的虚焊现象，提高产品在使用过程中的可靠性，电路简单，方便实现。
【附图说明】
[0015]图1为现有半导体致冷组件的结构图；
[0016]图2为现有半导体致冷组件的结构分解图；
[0017]图3为本实用新型的半导体致冷组件虚焊测试仪的电压冲击电路的电路结构图。
【具体实施方式】
[0018]以下结合附图3对本实用新型的半导体致冷组件虚焊测试仪进行详细的说明。如图所示，包括相并联的三条之路，具体的，将第一被测致冷元件21和第二被测致冷元件22以及时间继电器触点73串联，构成第一支路；第二支路上设置有时间继电器71，用于控制时间继电器触点73的开闭，时间继电器71设置电压冲击的时间，以免对被测致冷元件造成不可逆损害。第三支路上串联有220V交流电压75以及开关74。另外还具备电压表72，用于检测第一被测致冷元件21和第二被测致冷元件22两端的电压，确定电路正常工作。根据上述冲击电路，每个被测致冷元件两端的电压约为110V，是其额定电压的7倍。如果出现虚焊，在电压冲击后会出现电阻升高或者断路，随后利用电阻表对致冷元件的电阻进行检测，如果出现电阻升高，则判断该元件出现了虚焊。
[0019]经此测试仪检测致冷组件后，原先被掩盖的虚焊现象体现出来，防止产品在使用后出现个别可靠性差的现象。
[0020]另外，本实用新型的保护范围不限于本实施例的内容，根据致冷组件的额定电压的不同，其中第一支路可以串联I片、3片或4片致冷元件，所提供的电压满足每个致冷元件两端的电压为其额定电压的6?8倍。
【主权项】
1.一种半导体致冷组件虚焊测试仪，其特征在于，包括电压冲击电路和电阻测试装置，其中: 所述电压冲击电路具备相互并联三条支路，第一支路串联有若干个被测致冷元件以及时间继电器触点； 第二支路设置有时间继电器，用于控制所述时间继电器触点的断开时间； 第三支路串联设置有电源和开关，用于为所述电压冲击电路提供电压； 所述电阻测试装置为电阻表，用于测试经过电压冲击后的每个所述被测致冷元件的电阻变化。
2.如权利要求1所述的半导体致冷组件虚焊测试仪，其特征在于，所述电压冲击电路还包括电压表，所述电压表并联在所述相互串联的若干被测致冷元件的两端。
3.如权利要求1所述的半导体致冷组件虚焊测试仪，其特征在于，所述电源电压满足:所述每个被测致冷元件两端的电压为其额定工作电压的6?8倍。
4.如权利要求1所述的半导体致冷组件虚焊测试仪，其特征在于，所述第一支路串联有两个被测致冷元件。
5.如权利要求4所述的半导体致冷组件虚焊测试仪，其特征在于，所述电源电压220V。
【专利摘要】一种半导体致冷组件虚焊测试仪，其特征在于，包括电压冲击电路和电阻测试装置，其中：所述电压冲击电路具备三条支路，第一支路串联有若干个被测致冷元件以及时间继电器触点；第二支路设置有时间继电器，用于控制所述时间继电器触点的断开时间；第三支路串联设置有电源和开关，用于为所述电压冲击电路提供电压；所述电阻测试装置为电阻表，用于测试经过电压冲击后的每个所述被测致冷元件的电阻变化。利用本实用新型的半导体致冷组件虚焊测试仪，能够检测出半导体致冷元件的虚焊现象，提高产品在使用过程中的可靠性，电路简单，方便实现。
【IPC分类】G01N27-20
【公开号】CN204405586
【申请号】CN201520068922
【发明人】丁志海, 曹茜
【申请人】香河华北致冷设备有限公司
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2015年1月30日