金属化薄膜表面电阻检测头的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种金属化薄膜表面电阻检测头，属于薄膜电容器生产制造技术领域。
【背景技术】
[0002]现有技术中已公知的，用于制造薄膜电容器的金属化薄膜具有梯度变化或渐进变化的镀层厚度，对于在以下这些方面具有进步意义:降低自愈能耗，减少引出线与电极的接触电阻，提高承载电流的能力，提高耐压能力；金属化薄膜镀层厚度的变化直接影响金属化薄膜电阻性能的变化，为了排除材料品质、加工工艺等细微变化对产品性能的影响，以金属化薄膜的电阻性能来限定或判定金属化薄膜各定义位置处镀层厚度更符合实际需要，也更具有实际操作性。此外，即便是常规的等镀层厚度的金属化薄膜，对于薄膜镀层厚度均匀性的监控也很有必要。用于检测金属化薄膜表面电阻的检测头为金属质地以实现导电，由于金属具有加工容易且加工精度高的优点，因而用于检测金属化薄膜表面电阻的夹具也通常为金属制成，因而检测头之间以及检测头与夹具之间容易发生击穿，轻则影响测试结果的准确性，严重则可能导致检测电器设备故障甚至人员伤害。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型正是针对现有技术存在的不足，提供一种金属化薄膜表面电阻检测头，能够提高检测头的电气绝缘性能，从而提高金属化薄膜表面电阻检测结果的准确性和检测作业的安全性，满足实际使用要求。
[0004]为解决上述问题，本实用新型所采取的技术方案如下:
[0005]一种金属化薄膜表面电阻检测头，包括:球形触头、导电柱、以及包封所述球形触头和所述导电柱的绝缘块，所述绝缘块为陶瓷制成，所述球形触头设置于所述绝缘块的底部，所述导电柱下端连接所述球形触头，所述导电柱上端连接电阻检测设备的检测线。
[0006]作为上述技术方案的改进，还包括用于放置检测头的检测支架，所述检测支架包括固定底座和设置于所述固定底座上方的夹持片，所述夹持片的两端均通过安装螺栓固定连接所述固定底座，且所述夹持片上设置有检测头滑槽；
[0007]所述绝缘块包括限位帽和配合所述检测头滑槽的限位滑块，所述球形触头位于所述限位滑块底部，所述限位滑块位于所述检测头滑槽中，所述限位帽的外径大于所述检测头滑槽的宽度且位于所述检测头滑槽上。
[0008]作为上述技术方案的改进，所述限位滑块为竖直设置的圆柱形结构，且所述限位滑块的半径与所述检测头滑槽的宽度相等，所述球形触头设置于所述限位滑块的底面中心。
[0009]作为上述技术方案的改进，所述固定底座和所述夹持片为金属制成，所述固定底座的顶面设置有第一橡胶垫，所述夹持片的底面设置有第二橡胶垫。采用金属作为固定底座和夹持片的主材料便于加工且刚性好，从而便于控制表面平整度，降低夹持金属化薄膜时施力不均的程度，但是金属表面过于坚硬容易刮伤金属化薄膜且摩擦力较小，夹持稳固效果不佳，因此设置第一橡胶垫和第二橡胶垫，既能够大大降低刮伤金属化薄膜的几率而且夹持很稳固，测试结果准确。
[0010]作为上述技术方案的改进，所述夹持片上设置有配合所述安装螺栓的安装导套。设置安装导套不仅可以在保证螺纹不打滑的前提下减小夹持片的厚度，而且可以提高夹持片的稳固性，不会发生偏转从而造成施力不均。
[0011]本实用新型与现有技术相比较，本实用新型的实施效果如下:
[0012]本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻检测头，用于接触金属化薄膜的触头为球形触头，因此减少了尖端放电的几率，即降低了设备击穿拉火的几率，同时采用绝缘块包封导体，使得检测头之间以及检测头与检测支架之间的电气绝缘性能进一步提高，同时优选陶瓷作为绝缘包封材料，既保证了绝缘性能，又避免常规绝缘材料如橡胶塑料等刚性不足、耐磨损性能差的问题，使检测头与检测支架之间的配合更为紧密，从而使检测头放置稳定，且运动轨迹的重复性好，测试结果准确。
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻检测头结构示意图；
[0014]图2为本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻检测头和检测支架的俯视结构示意图；
[0015]图3为本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻检测头和检测支架的平视结构示意图。
【具体实施方式】
[0016]下面将结合具体的实施例来说明本实用新型的内容。
[0017]如图1至图3所示，为本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻检测头结构示意图。本实用新型所述金属化薄膜表面电阻检测头，包括:球形触头11、导电柱12、以及包封所述球形触头11和所述导电柱12的绝缘块13，所述绝缘块13为陶瓷制成，所述球形触头11设置于所述绝缘块13的底部，所述导电柱12下端连接所述球形触头11，所述导电柱12上端连接电阻检测设备的检测线14。
[0018]进一步地，本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻检测头还包括用于放置检测头的检测支架，所述检测支架包括固定底座21和设置于所述固定底座21上方的夹持片22，所述夹持片22的两端均通过安装螺栓23固定连接所述固定底座21，且所述夹持片22上设置有检测头滑槽24 ;所述绝缘块13包括限位帽131和配合所述检测头滑槽24的限位滑块132，所述球形触头11位于所述限位滑块132底部，所述限位滑块132位于所述检测头滑槽24中，所述限位帽131的外径大于所述检测头滑槽24的宽度且位于所述检测头滑槽24上。
[0019]进一步地，所述限位滑块132为竖直设置的圆柱形结构，且所述限位滑块132的半径与所述检测头滑槽24的宽度相等，所述球形触头11设置于所述限位滑块132的底面中心。更进一步地，所述固定底座21和所述夹持片22为金属制成，所述固定底座21的顶面设置有第一橡胶垫25，所述夹持片22的底面设置有第二橡胶垫26。优选地，所述夹持片22上设置有配合所述安装螺栓23的安装导套27。
[0020]工作时，将需要检测表面电阻的金属化薄膜样品夹持在所述固定底座21和所述夹持片22之间，然后将两个检测头放置在所述检测头滑槽24中，根据实际检测的需要和规范要求调整两个检测头之间的间距以及两个检测头的位置，使两个检测头的所述导电柱12上端分别连接电阻检测设备正负极的两个检测线14，通过电阻检测设备读数即可获知金属化薄膜样品的表面电阻。
[0021]以上内容是结合具体的实施例对本实用新型所作的详细说明，不能认定本实用新型具体实施仅限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型保护的范围。
【主权项】
1.一种金属化薄膜表面电阻检测头，其特征是，包括:球形触头(11)、导电柱(12)、以及包封所述球形触头(11)和所述导电柱(12)的绝缘块(13)，所述绝缘块(13)为陶瓷制成，所述球形触头(11)设置于所述绝缘块(13)的底部，所述导电柱(12)下端连接所述球形触头(11)，所述导电柱(12)上端连接电阻检测设备的检测线(14)。
2.如权利要求1所述的金属化薄膜表面电阻检测头，其特征是，还包括用于放置检测头的检测支架，所述检测支架包括固定底座(21)和设置于所述固定底座(21)上方的夹持片(22)，所述夹持片(22)的两端均通过安装螺栓(23)固定连接所述固定底座(21)，且所述夹持片(22)上设置有检测头滑槽(24); 所述绝缘块(13)包括限位帽(131)和配合所述检测头滑槽(24)的限位滑块(132)，所述球形触头(11)位于所述限位滑块(132)底部，所述限位滑块(132)位于所述检测头滑槽(24)中，所述限位帽(131)的外径大于所述检测头滑槽(24)的宽度且位于所述检测头滑槽(24)上。
3.如权利要求2所述的金属化薄膜表面电阻检测头，其特征是，所述限位滑块(132)为竖直设置的圆柱形结构，且所述限位滑块(132)的半径与所述检测头滑槽(24)的宽度相等，所述球形触头(11)设置于所述限位滑块(132 )的底面中心。
4.如权利要求3所述的金属化薄膜表面电阻检测头，其特征是，所述固定底座(21)和所述夹持片(22)为金属制成，所述固定底座(21)的顶面设置有第一橡胶垫(25)，所述夹持片(22)的底面设置有第二橡胶垫(26)。
5.如权利要求4所述的金属化薄膜表面电阻检测头，其特征是，所述夹持片(22)上设置有配合所述安装螺栓(23)的安装导套(27)。
【专利摘要】本实用新型公开了一种金属化薄膜表面电阻检测头，包括球形触头、导电柱、以及包封所述球形触头和所述导电柱的绝缘块，所述绝缘块为陶瓷制成，所述球形触头设置于所述绝缘块的底部，所述导电柱下端连接所述球形触头，所述导电柱上端连接电阻检测设备的检测线。还包括用于放置检测头的检测支架，所述检测支架包括固定底座和设置于所述固定底座上方的夹持片，所述夹持片的两端均通过安装螺栓固定连接所述固定底座，且所述夹持片上设置有检测头滑槽。本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻检测头，能够提高检测头的电气绝缘性能，从而提高金属化薄膜表面电阻检测结果的准确性和检测作业的安全性，满足实际使用要求。
【IPC分类】G01R27-02
【公开号】CN204422654
【申请号】CN201520121560
【发明人】张世铎
【申请人】黄山申格电子科技有限公司
【公开日】2015年6月24日
【申请日】2015年3月2日