金属化薄膜表面电阻对比测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种金属化薄膜表面电阻对比测试装置，属于薄膜电容器生产制造技术领域。
【背景技术】
[0002]现有技术中已公知的，用于制造薄膜电容器的金属化薄膜具有梯度变化或渐进变化的镀层厚度，对于在以下这些方面具有进步意义:降低自愈能耗，减少引出线与电极的接触电阻，提高承载电流的能力，提高耐压能力；金属化薄膜镀层厚度的变化直接影响金属化薄膜电阻性能的变化，为了排除材料品质、加工工艺等细微变化对产品性能的影响，以金属化薄膜的电阻性能来限定或判定金属化薄膜各定义位置处镀层厚度更符合实际需要，也更具有实际操作性。此外，即便是常规的等镀层厚度的金属化薄膜，对于薄膜镀层厚度均匀性的监控也很有必要。对于金属化安全薄膜而言，由于金属化薄膜的镀层被分割为若干规则排列的极板单元，且极板单元的形状规格众多，从而造成了金属化薄膜镀层厚度检测和监控的困难。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型正是针对现有技术存在的不足，提供一种金属化薄膜表面电阻对比测试装置，通过对比检测的方式可以实现金属化薄膜表面电阻的检测和监控，满足实际使用要求。
[0004]为解决上述问题，本实用新型所采取的技术方案如下:
[0005]一种金属化薄膜表面电阻对比测试装置，包括:
[0006]用于测定电压与电流比值的电阻测试仪，所述电阻测试仪设置有正极检测线、负极检测线以及分别连接所述正极检测线和所述负极检测线的正极检测头和负极检测头；
[0007]用于夹持被测试的金属化薄膜样品的测试夹持器具，所述测试夹持器具包括固定底座、第一夹持片和第二夹持片，所述第一夹持片和所述第二夹持片的两端均通过安装螺栓固定连接所述固定底座，且所述第一夹持片上设置有正极检测头滑槽，所述第二夹持片上设置有负极检测头滑槽，且所述正极检测头滑槽平行于所述负极检测头滑槽；
[0008]所述正极检测头和所述负极检测头分别位于所述正极检测头滑槽和所述负极检测头滑槽中。
[0009]作为上述技术方案的改进，所述正极检测头和所述负极检测头均包括球形触头、导电柱、以及包封所述球形触头和所述导电柱的绝缘块，所述绝缘块包括限位帽和配合所述正极检测头滑槽或所述负极检测头滑槽的限位滑块，所述球形触头位于所述限位滑块底部，所述限位滑块位于所述正极检测头滑槽或所述负极检测头滑槽中，所述限位帽的外径大于所述正极检测头滑槽或所述负极检测头滑槽的宽度且位于所述正极检测头滑槽或所述负极检测头滑槽上，所述导电柱下端连接所述球形触头，所述导电柱上端连接所述正极检测线或所述负极检测线。
[0010]作为上述技术方案的改进，所述绝缘块为陶瓷制成，所述限位滑块为竖直设置的圆柱形结构，且所述限位滑块的半径与所述正极检测头滑槽和所述负极检测头滑槽的宽度相等，所述球形触头设置于所述限位滑块的底面中心。
[0011]用于接触金属化薄膜的触头为球形触头，因此减少了尖端放电的几率，即降低了设备击穿拉火的几率，同时采用绝缘块包封导体，使得检测头之间以及检测头与测试夹持器具之间的电气绝缘性能进一步提高，同时优选陶瓷作为绝缘包封材料，既保证了绝缘性能，又避免常规绝缘材料如橡胶塑料等刚性不足、耐磨损性能差的问题，使检测头与检测支架之间的配合更为紧密，从而使检测头放置稳定，且运动轨迹的重复性好，测试结果准确。
[0012]作为上述技术方案的改进，所述固定底座、所述第一夹持片和所述第二夹持片为金属制成，所述固定底座的顶面设置有第一橡胶垫，所述第一夹持片和所述第二夹持片的底面设置有第二橡胶垫。进一步地，所述第一夹持片和所述第二夹持片上均设置有配合所述安装螺栓的安装导套。
[0013]上述改进采用金属作为固定底座和夹持片的主材料便于加工且刚性好，从而便于控制表面平整度，降低夹持金属化薄膜时施力不均的程度，但是金属表面过于坚硬容易刮伤金属化薄膜且摩擦力较小，夹持稳固效果不佳，因此设置第一橡胶垫和第二橡胶垫，既能够大大降低刮伤金属化薄膜的几率而且夹持很稳固，测试结果准确；此外，设置安装导套不仅可以在保证螺纹不打滑的前提下减小夹持片的厚度，而且可以提高夹持片的稳固性，不会发生偏转从而造成施力不均。
[0014]本实用新型与现有技术相比较，本实用新型的实施效果如下:
[0015]本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻对比测试装置，通过测试夹持器具稳固地固定金属化薄膜样品和金属化薄膜标样，再通过正极检测头和负极检测头分别检测金属化薄膜样品和金属化薄膜标样的表面电阻，然后对比结果是否一致或偏差是否在允许范围内，即可判定金属化薄膜样品的表面电阻合格与否，满足实际使用要求。
【附图说明】
[0016]图1为本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻对比测试装置俯视结构示意图；
[0017]图2为本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻对比测试装置平视结构示意图；
[0018]图3为本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻对比测试装置的正极检测头和负极检测头的剖视结构示意图。
【具体实施方式】
[0019]下面将结合具体的实施例来说明本实用新型的内容。
[0020]如图1至图3所示，为本实用新型所述的金属化薄膜表面电阻对比测试装置结构示意图。本实用新型所述金属化薄膜表面电阻对比测试装置，包括:用于测定电压与电流比值的电阻测试仪1，所述电阻测试仪I设置有正极检测线11、负极检测线12以及分别连接所述正极检测线11和所述负极检测线12的正极检测头31和负极检测头32 ;用于夹持被测试的金属化薄膜样品的测试夹持器具，所述测试夹持器具包括固定底座4、第一夹持片5和第二夹持片6，所述第一夹持片5和所述第二夹持片6的两端均通过安装螺栓7固定连接所述固定底座4，且所述第一夹持片5上设置有正极检测头滑槽51，所述第二夹持片6上设置有负极检测头滑槽61，且所述正极检测头滑槽51平行于所述负极检测头滑槽61 ;所述正极检测头31和所述负极检测头32分别位于所述正极检测头滑槽51和所述负极检测头