一种用于光分路器芯片测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉光通信领域，具体为一种用于光分路器芯片测试装置。
【背景技术】
[0002]随着科技的发展，人们进入信息化时代，各种通信手段层出不穷，其中光通信一直占有比较大的比重。
[0003]在ODN网络中，最核心的无源器件是光分路器，其起到的作用是对进入端光信号进行分光处理。目前光分路器主要是采用集成光学技术生产的平面光波导(PLC)分路器。PLC分路器主要由:光分路器芯片、FA (光纤阵列)、Pigtail单纤三部分组成。三部分中最核心的器件是光分路器芯片，光分路器芯片的性能参数直接决定了 PLC的性能参数。
[0004]传统的加工是不测试芯片，直接利用划片机切割后就直接使用，这样就存在一些问题，在PLC耦合时，如果参数不能调到规定的数字，需要花大量的时间去寻找原因；传统的耦合方法是监控最边上的两根光纤，如果芯片中间位置存在不良，需要在裸纤测试时才能发现，浪费胶水与工时；如果裸纤测试不良，还需要花大量的时间去判定是光分路器芯片还是FA的问题。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的目的是提供一种用于光分路器芯片测试装置，可以对光分路器芯片进行光学性能测试，在后续的PLC耦合时，参数出错时能排除芯片的原因；让中间位置不良的芯片检测出来，不让其进入裸纤测试阶段，可以节省胶水和工时；裸纤测试不良时，可以排除光分路器芯片的问题。
[0006]为实现以上目的，本实用新型采用的技术方案是:一种用于光分路器芯片测试装置，它包括光源(1)，所述的光源(I)与多通道测试仪(7)通过导线连接；所述的多通道测试仪(7)与多模FA (12)相连，其光源出口(10)与Pigtail单纤(13)相连；所述的多模FA
(12)和Pigtail单纤13)均安放在六维调整架(14)上，且六维调整架14)上还放置有待测光分路器芯片(15)，且其位于多模FA (12)和Pigtail单纤(13)的中间；所述的待测光分路器芯片(15)的上部设置有图像传感器CXD (11)，且图像传感器CXD (11)固定在C⑶固定架(16)上；所述的图像传感器CXD (11)通过导线与画面分割器(9)相连；所述的画面分割器(9)上设置有显示器(8)，且它们通过导线相连。
[0007]进一步的，所述的光源(I)设置有四个光源输出口，且光源输出口一 2)输出1550nm的光源，光源输出口二(3)输出1490nm的光源，光源输出口三(4)输出1310nm的光源，光源输出口四(5)输出650nm的光源。
[0008]进一步的，所述的光源输出口三(4)和光源输出口四(5)连接到光分路器(6)上，光分路器(6)与多通道测试仪(7)通过导线连接。
[0009]实用新型的有益效果:1、本实用新型一种用于光分路器芯片测试装置，图像传感器将光分路器芯片的光学性能传递给显示器，进而检测它的光学性能是否良好。
[0010]2、在后续的PLC耦合时，如果出现参数不对时，可以排除掉光分路器芯片的因素，减少寻早问题的时间。
[0011]3、将中间位置不良的芯片检测出来，不让其进入裸纤测试阶段，减少裸纤测试时的返工率，进而节省胶水和生产工时。
[0012]4、在裸纤测试时，如果出现不良品，可以直接排除掉光分路器芯片的因素，进而减少检测工时。
[0013]5、光源可以发出多种不同波长的光源，可以更加全面的测试光分路器芯片的光学性能，使测试结果更加准确。
【附图说明】
[0014]图1为一种用于光分路器芯片测试装置的结构示意图。
[0015]图中所述文字标注表不为:1、光源；2、光源输出口一 ；3、光源输出口二 ；4、光源输出口三；5、光源输出口四；6、光分路器；7、多通道测试仪；8、显示器；9、画面分割器；10、光源出口 ；11、图像传感器CXD ;12、多模FA ;13、Pigtail单纤；14、六维调整架；15、待测光分路器芯片；16、CXD固定架。
【具体实施方式】
[0016]为了使本领域技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面结合附图对本实用新型进行详细描述，本部分的描述仅是示范性和解释性，不应对本实用新型的保护范围有任何的限制作用。
[0017]如图1所示，本实用新型的具体结构为:一种用于光分路器芯片测试装置，它包括光源1，所述的光源I与多通道测试仪7通过导线连接；所述的多通道测试仪7与多模FA12相连，其光源出口 10与Pigtail单纤13相连；所述的多模FA12和Pigtail单纤13均安放在六维调整架14上，且六维调整架14上还放置有待测光分路器芯片15，且其位于多模FA12和Pigtail单纤13的中间；所述的待测光分路器芯片15的上部设置有图像传感器CXD11，且图像传感器CXD11固定在CXD固定架16上；所述的图像传感器CXD11通过导线与画面分割器9相连；所述的画面分割器9上设置有显示器8，且它们通过导线相连。
[0018]优选的，所述的光源I设置有四个光源输出口，且光源输出口一 2输出1550nm的光源，光源输出口二 3输出1490nm的光源，光源输出口三4输出1310nm的光源，光源输出口四5输出650nm的光源。
[0019]优选的，所述的光源输出口三4和光源输出口四5连接到光分路器6上，光分路器6与多通道测试仪7通过导线连接。
[0020]具体使用时，将带测试芯片15安装到六维调整架14上，将Pigtail单纤13连接到多通道测试仪器7的光源出口 10上；然后将Pigtail单纤13安装到六维调整架14上，在六维调整架的输出端放一个45°反光镜，将图像传感器CXDll移动到45°反光镜上方；之后调节六位调整架14输入端，使显示器8出现与光分路器芯片15芯数对应的光点；最后，将多模FA12安装到六维调整架14上，调节六位调整架14，观察多通道测试仪器7上显示的数据，如数据能达到规定的数值，则芯片合格，反之，则不合格。
[0021]需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括哪些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
[0022]本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，由于文字表达的有限性，而客观上存在无限的具体结构，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进、润饰或变化，也可以将上述技术特征以适当的方式进行组合；这些改进润饰、变化或组合，或未经改进将实用新型的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均应视为本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种用于光分路器芯片测试装置，其特征在于，它包括光源(I)，所述的光源(I)与多通道测试仪(7)通过导线连接；所述的多通道测试仪(7)与多模FA (12)相连，其光源出口(10)与Pigtail单纤(13)相连;所述的多模FA (12)和Pigtail单纤(13)均安放在六维调整架(14)上，且六维调整架(14)上还放置有待测光分路器芯片(15)，且其位于多模FA(12)和Pigtail单纤(13)的中间；所述的待测光分路器芯片(15)的上部设置有图像传感器CXD (11)，且图像传感器CXD (11)固定在CXD固定架(16)上；所述的图像传感器CXD(11)通过导线与画面分割器(9)相连；所述的画面分割器(9)上设置有显示器(8)，且它们通过导线相连。
2.根据权利要求1所述的一种用于光分路器芯片测试装置，其特征在于，所述的光源(I)设置有四个光源输出口，且光源输出口一(2)输出1550nm的光源，光源输出口二(3)输出1490nm的光源，光源输出口三(4)输出1310nm的光源，光源输出口四(5)输出650nm的光源。
3.根据权利要求2所述的一种用于光分路器芯片测试装置，其特征在于，所述的光源输出口三(4)和光源输出口四(5)连接到光分路器(6)上，光分路器(6)与多通道测试仪(7)通过导线连接。
【专利摘要】本实用新型涉光通信领域，具体为一种用于光分路器芯片测试装置，光源与多通道测试仪通过导线连接；多通道测试仪与多模FA相连，其光源出口与Pigtail单纤相连；多模FA和Pigtail单纤均安放在六维调整架上，且六维调整架上还放置有待测光分路器芯片，且其位于多模FA和Pigtail单纤的中间；待测光分路器芯片的上部设置有CCD，且CCD固定在CCD固定架上；图像传感器CCD通过导线与画面分割器相连；画面分割器上设置有显示器，且它们通过导线相连；本实用新型的目的是提供一种用于光分路器芯片测试装置，可以对光分路器芯片进行光学性能测试，将中间位置不良的芯片检测出来，不让其进入裸纤测试阶段，可以节省胶水和工时；裸纤测试不良时，可以排除光分路器芯片的问题。
【IPC分类】G01M11-02
【公开号】CN204461715
【申请号】CN201520045733
【发明人】陈波
【申请人】新中合光电科技（保靖）有限公司
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2015年1月23日